专利名称：半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的设计方法
技术领域：
本发明涉及半导体集成电路装置(以下记作LSI)，特别涉及内藏在故障诊断中使用非扫描测试方法的块(以下记作非扫描块)和使用扫描测试方法的块的LSI。
图8是包含非扫描块和扫描块且在故障诊断中使用扫描测试方法的LSI模块的模式图。图8A示出最简单构成的LSI模块80，图8B示出先有技术实际使用的构成的LSI模块90。81、93是非扫描块，82、84是扫描FF，87是选择器。85、91是输入信号，86、92、95是输出信号，88是扫描移入信号，89是扫描移出信号。
当在故障诊断中进行扫描测试时，扫描FF的Q和D与移位寄存器连接。而且，通过移位动作来任意设定扫描FF的值，通过俘获动作取入扫描FF的D输入信号，通过移位动作使扫描FF的值向LSI模块外部输出。
非扫描块81、93是没有考虑扫描测试而设计的块。因此，在扫描侧视时，因输入信号91、94不是扫描FF的输入等，故不能使94的值向LSI模块的外部输出。此外，在扫描测试时，因输出信号92、95不是扫描FF的输出等，故不能设定输出信号92、95的值。
下面，说明图7所示的与电路61时的扫描测试故障的检测。
首先，说明检测与电路61的I1输入端子的0简并故障(缩退故障)、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障时的情况。这时，有必要从I1输入端子和I2输入端子输入“1”，再观测O1输出端子的值。为了向I1输入端子输入“1”，只要向扫描FF62移入“1”即可。此外，为了观测O1输出端子的值，使扫描FF62进行俘获动作再将O1输出端子的值保持在扫描FF62中，并执行移出动作即可。但是，能否将“1”输入到I2输入端子取决于输入信号63的供给源。因此，需要考察包含与电路61的输入级的LSI模块的以往的构成。
在图8A的LSI模块的情况下，因作为输入信号63由非扫描块81的输出信号92供给，故不能有意向图7的I2输入端子输入“1”。因此，不能检测与电路61的I1输入端子的0简并故障、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障。
因此，在先有技术中，有必要采用象图8B的LSI模块90那样的构成。在LSI模块90中，在输入信号63的供给侧设置选择器87和扫描FF82，扫描测试时，可以使用扫描FF82输入信号63设定为任意值。通过这样设置选择器87和扫描FF82，可以有意向与电路61的I2输入端子输入“1”。由此，可以检测与电路61的I1输入端子的0简并故障、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障。
同样，当检测与电路61的I1输入端子的1简并故障或I2输入端子的1简并故障时，也有必要向I2输入端子有意输入规定的值。因此，有必要采用象图8B的LSI模块90那样的构成。
其次，说明检测与电路61的O1输出信号的1简并故障时的情况。这时，有必要向与电路61的I1输入端子或I2输入端子输入“0”，再观测O1输出端子的值。为了向I1输入端子输入“0”，只要向扫描FF62移入“0”即可。此外，为了观测O1输出端子的值，使扫描FF62进行俘获动作再将O1输出端子的值保持在扫描FF62中，并执行移出动作即可。这样，通过控制扫描FF62，可以检测与电路61的O1输出信号的1简并故障。因此，能否检测与电路61的O1输出信号的1简并故障不取决于扫描块60的输入信号63的供给源是不是非扫描块的输出信号。即，无论是图8A的LSI模块80，还是图8B的LSI模块90，都能检测与电路61的O1输出信号的1简并故障。
其次，说明利用扫描测试检测NOT电路65的故障。
首先，说明检测NOT电路65的I3输入端子和O2输出端子的0简并故障的情况。这时，有必要向I3输入端子输入“1”，再观测O2输出端子的值。为了向I3输入端子输入“1”，只要向扫描FF62移入“1”即可。但是，能否观测O2输出端子的值取决于输出信号64的供给目的地。因此，需要考察包含与电路61的输出级的LSI模块的以往的构成。
在图8A的LSI模块80的情况下，因输出信号64作为非扫描块93的输入信号94供给，故不能观测O2输出端子的值。因此，不能检测NOT电路65的I3输入端子和O2输出端子的0简并故障。
另一方面，在图8B的LSI模块90中，作为输出信号64的供给目的地设置扫描FF84，扫描测试时，可以使用扫描FF84对输出信号64的值进行俘获动作，再保持在扫描FF84中，接着进行移出动作，在LSI模块90的外部观测输出信号64的值。通过采用该构成，可以观测输出端子O2的值，可以检测NOT电路65的I3输入端子和O2输出端子的0简并故障。
同样，当检测NOT电路65的I3输入端子和O2输出端子的1简并故障时，也有必要观测O2输出端子的值。因此，有必要采用象图8B的LSI模块90那样的构成。
如上所述，图8A的LSI模块80的构成是最简单的LSI模块的构成，对于以往构成的扫描块不适用。
图9是归纳扫描块60的与电路61和NOT电路65的能检测输入端子和输出端子的简并故障的条件的图。在以后的说明中，将在能用设在供给源的扫描FF控制输入信号63的情况下可检测的故障记作故障A。将在能用设在供给目的地的扫描FF观测输出信号64的情况下可检测的故障记作故障B。将和能否用设在供给源的扫描FF控制输入信号63和能否用设在供给目的地的扫描FF观测输出信号64无关，可利用扫描块内部的扫描FF62检测的故障记作故障C。
此外，在先有的技术中，在象A/D变换器(模数变换器)那样包含模拟电路部和控制它的数字电路部的块中，有时对模拟电路部使用非扫描测试，对数字电路部使用扫描测试。这时，根据和上述同样的理由，有必要在往返于模拟电路和数字电路的信号通路上插入扫描FF。
图10是这样的A/D变换器的模式图。A/D变换器105由数字电路部100、模拟电路部101、扫描FF106、107和选择器108构成。102、103是输入信号，104是输出信号。和可使用图7所示的扫描测试方法的块60一样，存在若在扫描测试时能控制从模拟电路部101向数字电路部100输入的信号就能检测出的故障A’和若在扫描测试时能观测从数字电路部100向模拟电路部101输出的信号就能检测出的故障B’。而且，和参照图8B的说明一样，利用扫描FF106、107和选择器108可以检测故障A’和故障B’。
图11是作为一般LSI的例子的通用微控制器LSI的模式图。状态控制电路110、ROM111、RAM112、串行I/F13和模拟电路114a、114b是非扫描块。CPU115、定时器116、A/D变换数字电路117、D/A变换数字电路118是扫描块。119表示输入输出控制电路。和上述先有例一样，为了提高扫描测试中的扫描块的故障捡出率，有必要在扫描块和非扫描块之间追加扫描FF。
图12示出为了能够进行扫描测试而在图11的通用微控制器LSI中增加扫描FF和选择器的状态。120～133是扫描FF，200～206是选择器。扫描FF120～133、选择器200～206分别插在扫描块和非扫描块之间。若是图12的LSI，则有7处插入扫描FF和选择器。
