用于补偿显示不良的显示面板的方法、装置和显示装置与流程

文档序号:12678076阅读:175来源:国知局
用于补偿显示不良的显示面板的方法、装置和显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种用于补偿显示不良的显示面板的方法、一种用于补偿显示不良的显示面板的装置和一种显示装置。



背景技术:

一般的,在显示面板领域,Mura类不良的发生率较高,该类不良主要是因为在制备显示面板的制备工艺中,经常会出现某些膜层涂覆不均匀现象。而一旦发生Mura类不良,会严重影响显示面板的良率。

因此,如何有效解决显示面板出现的Mura类不良,以提高显示面板的良率成为本领域亟待解决的技术问题。



技术实现要素:

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种用于补偿显示不良的显示面板的方法、一种用于补偿显示不良的显示面板的装置以及包括该装置的显示装置。

为了实现上述目的,本发明的第一方面,提供了一种用于补偿显示不良的显示面板的方法,所述方法包括:

提供初始驱动信号,以驱动显示面板进行显示;

获取显示面板的显示参数;

基于所述显示参数,确定显示面板的显示不良位置和显示不良位置的显示不良参数;

将所述显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对所述初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用所述最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致。

优选地,所述显示参数包括亮度参数。

优选地,所述获取显示面板的显示参数的步骤中,包括:

在与显示面板每个像素单元对应位置处设置光电二极管;

测量每个光电二极管产生的电流;

根据每个光电二极管产生的电流确定与其对应的像素单元的显示参数。

优选地,所述基于所述显示参数,确定显示面板的显示不良位置和显示不良位置的显示不良参数的步骤中,包括:

获取显示面板每个像素单元的显示参数;

将获取到的每个像素单元的显示参数分别与预设显示参数进行比较,与所述预设显示参数不匹配的像素单元所处的位置为所述显示不良位置;与所述预设显示参数不匹配的像素单元的显示参数为显示不良参数。

优选地,所述将所述显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对所述初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用所述最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致的步骤中,包括:

测量显示不良位置处的光电二极管的电流;

计算显示不良位置处的所述电流与预设显示参数对应的预设电流的差值,根据所述差值生成针对所述初始驱动信号的所述显示补偿参数。

优选地,所述将所述显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对所述初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用所述最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致的步骤中,包括:

当所述显示不良参数低于预设显示参数时,调高显示补偿参数,以使得所述显示不良参数与预设显示参数一致;和/或,

当所述显示不良参数高于预设显示参数时,调低显示补偿参数,以使得所述显示不良参数与预设显示参数一致。

本发明的第二方面,提供了一种用于补偿显示不良的显示面板的装置,所述装置包括:

获取模块,所述获取模块用于获取显示面板在初始驱动信号下的显示参数;

位置确定模块,所述位置确定模块用于基于所述显示参数,确定显示面板的显示不良位置;

所述获取模块还用于获取显示不良位置的显示不良参数;

补偿模块,所述补偿模块用于将所述显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对所述初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用所述最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致。

优选地,所述获取模块包括光电子模块和透明基板,所述光电子模块设置在所述透明基板上,所述光电子模块包括多个光电二极管,多个所述光电二极管在所述透明基板上呈多行多列排布。

本发明的第三方面,提供了一种显示装置,所述显示装置包括显示面板、电路板和用于补偿显示不良的显示面板的装置,所述电路板为所述显示装置提供驱动信号,所述用于补偿显示不良的显示面板的装置包括上述任意一种结构的用于补偿显示不良的显示面板的装置。

优选地,当所述获取模块包括光电子模块时,所述光电子模块设置在所述显示面板的出光侧,且每个光电二极管对应显示面板上的其中一个像素单元。

本发明的用于补偿显示不良的显示面板的方法,根据获取的显示参数,对显示不良位置进行确定,将不良位置的显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板,对该显示面板进行补偿,使得显示不良位置的参数与预设显示参数一致,消除Mura现象,提高显示面板的良率。

本发明的用于补偿显示不良的显示面板的装置,根据获取模块获取的显示参数,位置确定模块根据显示参数对显示不良位置进行确定,补偿模块将不良位置的显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板,对该显示面板进行补偿,使得显示不良位置的参数与预设显示参数一致,消除Mura现象,有效提高显示面板的良率。

