一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置与流程

本发明涉及显示产品的
技术领域：
，特别涉及显示产品的测试
技术领域：
，具体涉及一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置。
背景技术：
：显示面板行业的快速发展，使得对面板行业的技术要求越来越严格，继而需要制造者时刻关注产品性能是否符合设计要求。以对面板上阵列基板栅极驱动(gatedrivenonarray，goa)产品扫描线输出波形以及经过rc时间延迟后的扫描线波形进行测试为例进行说明，一般的设计，不会单独拉引线到印刷电路板(printedcircuitboard，pcb)板上来对输出波形进行检测，因此，通过现有技术，很难得到准确的扫描线输出波形以及经过rc时间延迟后的扫描线波形。技术实现要素：本发明的主要目的是提出一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置，旨在解决传统的goa产品无法测得准确的扫描线输出波形的问题。为实现上述目的，本发明提出的一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的近端输出波形。可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段远离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。可选地，所述待测扫描线的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路；所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测点位于所述两个阵列基板栅极驱动电路的中端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。可选地，所述将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段的步骤中，所述数据线切断处位于所述待测点所在位置背离所述覆晶薄膜的一侧，所述数据线切断处靠近所述待测点所在位置设置。可选地，所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：通过镭射机将所述待测数据线段与所述待测点的重叠位置熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。可选地，所述显示装置还包括薄膜晶体管开关，所述薄膜晶体管开关的栅极电连接所述待测扫描线；所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：通过镭射机将所述待测数据线段与所述薄膜晶体管开关的栅极熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。可选地，所述通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测的步骤之后，还包括：将所述待测扫描线和所述待测数据线段之间的电连接切断；将所述覆晶薄膜和所述印刷电路板电导通；以及，将经过所述待测点所在位置的所述数据线电导通。此外，本发明还提出一种显示面板，所述显示面板包括：呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；以及，第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线。此外，本发明还提出一种显示装置，所述显示装置包括：印刷电路板；呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；阵列基板栅极驱动电路，电连接所述多行扫描线；覆晶薄膜，两端分别电连接至所述印刷电路板和所述多列数据线；第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线；以及，第二补接结构，设于所述印刷电路板和所述覆晶薄膜之间的导线上，用于电导通所述印刷电路板和所述覆晶薄膜。