一种光器件耦合预定位的方法与流程

文档序号:12457864阅读:789来源:国知局
一种光器件耦合预定位的方法与流程

本发明涉及光通讯产品加工技术领域,尤其是指一种光电、电光转换器的在生产过程中预定位的方法。



背景技术:

光纤通讯由于其通讯速度快,信息量大,而越来越多的应用到各种数据的传送之中。而在光电、电光的转换过程中,如附图1、2所示,需将发射器1发出的光L经透镜2集中于陶瓷内孔3,并焊接固定,被称之为发射耦合;或者将探测器对准入射的激光并粘接固定,被称之为接受耦合;然而在上述耦合固定过程中,部分产品存在如下问题:1. 留有的找光空间非常小;2. 激光器或者探测器装入夹头时位置一致性不好;3, 物料的加工导致尺寸和位置产生偏差。由于上述因素合并产生并导致上、下两个零件存在一定的偏差,而在找光对准过程中,会发生上、下两个零件互相碰撞而导致的耦合不良的问题。



技术实现要素:

本发明的目的在于克服上述现有技术中的不足之处,而提供一种光器件耦合预定位的方法。

本发明是通过如下技术方案实现的:一种光器件耦合预定位的方法,在需要对光的上、下两个零件之间,通过电路的导通与断开来测量两个零件的相对位置。

在需要对光的上、下两个零件之间设置一电压差,利用两者之间相对移动过程中产生的接触,形成电流与电压的变化,前后左右四个方向移动所产生的接触,则会形成四次电流与电压的变化,通过这四次接触的相对位置,则可计算出耦合的中心坐标。

本发明由于采用通过电路的导通与断开来实现找准对光,避免了由于相对位置偏差导致的碰撞问题。

附图说明:

附图1为习用技术工作原理图;

附图2为习用技术找准对光示意图;

附图3为本发明工作原理图;

附图4为本发明找准对光示意图之一;

附图5为本发明找准对光示意图之二;

附图6为本发明找准对光示意图之三。

具体实施方式:

一种光器件耦合预定位的方法,在需要对光的上、下两个零件之间,通过电路的导通与断开来测量两个零件的相对位置。

在需要对光的上、下两个零件之间设置一电压差,利用两者之间相对移动过程中产生的接触,形成电流与电压的变化,前后左右四个方向移动所产生的接触,则会形成四次电流与电压的变化,通过这四次接触的相对位置,则可计算出耦合的中心坐标。

见附图3~6,一种光器件耦合预定位的方法,首先在上、下两个零件1、3之间加入微弱电压,微弱电压不会对两个器件本身产生不良影响;在上、下两个零件没有接触的时候,电路是断开的,导线4内没有电流通过;在上、下两个零件1、3接触的时候,导线4内有电流通过;利用这种电路的导通性质引起电流与电压的变化,可以探测到上、下两个零件1、3是否接触。

前后左右移动,两个零件1、3之中的一个,在两个零件1、3接触的一瞬间,记录下电机的位置(命令位置和实际位置),我们能够得到四次接触时电机的位置,通过这四次位置,就可以得到两个零件1、3的相对偏移量。

知道两个零件1、3的相对偏移量后,软件可以根据偏移量重新计算耦合的中心点坐标,避免了由于相对位置偏差导致的碰撞问题。

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