在图12中，虚线表示从非扫描块输出的信号。该信号在扫描测试中其值不能任意设定。但是，在扫描测试中，可以利用选择器201-206切换到其值能自由设定的扫描FF121、123、125、126、129、131、133的输出上。
此外，在图12中，点划线是输入到非扫描块的信号。该信号在扫描测试中其值不能观测。但是，通过利用扫描FF120、122、124、127、128、130、132来俘获该值，可以在扫描测试中观测该值。
其次，说明LSI的IP基础(base)设计流程。图13示出LSI的IP基础设计中的扫描电路设计流程。S1是设计非扫描块IP和扫描块IP之间插入的扫描FF块的步骤。S2是连接各IP和扫描FF块的步骤。S3是验证扫描FF块的连接的步骤。S4是逻辑合成扫描FF块的步骤。S5是验证插入了扫描FF和选择器的线路定时(timing of pass)的步骤。S6是扫描动作验证步骤。
参照图12的LSI具体说明步骤S1～S6。在步骤S1中，设计扫描FF120～133，选择器200～206。通常，扫描FF120～133和选择器200～206由RT(寄存器交换)级的HDL(硬件描述语言)描述。
在步骤S2中，象图12那样连接扫描FF120～133、选择器200～206、状态控制电路110、ROM111、RAM112、串行I/F113、模拟电路114a、114b、CPU115、定时器116、A/D变换数字电路117和D/A变换数字电路118。
在步骤S4中，对扫描FF120～133和选择器200～206的RT级的HDL进行逻辑合成，并变换成网络表。
在步骤S5中，验证有没有因扫描FF120～133的输入电容而增大的线路延迟和通过插入的选择器而产生的信号延迟以及由此引起的电路误动作。
在步骤S6中，将1芯片网络表输入ATPG(自动测试模式生成)工具中，生成扫描模式。
这里，若扫描电路出错，则扫描模式生成失败，所以，返回步骤S1，重新设计插在非扫描块IP和扫描块IP之间的扫描FF块，修正错误。
但是，在上述先有的LSI中，为了在设计时提高扫描测试的故障检出率，有必要在扫描块、CPU、定时器、A/D变换数字电路、D/A变换数字电路和非扫描块、状态控制电路、ROM、RAM、串行I/F、模拟电路等之间追加扫描FF和选择器，所以存在增大设计期间的问题。
例如，为了对图11的模式图所示的通用微控制器LSI实施扫描测试所必需要的工时数如下。
步骤S1所要的期间是1天/1处左右，7处共需要7天。步骤S2所要的期间是1小时/1处左右，7处共需要7小时。步骤S3所要的期间是1小时/1处左右，7处共需要7小时。步骤S4所要的期间是半天/1处左右，7处共需要3.5天。步骤S5所要的期间是半天/1处左右，7处共需要3.5天。步骤S6需要1天/1LSB。
这里，若扫描动作不对，则必须返回步骤S1重新设计。若假定返工设计一次，则对图11的通用微控制器LSI实施扫描测试必需要的工时数是(7天+1天+1天+3.5天+3.5天+1天)*2＝34天。
本发明的半导体集成电路装置包含非扫描块和扫描块。为了达到上述目的，第1半导体集成电路装置包括具有输入信号及输出信号的上述非扫描块和输入上述非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器。控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时选择上述非扫描块的输入信号，在不进行扫描测试时选择上述非扫描块的输出信号。
根据上述构成，因在扫描测试时能控制扫描块的输入信号和能观测输出信号，故在LSI设计时可以不增加扫描测试用的扫描FF或选择器而在扫描测试时得到高的故障捡出率。
在上述构成中，上述非扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。通过使各信号是这样一种关系，无论各信号是单数还是多数都能适用于本发明。
本发明的第2半导体集成电路装置包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、扫描触发器、输入上述非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为第1外部输出信号输出的第1选择器和输入上述扫描触发器的输出信号及上述非扫描块的第2输出信号并选择某一方作为第2外部输出信号输出的第2选择器。控制上述第1选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输出信号。控制上述第2选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择从上述扫描触发器来的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第2输出信号。
根据上述构成，当进行非扫描测试的块具有第1输出信号和第2输出信号时，可以得到和第1半导体集成电路装置同样的效果。
在上述构成中，上述非扫描块的第1输入信号、第1输出信号和上述第1外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输出信号、上述扫描触发器的输出信号和上述第2外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
本发明的第3半导体集成电路装置包括具有第1输入信号、第2输入信号及输出信号的上述非扫描块、输入上述非扫描块的第2输入信号的扫描触发器、输入上述非扫描块的第1输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器。控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号。控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输入信号的值。
根据上述构成，当进行非扫描测试的块具有第1输入信号和第2输入信号时，可以得到和第1半导体集成电路装置同样的效果。
在上述构成中，上述非扫描块的第1输入信号、上述非扫描块的输出信号和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输入信号最好是1个或多个信号。
本发明的第4半导体集成电路装置包括具有输入信号及输出信号的上述扫描块和输入上述外部输入信号和上述扫描块的输出信号并选择某一方向上述扫描块输入的选择器。控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时选择上述外部输入信号。
根据上述构成，因在扫描测试时能控制扫描块的输入信号和能观测输出信号，故在LSI设计时可以不增加扫描测试用的扫描FF或选择器而在扫描测试时得到高的故障捡出率。
在上述构成中，上述扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输入信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
