本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。
背景技术：
随着计算机技术的发展，深度图像技术广泛应用于智能电子设备。电子设备可以通过激光摄像头采集激光通过衍射光学元件照射到物体上所形成的散斑图，获取图像物体的深度信息，从而应用于人脸或物体识别、3d打印、人机交互等场景。
然而，当衍射光学损坏时，激光照射到人眼时会对人眼造成严重的伤害，传统技术中对衍射光学元件的检测容易受到不同亮度环境的干扰，存在检测准确性低的问题。
技术实现要素：
本申请实施例提供一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，可以提高光学元件检测的准确性。
一种光学元件检测方法，所述方法包括：。
获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；
根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；
检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；
当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。
一种光学元件检测装置，所述装置包括：
散斑图获取模块，用于获取散斑图，所述散斑图是通过激光摄像头采集的激光通过光学元件后照射到物体上所形成的图像；
零级区域获取模块，用于根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；
检测模块，用于检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；
判定模块，用于当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。
一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：
获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；
根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；
检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；
当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：
获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；
根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；
检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；
当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。
上述光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，可以获取投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的散斑图，并获取散斑图亮度最大的区域即零级区域以及对应的零级区域的亮度均值，检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于预设阈值时，则判定光学元件异常。由于可以根据散斑图零级区域与零级区域周围的区域的零度均值对光学元件进行检测，不会受到不同亮度环境的干扰，可以提高检测的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中光学元件检测方法的应用场景图；
图2为一个实施例中光学元件检测方法的流程图；
图3为一个实施例中获取散斑图零级区域的流程图；
图4为另一个实施例中光学元件检测的流程图；
图5为又一个实施例中光学元件检测方法的流程图；
图6为一个实施例中获取散斑图零级区域的周围区域的示意图；
图7为又一个实施例中光学元件检测方法的流程图；
图8为一个实施例中光学元件检测装置的结构框图；
图9为一个实施例中图像处理电路的示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一客户端称为第二客户端，且类似地，可将第二客户端称为第一客户端。第一客户端和第二客户端两者都是客户端，但其不是同一客户端。
图1为一个实施例中光学元件检测方法的应用场景图。如图1所示，电子设备10可包括摄像头模组110、第二处理单元120，第一处理单元130。上述第二处理单元120可为cpu(centralprocessingunit，中央处理器)模块。上述第一处理单元130可为mcu(microcontrollerunit，微控制单元)模块130等。其中，第一处理单元130连接在第二处理单元120和摄像头模组110之间，上述第一处理单元130可控制摄像头模组110中激光摄像头112、泛光灯114和镭射灯118，上述第二处理单元120可控制摄像头模组110中rgb摄像头116。
