用于感测有机发光显示器的退化的方法
【专利说明】用于感测有机发光显示器的退化的方法
[0001]本申请要求享有2014年9月5提交的韩国专利申请10_2014_0119357的权益，其中作为参考，在这里以全面阐述的方式引入了所述申请，以便用于所有目的。
技术领域
[0002]本发明的实施例涉及一种有机发光显示器，尤其涉及一种用于感测有机发光显示器中的有机元件的退化的方法。
【背景技术】
[0003]有源矩阵型有机发光显示器包括能够自行发光的有机发光二极管(以下将其称为“有机元件”)，并且具有快速响应时间、高发光效率、高亮度、宽视角等优点。
[0004]用作自发光元件的有机元件包括阳极电极、阴极电极以及在阳极电极与阴极电极之间形成的有机化合物层。有机化合物层包括空穴注入层HIL、空穴传输层HTL、发光层EML、电子传输层ETL以及电子注入层EIL。当驱动电压施加至阳极电极和阴极电极时，穿过空穴传输层HTL的空穴和穿过电子传输层ETL的电子移动到发光层EML，形成激子。由此，发光层EML产生可见光。
[0005]有机发光显示器以矩阵形式布置包含有机元件的子像素，并且依照视频数据的灰度级来调整子像素的亮度。每一个子像素包括驱动薄膜晶体管(TFT)，驱动TFT依照该驱动TFT的栅极电极与源极电极之间的栅-源电压Vgs来控制在有机元件中流动的驱动电流。通过与驱动电流的幅度成比例的有机元件发光量，来调整显示灰阶(即显示亮度)。
[0006]有机元件一般具有退化特性，即随着有机元件经过一段时间的发光时间，有机元件的工作点电压(即阈值电压)增大，发光效率降低。由于在每个子像素的有机元件上施加的累积电流值与每个子像素中表示的累积灰度级值成比例，因此，子像素的有机元件会具有不同的退化程度。子像素的有机元件之间的退化偏差会导致亮度偏差，而亮度偏差的增大会产生图像残留现象。
[0007]目前已知，现有技术的使用外部电路感测有机元件退化、并根据感测值来调制视频数据的补偿方法被用于对有机元件的退化偏差进行补偿。现有技术的补偿方法通过感测线将电流源连接到每个子像素，并且从电流源向有机元件施加感测电流。然后，现有技术的补偿方法根据通过感测线感测到的有机元件的阳极电压来判定有机元件的退化程度。
[0008]然而，现有技术的补偿方法存在以下问题。
[0009]首先，在每一个有机元件上施加的感测电流必须被均一设定，以便精确感测有机元件的退化。为此，电流源必须分别与感测线相连。在这种情况下，由于所需要的电流源的数量增加，因此有机发光显示器的制造成本和电流设计面积也会增大。此外，均一设定从所有电流源施加的感测电流是非常困难的，由此很难提高感测精度。
[0010]其次，依照连接结构，可以采用独立感测线结构或共享感测线结构来形成感测线。
[0011]在独立感测线结构中，可以将设置在同一水平线上的多个子像素分别连接到多条感测线。因此，有机元件可被单独操作，并且可以直接感测每一个有机元件的退化程度。然而，由于为每一个子像素分配一条感测线，因此，开口率减小。由此，在驱动有机元件的过程中，有机元件的电流密度将会增大。结果，在具有独立感测线结构的现有技术的有机发光显示器中，有机元件的退化速度增大，并且现有技术的有机发光显示器的使用寿命降低。
[0012]在共享感测线结构中，可以将设置在同一水平线上的多个子像素分别连接到多条感测线，并且构成每一个单位像素的子像素彼此可以共享同一条感测线。在具有共享感测线结构的现有技术的有机发光显示器中，由于各有机元件无法在退化感测过程中单独操作(也就是说，由于每一个单位像素的有机元件是同时操作的)，因此无法精确感测每一个有机元件的退化程度。
【发明内容】
[0013]本发明的实施例提供了一种用于感测有机发光显示器的退化的方法，该方法能在感测有机元件的退化的时候提高感测精度。
