专利名称：测试元件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种安装在测试仪上用于测试集成电路板线路测试的测试元件。
技术背景现有的用于集成电路板线路测试的测试元件一般是由导线、连接端子、测试端子构成。所述测试端子是由测试杆、杆套和弹簧构成，所述弹簧安装在杆套内，所述测试杆一端带有锥形探头，其另一端插入杆套内并固定在弹簧的活动端。导线的一端裸露，其裸露端与测试端子导电连接，导线的另一端通过连接端子连接到测试机上，使用时根据测试的对象不同而选择探头尺寸匹配的测试元件，这样才可以开始测试集成电路板的线路，而测试时主要是依靠弹簧使探头与集成电路板接触式探测。因此，这种结构普遍存在着一些不可避免的缺陷，如这种接触式的探测方式一方面是探测只能单板测试，另一方面也常常会因为弹簧弹性的损坏而造成接触不稳定从而导致测试性能不稳定；由于测试元件的结构复杂，从而造成加工的工艺复杂，因此也引起产品的制作成本和使用成本较高；测试元件的复杂结构也造成测试端子的体型不能缩小，因此可以探测的点间距较大；另外，弹簧的寿命严重影响到测试元件的使用寿命，造成测试元件寿命较短。
实用新型内容本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提供一种结构简单、使用方便、节省成本、测试性能稳定、使用寿命长、可实现批量测试的测试元件。
为解决上述技术方案，本实用新型所采取的技术方案是一种测试元件，所述测试元件为长直线形的测试针。
所述测试针的两端均可以呈圆锥形。
所述测试针的针体的上部可以设置有一扁形限位。
所述测试针的针体的顶端可以设置有固定头。
所述固定头可以呈圆柱形，其圆柱形的顶端带有圆锥形的尖顶。
所述固定头的底端可以呈阶梯状渐细。
所述固定头可以呈球形，所述针体的底端为梅花形齿。
所述测试针的针体的顶端可以设置有一扁形限位，所述限位的顶部呈球状，所述针体的底端为梅花形齿。
所述测试针的针体的上部靠近顶端处可以设置有固定头，所述固定头为一圆柱形的塑胶胶粒。
在上述技术方案中，我们采用结构简单的测试针取代传统的测试元件，从而改变了传统的接触式测试的方式，而实现了测试针插入集成电路板的线路中的连线通孔中，以插入测试的方式，有效的测试线路。因此本实用新型相对现有技术不仅结构简单，大大降低了生产成本和工艺的复杂性，同时延长了测试元件的使用寿命，增强了测试的稳定性，另外也减小了测试的最小点间距，扩大了测试范围，而且还可以实现多块集成电路板同时测试，从而提高了工效。
附图1为本实用新型测试元件的第一种实施例的结构示意图；附图2为本实用新型测试元件的第二种实施例的结构示意图；附图3为本实用新型测试元件的第三种实施例的结构示意图；附图4为本实用新型测试元件的第四种实施例的结构示意图；附图5为本实用新型测试元件的第五种实施例的结构示意图；附图6为本实用新型测试元件的第六种实施例的结构示意图；附图7为本实用新型测试元件的第七种实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合说明书附图及具体实施例对本实用新型测试元件作进一步详细说明。
参考附图1，本实用新型测试元件的第一种实施例是测试元件为一种长直线型的金属测试针。所述测试针的针体1结构匀称，其针体两端均呈圆锥形。
参考附图2，本实用新型的第二种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的顶端设置有圆柱形且带圆锥形尖顶的固定头2，针体1底端呈圆锥形。
参考附图3，本实用新型的第三种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的顶端设置有圆柱形带球形顶端的固定头2，所述固定头2的底端呈阶梯状渐细，所述针体1的底端为梅花形。
参考附图4，本实用新型的第四种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的上部设置有经压制而成的扁形限位3，其针体1的两端均呈圆锥形。
参考附图5，本实用新型的第五种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的顶部设置有经压制而成的扁形限位3，且所述限位3的顶部呈球状，其针体1的底端带有梅花形齿4。
参考附图6，本实用新型的第六种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的顶端设置球形的固定头2，其针体1的底端带有梅花形齿4。
参考附图7，本实用新型的第七种实施例提供的测试元件为一种长直线形的金属测试针。其针体1的上部靠近顶端处设置有固定头2，所述固定头2为圆柱形的塑胶胶粒，所述针体1的两端为光滑的水平面。
本实用新型提供的测试元件是与德国LM型测试机、玛尼亚测试机、复合式测试机(万用测试机)等测试仪器配合使用。使用时，将多块相同的集成电路板叠放成一摞，并置于测试机的测试架的托架上，同时将测试针直接插入测试架的测试顶板上。测试时测试机将一根带电的测试针穿入各块集成电路板上一个相同的连线通孔中，并与各个连线通孔相接触，这时测试机上便显示出各个连线通孔的线路导通状况，从而测试集成电路板是否合格。
根据采用测试机的型号的不同，测试元件的结构略有不同，其中固定头和限位的设置是为了利用测试机上的夹具固定测试针，并防止测试针从集成电路板的连线通孔中脱落。而梅花形齿的设置是为了与测试机的托架上的梅花形槽相匹配而设计。
由于本实用新型采用了测试针取代现有技术中的测试元件，从而简化的测试元件的结构，降低了成本以及加工工艺的难度，并且将可测试的最小点间距从现有技术的0.2mm提高至0.08mm。另外也克服了现有技术中由于受到弹簧寿命的影响容易出现测试性能不稳定的现象，使每根测试针的可准确测试次数为200万次以上，而现有技术中测试元件的可测次数仅约为30万次。而且，由于采用插入式的测试方法，从而改变了传统技术中仅可以单板测试的现状，实现了多板批量测试，大大提高了工效。
权利要求1.一种测试元件，其特征在于所述测试元件为长直线形的测试针。
2.如权利要求1所述测试元件，其特征在于所述测试针的两端均呈圆锥形。
3.如权利要求2所述测试元件，其特征在于所述测试针的针体的上部设置有一扁形限位。
4.如权利要求1所述测试元件，其特征在于所述测试针的针体的顶端设置有固定头。
5.如权利要求4所述测试元件，其特征在于所述固定头呈圆柱形，其固定头的顶端带有圆锥形的尖顶。
6.如权利要求5所述测试元件，其特征在于所述固定头的底端呈阶梯状渐细。
7.如权利要求4所述测试元件，其特征在于所述固定头呈球形，所述针体的底端为梅花形齿。
8.如权利要求1所述测试元件，其特征在于所述测试针的针体的顶端设置有一扁形限位，所述限位的顶部呈球状，所述针体的底端为梅花形齿。
9.如权利要求1所述测试元件，其特征在于所述测试针的针体的上部靠近顶端处设置有固定头，所述固定头为一圆柱形的塑胶胶粒。
专利摘要本实用新型公开了一种测试元件，为一种长直线形的金属测试针。使用时配合测试仪，从而实现了插入式测试集成电路板的线路的方法。因此本实用新型相对现有技术不仅结构简单，大大降低了生产成本和工艺的复杂性，同时延长了测试元件的使用寿命，增强了测试的稳定性，另外也减小了测试的最小点间距，扩大了测试范围，而且还可以实现多块集成电路板同时测试，从而提高了工效。
文档编号G01R1/067GK2634484SQ0326630
公开日2004年8月18日 申请日期2003年6月26日 优先权日2003年6月26日
发明者王俊峰 申请人:王俊峰