摄像头模组110中包括激光摄像头112、泛光灯114、rgb(red/green/blue，红/绿/蓝色彩模式)摄像头116和镭射灯118。上述激光摄像头112为红外摄像头，用于获取红外图像。上述泛光灯114为可发生红外光的面光源；上述镭射灯118为可发生激光的点光源且为带有图案的点光源。其中，当泛光灯114发射面光源时，激光摄像头112可根据反射回的光线获取红外图像。当镭射灯118发射点光源时，激光摄像头112可根据反射回的光线获取散斑图像。上述散斑图像是镭射灯118发射的带有图案的点光源被反射后图案发生形变的图像。
第一处理单元130包括pwm(pulsewidthmodulation，脉冲宽度调制)模块132、spi/i2c(serialperipheralinterface/inter－integratedcircuit，串行外设接口/双向二线制同步串行接口)接口134、ram(randomaccessmemory，随机存取存储器)模块136和深度引擎138。上述pwm模块132可向摄像头模组发射脉冲，控制泛光灯114或镭射灯118开启，使得激光摄像头112可采集到红外图像或散斑图像。上述spi/i2c接口134用于接收第二处理单元120发送的人脸采集指令。上述深度引擎138可对散斑图像进行处理得到深度视差图。
当第二处理单元120接收到应用程序的数据获取请求时，例如，当应用程序需要进行人脸解锁、人脸支付时，可通过运行在tee环境下的cpu内核向第一处理单元130发送人脸采集指令。当第一处理单元130接收到人脸采集指令后，可通过pwm模块132发射脉冲波控制摄像头模组110中泛光灯114开启并通过激光摄像头112采集红外图像、控制摄像头模组110中镭射灯118开启并通过激光摄像头112采集散斑图像。摄像头模组110可将采集到的红外图像和散斑图像发送给第一处理单元130。第一处理单元130可对接收到的红外图像进行处理得到红外视差图；对接收到的散斑图像进行处理得到散斑视差图或深度视差图。其中，第一处理单元130对上述红外图像和散斑图像进行处理是指对红外图像或散斑图像进行校正，去除摄像头模组110中内外参数对图像的影响。其中，第一处理单元130可设置成不同的模式，不同模式输出的图像不同。当第一处理单元130设置为散斑图模式时，第一处理单元130对散斑图像处理得到散斑视差图，根据上述散斑视差图可得到目标散斑图像；当第一处理单元130设置为深度图模式时，第一处理单元130对散斑图像处理得到深度视差图，根据上述深度视差图可得到深度图像，上述深度图像是指带有深度信息的图像。第一处理单元130可将上述红外视差图和散斑视差图发送给第二处理单元120，第一处理单元130也可将上述红外视差图和深度视差图发送给第二处理单元120。第二处理单元120可根据上述红外视差图获取目标红外图像、根据上述深度视差图获取深度图像。进一步的，第二处理单元120可根据目标红外图像、深度图像来进行人脸识别、人脸匹配、活体检测以及获取检测到的人脸的深度信息。
第一处理单元130与第二处理单元120之间通信是通过固定的安全接口，用以确保传输数据的安全性。如图1所示，第二处理单元120发送给第一处理单元130的数据是通过安全串行外设接口或双向二线制同步串行接口(securespi/i2c)140，第一处理单元130发送给第二处理单元120的数据是通过安全移动产业处理器接口(securemipimobile，industryprocessorinterface)150。
在一个实施例中，第一处理单元130通过控制摄像头模组110中镭射灯118开启并通过激光摄像头112采集散斑图，摄像头模组可以将采集到的散斑图发送给第一处理单元130，第一处理单元130可根据获取的散斑图获取散斑图中亮度最大的区域即零级区域及零级区域的亮度均值，第一处理单元130还可以检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值，当零级区域的亮度均值与零级区域的周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
本申请实施例中电子设备可为手机、平板电脑、个人数字助理或可穿戴设备等。
在其他实施例中，电子设备可包括摄像头模组110和第二处理单元120。
图2为一个实施例中光学元件检测方法的流程图。如图2所示，该光学元件检测方法包括步骤202至步骤208。
步骤202，获取散斑图，散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像。
散斑图是指激光摄像头采集的由投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上所形成的散斑图像。电子设备的投射器可以是镭射灯。投射器包括光源、准直镜和光学元件。其中，光源可为面发射激光、垂直腔面激光(vcsel，verticalcavitysurfaceemittinglaser)阵列。光学元件可以是doe(diffractiveopticalelements,衍射光学元件)、毛玻璃或者里面两者组合等。激光摄像头包括图像传感器、透镜等，图像传感器可以是cmos(complementarymetaloxidesemiconductor，互补金属氧化物半导体)、ccd(charge-coupleddevice，电荷耦合元件)等。
电子设备获取由投射器向物体投射结构光图案，经过物体反射后，通过激光摄像头采集的散斑图。
步骤204，根据散斑图获取散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，零级区域为亮度最大的区域。