本发明的第5半导体集成电路装置包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、输入上述非扫描块的第2输出信号的扫描触发器、输入上述外部输入信号和上述扫描块的第1输出信号并选择某一方输入到上述扫描块的选择器。控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的第1输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述外部输入信号。控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输出信号的值。
根据上述构成，当扫描块具有第1输出信号和第2输出信号时，可以得到和第4半导体集成电路装置同样的效果。
在上述构成中，上述扫描块的输入信号、第1输出信号、和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述扫描块的第2输出信号最好是1个或多个信号。
本发明的第6半导体集成电路装置包括具有输入信号及输出信号的上述扫描块、具有输入信号和输出信号且由上述扫描块控制的上述非扫描块、输入上述扫描块的输出信号和上述非扫描块的输出信号并选择某一方输入到上述扫描块的选择器。控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号。
根据上述构成，因在扫描测试时能控制扫描块的输入信号和能观测输出信号，故在LSI设计时可以不增加扫描测试用的扫描FF或选择器而在扫描测试时得到高的故障捡出率。
在上述构成中，上述扫描块的输入信号、输出信号和上述非扫描块的输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，且上述非扫描块的输入信号最好是1个或多个信号。
若按照本发明的第1半导体集成电路装置的设计方法，在设计扫描块和具有输入信号及输出信号的非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制该选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出。而且，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的外部输出信号。
根据上述构成的设计方法，在设计包含非扫描块和扫描块的LSI时，可以简单地构成而不需要在扫描块和非扫描块之间增加选择器，可以缩短设计时间。
在上述设计方法中，上述非扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
若按照本发明的第2半导体集成电路装置的设计方法，在设计扫描块和具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器、第1选择器和第2选择器，通过控制该第1选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输出信号，控制该第2选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描触发器的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第2输出信号。而且，经上述第1选择器和第2选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述第1选择器的输出变成送往上述扫描块的第1外部输出信号，上述第2选择器的输出变成送往上述扫描块的第2外部输出信号。
在上述设计方法中，上述非扫描块的第1输入信号、第1输出信号和上述第1外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输出信号、上述扫描触发器的输出信号和上述第2外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
若按照本发明的第3半导体集成电路装置的设计方法，在设计扫描块和具有第1输入信号、第2输入信号及输出信号的上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器和选择器，通过控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输入信号的值。通过控制该选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出。而且，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的外部输出信号。
在上述设计方法中，上述非扫描块的第1输入信号、上述非扫描块的输出信号和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输入信号最好是1个或多个信号。
若按照本发明的第4半导体集成电路装置的设计方法，在设计具有输入信号和输出信号的扫描块和非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时选择上述外部输入信号，向上述扫描块输入。而且，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述非扫描块的外部输出信号变成送往上述选择器的外部输入信号。
在上述设计方法中，上述扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输入信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
若按照本发明的第5半导体集成电路装置的设计方法，在设计具有输入信号及第1和第2输出信号的上述扫描块和上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器和选择器，通过控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输出信号的值，控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的第1输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述外部输入信号，向上述扫描块输入。而且，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述非扫描块的外部输出信号变成送往上述选择器的外部输入信号。
在上述设计方法中，上述扫描块的输入信号、第1输出信号、和上述外部输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述扫描块的第2输出信号最好是1个或多个信号。
若按照本发明的第6半导体集成电路装置的设计方法，在设计具有输入信号及输出信号的上述扫描块和具有输入信号及输出信号且由上述扫描块控制的上述非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出。而且，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的输入信号。