本发明的技术方案中，所述待测数据线段和所述待测扫描线电连接后，所述待测数据线段相当于一导线，将所述待测扫描线的输出信号引出至所述覆晶薄膜，使得通过所述覆晶薄膜，可直接对所述待测扫描线的输出信号进行检测，无需单独拉线至所述印刷电路板；并且，通过切断所述覆晶薄膜和所述印刷电路板之间的电连接，可消除所述印刷电路板对检测结果的影响，有助于提高检测结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本发明提供的显示面板测试方法的一实施例的流程示意图；图2为图1中的显示面板测试方法应用在显示装置时的结构示意图；图3为图1中待测扫描线和待测数据线段电连接处的部分结构的放大示意图；图4为图1中的显示装置测试后的结构示意图。附图标号说明：标号名称标号名称1印刷电路板5覆晶薄膜2扫描线6第一补接结构21待测扫描线7第二补接结构22待测点8薄膜晶体管开关3数据线81栅极31待测数据线段82漏极32测试数据线83源极4阵列基板栅极驱动电路本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“a和/或b”为例，包括a方案、或b方案、或a和b同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。显示面板行业的快速发展，使得对面板行业的技术要求越来越严格，继而需要制造者时刻关注产品性能是否符合设计要求。以对面板上阵列基板栅极驱动(gatedrivenonarray，goa)产品扫描线输出波形以及经过rc时间延迟后的扫描线波形进行测试为例进行说明，一般的设计，不会单独拉引线到印刷电路板(printedcircuitboard，pcb)板上来对输出波形进行检测，因此，通过现有技术，很难得到准确的扫描线输出波形以及经过rc时间延迟后的扫描线波形。鉴于此，本发明提供一种显示面板测试方法，图1至图3为本发明提供的显示面板测试方法的实施例。所述显示面板测试方法应用在显示装置中，请参阅图2，所述显示装置至少包括像素结构及其驱动电路，其中，所述像素结构包括呈交叉布设的多行扫描线2和多列数据线3，所述驱动电路具体包括扫描驱动电路和数据驱动电路，所述扫描驱动电路电连接所述多行扫描线2，用于为所述多行扫描线2提供驱动信号，所述数据驱动电路电连接所述多列数据线3，用于为所述多列数据线3提供驱动信号。所述扫描驱动电路和所述数据驱动电路的方案根据所述显示装置的不同可以设置为不同，但在本发明中，主要以阵列基板栅极驱动电路4作为所述扫描驱动电路、以覆晶薄膜5(chiponfilm，cof)作为所述数据驱动电路的ic封装方式的技术方案进行说明。另外，所述显示装置中的多种光学元器件一般是用印刷电路板1作为其相互连接的介质和载体。本发明中，所述印刷电路板1和所述覆晶薄膜5电连接，用于为所述覆晶薄膜5提供电信号。基于上述，请参阅图1和图2，在本实施例中，所述显示面板测试方法包括以下步骤：s10：在待测扫描线21的预设区段内选取待测点22；所述待测扫描线21指的是所述多行扫描线2中，检测人员当前需要进行检测的扫描线；所述待测扫描线21的数量可以设置为任意需要的一个或者多个；所述待测点22的选取数量也可以根据实际需求，设置为一个或者多个。所述预设区段，可以指所述待测扫描线21两端连接点之间的整个区段、或者任意长度的区段。s20：将经过所述待测点22所在位置的数据线3切断，以获得所述数据线3中与覆晶薄膜5连接的一段，作为待测数据线段32；由于所述多行扫描线2和所述多列数据线3呈交叉布设，使得每一行所述扫描线2上将间隔经过所述多列数据线3，当所述待测点22的位置确定后，经过所述待测点22的所述数据线(为便于理解，以下定义经过所述待测点22的所述数据线为测试数据线31)也可随之确定。将所述测试数据线31以例如镭射的方式进行切断，使之形成断路，从而使得所述数据驱动电路不再继续为所述测试数据线31提供驱动信号。此时，所述测试数据线31若只有一段与所述覆晶薄膜5连接，则确定该段为所述待测数据线段32；所述测试数据线31若两段均与一覆晶薄膜5连接，则选取其中任意一段作为所述待测数据线段32，对应地，下述步骤中的所述覆晶薄膜5，指的是与所述待测数据线段32连接的覆晶薄膜5。