零级区域是指散斑图中亮度值最大的区域。在光学元件发生异常的情况下，由于激光的光学特性，会导致图像中心区域的亮度异常。具体地，受拍摄距离的影响，散斑图的零级区域可能位于散斑图的中心，也可能位于散斑图的中心偏右的位置。具体地，电子设备可以通过设定预设大小的搜索框对散斑图进行遍历，将亮度值最大的搜索框所在的区域作为散斑图的零级区域，并获取零级区域的亮度均值。零级区域的亮度均值是指零级区域内各像素点的亮度的平均值。
电子设备通过搜索散斑图中亮度最大的区域作为散斑图的零级区域，并获取零级区域的亮度均值。
步骤206，检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值。
散斑图在零级区域周围的区域是指散斑图中除了零级区域所在的区域外的其他区域。具体地，电子设备可以检测散斑图在零级区域周围的全部区域的亮度均值，还可以通过提取零级区域周围的部分区域，获取零级区域周围的部分区域的亮度均值。电子设备对零级区域周围的区域的提取数量可以根据实际应用的需求和检测效果来确定。具体地，电子设备对零级区域周围的区域的提取数量可以为4个、8个、12个等不限于此。
电子设备通过获取散斑图在零级区域周围的区域，检测零级区域周围的区域各像素点的亮度值，并计算各像素点的亮度的平均值作为零级区域周围的区域的亮度均值。
步骤208，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
第一阈值可以根据实验数据和实际应用效果来确定。第一阈值可以是当光学元件上存在穿孔或存在划痕时，投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。当电子设备获取零级区域周围的全部区域的亮度均值时，若零级区域的亮度均值与周围全部区域的亮度均值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。当电子设备提取零级区域周围多个区域的亮度均值时，若零级区域的亮度均值与周围多个区域的亮度均值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常，此时光学元件可能存在穿孔或划痕，电子设备可以对用户进行提醒并将检测结果上传至服务器。当零级区域的亮度均值与周围全部区域的亮度均值的比值小于第一阈值或零级区域的亮度均值与周围多个区域的亮度均值的比值有一个小于第一阈值，则判定光学元件没有异常。
本申请实施例中的光学元件检测方法，通过获取投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的散斑图，根据散斑图获取亮度最大的区域即零级区域及零级区域的亮度均值，并检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值，则判定光学元件异常。由于可以根据散斑图的零级区域的亮度和零级区域周围的亮度的比值对光学元件进行检测，避免因不同光照强度、曝光时间等引起的散斑图亮度变化影响对光学元件检测结果，可以提高检测的准确性。
在一个实施例中，提供了一种光学元件检测方法中获取散斑图的零级区域的过程可以包括：
步骤302，采用预设大小的定位框在散斑图的预设区域内遍历。
散斑图的预设区域是指预先设定的零级区域所在区域的最大范围。预设大小的定位框是指根据零级区域的大小设定的搜索框。具体地，散斑图的预设区域的大小和定位框的预设大小可以根据实验数据或实际应用中的需求来确定。定位框在散斑图的预设区域内遍历方式可以是横向遍历，也可以是竖向遍历。电子设备还可以根据遍历过程中定位框所在位置的亮度值预先判断零级区域所在的位置，根据判断结果确定在预设区域内不同区域的遍历次数。例如，一张1000*1000像素的散斑图中，预设区域可以是像素值为600*600且中心点与散斑图重合的区域，预设大小的定位框可以是像素值为30*30的定位框，电子设备可以将30*30的定位框在预设区域内遍历，若正常情况下横向遍历的次数为100次，在一次横向遍历的过程中，电子设备根据遍历过程中定位框位于右侧的亮度值大于定位框位于左侧时的亮度值，可以判断零级区域所在位置为散斑图的右侧，并根据判断结果对遍历次数进行调整，减少左侧区域的遍历次数。
步骤304，将亮度值最大的定位框所在区域作为散斑图的零级区域。
电子设备采用预设大小的定位框在散斑图的预设区域的遍历并获取遍历过程中定位框所在区域的亮度值，将亮度值最大的定位框所在的区域作为散斑图的零级区域。
通过采用预设大小的定位框在散斑图的预设区域内遍历，将亮度值最大的定位框所在区域作为散斑图的零级区域，可以提高获取零级区域的效率。
如图4所示，在一个实施例中，提供的一种光学元件检测方法还可以包括：
步骤402，获取散斑图的零级区域周围的第一数量个区域。
具体地，零级区域周围的第一数量个区域可以是与零级区域的大小相同的区域，也可以是与零级区域大小的不同的区域，例如可以是比零级区域大小大一倍的区域，也可以是比零级区域小的区域等。电子设备获取零级区域的周围区域的第一数量可以4个、8个、10个等不限于此。
步骤404，当零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值的比值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