在上述设计方法中，上述扫描块的输入信号、输出信号和上述非扫描块的输出信号最好分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，且上述非扫描块的输入信号最好是1个或多个信号。
图1B是表示使用图1A所示的非扫描块的一例LSI模块的模式图。
图2A是本发明实施形态2的非扫描块的模式图。
图2B是表示使用图2A所示的非扫描块的一例LSI模块的模式图。
图3A是本发明实施形态3的非扫描块的模式图。
图3B是表示使用图3A所示的非扫描块的一例LSI模块的模式图。
图4A是本发明实施形态4的扫描块的模式图。
图4B是表示使用图4A所示的扫描块的一例LSI模块的模式图。
图5A是本发明实施形态5的扫描块的模式图。
图5B是表示使用图5A所示的扫描块的一例LSI模块的模式图。
图6是本发明的实施形态6的A/D变换器的模式图。
图7是先有例的扫描块的模式图。
图8A是表示使用图7的扫描块的LSI模块的简单构成的模式图。
图8B是表示过去实际使用的LSI模块的构成的模式图。
图9是将能检测图7的扫描块的简并故障的条件分类示出的图。
图10先有例的A/D变换器的模式图。
图11是先有例的通用微控制器LSI的模式图。
图12是表示可扫描测试的先有例的通用微控制器LSI的模式图。
图13是表示先有例的LSI的IP基础设计中的扫描电路设计的流程图。
发明的
具体实施例方式
(实施形态1)实施形态1的第1半导体集成电路装置是非扫描块的输入信号及输出信号和包含非扫描块的单元的外部输出信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同的例子。图1A、图1B示出输入信号、输出信号和外部输出信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图1A是本发明实施形态1的非扫描块的模式图。在图1A中，1、3是非扫描块，2是选择器。4是非扫描块1的输入信号，1a是非扫描块1的输出信号，5是对选择器的控制信号，6是非扫描块3的输出信号。输入信号4、输出信号1a和输出信号6分别与上述输入信号、输出信号及外部输出信号相当。
非扫描块3是对和过去一样的非扫描块1附加选择器2的单元。在下面的说明中，为说明构成LSI模块时方便起见，这样的单元也称作非扫描块。其它实施形态的说明也一样。
在非扫描块3中，可以利用选择器2控制作为输出信号6供给的信号。即，选择器2可以根据控制信号5的切换控制，选择输入信号4或输出信号1a中的某一个，作为输出信号6。在进行扫描测试时，切换选择器2，将输入信号4作为输出信号6输出。另一方面，在不进行扫描测试时，切换选择器2，将输入信号1a作为输出信号6输出。
其次，说明通过使用非扫描块3使用来进行LSI模块的故障检测的构成变得简单的情况。
如上所述，按照先有的技术，对于在扫描块的输入级和输出级设置了非扫描块的LSI模块，不能实现图8A那样的简单的结构。即，如图8B的构成那样，必须在扫描块60的输入级设置扫描FF82和选择器87，在输出级设置扫描FF84。
另一方面，在扫描块的输入级和输出级设置了本实施形态的非扫描块3的LSI模块可以采用与图8A相当的简单的构成。图1B示出使用了非扫描块3的LSI模块10的构成。LSI模块10具有扫描块60和非扫描块3，在故障诊断中使用扫描测试。非扫描块3具有图1A所示的构成。再有，为说明方便起见，对在扫描块60的输入级设置的非扫描块附加序号3，对在其输出级设置的非扫描块附加序号3’，两者的构成相同。作为LSI模块10的外部输入输出信号，存在输入信号85、输出信号86、扫描移入信号88、扫描移出信号89和非扫描块3、3’的控制信号51。
利用图1B所示的LSI模块10的构成，可以象以下那样检测图9所示的扫描测试时的3类故障A、B、C。
首先，说明故障A的检测。为了检测扫描块60中的故障A，必须从外部设定任意一个值作为输入信号63。在LSI模块10中，因在扫描块60的输入级一侧使用非扫描块3，故能够进行检测，下面将对此进行说明。
在进行LSI模块10的扫描测试时，从外部加控制信号51，切换非扫描块3内部的选择器2，选择输入信号4作为输出信号6。输入信号4是输入信号85，输入信号85是外部加给的信号。因此，通过对输入信号85输入任意值，可以将输出信号设定成该任意值。因该输出信号6作为扫描块60的输入信号63供给，故最终输入信号85的值作为扫描块60的输入信号63给出。即，通过在扫描块60的输入级一侧使用非扫描块3来构成LSI模块10，当进行LSI模块10的扫描测试时，可以对扫描块60的输入信号63设定任意值。
为了检测扫描块60中的故障B，必须能够从外部观测输出信号64的值。因在扫描块60的输出级一侧使用非扫描块3’，故通过观测输出端子86，可以从外部观测输出信号64的值。下面对此进行说明。
在进行LSI模块10的扫描测试时，从外部加控制信号51，切换非扫描块3’内部的选择器，选择输入信号4’作为输出信号6’。因输入信号4’是扫描块60的输出信号64，故输出信号6’的值变成为与输出信号64相同的值。因输出信号6’作为输出信号86向外部输出，故最终通过观测输出信号86的值，可以观测扫描块60的输出信号64的值。这样，若在扫描块60的输出级一侧使用非扫描块3’，则利用图1B所示的简单构成就可以通过观测输出端子86的值来观测扫描块60的输出信号64的值。因此，不用增加扫描FF就可以检测扫描块60的故障B。
对于故障C，象先有技术所叙述的那样，可以利用扫描块60内部的扫描FF进行检测，而不管输入信号63的供给源和输出信号64的供给目的地是否有扫描FF。
如上所述，利用图1A图1B所示的使用了本实施形态的非扫描块3、3’的LSI模块的构成，可以在扫描测试时检测所有应检测的故障A、B、C。进而，利用该构成，可以不需要在图8的先有例中所必需要的扫描FF82、84、选择器87等，使设计变得容易，且能缩短设计时间。
(实施形态2)实施形态2的第2半导体集成电路装置是具有非扫描块的输入信号及第1和第2输出信号且包含非扫描块的单元具有第1和第2外部输出信号的例子。非扫描块的输入信号和第1输出信号以及第1外部信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同，非扫描块的第2输出信号和扫描FF以及第2外部信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同。图2A、图2B示出非扫描块输入信号、第1和第2输出信号已经第1和第2外部输出信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图2A是实施形态2的非扫描块3a的模式图。非扫描块3a的构成是在图1A所示的构成中，增加了选择器9、扫描FF30，进而输出第2输出信号7。扫描FF30通过移出动作来观测值。非扫描块1的输出信号1a、1b分别输入到选择器2、9。对和图1A所示的要素相同的要素，附加同一参照号进行说明。这样，在非扫描块3a中，存在非扫描块1的1个输入信号4、2个输出信号1a、1b和作为外部输出信号的2个输出信号6、7。
图2A的非扫描块3a的动作如下。非扫描块3a通过使用了控制信号5的选择器2的切换控制，选择输入信号4或输出信号1a中的某一个作为输出信号6。此外，通过使用了控制信号5的选择器9的切换控制，选择扫描FF30的输出信号或输出信号1b中的某一个作为输出信号7。
