1.一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，包括由调试桌面和四个支脚构成的桌体，设置于桌体后侧的竖支架，设置于竖支架底部与调试桌面连接的走线槽，设置于竖支架上一侧的产品搁架，设置于产品搁架下部的焊锡丝挂钩，与产品搁架并排设置于竖支架上的显示器安装架，设置于竖支架上并位于显示器安装架下部的调试物料架，设置于竖支架上部的照明架，安置于照明架上的照明灯，以及设置于调试桌面底面的键盘架。
2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，所述产品搁架为竖向排列的3层，其中焊锡丝挂钩安置于最下层的产品搁架的下部。
3.根据权利要求2所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，所述产品搁架呈倾斜状安置，且其倾斜角度不超过15°。
4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，所述调试物料架与调试桌面的垂直距离为24.5cm。
5.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，所述焊锡丝挂钩的宽度为6.5cm。
6.根据权利要求1～5任一项所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，每个所述支脚下端均设有可调脚杯。
7.根据权利要求1～5任一项所述的一种晶体振荡器调试工作桌，其特征在于，所述调试桌面上设有废物孔，且调试桌面底部安装有位置与废物孔对应的废物盒。