电子设备在当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，判定光学元件异常。当电子设备获取零级区域周围的区域有多个时，若零级区域的亮度均值与周围多个区域的亮度均值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。当零级区域的亮度均值与周围多个区域的亮度均值的比值有一个小于第一阈值，则判定光学元件没有异常。例如，电子设备获取零级区域周围的4个区域的亮度均值分别为80、88、93、100，第一阈值为2，若零级区域的亮度均值为220，则零级区域与周围4个区域的亮度均值的比值分别为2.75、2.50、2.44、2.2，均大于第一阈值，则判定光学元件异常，若零级区域的亮度均为180，则零级区域与周围4个区域的亮度均值的比值分别为2.25、2.05、1.94、1.8，由于存在亮度均值的比值小于2，则判定光学元件没有异常。
通过提取零级区域周围的第一数量个区域，当零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定光学元件异常，可以避免因曝光时间、物体反射等造成部分周围区域的亮度过大而检测错误的问题，提高检测的准确性。
如图5所示，在一个实施例中，提供的一种光学元件检测方法获取散斑图零级区域周围的第一数量个区域的过程还包括：
步骤502，获取与散斑图的零级区域的水平距离和垂直距离不超过0的第一数量个区域。
与散斑图的零级区域的水平距离不超过0是指在水平方向上，获取区域的边缘与零级区域或零级区域的边缘重合。同样的，与散斑图的零级区域的垂直距离不超过0是指在垂直方向上，获取区域的边缘与零级区域或零级区域的边缘重合。获取与散斑图的零级区域的水平距离和垂直距离不超过0的第一数量个区域所在的位置不可以与零级区域所在的位置重合。电子设备获取的第一个数量个区域可以是2个区域、4个区域、8个区域等不限于此。电子设备获取的第一数量个区域的大小可以与零级区域的大小一致，也可以大于或小于零级区域的大小。
步骤504，当零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值的比值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。当零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值的比值中有一个小于第一阈值，则判定光学元件没有异常。
如图6所示，为一个实施例中电子设备获取与散斑图的零级区域周围的区域的示意图。零级区域602为散斑图中亮度均值最大的区域，周围8个区域604为与零级区域的水平距离和垂直距离不超过0、且大小与零级区域一致的8个区域。电子设备可以检测周围8个区域604的亮度均值，当周围8个区域604的亮度均值与零级区域602的亮度均值的比值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。在其他实施例中，电子设备可以获取其中的4个区域、6个区域对光学元件进行检测，也可以更改周围区域的大小对光学元件进行检测。
在一个实施例中，提供的一种光学元件检测方法还包括：当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第二阈值时，则判定光学元件严重异常，其中，第二阈值大于第一阈值。
第二阈值可以根据实验数据和实际应用效果来确定。具体地，第二阈值可以是当投射器中光源产生的激光直接照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。第二阈值也可以是当光学元件上存在大的穿孔时，投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。当零级区域的亮度均值与周围全部区域的亮度均值大于第二阈值时，则判定光学元件严重异常，此时光学元件可能是存在严重的损坏，也可能完全脱落，电子设备可以在判定光学元件严重异常时，禁止投射器的使用。
在一个实施例中，提供的一种光学元件检测方法中，判定光学元件异常之后，还可以包括：当判定光学元件异常时，将光学元件的异常次数增加1。
光学元件异常次数是指电子设备根据散斑图对光学元件进行异常检测时，判定光学元件异常的次数。电子设备获取散斑图对光学元件进行检测，可以在接收三维图像采集请求时获取散斑图进行异常检测，还可以在人脸识别过程中活体检测通过时获取散斑图进行异常检测，还可以在活体检测不通过时在人脸信息与摄像头大于预设距离值时获取散斑图对光学元件进行异常检测等。电子设备可以记录不同情况下对光学元件的异常检测结果。
当判定光学元件异常时，电子设备可以记录光学元件的异常次数，将光学元件异常次数增加1。
如图7所示，在一个实施例中，提供的一种光学元件检测方法还可以包括：
步骤702，当判定光学元件异常时，将光学元件的异常次数增加1。
步骤704，当光学元件的异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用。