当进行扫描测试时，通过使用了控制信号5的选择器2的切换控制，选择输入信号4作为输出信号6。此外，通过使用了控制信号5的选择器9的切换控制，选择扫描FF30的输出信号作为输出信号7。这样，当在扫描块的输入级使用非扫描块3a时，在进行扫描测试中的输出控制时，能够实现2个输出信号6和7的控制。此外，当在扫描块3a的输出级使用非扫描块3a时，在进行扫描测试中的信号观测时，能够通过输出信号6去观测输入信号4，可以实现1个输入信号的观测。
另一方面，当不进行扫描测试时，通过使用了控制信号5的选择器2和9的切换控制，选择非扫描块1的输出信号1a、1b作为输出信号6、7。
其次，说明通过使用非扫描块3a使用来进行LSI模块中的故障检测的构成变得简单的情况。
图2B是具有非扫描块3a和扫描块60a的LSI模块10a的模式图。扫描块60a具有2个输入信号63-1和63-2，并具有1个输出信号64。为说明方便起见，对在扫描块60的输入级设置的非扫描块附加参照序号3a，对在其输出级设置的非扫描块附加序号3a’。作为外部输出信号，LSI模块10a具有输入信号85、与非扫描块3a’的输出信号6’和7’对应的输出信号86-1和86-2、扫描移入信号88、扫描移出信号89和非扫描块3a、3a’的控制信号51。
利用图2B所示的LSI模块10a的构成，可以象以下那样检测图9所示的扫描测试时的3类故障A、B、C。
首先，说明故障A的检测。为了检测扫描块60a中的故障A，必须从外部设定任意一个值作为输入信号63-1和63-2。
通过和实施形态1相同的动作，可以经输入信号85从外部将扫描块60a的输入信号63-1设定为任意值。即，从外部加控制信号51，切换非扫描块3a内部的选择器2，选择输入信号4作为输出信号6，由此，可以将输入信号85的值作为扫描块60a的输入信号63-1设定。
通过扫描FF，可以将扫描块60a的输入信号63-2设定为任意值。即，从外部加控制信号51，切换非扫描块3a内部的选择器9，选择扫描FF30的输出信号作为输出信号7，由此，可以将扫描FF30的值作为扫描块60a的输入信号63-2设定。
为了检测扫描块60a中的故障B，必须能够从外部观测扫描块60a的输出信号64的值。在LSI模块10a中，因在扫描块60a的输出级一侧使用非扫描块3a’，故利用和实施形态1相同的动作，通过观测输出信号86-1，可以观测输出信号64的值。
对于故障C，象先有技术所叙述的那样，可以利用扫描块60a内部的扫描FF62进行检测，而不管输入信号63-1、63-2的供给源和输出信号64的供给目的地是否有扫描FF。
如上所述，利用图2B的构成，可以检测3类故障A、B、C。进而，利用该构成，可以不需要在图8B的先有例中所必需要的扫描FF82、84、选择器87等，使设计变得容易，且能缩短设计时间。
(实施形态3)实施形态3的第3半导体集成电路装置是非扫描块具有第1和第2输入信号及输出信号的例子。此外，非扫描块的第1输入信号和输出信号以及外部输出信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同，非扫描块的第2输入信号是1个或多个。图3A、图3B示出第1输入信号、第2输入信号、输出信号和外部输出信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图3A是实施形态3的非扫描块3b的模式图。非扫描块3b的构成是在图1A所示的构成中，在非扫描块1的输入级设置扫描FF31，进而输入第2输入信号。扫描FF30在扫描测试时可以通过移入动作来设定值。此外，对和图1A所示的要素相同的要素，附加同一参照号进行说明。这样，在非扫描块3b中，存在非扫描块1的2个输入信号4和8、输出信号1a和作为外部输出信号的1个输出信号6。
图3A的非扫描块3b的动作如下。非扫描块3b通过使用了控制信号5的选择器2的切换控制，选择输入信号4或输出信号1a中的某一个作为输出信号6。
当进行扫描测试时，通过使用了控制信号5的选择器2的切换控制，选择输入信号4作为输出信号6。这样，通过在扫描块的输入级使用非扫描块3b，在进行扫描测试中的输出控制时，能够实现1个输出信号6的控制。此外，当在扫描块的输出级使用非扫描块3b时，在进行扫描测试中的信号观测时，能够通过输出信号6去观测输入信号4。进而，通过使用扫描FF31去俘获输入信号8的值再移出，也可以观测输入信号8。即，可以实现2个输入信号4和8的观测。
另一方面，当不进行扫描测试时，通过使用了控制信号5的选择器2的切换控制，选择输出信号1a作为输出信号6。
其次，说明通过使用非扫描块3b使用来进行LSI模块中的故障检测的构成变得简单的情况。
图3B是具有非扫描块3b和扫描块60b的LSI模块10b的模式图。扫描块60b具有1个输入信号63，并具有2个输出信号64-1和64-2。为说明方便起见，对在扫描块60b的输入级设置的非扫描块附加参照序号3b，对在其输出级设置的非扫描块附加序号3b’。作为外部输入输出信号，LSI模块10b具有与非扫描块3b的输入信号4和8对应的输入信号85-1和85-2、与非扫描块3b’的输出信号6’对应的输出信号86、扫描移入信号88、扫描移出信号89和非扫描块3b、3b’的控制信号51。
利用图3B所示的LSI模块10b的构成，可以象以下那样检测图9所示的扫描测试时的3类故障A、B、C。
首先，说明故障A的检测。为了检测扫描块60b中的故障A，必须从外部设定任意一个值作为输入信号63。
通过和实施形态1相同的动作，可以经输入信号85从外部将扫描块60b的输入信号63设定为任意值。即，从外部加控制信号51，切换非扫描块3b内部的选择器2，选择输入信号4作为输出信号6，由此，可以将输入信号85-1的值作为扫描块60b的输入信号63设定。
为了检测扫描块60b中的故障B，必须能够从外部观测输出信号64-1、64-2的值。在LSI模块10b中，因在扫描块60b的输出级一侧使用非扫描块3b’，故利用和实施形态1相同的动作，通过观测输出端子86，可以观测扫描块60b的输出信号64-1的值。此外，通过使用扫描FF31俘获输入信号8’的值再移出来观测输入信号8’，也可以观测作为输入信号8’供给的输出信号64-2。
对于故障C，象先有技术所叙述的那样，可以利用扫描块60b内部的扫描FF62进行检测，而不管输入信号63的供给源和输出信号64-1、64-2的供给目的地是否有扫描FF。
如上所述，利用图3B的构成，可以检测3类故障A、B、C。进而，利用该构成，可以不需要在图8B的先有例中所必需要的扫描FF82、84、选择器87等，使设计变得容易，且能缩短设计时间。
(实施形态4)实施形态4的第4半导体集成电路装置是包含改良了的扫描块的例子。在本实施形态中，扫描块的输入信号和输出信号以及外部输入信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同。图4A、图4B示出输入信号、输出信号和外部输入信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图4A是实施形态4的扫描块20的模式图。扫描块20包含组合电路21、扫描FF22和选择器26。在本实施形态4中，为说明简单起见，示出组合电路21由与电路61和NOT电路65构成的情况。选择电路26的输出信号和输出信号25分别与扫描块的输入信号和输出信号相当，输入信号23和外部输入信号相当。扫描块20的动作如下。
