光谱磨样机试样夹持装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种光谱磨样机试样夹持装置，涉及金属检测【技术领域】。本实用新型包括支架、调整套和试样夹持器，所述支架包括底板和垂直设于该底板上的支杆，调整套套装在支杆上、并能沿支杆上下移动和转动，试样夹持器通过连接杆与调整套相连。本实用新型结构简单、固定牢靠、操作方便、使用安全，能够大大提高试样的研磨效率和研磨质量，保证检测质量，降低检测人员安全隐患。
【专利说明】光谱磨样机试样夹持装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及金属检测【技术领域】。
【背景技术】
[0002]直读光谱仪能够对材料成分进行定性和定量分析，是具有先进水平的分析仪，广泛应用于钢铁冶金、铸造锻造、电力、金属加工、机械制造、航空航天等各领域。在钢铁冶炼过程中，对铁水成分的快速准确检测是保证产品质量、提高生产效率的重要条件之一，因此需要采用光谱分析法对铁水的成分进行时时检测。采用光谱分析法对铁水的成分进行检测，需要先取试样，然后用光谱磨样机对试样进行打磨，试样的研磨质量越高、检测时间越短，就能快速检测出冶炼铁水的成分，极大的节省了检测时间，并能根据检测结果及时调整材料成分配比，避免出现次品。
[0003]由于在炼钢炉前所用取的试样体积较小，且试样中间部位有毛刺，而现有的光谱磨样机没有夹持试样的装置，需要检测人员用手抓住试样在高速运转的磨样机上进行研磨，在磨样时检测人员手抓试样力度控制不均，致使试样表面研磨不平，研磨费时费力，效率低，试样研磨质量差，严重影响试样的检测质量，而且试样也容易飞出，对检测人员造成一定程度的伤害。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种光谱磨样机试样夹持装置，结构简单、固定牢靠、操作方便、使用安全，能够大大提高试样的研磨效率和研磨质量，保证检测质量，降低检测人员安全隐患。
[0005]为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是:一种光谱磨样机试样夹持装置，包括支架、调整套和试样夹持器，所述支架包括底板和垂直设于该底板上的支杆，调整套套装在支杆上、并能沿支杆上下移动和转动，试样夹持器通过连接杆与调整套相连。
[0006]所述试样夹持器的下端面设有卡样槽，该卡样槽与试样外形相匹配；在卡样槽的底部设有磁铁，该磁铁下端面到试样夹持器的下端面之间的距离小于试样的高度。
[0007]所述卡样槽的槽壁还设有取样口。
[0008]所述支架还包括设于支杆顶端的顶板，在顶板和底板之间至少设有两根支杆。
[0009]所述顶板和底板为三角形铁板，在三角形铁板上下对应的三个顶角处均设有一根支杆，调整套套装在其中一根支杆上。
[0010]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:该装置支架的底板固定在磨样机上，调整套带动试样夹持器能够绕支杆上下移动和转动，把试样放入试样夹持器，并调整到磨样位置，用手抓住试样夹持器，即可轻松快速对试样进行研磨。该装置结构简单、试样固定牢固，使用安全、操作方便，能够大大提高试样的研磨效率和研磨质量，保证检测质量，并大大降低安全隐患。【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1是本实用新型的结构示意图；
[0012]图2是图1的仰视图；
[0013]图中标记:1、底板；2、支杆；3、调整套；4、连接杆；5、试样夹持器；6、磁铁；7、卡样槽;8、取样口 ;9、顶板。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0015]参见图1、图2，本实用新型包括支架、调整套3和试样夹持器5，所述支架包括底板I和垂直设于该底板I上的支杆2，调整套3套装在支杆2上、并能沿支杆2上下移动和转动，试样夹持器5通过连接杆4与调整套3相连，通过转动和上下移动调整套3，把试样夹持器5调整到磨样位置，连接杆4的长度要保证试样夹持器5能够到达研磨位置。所述试样夹持器5的下端面设有卡样槽7，该卡样槽7与试样外形相匹配；在卡样槽7的底部设有磁铁6，该磁铁6能牢牢吸住试样，该磁铁6下端面到试样夹持器5的下端面之间的距离小于试样的高度,试样高出试样夹持器5的下端面的高度，要保证能够研磨出光滑合格的检测面。所述卡样槽7的槽壁还设有取样口 8，由于研磨好的试样被磁铁6吸住，不方便取出，而用一根小铁棍，从取样口 8敲打试样，即可很容易的把试样取出。
[0016]所述支架还包括设于支杆2顶端的顶板9，在顶板9和底板I之间至少设有两根支杆2 ;所述顶板9和底板I为三角形铁板，在三角形铁板上下对应的三个顶角处均设有一根支杆2，调整套3套装在其中一根支杆2上。
[0017]本实用新型的具体操作过程如下:
[0018](I)把底板I固定在磨样机上，将待磨试样放入卡样槽7内，试样被嵌入的磁铁6牢牢吸附住；
[0019](2)沿支杆2上下移动调整套3，并转动调整套3，使试样处于磨样机磨样位置；
[0020](3)启动磨样机,手向下摁住试样夹持器5,使试样与抛光片充分接触；
[0021](4)研磨好后，关闭磨样机，向上移动并转动调整套3，将试样夹持器5与磨样机分开，用小锤从取样口 8敲打试样,吸附在磁铁6上的试样与试样夹持器5分离；
[0022](5)试样磨样结束后,试样温度较高,等冷却后,抛光面均勻,手持试样可用于光谱分析。
[0023]该装置结构简单、卡持牢固、使用安全、操作方便，能够大大提高试样的研磨效率和研磨质量，保证检测质量，并能避免检测人员伤手，试样固定牢固，避免试样飞出的危险，大大降低安全隐患。
【权利要求】
1.一种光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于:包括支架、调整套(3)和试样夹持器(5)，所述支架包括底板(I)和垂直设于该底板(I)上的支杆(2)，调整套(3)套装在支杆(2)上、并能沿支杆(2 )上下移动和转动，试样夹持器(5 )通过连接杆(4 )与调整套(3 )相连。
2.根据权利要求1所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于:所述试样夹持器(5)的下端面设有卡样槽(7)，该卡样槽(7)与试样外形相匹配；在卡样槽(7)的底部设有磁铁(6)，该磁铁(6)下端面到试样夹持器(5)的下端面之间的距离小于试样的高度。
3.根据权利要求2所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于:所述卡样槽(7)的槽壁还设有取样口(8)。
4.根据权利要求1或3所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于:所述支架还包括设于支杆(2 )顶端的顶板(9 )，在顶板(9 )和底板(I)之间至少设有两根支杆(2 )。
5.根据权利要求4所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于:所述顶板(9)和底板(I)为三角形铁板，在三角形铁板上下对应的三个顶角处均设有一根支杆(2)，调整套(3)套装在其中一根支杆(2)上。
【文档编号】B24B41/06GK203696746SQ201420083176
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2014年2月26日 优先权日:2014年2月26日
【发明者】赵海波, 郭延强 申请人:新兴铸管股份有限公司