投射器包括光源、准直镜和光学元件。激光通过光学元件照射到物体上形成散斑图像，当光学元件损坏时，照射到物体的激光强度增加，当照射到人眼时会对人眼造成严重的伤害。电子设备在光学元件异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用，可以减少因光学元件异常而造成对人眼的伤害。当光学元件异常次数小于预设次数时，电子设备可以对用户发出光学元件损坏提醒，减少用户对三维图像采集功能或人脸识别功能等的使用，并记录光学元件的异常次数，将光学元件异常的结果上传至服务器。预设次数可以根据实际使用过程中的需求来确定。具体地，为了提高使用安全性，预设次数可以为一个较小的数值，例如3次，5次不限于此。
当光学元件的异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用。由于可以在多次检测确定光学元件异常并且在异常次数超过预设次数时禁止投射器的使用，可以在兼顾检测准确性的同时提高投射器的使用安全性。
在一个实施例中，提供了一种光学元件检测方法，实现该方法的具体步骤如下所述：
首先，电子设备获取散斑图，散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像。散斑图是指激光摄像头采集的由投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上所形成的图像。电子设备获取由投射器向物体投射结构光图案，经过物体反射后，通过激光摄像头采集的散斑图。电子设备的投射器可以是镭射灯。投射器包括光源、准直镜和光学元件。其中，光源可为面发射激光、垂直腔面激光阵列。光学元件可以是doe、毛玻璃或者里面两者组合等。激光摄像头包括图像传感器、透镜等，图像传感器可以是cmos、ccd等。
接着，电子设备根据散斑图获取散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，零级区域为亮度最大的区域。在光学元件发生异常的情况下，由于激光的光学特性，会导致图像中心区域的亮度异常。受拍摄距离的影响，散斑图的零级区域可能位于散斑图的中心，也可能位于散斑图的中心偏右的位置。电子设备可以通过设定预设大小的搜索框对散斑图进行遍历，将亮度值最大的搜索框所在的区域作为散斑图的零级区域，并获取零级区域的亮度均值。零级区域的亮度均值是指零级区域内各像素点的亮度的平均值。
可选地，电子设备可以采用预设大小的定位框在散斑图的预设区域内遍历，将亮度值最大的定位框所在区域作为散斑图的零级区域。散斑图的预设区域是指预先设定的零级区域所在区域的最大范围。预设大小的定位框是指根据零级区域的大小设定的搜索框。定位框在散斑图的预设区域内遍历方式可以是横向遍历，也可以是竖向遍历。电子设备还可以根据遍历过程中定位框所在位置的亮度值预先判断零级区域所在的位置，根据判断结果确定在预设区域内不同区域的遍历次数，并获取遍历过程中定位框所在区域的亮度值，将亮度值最大的定位框所在的区域作为散斑图的零级区域。
可选地，电子设备还可以获取散斑图在预设区域内的亮度值，缩小预设区域，并获取缩小后的预设区域的亮度值，当缩小后的预设区域的亮度值与相邻上一次预设区域的亮度值差值小于预设差值时，将缩小后的预设区域作为散斑图的零级区域。散斑图的预设区域是预先设定的散斑图中零级区域所在区域的最大范围。电子设备可以通过获取散斑图在预设区域内各个像素点的亮度值来获取散斑图在预设区域内的亮度值，循环缩小预设区域从而缩小零级区域所在区域范围，当缩小后的预设区域的亮度值与相邻上一次预设区域的亮度值差值小于预设差值时，也就是缩小后的预设区域的亮度值与相邻上一次预设区域的亮度值相同或接近，将缩小后的预设区域作为散斑图的零级区域。
接着，电子设备检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值。电子设备可以检测散斑图在零级区域周围的全部区域的亮度均值，还可以通过提取零级区域周围的部分区域，获取零级区域周围的部分区域的亮度均值。电子设备对零级区域周围的区域的提取数量可以根据实际应用的需求和检测效果来确定。具体地，电子设备对零级区域周围的区域的提取数量可以为4个、8个、12个等不限于此。
可选地，电子设备可以获取散斑图的零级区域周围的第一数量个区域。零级区域周围的第一数量个区域可以是与零级区域的大小相同的区域，也可以是与零级区域大小的不同的区域，例如可以是比零级区域大小大一倍的区域，也可以是比零级区域小的区域等。
可选地，电子设备还可以获取与散斑图的零级区域的水平距离和垂直距离不超过0的第一数量个区域。与散斑图的零级区域的水平距离不超过0是指在水平方向上，获取区域的边缘与零级区域或零级区域的边缘重合。同样的，与散斑图的零级区域的垂直距离不超过0是指在垂直方向上，获取区域的边缘与零级区域或零级区域的边缘重合。获取与散斑图的零级区域的水平距离和垂直距离不超过0的第一数量个区域所在的位置不可以与零级区域所在的位置重合。
接着，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，电子设备则判定光学元件异常。第一阈值可以是当光学元件上存在穿孔或存在划痕时，投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。当电子设备获取零级区域周围的全部区域的亮度均值时，若零级区域的亮度均值与周围全部区域的亮度均值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。当电子设备提取零级区域周围部分区域的亮度均值时，若零级区域的亮度均值与周围部分区域的亮度均值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常，此时光学元件可能存在穿孔或划痕，电子设备可以对用户进行提醒并将检测结果上传至服务器。