s30：将所述待测扫描线21与所述待测数据线段32电连接；鉴于上述，所述待测数据线段32相当于一导线，所述待测扫描线21与所述待测数据线段32的电连接，使得当所述阵列基板栅极驱动电路4为所述待测扫描线21提供驱动信号时，经过所述待测数据线段32，将所述驱动信号直接传输至所述覆晶薄膜5处。s40：将所述覆晶薄膜5和印刷电路板1之间的电连接切断；以及，其中，可采用的切断方式有多种，例如，当对应的所述显示装置后续仍需使用时，可针对性地将所述覆晶薄膜5和所述印刷电路板1之间的导线或者针脚进行可修复地断开，所述可修复地断开，也即使得在测试完成后，可通过熔接等方式，对断开处进行重连，使得所述显示装置可被修复至恢复之前的功能状态；而当对应的所述显示装置后续不再使用时，可直接将所述覆晶薄膜5从所述印刷电路板1上剥离，使得检测人员的操作更加简单方便。s50：通过所述覆晶薄膜5，对所述待测扫描线21在所述待测点22处的输出信号进行检测。本实施例对所述输出信号的具体表现形式不作限制，例如可以具体指输出波形，此时，可借助例如示波器，电连接所述覆晶薄膜5上对应的连接点，实时侦测并按需存储所述待测点22处的输出波形，以利于后续的分析研究。本发明的技术方案中，所述待测数据线段32和所述待测扫描线21电连接后，所述待测数据线段32相当于一导线，将所述待测扫描线21的输出信号引出至所述覆晶薄膜5，使得通过所述覆晶薄膜5，可直接对所述待测扫描线21的输出信号进行检测，无需单独拉线至所述印刷电路板1；并且，通过切断所述覆晶薄膜5和所述印刷电路板1之间的电连接，可消除所述印刷电路板1对检测结果的干扰，有助于提高检测结果的准确性。当所述输出信号具体指输出波形时，选取不同位置处的所述待测点22，可对应检测获得不同的输出波形。在本实施例的所述步骤s10中，所述待测扫描线21具有电连接至所述阵列基板栅极驱动电路4的连接端，所述待测点22位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线21的近端输出波形。例如，可以选取最靠近所述连接端的一列数据线3或者若干列数据线3作为所述测试数据线31，并将所述测试数据线31上经过所述待测扫描线21的点作为本实施例中的所述待测点22。由于所述待测点22更靠近所述阵列基板栅极驱动电路4，线损可忽略不计，因此，所述待测点22处检测获得的输出波形，即可作为所述待测扫描线21的近端输出波形。同样是在所述输出信号具体指输出波形的情况下，在本发明的另一实施例中，所述步骤s10中，所述待测扫描线21具有电连接至所述阵列基板栅极驱动电路4的连接端，所述待测点22位于所述预设区段远离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线21的远端输出波形。由于所述扫描线2和所述数据线3存在一定阻抗，所述扫描线2和所述数据线3的等效阻抗是一连串的串联rc电路构成的rc网络，电压信号在传输过程中会造成波形的延迟失真，并且随着与所述阵列基板栅极驱动电路4间的距离的逐渐增加，该延迟失真的程度一般会逐渐严重。电压信号的失真容易导致所述显示装置的亮度不均、闪烁、串扰等显示不良，因此，对所述远端输出波形的的测量，有助于获取所述待测扫描线21上rc延迟失真最为严重处的输出波形，从而有助于后续进行针对性的配线延迟分析。具体地，当所述显示装置由goa双驱面板线路进行驱动，也即所述待测扫描线21的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路4时，在所述步骤s10中，所述待测点22位于所述两个阵列基板栅极驱动电路4的中端，以检测获得所述待测扫描线21的远端输出波形。这是因为，所述中端距所述两个阵列基板栅极驱动电路4中任意一个的距离均是最远的，也即，存在的延迟失真也是相对最为严重的。接着，在另一实施例的所述步骤s20中，所述测试数据线31切断处位于所述待测点22所在位置背离所述覆晶薄膜5的一侧，有助于为所述测试数据线31预留足够的长度，供后续与所述待测扫描线21进行电连接；所述测试数据线31切断处靠近所述待测点22所在位置设置，有助于减少所述待测数据线段32的阻抗，从而降低对检测结果的干扰，提高检测结果的准确性。