在设计组合电路21时，可以预先利用扫描测试时自动扫描测试模式生成工具任意设定输出信号25的值，利用扫描FF22检测选择器26的输出信号的缺陷。假如不能利用扫描测试时自动扫描测试模式生成工具任意设定输出信号25的值，就要改变组合电路21的设计，使其能够任意设定。假如扫描测试时不能利用扫描FF22检测选择器26的输出信号的缺陷，就要改变组合电路21的设计，使其能检测出该故障。
在执行包含扫描块20的LSI的测试时，象以下那样去控制组合电路2的输入。
首先，当对LSI进行扫描测试时，通过控制信号24切换选择器26，选择输出信号25再输入到组合电路21中。因输出信号25的值可以利用自动扫描测试模式生成工具设定成任意值，故可以将自动扫描测试模式输入到组合电路21中，执行扫描测试。
其次，当对LSI不进行扫描测试时，通过控制信号24切换选择器26，选择输出信号23再输入到组合电路21中。即，在不是扫描测试时，可以将从输入信号23的供给源来的输出信号输入到组合电路21中。
图4B是具有图4A所示的扫描块20和非扫描块81、93的LSI模块10c的模式图。85是输入信号，86是输出信号，88是扫描移入信号，89是扫描移出信号。23是扫描块20的输入信号，25是其输出信号，24是控制信号，分别与图4A对应。
利用图4B所示的LSI模块10c的构成，可以象以下那样在扫描测试时检测故障A、B、C。
首先，可以象以下那样执行故障A的检测。当进行LSI模块10c的扫描测试时，利用控制信号24切换选择器26，选择输出信号25作为与电路61的输入B。该输出信号25是将通过移入动作能自由设定值的扫描FF22的值反相后的值。因此，若按照图4B的LSI模块10c的构成，因可以使用扫描FF22自由控制组合电路21的输入信号，故能够检测出故障A。
其次，象以下那样执行故障B的检测。当进行LSI模块10c的扫描测试时，将“1”移入扫描FF22，使与电路61的输入A为“1”，操作控制信号24，选择输出信号25作为与电路61的输入B。可以使用扫描FF22俘获输出信号25，再移出。这样，可以使用扫描FF22观测输出信号25，所以能检测故障B。
对于故障C，象先有技术所叙述的那样，可以利用扫描块20内部的扫描FF22进行检测，而不管输入端子23的供给源和输出端子25的供给目的地是否有扫描FF。
如上所述，按照使用了实施形态4的扫描块的LSI模块的构成，可以检测扫描测试时必需要检测的3类故障A、B、C。此外，可以不需要在图8B的先有例中所必需要的扫描FF82、84、选择器87等，使设计变得容易，且能缩短设计时间。
(实施形态5)实施形态5的第5半导体集成电路装置是扫描块具有输入信号和第1及第2输出信号的例子。此外，扫描块的输入信号和第1输出信号以及外部输出信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同。进而，扫描块的第2输出信号是1个或多个。图5A、图5B示出输入信号、第1输出信号、第2输出信号和外部输出信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图5A是实施形态5的扫描块20a的模式图。扫描块20a包含组合电路21a、扫描FF22和32、选择器26。在本实施形态5中，为说明简单起见，示出组合电路21a由与电路61和2个NOT电路65构成的情况。23是输入信号，24是对选择器26的控制信号，25和27是输出信号，66是扫描移入信号，67是扫描移出信号。扫描块20a的动作如下。
设计组合电路21a，使其可以利用扫描测试时自动扫描测试模式生成工具任意设定输出信号25的值，并利用扫描FF22检测选择器26的输出信号的缺陷，这一点与实施形态4相同。
在执行包含扫描块20a的LSI的测试时，象以下那样去控制组合电路21a的输入。
当对LSI进行扫描测试时，通过控制信号24切换选择器26，选择输出信号25再输入到组合电路21a中。但是，因扫描块20a的输出信号数比输入信号数多，故存在不能输入到选择器26的输出信号27。这时，在扫描测试时，利用扫描FF32进行输出信号27的值的观测。
当对LSI不进行扫描测试时，通过控制信号24切换选择器26，选择输入信号23输入到组合电路21a中。
图5B是具有图5A所示的扫描块20a和非扫描块81、93a的LSI模块10d的模式图。85是输入信号，86是输出信号，88是扫描移入信号，89是扫描移出信号。23是扫描块20a的输入信号，25和27是其输出信号，24是控制信号，分别与图5A对应。非扫描块93a具有2个输入信号94-1和94-2以及1个输出信号95。
利用图5B所示的LSI模块10d的构成，可以象以下那样在扫描测试时检测故障A、B、C。
首先，可以象以下那样执行故障A的检测。当进行LSI的扫描测试时，利用控制信号24切换选择器26，选择输出信号25作为与电路61的输入B。该输出信号25是将通过移入动作能自由设定值的扫描FF22的值反相后的值。因此，若按照图4B的LSI模块10d的构成，因可以使用扫描FF22自由控制组合电路21a的输入信号，故能够检测出故障A。
其次，象以下那样执行故障B的检测。当进行LSI模块10d的扫描测试时，将“1”移入扫描FF22，使与电路61的输入A为“1”，操作控制信号24，选择输出信号25作为与电路61的输入B。因此，可以使用扫描FF22俘获输出信号25，再移出。这样，可以使用扫描FF22观测输出信号25，进而，可以使用扫描FF32观测输出信号27。这样，因能观测2个输出信号25和27故能检测故障B。
对于故障C，象先有技术所叙述的那样，可以利用扫描块20a内部的扫描FF32进行检测，而不管输入端子23的供给源和输出端子25和27的供给目的地是否有扫描FF。
如上所述，按照使用了实施形态5的扫描块的LSI模块的构成，可以检测扫描测试时必需要检测的3类故障A、B、C。此外，可以不需要先有例中所必需要的扫描FF82、84、选择器87等，使设计变得容易，且能缩短设计时间。
(实施形态6)实施形态6的第6半导体集成电路装置是A/D变换器的例子。其模拟电路部是非扫描块，数字电路部是扫描块。关于在非扫描块和扫描块之间交换的信号，扫描块的输入信号、输出信号和非扫描块的输出信号分别是1个或多个且3种信号的个数相同，此外，输入到非扫描块的输入信号是1个或多个。在图6中，示出扫描块的输入信号、输出信号和非扫描块的输入信号、输出信号都是1个的例子。当处理2个以上的这样的信号时，只要将多个都是1个的结构并联使用即可。
图6是实施形态6的A/D变换器40的模式图。A/D变换器40包含选择器41、模拟电路部42和数字电路部43。44和46是输入信号，45是选择器41的控制信号，47是输出信号。A/D变换器40的动作如下。
在设计数字电路43时，可以预先利用扫描测试时自动扫描测试模式生成工具任意设定内部信号48的值，利用数字电路部43检测选择器41的输出信号的缺陷。假如不能利用扫描测试时自动扫描测试模式生成工具任意设定内部信号48的值，就要改变数字电路43的设计，使其能够任意设定。假如扫描测试时不能利用数字电路部43检测选择器41的输出信号的缺陷，就要改变数字电路部43的设计，使其能检测出该缺陷。