可选地，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第二阈值时，电子设备则判定光学元件严重异常，其中，第二阈值大于第一阈值。第二阈值可以是当投射器中光源产生的激光直接照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。第二阈值也可以是当光学元件上存在大的穿孔时，投射器中光源产生的激光通过光学元件照射到物体上时零级区域与周围区域的亮度均值的比值。当零级区域的亮度均值与周围全部区域的亮度均值大于第二阈值时，则判定光学元件严重异常，此时光学元件可能是存在严重的损坏，也可能完全脱落，电子设备可以在判定光学元件严重异常时，禁止投射器的使用。
可选地，当判定光学元件异常时，电子设备可以将光学元件的异常次数增加1。光学元件异常次数是指电子设备根据散斑图对光学元件进行异常检测时，判定光学元件异常的次数。电子设备获取散斑图对光学元件进行检测，可以在接收三维图像采集请求时获取散斑图进行异常检测，还可以在人脸识别过程中活体检测通过时获取散斑图进行异常检测，还可以在活体检测不通过时在人脸信息与摄像头大于预设距离值时获取散斑图对光学元件进行异常检测等。电子设备可以记录不同情况下对光学元件的异常检测结果。
可选地，电子设备还可以在当光学元件的异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用。投射器包括光源、准直镜和光学元件。预设次数可以根据实际使用过程中的需求来确定。具体地，为了提高使用安全性，预设次数可以为一个较小的数值，例如3次，5次不限于此。激光通过光学元件照射到物体上形成散斑图像，当光学元件损坏时，照射到物体的激光强度增加，当照射到人眼时会对人眼造成严重的伤害。电子设备在光学元件异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用，可以减少因光学元件异常而造成对人眼的伤害。当光学元件异常次数小于预设次数时，电子设备可以对用户发出光学元件损坏提醒，减少用户对三维图像采集功能或人脸识别功能等的使用，并记录光学元件的异常次数，将光学元件异常的结果上传至服务器。
应该理解的是，虽然图2-5、7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-5、7中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
图8为一个实施例的光学元件检测装置的结构框图。如图8所示，该装置包括：
散斑图获取模块802，用于获取散斑图，散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像。
区域获取模块804，用于根据散斑图获取散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，零级区域为亮度最大的区域。
检测模块806，用于检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值。
判定模块808，用于当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
在一个实施例中，零级区域获取模块804还可以用于采用预设大小的定位框在散斑图的预设区域内遍历，将亮度均值最大的定位框所在的区域作为散斑图的零级区域。
在一个实施例中，区域获取模块804可以用于获取与散斑图的零级区域的水平距离和垂直距离不超过0的第一数量个区域。
在一个实施例中，区域获取模块804还可以用于获取散斑图的零级区域周围的第一数量个区域，判定模块808还可以用于当零级区域的亮度均值与第一数量个区域的亮度均值的比值均大于第一阈值时，则判定光学元件异常。
在一个实施例中，判定模块808还可以用于当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第二阈值时，则判定光学元件严重异常，其中，第二阈值大于第一阈值。
在一个实施例中，提供的一种光学元件检测装置还包括异常处理模块810异常处理模块用于当判定光学元件异常时，将光学元件的异常次数增加1。
在一个实施例中，异常处理模块810可以用于当光学元件的异常次数大于预设次数时，禁止投射器的使用。
上述光学元件检测装置可以获取投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的散斑图，并获取散斑图亮度最大的区域即零级区域以及对应的零级区域的亮度均值，检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于预设阈值时，则判定光学元件异常。由于可以根据散斑图零级区域与零级区域周围的区域的零度均值对光学元件进行检测，不会受到不同亮度环境的干扰，可以提高检测的准确性。
上述光学元件检测装置中各个模块的划分仅用于举例说明，在其他实施例中，可将光学元件检测装置按照需要划分为不同的模块，以完成上述光学元件检测装置的全部或部分功能。
