基于TDD模式的TRP测试方法及装置与流程

文档序号:12601214阅读:604来源:国知局
基于TDD模式的TRP测试方法及装置与流程

本发明涉及通信技术领域,尤其是涉及一种基于TDD模式的TRP测试方法及装置。



背景技术:

TRP(total radiated power,总辐射功率)测试是OTA(Over-The-Air,空中)测试系统中的一项常规测试,通过测量DUT(Device Under Test,被测终端)的发射功率以考察DUT的辐射性能。

在传统的TRP测试中,DUT需要保持和OTA测试系统中的基站仿真器进行信令连接,而频谱分析仪则会对DUT位于各个测试角度时的发射功率进行测量。由于在TDD模式下的通信制式中,DUT不是连续发射信号,即每个时隙可能存在不同状态,诸如为发射时隙(有发射)、接收时隙(没有发射)以及切换时隙(可能有发射)等。所以在基于TDD(Time Division Duplex,时分双工)模式的传统TRP测试方法中,为了测得待测终端的发射功率,需要将频谱分析仪设置为平均模式以获得待测终端的发射功率(即平均功率),但是该方式必须让频谱分析仪和基站仿真器进行时隙同步。然而,若要满足频谱分析仪和基站仿真器时隙同步的条件,则对OTA测试系统中的各个设备有更高的要求,同时需要复杂的设置,综合需要较高的人力物力成本或者实现测试的复杂度较高。

针对上述基于TDD模式的传统TRP测试需要较高成本或者实现测试的复杂度较高的问题,目前尚未提出有效的解决方案。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种基于TDD模式的TRP测试方法及装置,能够缓解现有技术中存在的基于TDD模式的传统TRP测试需要较高成本或者实现测试的复杂度较高的问题。

为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:

第一方面,本发明实施例提供了一种基于TDD模式的TRP测试方法,该方法应用于OTA测试系统处于TDD模式的场景中,OTA测试系统包括待测终端、与待测终端信令无线连接的基站仿真器,以及抓取待测终端功率信号的频谱分析仪;方法包括:

设置频谱分析仪的测试模式处于最大功率抓取模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在预设时间内发射的最大功率;

根据最大功率,获取待测终端的平均功率;将平均功率作为待测终端处于TDD模式时的发射功率。

结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,根据最大功率,获取待测终端的平均功率包括:

查询TDD模式对应的峰均功率比;

根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率。

结合第一方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率包括:

将最大功率除以峰均功率比,得到的结果作为待测终端的平均功率。

结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,根据最大功率,获取待测终端的平均功率包括:

将最大功率与预设标准差值作差,得到的结果作为待测终端的平均功率。

结合第一方面的第三种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,方法还包括:

当频谱分析仪的测试模式处于传导测试模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在功率测试中的最大功率测试值和平均功率测试值;

将最大功率测试值和平均功率测试值的差值作为上述预设标准差值。

第二方面,本发明实施例还提供一种基于TDD模式的TRP测试装置,该装置应用于OTA测试系统处于TDD模式的场景中,OTA测试系统包括待测终端、与待测终端信令无线连接的基站仿真器,以及抓取待测终端功率信号的频谱分析仪;装置包括:

最大功率获取模块,用于设置频谱分析仪的测试模式处于最大功率抓取模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在预设时间内发射的最大功率;

平均功率获取模块,用于根据最大功率,获取待测终端的平均功率;将平均功率作为待测终端处于TDD模式时的发射功率。

结合第二方面,本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式,其中,平均功率获取模块包括:

峰均比查询单元,用于查询TDD模式对应的峰均功率比;

平均功率计算单元,用于根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率。

结合第二方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式,其中,平均功率计算单元还用于:

将最大功率除以峰均功率比,得到的结果作为待测终端的平均功率。

结合第二方面,本发明实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式,其中,平均功率获取模块包括:

平均功率确定单元,用于将最大功率与预设标准差值作差,将得到的结果作为待测终端的平均功率。

结合第二方面的第三种可能的实施方式,本发明实施例提供了第二方面的第四种可能的实施方式,其中,装置还包括:

测试模块,用于当频谱分析仪的测试模式处于传导测试模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在功率测试中的最大功率测试值和平均功率测试值;