此外，在所述步骤s30中，将所述待测扫描线21与所述待测数据线段32电连接的具体方式可以有多种，请参阅图3，当所述测试数据线31在所述a处切断后，所述待测扫描线21与所述待测数据线段32可以在b处进行电连接，也即，通过镭射机，将所述待测数据线段32与所述待测点22的重叠位置进行熔接，以实现所述待测扫描线21与所述待测数据线段32之间的导通，具体涉及的所述镭射机的操作方法以及熔接方法，可以参考现有技术，此处不作详述。如此设置，使得所述熔接位置即对应所述待测点22所在位置，有助于直接将所述待测点22的输出信号经所述待测数据线段32传输至所述覆晶薄膜5处，减少损耗，提高检测准确性。或者，当所述显示装置还包括薄膜晶体管开关8时，请继续参阅图3，所述测试数据线31在所述a处切断后，所述待测扫描线21与所述待测数据线段32还可以在c处进行电连接。一般地，所述薄膜晶体管开关8的栅极81电连接一扫描线2、漏极82电连接一数据线3、以及源极83电连接一像素电极。因此，根据c处所示，所述薄膜晶体管开关8的栅极81电连接所述待测扫描线21，然后通过镭射机，将所述待测数据线段32与所述薄膜晶体管开关8的栅极81熔接，以实现所述待测扫描线21与所述待测数据线段32之间的导通。同样地，具体涉及的所述镭射机的操作方法以及熔接方法，可以参考现有技术，此处不作详述。由于所述薄膜晶体管开关8相较于上述的重叠位置，具有更大的可熔接金属面，供检测人员进行熔接操作，且不容易熔断，在确保所述待测扫描线21与所述待测数据线段32二者连接到位的同时，更便利于检测人员的操作。需要注意的是，上述两种电连接方式可同时采用，也即，既在所述重叠位置处进行熔接，又将所述待测数据线段32与所述薄膜晶体管开关8的栅极81熔接，实现双重连接保障。此外，需要注意的是，采取本发明提供的所述显示面板测试方法，对所述显示装置进行检测后，还可以根据需要，将所述显示装置的结构进行修复还原，具体地，在所述步骤s50之后，还包括：s60：将所述待测扫描线21和所述待测数据线段32之间的电连接切断；s70：将所述覆晶薄膜5和所述印刷电路板1电导通；以及，s80：将经过所述待测点22所在位置的所述数据线3电导通。也即，在准确测得所述显示装置的输出特性后，经过所述步骤s60～s80的操作，有助于对所述显示装置的结构进行修复，使之还原至检测前的功能状态，有利于所述显示装置进行后续的再次检测或者继续使用，提高所述显示装置的重复利用率，且减少因测试产生的经济损耗。当然，由于所述显示面板测试方法具有可还原性，所述显示面板测试方法例如也可适用于制造商对所述显示装置进行抽检或者全检的场合，测试后的所述显示装置一般可继续利用，而不被废除或者丢弃。基于此，本发明还提供一种显示面板，所述显示面板至少包括上述的像素结构以及阵列基板栅极驱动电路4，其中，所述像素结构包括呈交叉布设的多行扫描线2和多列数据线3；所述阵列基板栅极驱动电路4电连接所述多行扫描线2，用于为所述多行扫描线2提供驱动信号；另外，所述显示面板还包括第一补接结构6，所述第一补接结构6设于所述多列数据线3中的至少一列数据线3上，用于电导通所述至少一列数据线3。也即，在所述显示面板测试方法中，切断所述测试数据线31后，形成了所述待测数据线段32以及余下的一段，所述第一补接结构6用于将所述待测数据线段32以及所诉余下的一段进行重连，使得所述测试数据线31被修复而重新导通。所述第一补接结构6的具体表现形式不作限制，例如是焊接结构、或者其他专门配置的连接件等。此外，本发明还提供一种显示装置，请参阅图4，为本发明提供的所述显示装置的具体实施例。所述显示装置包括上述的像素结构及其驱动电路、第一补接结构6和第二补接结构7，具体地，所述像素结构包括呈交叉布设的多行扫描线2和多列数据线3，所述驱动电路包括阵列基板栅极驱动电路4、印刷电路板1以及覆晶薄膜5，所述阵列基板栅极驱动电路4电连接所述多行扫描线2；所述覆晶薄膜5的两端分别电连接至所述印刷电路板1和所述多列数据线3。与上述同理地，所述第一补接结构6设于所述多列数据线3中的至少一列数据线3上，用于电导通所述至少一列数据线3；另外，所述第二补接结构7设于所述印刷电路板1和所述覆晶薄膜5之间的导线或者针脚上，用于在采用所述显示面板测试方法进行测试后，对切断电连接之后的所述印刷电路板1和所述覆晶薄膜5进行修复连接。以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的
技术领域：
均包括在本发明的专利保护范围内。当前第1页12