[0014]在一个方面中，提供一种用于感测有机发光显示器的退化的方法，所述有机发光显示器包括多个子像素、以及通过感测线而与所述多个子像素中的至少之一相连的感测单元，每一个子像素包括有机元件、以及用于控制所述有机元件的发光量的驱动薄膜晶体管(TFT)，所述方法包括:在初始化周期期间，将感测数据电压施加至所述驱动薄膜晶体管的栅极节点，并将初始化电压施加至所述驱动TFT的源极节点，以导通所述驱动TFT ;在初始化周期之后的升压周期期间，使所述驱动TFT的栅极节点和源极节点浮置，并且将所述驱动薄膜晶体管的漏-源电流施加至所述有机元件，以导通所述有机元件；在升压周期之后的感测周期期间，再次将所述初始化电压施加至所述驱动TFT的源极节点，且作为再次施加所述初始化电压的结果，所述驱动TFT的栅-源电压指示所述有机元件的退化程度，并且利用由所设定的栅-源电压控制的所述驱动TFT的漏-源电流，对所述感测线的线电容器充电，以及在感测周期之后的采样周期期间，输出所述线电容器中存储的电压，将其作为感测电压。
[0015]所述方法还包括在所述升压周期与所述感测周期之间的写入周期。在所述写入周期期间，再次将感测数据电压施加至所述驱动TFT的栅极节点，将所述驱动TFT的栅-源电压预设为指示所述有机元件的退化程度。
[0016]在一个实施例中，提供一种有机发光显不器的操作方法，所述有机发光显不器包括子像素，所述子像素包括有机元件、以及对经过所述有机元件的电流进行控制的驱动薄膜晶体管(TFT)。所述方法包括:将感测数据电压施加至所述驱动TFT的栅极节点，并将初始化电压施加至所述驱动TFT的源极节点，以导通驱动TFT ;在施加了所述感测数据电压和所述初始化电压之后，使所述驱动TFT的栅极节点和源极节点浮置，其中在使所述栅极节点和源极节点浮置的同时，所述源极节点处的源极电压至少提升至所述有机元件的导通电压；以及在使所述驱动TFT的栅极节点和源极节点浮置之后，在使所述栅极节点浮置的同时，再次将所述初始化电压施加至所述驱动TFT的源极节点，且作为再次将所述初始化电压施加至所述驱动TFT的源极节点的结果，所述驱动薄膜晶体管的栅-源电压被设定成指示所述有机元件的退化程度。
【附图说明】
[0017]所包括的附图提供对于本发明的进一步的理解，这些附图构成本申请的一部分，示出了一个或多个实施例，并且连同说明书一起用于说明这些实施例的原理。在附图中:
[0018]图1示出根据本发明例示实施例的有机发光显示器；
[0019]图2A和2B示出感测线与子像素之间的连接的示例；
[0020]图3和4示出面板阵列与数据驱动器集成电路(1C)的结构的示例；
[0021]图5示出应用了根据本发明例示实施例的退化感测方法的子像素以及感测单元的结构的示例；
[0022]图6示出一种根据本发明例示实施例的用于感测有机发光显示器的退化的方法；
[0023]图7示出当将图6所示的退化感测方法应用于图5所示的结构时的每一个周期中的控制信号波形以及电压变化波形；
[0024]图8A-8D分别示出在图7的初始化周期、升压周期、感测周期以及采样周期中的子像素操作和感测单元操作；
[0025]图9示出根据本发明例示实施例的用于感测有机发光显示的退化的另一种方法；
[0026]图10示出当将图9所示的退化感测方法应用于图5所示的结构时的每一个周期中的控制信号波形以及电压变化波形；
[0027]图11A-11E分别示出在图10的初始化周期、升压周期、写入周期、感测周期以及采样周期中的子像素操作和感测单元操作；
[0028]图12是示出有机元件的退化程度与感测电压之间的关系的图表；
[0029]图13是示出有机元件的退化程度与有机元件中流动的驱动电流之间的关系的图表;
[0030]图14是示出感测数据电压与感测电压之间的关系的图表；以及
[0031]图15-18示出根据修改示例的扫描控制信号、感测控制信号以及电压变化的修改示例。
【具体实施方式】
[0032]现在将详细参考附图中举例示出的本发明的实施例。在附图中将尽可能地始终使用相同的参考数字来标引相同或相似的部分。应该注意的是，如果确定关于已知技术的详细描述会误导本发明的实施例，那么将会省略该描述。
[0033]在这里参考图1-5来描述应用了根据本发明例示实施例的有机发光显示器的退化感测方法的有机发光显示器的结构。
[0034]图1示出根据本发明例示实施例的有机发光显示器。图2A和2B示出感测线与子像素之间的连接的示例。图3和4示出面板阵列与数据驱动器集成电路(1C)的结构的示例。
[0035]如图1至图4所示，根据本发明实施例的有机发光显示器可以包括显示面板10、时序控制器11、数据驱动电路12、栅极驱动电路13以及存储器16。
[0036]显示面板10包括:多条数据线14A，多条感测线14B，与数据线14A和感测线14B