一种CPU测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子电路检测技术领域，具体为一种CPU测试装置。

背景技术：

传统的CPU测试装置有一些结构缺陷造成CPU测试的效果和效率都不理想，主要体现在下面几个方面：第一，使用单轴气缸，模组运动不平稳，需要额外增加导向轴，使结构复杂；第二，结构比较复杂，转接比较多，导致CPU对位精度不高；第三，使用螺丝锁紧固定CPU，导致CPU偏位及损坏CPU。同时，传统的CPU测试结构比较繁琐，转接环节复杂，零件加工精度要求高。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种CPU测试装置，简化了结构，降低了加工精度要求，一定程度上也降低了产品成本并提高了CPU的对位精度；采用三轴气缸，使得模组的运动更平稳；更换CPU更方便、快捷；空间布局合理，改善了CPU散热效果；大大提高了测试通过率。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种CPU测试装置，包括散热组件、支架、平衡力组件、弹性顶针组件和CPU夹持组件；所述散热组件固定在支架前部，所述平衡力组件固定在支架的中心，所述弹性顶针组件位于平衡力组件两侧，所述CPU夹持组件位于平衡力组件下端。

作为本实用新型进一步改进的，所述CPU夹持组件包括侧压块和安装块，所述侧压块可拆卸的固定在安装块的侧面。

作为本实用新型进一步改进的，所述安装块上设有CPU安装槽，该安装槽一侧设有固定螺纹孔。

作为本实用新型进一步改进的，所述平衡力组件包括同步三轴气缸。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型方案的一种CPU测试装置，简化了结构，降低了加工精度要求，一定程度上也降低了产品成本并提高了CPU的对位精度；采用三轴气缸，使得模组的运动更平稳；更换CPU更方便、快捷；空间布局合理，改善了CPU散热效果；大大提高了测试通过率。

附图说明

下面结合附图对本实用新型技术方案作进一步说明：

附图1为本实用新型CPU测试装置的外形结构示意图；

附图2为本实用新型CPU测试装置的CPU夹持组件结构示意图。

图中：1、散热组件；2、平衡力组件；3、支架；4、CPU夹持组件；5、弹性顶针组件；6、安装块；7、侧压块；8、安装槽。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

如图1所示的一种CPU测试装置，简化了结构，降低了加工精度要求，一定程度上也降低了产品成本并提高了CPU的对位精度；采用三轴气缸，使得模组的运动更平稳；更换CPU更方便、快捷；空间布局合理，改善了CPU散热效果；大大提高了测试通过率。

为达到上述要求，上述CPU测试装置包括散热组件1、支架3、平衡力组件2、弹性顶针组件5和CPU夹持组件4；散热组件1固定在支架3前部，空气流通效果良好，散热效果有了明显的改善。

平衡力组件2固定在支架3的中心，弹性顶针组件5位于平衡力组件2两侧，使得测试装置的运动更加平稳和精准，而且结构更加简洁。

CPU夹持组件4位于平衡力组件2下端；CPU夹持组件4包括侧压块7和安装块6，侧压块7可拆卸的固定在安装块6的侧面。

安装块6上设有CPU安装槽8，该安装槽8一侧设有固定螺纹孔，使CPU准确定位，使用压块将其压紧。

平衡力组件2包括同步三轴气缸。

以上仅是本实用新型的具体应用范例，对本实用新型的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本实用新型权利保护范围之内。