差值确定模块,用于将最大功率测试值和平均功率测试值的差值作为上述预设标准差值。

本发明实施例提供了一种基于TDD模式的TRP测试方法及装置,首先通过处于最大功率抓取模式下的频谱分析仪获取最大功率,再计算得到平均功率,该平均功率即为待测终端处于TDD模式时的发射功率,从而便捷地得到待测终端在TDD模式下的TRP测试结果。与现有技术中需要频谱分析仪处于平均模式下获取平均功率,且必须保证频谱分析仪和基站仿真器进行时隙同步,从而导致较高的人力物力成本的问题相比,本发明实施例由于频谱分析仪处于最大功率抓取模式,不需要采用平均模式而让频谱分析仪和基站仿真器时隙同步,从而降低了测试系统中各个设备的要求,也不需要人工进行复杂的设置,综合降低了测试成本。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例所提供的一种基于TDD模式的TRP测试方法流程图;

图2示出了本发明实施例所提供的一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图;

图3示出了本发明实施例所提供的另一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图;

图4示出了本发明实施例所提供的另一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

目前相关技术人员在对待测终端在TDD模式下进行TRP测试时,通常采用将频谱分析仪设置为平均模式以测得待测终端的平均功率,但是考虑到这种方式需要确保频谱分析仪和基站仿真器进行时隙同步,从而对OTA测试系统中的各个设备有更高的对接要求,同时需要人工前期进行复杂的设置,综合需要较高的人力物力成本,基于此,本发明实施例提供了一种基于TDD模式的TRP测试方法及装置,可以缓解现有技术中存在的基于TDD模式的传统TRP测试需要较高成本或者实现测试的复杂度较高的问题。以下对本发明实施例进行详细介绍。

实施例一:

本发明实施例提供了一种基于TDD模式的TRP测试方法,也可称为基于TDD模式的终端的TRP测试方法,具体的,该方法应用于OTA测试系统处于TDD模式的场景中,OTA测试系统包括待测终端、与待测终端信令无线连接的基站仿真器,以及抓取待测终端功率信号的频谱分析仪;其中,基站仿真器用于向待测终端发出信号,从而待测终端在感知到基站仿真器的信号后能够向外发射功率;具体参见图1所示的一种基于TDD模式的TRP测试方法流程图,该方法包括以下步骤:

步骤S102,当频谱分析仪的测试模式处于最大功率抓取模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在预设时间内发射的最大功率;

步骤S104,根据最大功率,获取待测终端的平均功率;将平均功率作为待测终端处于TDD模式时的发射功率。

本实施例的上述方法中,首先通过处于最大功率抓取模式下的频谱分析仪获取最大功率,再计算得到平均功率,该平均功率即为待测终端处于TDD模式时的发射功率,从而便捷地得到待测终端在TDD模式下的TRP测试结果。与现有技术中需要频谱分析仪处于平均模式下获取平均功率,且必须保证频谱分析仪和基站仿真器进行时隙同步,从而导致较高的人力物力成本的问题相比,本发明实施例由于频谱分析仪处于最大功率抓取模式,不需要采用平均模式而让频谱分析仪和基站仿真器时隙同步,从而降低了测试系统中各个设备的要求,也不需要人工进行复杂的设置,综合降低了测试成本以及实现测试的复杂度。

由于待测终端在TDD模式下的TRP测试结果需要用待测终端的平均功率(即发射功率)表示,所以在得到待测终端在预设时间内发射的最大功率后,还需要将最大功率转换为平均功率。

具体的,在通过频谱分析仪获得待测终端在预设时间内发射的最大功率后,有两种方式可以根据最大功率获取待测终端的平均功率,一种为通过峰均功率比来计算得到平均功率,另一种为通过测试得到最大功率和平均功率之间的差值,进而得到平均功率,为了便于理解,以下对这两种方式进行详细介绍。

方式一:使用峰均功率比来计算得到平均功率;其中,峰均功率比(可以简称为峰均比)定义为最大功率与平均功率的比值。

通过这种方式,上述步骤S104可以具体按照下述步骤执行:

(1)查询TDD模式对应的峰均功率比;具体的,TDD模式下的测试信号都有对应的峰均功率比,可以通过查表获得。

(2)根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率。

在实际应用中,上述根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率包括:将最大功率除以峰均功率比,得到的结果作为待测终端的平均功率。

当然,以上为基本计算原理,在实际运算中可以根据该基本计算原理,结合功率涉及的单位进行数学运算。例如,如果在实际应用中功率以dB或dBm为单位,则通常涉及log运算表示;由于log在数学中的计算方式,在实际运算中可以转换为差值计算。但如果功率以mw为单位,则可以直接作除。

具体的,峰均功率比的获取方式有两种:一种为理论获取,一种为实际测试获取。理论获取中,可以直接查询预先设定的TDD模式下对应的测试信号的峰均功率比;在实际测试获取中,可以通过频谱分析仪处于测试模式时获取最大功率和平均功率,进而计算得到峰均功率比。在实际应用中,可以任选其一。