在执行对A/D变换器40的扫描测试时，通过控制信号45切换选择器41，选择作为数字电路部43的输出的内部信号48再输入到数字电路部43中。
当不进行扫描测试时，通过控制信号45切换选择器41，选择作为模拟电路42的输出的内部信号49再输入到数字电路部43中。
从以上的动作说明中可知，当扫描测试时能控制从模拟电路部42向数字电路部43输入的信号，就能检测故障A’，当扫描测试时能观测从数字电路部43向模拟电路部42输出的信号，就能检测故障B’，所以，A/D变换器40可以检测故障A’和故障B’。
此外，在该A/D变换器40中，为了扫描测试而插入的电路只有选择器41。因此，在图10的A/D变换器40中，与为了扫描测试而插入扫描FF106、107和选择器108的情况相比，可以省略扫描FF106、107。再有，当内部信号48的个数比内部信号49的个数多时，可以使用和实施形态5相同的方法。
作为本发明的效果的一个例子，示出可以削减用来在设计图11的模式图所示的构成的通用微控制器LSI时实施扫描测试所必须的工时数的例子。即，若按照本发明，在图13所示的扫描电路设计流程中，可以省去步骤S1～至步骤S5，因能够消除在扫描动作验证步骤S6中发觉的扫描电路的故障，故可以减少34天的工作量。
在以上的实施形态中，说明了输出信号分别是1个和1个或1个和2个或2个和1个的情况，但本发明也同样适用于输入信号、输出信号是多个的情况。
此外，在上述实施形态中，说明了组合电路21或21a由与电路和NOT电路构成的情况，但本发明同样适用于组合电路21是其它形式的情况。
此外，当内部信号48的个数比内部信号49的个数多时，可以使用和实施形态5的扫描块20a同样的方法。
此外，作为具体的电路例子，说明了A/D变换器40的情况，但本发明用于包含非扫描块和扫描块的其它构成的功能块也可以得到同样的效果。
权利要求
1.一种半导体集成电路装置，包含在故障诊断中适用于非扫描测试方法的块(以下称非扫描块)和在故障诊断中适用于扫描测试方法的块(以下称扫描块)，其特征在于包括具有输入信号及输出信号的上述非扫描块和输入上述非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器，控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述非扫描块的输入信号，在不进行扫描测试时选择上述非扫描块的输出信号。
2.权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述非扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
3.权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、扫描触发器、输入上述非扫描块的输入信号和第1输出信号并选择某一方作为第1外部输出信号输出的第1选择器和输入上述扫描触发器的输出信号及上述非扫描块的第2输出信号并选择某一方作为第2外部输出信号输出的第2选择器，控制上述第1选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输出信号，控制上述第2选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择从上述扫描触发器来的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第2输出信号。
4.权利要求3记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述非扫描块的第1输入信号、第1输出信号和上述第1外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输出信号、上述扫描触发器的输出信号和上述非扫描块的第2外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
5.权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于包括具有第1输入信号、第2输入信号及输出信号的上述非扫描块、输入上述非扫描块的第2输入信号的扫描触发器、输入上述非扫描块的第1输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器。控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号。控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输入信号的值。
6.权利要求5记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述非扫描块的第1输入信号、上述非扫描块的输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输入信号是1个或多个信号。
7.一种半导体集成电路装置，包含非扫描块和扫描块，其特征在于包括具有输入信号及输出信号的上述扫描块和输入上述外部输入信号和上述扫描块的输出信号并选择某一方向上述扫描块输入的选择器，控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时选择上述外部输入信号。
8.权利要求7记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输入信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
9.权利要求7记载的半导体集成电路装置，其特征在于包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、输入上述扫描块的第2输出信号的扫描触发器、输入上述外部输入信号和上述扫描块的第1输出信号并选择某一方输入到上述扫描块的选择器，控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的第1输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述外部输入信号，控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输出信号的值。
10.权利要求9记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述扫描块的输入信号、第1输出信号、和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述扫描块的第2输出信号是1个或多个信号。
11.一种半导体集成电路装置，包含非扫描块和扫描块，其特征在于包括具有输入信号及输出信号的上述扫描块、具有输入信号和输出信号且由上述扫描块控制的上述非扫描块、输入上述扫描块的输出信号和上述非扫描块的输出信号并选择某一方输入到上述扫描块的选择器，控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号。