本发明的显示装置,可以利用上述结构的用于补偿显示不良的显示面板的装置对该显示装置出现的显示不良进行补偿,以提高显示装置的显示良率。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。在附图中:

图1为本发明用于补偿显示不良的显示面板的方法的流程图;

图2为本发明用于补偿显示不良的显示面板的装置的结构示意图;

图3为本发明显示装置的第一实施例的结构示意图;

图4为本发明显示装置的第二实施例的结构示意图。

附图标记说明

100:用于补偿显示不良的显示面板的装置;

110:获取模块;

120:位置确定模块;

130:补偿模块;

200:显示装置;

210:显示面板;

220:电路板;

A:显示不良区域。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。

在本发明中,显示参数是指显示面板显示画面的视觉参数,包括亮度、色度、色温、对比度中的至少一者。

参考图1,本发明的第一方面,涉及一种用于补偿显示不良的显示面板的方法S100。其中,该方法包括以下几个步骤:

S110、提供初始驱动信号,以驱动显示面板进行显示;

在本步骤中,例如,可以采用栅极驱动电路驱动该显示面板,以使得该显示面板进行画面显示。

S120、获取显示面板的显示参数;

在本步骤中,对于显示参数的具体内容并没有作出限定,显示参数应当满足:具有显示不良的显示面板进行画面显示时,所获取的显示参数能够便于检测显示不良位置及该位置处的显示不良参数,便于对该位置处的显示不良参数进行补偿,以修复该显示不良的显示面板。另外,对于如何获取显示面板的显示参数并没有作出限定,根据不同的显示参数(例如,亮度或对比度等),所采用的获取方式也不相同,例如,在该显示参数为亮度参数时,可以采用光敏材料采集该显示面板的亮度参数信息。

S130、基于显示参数,确定显示面板的显示不良位置和显示不良位置的显示不良参数;

在本步骤中,在确定显示面板的显示不良位置时,可以根据所获取的显示参数,与预设显示参数进行对比或者每个像素单元的显示参数与其余像素单元的显示参数进行对比,以此进行确定显示不良位置,相应地,显示不良位置处的显示参数即为显示不良参数。当然,也可以采用其他的方式确定显示不良位置。

S140、将显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致。

在本步骤中,例如,可以利用显示不良参数与预设显示参数两者之间的差值,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,获得最终驱动信号,并利用该最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致。当然,也可以采用显示不良参数与预设显示参数两者之间的比值,对显示不良位置处的显示不良参数进行补偿等等。

本实施例的用于补偿显示不良的显示面板的方法中,可以用于对出现Mura类不良或污渍类不良的显示面板进行补偿,当然,也可以用于对显示面板出现其他类显示不良进行补偿。该类不良可以在Cell检测或模组检测中进行检测,当然,也可以利用本方法对该类不良进行检测。

在本实施例中,根据获取的显示参数,对显示不良位置进行确定,将不良位置的显示不良参数与预设显示参数进行比较,确定针对初始驱动信号的显示补偿参数,获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板,可以对显示不良的显示面板进行补偿,使得显示不良位置的参数与预设显示参数一致,能够有效消除Mura现象,提高显示面板的良率。

优选地,上述显示参数包括亮度参数。

本实施例中,在具有Mura类不良的显示面板中,其主要的表现形式是出现Mura处的亮度与其他区域的亮度不一致,因此,根据亮度一致与否,可以方便地判定出现Mura的区域。

优选地,上述步骤S120获取显示面板的显示参数中,还包括:

在与显示面板每个像素单元对应位置处设置光电二极管;

测量每个光电二极管产生的电流;

根据每个光电二极管产生的电流确定与其对应的像素单元的显示参数。

本实施例中,利用光电二极管的特性,光电二极管是一种PN结型半导体元件,当光线照射到PN结上时,半导体内电子受到激发,产生电子空穴对,在电场作用下产生电流,将光线强弱转换成相应的电流强弱。本例中,其可以将获取到的显示面板的亮度转换成电流,测量每个光电二极管所产生的电流,可以确定相应像素单元的亮度参数,方法简单。另外,每个像素单元对应位置处均设置有光电二极管,当某一个或某几个像素单元出现显示不良时,显示不良的像素单元对应的光电二极管的电流与其他光电二极管的电流会有差异,根据有差异的光电二极管所在的位置坐标可以准确地确定显示面板出现显示不良的像素单元所在的具体位置。