关于光学元件检测装置的具体限定可以参见上文中对于光学元件检测方法的限定，在此不再赘述。上述光学元件检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于电子设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于电子设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
本申请实施例中提供的光学元件检测装置中的各个模块的实现可为计算机程序的形式。该计算机程序可在终端或服务器上运行。该计算机程序构成的程序模块可存储在终端或服务器的存储器上。该计算机程序被处理器执行时，实现本申请实施例中所描述方法的步骤。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行光学元件检测方法的步骤。
一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行光学元件检测方法。
本申请实施例还提供一种电子设备。上述电子设备中包括图像处理电路，图像处理电路可以利用硬件和/或软件组件实现，可包括定义isp(imagesignalprocessing，图像信号处理)管线的各种处理单元。图9为一个实施例中图像处理电路的示意图。如图9所示，为便于说明，仅示出与本申请实施例相关的图像处理技术的各个方面。
如图9所示，图像处理电路包括isp处理器940和控制逻辑器950。成像设备910捕捉的图像数据首先由isp处理器940处理，isp处理器940对图像数据进行分析以捕捉可用于确定和/或成像设备910的一个或多个控制参数的图像统计信息。成像设备910可包括具有一个或多个透镜912和图像传感器914的照相机。图像传感器914可包括色彩滤镜阵列(如bayer滤镜)，图像传感器914可获取用图像传感器914的每个成像像素捕捉的光强度和波长信息，并提供可由isp处理器940处理的一组原始图像数据。传感器920(如陀螺仪)可基于传感器920接口类型把采集的图像处理的参数(如防抖参数)提供给isp处理器940。传感器920接口可以利用smia(standardmobileimagingarchitecture，标准移动成像架构)接口、其它串行或并行照相机接口或上述接口的组合。
此外，图像传感器914也可将原始图像数据发送给传感器920，传感器920可基于传感器920接口类型把原始图像数据提供给isp处理器940，或者传感器920将原始图像数据存储到图像存储器930中。
isp处理器940按多种格式逐个像素地处理原始图像数据。例如，每个图像像素可具有8、10、12或14比特的位深度，isp处理器940可对原始图像数据进行一个或多个图像处理操作、收集关于图像数据的统计信息。其中，图像处理操作可按相同或不同的位深度精度进行。
isp处理器940还可从图像存储器930接收图像数据。例如，传感器920接口将原始图像数据发送给图像存储器930，图像存储器930中的原始图像数据再提供给isp处理器940以供处理。图像存储器930可为存储器装置的一部分、存储设备、或电子设备内的独立的专用存储器，并可包括dma(directmemoryaccess，直接直接存储器存取)特征。
当接收到来自图像传感器914接口或来自传感器920接口或来自图像存储器930的原始图像数据时，isp处理器940可进行一个或多个图像处理操作，如时域滤波。处理后的图像数据可发送给图像存储器930，以便在被显示之前进行另外的处理。isp处理器940从图像存储器930接收处理数据，并对所述处理数据进行原始域中以及rgb和ycbcr颜色空间中的图像数据处理。isp处理器940处理后的图像数据可输出给显示器970，以供用户观看和/或由图形引擎或gpu(graphicsprocessingunit，图形处理器)进一步处理。此外，isp处理器940的输出还可发送给图像存储器930，且显示器970可从图像存储器930读取图像数据。在一个实施例中，图像存储器930可被配置为实现一个或多个帧缓冲器。此外，isp处理器940的输出可发送给编码器/解码器960，以便编码/解码图像数据。编码的图像数据可被保存，并在显示于显示器970设备上之前解压缩。编码器/解码器960可由cpu或gpu或协处理器实现。
isp处理器940确定的统计数据可发送给控制逻辑器950单元。例如，统计数据可包括自动曝光、自动白平衡、自动聚焦、闪烁检测、黑电平补偿、透镜912阴影校正等图像传感器914统计信息。控制逻辑器950可包括执行一个或多个例程(如固件)的处理器和/或微控制器，一个或多个例程可根据接收的统计数据，确定成像设备910的控制参数及isp处理器940的控制参数。例如，成像设备910的控制参数可包括传感器920控制参数(例如增益、曝光控制的积分时间、防抖参数等)、照相机闪光控制参数、透镜912控制参数(例如聚焦或变焦用焦距)、或这些参数的组合。isp控制参数可包括用于自动白平衡和颜色调整(例如，在rgb处理期间)的增益水平和色彩校正矩阵，以及透镜912阴影校正参数。
在本申请实施例中，该电子设备执行存储在存储器上的计算机程序时实现本申请实施例中光学元件检测方法的步骤。
本申请所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可包括非易失性和/或易失性存储器。合适的非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)，它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。