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等离子体生成装置、衬底处理装置及半导体器件的制造方法与流程
文档序号:16808759
发布日期:2019-02-10 13:21
阅读:
来源:国知局
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等离子体生成装置、衬底处理装置及半导体器件的制造方法与流程
技术特征:
技术总结
提供能够均匀地处理衬底的技术。提供等离子体生成装置及使用其的技术,所述等离子体生成装置具有连接于高频电源的第1电极和接地的第2电极,上述第1电极与上述第2电极以合计为3根以上的奇数根交替配置,上述第1电极与上述第2电极中的任一者的电极相对于相邻的另两根电极而被共用。
技术研发人员:
佐藤明博;竹田刚;广地志有
受保护的技术使用者:
株式会社国际电气
技术研发日:
2017.03.27
技术公布日:
2019.02.05
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