通过上述方式,即可通过峰均比和最大功率而便捷地获取到待测终端的平均功率,将其作为待测终端处于TDD模式时的发射功率,即为待测终端在TDD模式下的TRP测试结果。

方式二:使用测试模式测试得到最大功率和平均功率的标准差值,即将频谱分析仪设置为传导模式。

通过这种方式,上述步骤S104可以具体按照下述步骤执行:

将最大功率与预设标准差值作差,得到的结果作为待测终端的平均功率。

其中,预设标准差值(即最大功率与平均功率的差值)则需要事先通过测试得到;具体的,本实施例中的基于TDD模式的TRP测试方法中还包括以下步骤:

(1)当频谱分析仪的测试模式处于传导测试模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在功率测试中的最大功率测试值和平均功率测试值;

(2)将最大功率测试值和平均功率测试值的差值作为上述预设标准差值。

通过上述方式,即可便捷地通过预设差值和最大功率而获取到待测终端的平均功率,将其作为待测终端处于TDD模式时的发射功率,即为待测终端在TDD模式下的TRP测试结果。

综上所述,本实施例提供的一种基于TDD模式的TRP测试方法,能够通过处于最大功率抓取模式下的频谱分析仪获取最大功率,再计算得到平均功率,该平均功率即为待测终端处于TDD模式时的发射功率,从而便捷地得到待测终端在TDD模式下的TRP测试结果,而无需让频谱分析仪和基站仿真器保持时隙同步,有效降低了测试成本。

实施例二:

对于实施例一中所提供的一种基于TDD模式的TRP测试方法,本发明实施例提供了一种应用于OTA测试系统处于TDD模式的场景中的基于TDD模式的TRP测试装置,其中,OTA测试系统包括待测终端、与待测终端信令无线连接的基站仿真器,以及抓取待测终端功率信号的频谱分析仪;参见图2所示的一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图,该装置包括以下模块:

最大功率获取模块202,用于设置频谱分析仪的测试模式处于最大功率抓取模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在预设时间内发射的最大功率;

平均功率获取模块204,用于根据最大功率,获取待测终端的平均功率;将平均功率作为待测终端处于TDD模式时的发射功率。

本实施例的上述装置中,首先通过最大功率获取模块202从处于最大功率抓取模式下的频谱分析仪获取最大功率,再通过平均功率获取模块204计算得到平均功率,该平均功率即为待测终端处于TDD模式时的发射功率,从而便捷地得到待测终端在TDD模式下的TRP测试结果。与现有技术中需要频谱分析仪处于平均模式下获取平均功率,且必须保证频谱分析仪和基站仿真器进行时隙同步,从而导致较高的人力物力成本的问题相比,本发明实施例提供的装置由于频谱分析仪处于最大功率抓取模式,不需要采用平均模式而让频谱分析仪和基站仿真器时隙同步,从而降低了测试系统中各个设备的要求,也不需要人工进行复杂的设置,综合降低了测试成本。

参见图3所示的另一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图,在图2的基础上,

平均功率获取模块204包括:

峰均比查询单元2042,用于查询TDD模式对应的峰均功率比;

平均功率计算单元2044,用于根据最大功率和峰均功率比,计算待测终端的平均功率。

进一步,上述平均功率计算单元还用于:将最大功率除以峰均功率比,得到的结果作为待测终端的平均功率。

参见图4所示的另一种基于TDD模式的TRP测试装置的结构框图,在图2的基础上,

平均功率获取模块204包括:

平均功率确定单元2046,用于将最大功率与预设标准差值作差,将得到的结果作为待测终端的平均功率。

图4中还示出了该装置包括:

测试模块206,用于当频谱分析仪的测试模式处于传导测试模式时,通过频谱分析仪获得待测终端在功率测试中的最大功率测试值和平均功率测试值;

差值确定模块208,用于将最大功率测试值和平均功率测试值的差值作为上述预设标准差值。

本实施例所提供的装置,其实现原理及产生的技术效果和前述实施例相同,为简要描述,装置实施例部分未提及之处,可参考前述方法实施例中相应内容。

本发明实施例所提供的一种基于TDD模式的TRP测试方法及装置的计算机程序产品,包括存储了程序代码的计算机可读存储介质,所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法,具体实现可参见方法实施例,在此不再赘述。

另外,在本发明实施例的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。

最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本发明的具体实施方式,用以说明本发明的技术方案,而非对其限制,本发明的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

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