优选地,上述步骤S130基于显示参数,确定显示面板的显示不良位置和显示不良位置的显示不良参数中,还包括:

获取显示面板每个像素单元的显示参数;

将获取到的每个像素单元的显示参数分别与预设显示参数进行比较,与预设显示参数不匹配的像素单元所处的位置为显示不良位置;与预设显示参数不匹配的像素单元的显示参数为显示不良参数。

本实施例中,可以利用每个像素单元位置处设置的光电二极管,测量每个光电二极管所产生的电流,从而获取每个像素单元的亮度参数。当然,也可以采用其他方式获取显示面板每个像素单元的显示参数。将每个像素单元的显示参数分别与预设显示参数进行比较,能够便于准确判断出现显示不良具体位置,方法简单。

需要说明的是,对于预设显示参数,应当是符合显示面板正常显示时的显示参数。

优选地,上述步骤S140将显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致中,还包括:

测量显示不良位置处的光电二极管的电流;

计算显示不良位置处的电流与预设显示参数对应的预设电流的差值,根据差值生成针对初始驱动信号的显示补偿参数。

本实施例中,确定显示补偿参数的具体步骤,根据光电二极管所接收到显示面板各个像素单元所发出的亮度参数,并将该亮度参数转换为电流,便于测量与计算,通过计算该电流与预设显示参数对应的电流的差值,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板,能够有效消除Mura等显示不良现象,方法简单。

优选地,上述步骤S140将显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致中,还包括:

当获取到的显示不良参数低于预设显示参数时,调高显示补偿参数,以使得显示不良参数与预设显示参数一致;和/或,

当获取到的显示不良参数高于预设显示参数时,调低显示补偿参数,以使得显示不良参数与预设显示参数一致。

本实施例中,可以使得显示不良区域的显示不良参数始终与预设显示参数相一致,从而可以消除Mura等不良显示现象,提高显示面板的良率。

本发明的第二方面,涉及一种用于补偿显示不良的显示面板的装置100。参考图2,其中,该装置包括:

获取模块110,该获取模块110用于获取显示面板在初始驱动信号下的显示参数。

位置确定模块120,该位置确定模块120用于基于显示参数,确定显示面板的显示不良位置。

上述获取模块110还用于获取显示不良位置的显示不良参数。

补偿模块130,该补偿模块130用于将获取到的显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用最终驱动信号驱动显示面板,以使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致。

本实施例的用于补偿显示不良的显示面板的装置100中,可以用于对出现Mura类不良或污渍类不良的显示面板进行补偿,当然,也可以用于对显示面板出现其他类显示不良进行补偿。该类不良可以在Cell检测或模组检测中进行检测,当然,也可以利用本装置对该类不良进行检测。

在本实施例中,根据获取模块110获取的显示参数,位置确定模块120根据显示参数对显示不良位置进行确定,补偿模块130将不良位置的显示不良参数与预设显示参数进行比较,生成针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板,对该显示面板进行补偿,使得显示不良位置的显示不良参数与预设显示参数一致,能够有效消除Mura现象,有效提高显示面板的良率。

优选地,上述获取模块110还用于获取显示面板每个像素单元的显示参数;

位置确定模块120还用于将获取到的每个像素单元的显示参数分别与预设显示参数进行比较,与预设显示参数不匹配的像素单元所处的位置为显示不良位置,该位置处的显示参数即为显示不良参数。

本实施例中,获取模块110获取每个像素单元的显示参数,位置确定模块120基于每个像素单元的显示参数,在与预设显示参数进行比较后,能够准确确定显示不良位置,结构简单,能够有效提高显示面板的良率。

优选地,上述补偿模块130还用于当显示不良参数低于预设显示参数时,调高显示补偿参数,以使得该显示不良参数与预设显示参数一致;和/或,

当显示不良参数高于预设显示参数时,调低显示补偿参数,以使得该显示不良参数与预设显示参数一致。

本实施例中,可以使得显示不良区域的显示不良参数始终与预设显示参数相一致,从而可以消除Mura等不良显示现象,提高显示面板的良率。

优选地,上述获取模块110包括光电子模块(图中并未示出)和透明基板(图中并未示出),该光电子模块设置在透明基板上。其中,光电子模块包括多个光电二极管(图中并未示出),多个光电二极管在透明基板上呈多行多列排布。

