技术特征：
技术总结
本发明公开了一种SAR型ADC的高精度校准装置，包括比较器，比较器的负向输入端和正向输入端之间一次连接有高位电容阵列和低位电容阵列；高位电容阵列与高位和偏移误差校准模块连接，低位电容阵列与低位和桥接电容校准模块连接；高位电容阵列和低位电容阵列通过开关阵列控制与数字控制逻辑的导通；其中开关阵列通过refp/refn方式连接；所述高位和偏移误差校准模块包括第一增益电容，便宜误差校准与多个高位电容校准并联，第一增益电容与其连接；所述低位和桥接电容校准模块包括第二增益电容，第二增益电容余低位校准单元连接。能够对电容的匹配性误差、寄生电容引入的误差以及桥接电容的精度误差进行全方位校准，大幅度提高了ADC的整体转换精度。
技术研发人员：李婷;郭仲杰
受保护的技术使用者：西安微电子技术研究所
技术研发日：2017.06.23
技术公布日：2017.11.14