技术总结
本发明涉及一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法，在现有暗场光学显微镜的基础上，利用微粒的散射光作为显微镜的照明光源，被散射光照明的区域可以获得超越衍射极限的空间分辨率，实现了空间超分辨成像。相比于普通的明场或暗场显微镜，本发明具有更高的空间分辨率。相比于近场扫描光学显微镜，通过微米颗粒在样品表面的扫描，可以获得整个样品表面的超分辨图像，本发明具有更快的成像速度，不需要在样品表面逐点扫描，每次成像范围可以达到10 μm2。
技术研发人员：凌进中;隋国荣;张大伟;贾星伟;严锦雯;高秀敏;沈奶连;庄松林
受保护的技术使用者：上海理工大学
文档号码：201611167202
技术研发日：2016.12.16
技术公布日：2017.05.24