本实施例中,利用光电二极管的特性,其可以将获取到的显示面板的亮度转换成电信号,测量光电二极管所产生的电流,可以确定相应显示参数。

优选地,每个光电二极管用于对应显示面板上的其中一个像素单元。

本实施例中,每个光电二极管对应显示面板上的一个像素单元,能够全面检测每个像素单元的显示参数,并对出现显示不良的像素单元进行补偿,以使得该像素单元的显示参数与预设显示参数一致,能够有效消除Mura等显示不良现象,提高显示良率。另外,每个光电二极管对应一个像素单元,多行多列排布的光电二极管具有确定的位置坐标,位置确定模块120可以根据该位置坐标确定出现显示不良的像素单元的位置,结构简单。

具体地,上述获取模块110中,多个光电二极管在透明基板上呈多行多列排布,因此该获取模块110形成一个膜层结构。在实际应用该获取模块110时,参考图4,可以将该获取模块110的透明基板贴附或安装在显示面板210上,与显示面板210一起形成显示装置200,获取模块110可以与电路板220电性连接,以便在后期显示面板210出现显示不良时,可以利用多个光电二极管对显示面板210进行检测,以便对该显示面板210进行补偿修复。当然,该获取模块110也可以是一个独立于显示装置200之外的结构,参考图3,当需要对显示面板210的显示不良进行补偿时,可以利用该获取模块110获取显示面板210的显示参数,以便对显示不良的显示面板进行补偿。

本发明的第三方面,涉及一种显示装置200。参考图3和图4,其中,该显示装置200包括显示面板210、电路板220和用于补偿显示不良的显示面板的装置,电路板220为显示装置200提供驱动信号,用于补偿显示不良的显示面板的装置包括上述任意一项的用于补偿显示不良的显示面板的装置100。

本实施例中,可以利用用于补偿显示不良的显示面板的装置100对该显示装置200出现的显示不良进行补偿,以提高显示装置200的显示良率。

优选地,当上述获取模块110包括光电子模块时,光电子模块设置在显示面板210的出光侧,且每个光电二极管对应显示面板210上的其中一个像素单元。

本实施例中,将光电二极管设置在显示面板210的出光侧,能够准确获取显示面板210各个像素单元的出射光线。每个光电二极管均对应显示面板210上的一个像素单元,一方面,根据所测量的每个光电二极管的电流,能够全面检测每个像素单元的显示参数,对出现显示不良的像素单元,计算得出针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,利用该最终驱动信号驱动显示面板210,可以实现对出现显示不良的像素单元进行补偿,以使得该像素单元的显示参数与预设显示参数一致。另一方面,在透明基板上多行多列排布的光电二极管,可以构成位置坐标,在对显示面板210进行补偿时,可以根据光电二极管所形成的位置坐标,准确定位出现显示不良的像素单元,以便对该位置处的像素单元进行补偿,提高显示面板210的显示良率。

优选地,上述补偿模块130和位置确定模块120可以设置在电路板220上,光电子模块与补偿模块130、位置确定模块120电性连接。

本实施例中,补偿模块130与位置确定模块120集成在电路板220上,结构简单。在对出现显示不良区域A的显示装置200进行补偿时,首先,测量光电子模块中的每个光电二极管所产生的电流,位置确定模块120可以接收光电二极管所产生的电流,并且可以根据该电流与预设显示参数对应的电流的差异,确定出现显示不良区域A的像素单元所处的位置坐标,同时,补偿模块130实时接收显示不良区域A对应的每个光电二极管所产生的电流,并将接收到的电流与预设显示参数对应的电流进行比较,并生成相应的针对初始驱动信号的显示补偿参数,以获得最终驱动信号,并利用该最终驱动信号驱动显示面板210,可以对显示不良区域A的每个像素单元进行补偿,能够有效消除显示不良现象,提高显示良率。

需要说明的是,图3中,获取模块110上的显示不良区域A示意的仅仅是显示面板210上的显示不良区域A在获取模块110上的位置坐标。

可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

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