12.权利要求11记载的半导体集成电路装置，其特征在于上述扫描块的输入信号、输出信号和上述非扫描块的输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的输入信号是1个或多个信号。
13.一种半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于在设计扫描块和具有输入信号及输出信号的非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制该选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出。经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的外部输出信号。
14.权利要求13记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述非扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
15.权利要求13记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于在设计扫描块和具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器、第1选择器和第2选择器，通过控制该第1选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输出信号，控制该第2选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描触发器的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第2输出信号，经上述第1选择器和第2选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述第1选择器的输出变成送往上述扫描块的第1外部输出信号，上述第2选择器的输出变成送往上述扫描块的第2外部输出信号。
16.权利要求15记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述非扫描块的第1输入信号、第1输出信号和上述第1外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输出信号、上述扫描触发器的输出信号和上述非扫描块的第2外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
17.权利要求13记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于在设计扫描块和具有第1输入信号、第2输入信号及输出信号的上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器和选择器，通过控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输入信号的值，通过控制该选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的外部输出信号。
18.权利要求17记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述非扫描块的第1输入信号、上述非扫描块的输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输入信号是1个或多个信号。
19.一种半导体集成电路装置的设计方法，在设计具有输入信号和输出信号的扫描块和非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时选择上述外部输入信号，向上述扫描块输入，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述非扫描块的外部输出信号变成送往上述选择器的外部输入信号。
20.权利要求19记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输入信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。
21.权利要求19记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于在设计具有输入信号及第1和第2输出信号的上述扫描块和上述非扫描块的连接时，配置扫描触发器和选择器，通过控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述扫描块的第2输出信号的值，控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的第1输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述外部输入信号，向上述扫描块输入，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述非扫描块的外部输出信号变成送往上述选择器的外部输入信号。
22.权利要求21记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述扫描块的输入信号、第1输出信号、和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述扫描块的第2输出信号是1个或多个信号。
23.一种半导体集成电路装置的设计方法，在设计具有输入信号及输出信号的上述扫描块和具有输入信号及输出信号且由上述扫描块控制的上述非扫描块的连接时，配置选择器，通过控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号输出，经上述选择器连接上述非扫描块和上述扫描块，使上述选择器的输出变成送往上述扫描块的输入信号。
24.权利要求23记载的半导体集成电路装置的设计方法，其特征在于上述扫描块的输入信号、输出信号和上述非扫描块的输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的输入信号是1个或多个信号。
全文摘要
包括具有输入信号及输出信号的非扫描块1和输入非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号6输出的选择器2。控制选择器，使其在进行扫描测试时选择非扫描块的输入信号4，在不进行扫描测试时选择非扫描块的输出信号。在扫描测试时，可以控制扫描块的输入信号，从而可以观测输出信号。
文档编号G01R31/317GK1391351SQ0212302
公开日2003年1月15日 申请日期2002年6月12日 优先权日2001年6月12日
发明者杉本有一郎 申请人:松下电器产业株式会社