基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法与流程

文档序号:12062126阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)在现有的暗场光学显微镜的基础上增加三维移动设备,三维移动设备控制微米级的微粒移动;

2)将待测样品置于显微物镜的焦平面上;

3)将微粒移动接近待测样品表面,距离待测样品不超过1微米;

4)入射光从侧面入射,暗场光学显微镜对微粒周围被散射光照亮的区域进行成像,并完成图像采集;

5)利用三维移动设备控制微粒在样品表面逐步按次序移动,并控制微粒距离待测样品表面的间隔不超过1微米,每移动一步,用暗场光学显微镜采集一次图像,直至完成待测样品表面的图像采集;

6)将所有采集图像按次序拼接,实现待测样品表面超分辨图像。

2.根据权利要求1所述基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,其特征在于,所述微粒大小为1至50微米,用来散射显微镜的入射光。

3.根据权利要求1所述基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,其特征在于,所述三维移动设备包括三维位移平台和微粒支架,微粒支架一端为尖端结构,尖端结构端吸附或者粘贴微粒,另一端连接至三维位移平台,三维位移平台通过微粒支架控制微粒在三维空间内自由移动。

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