专利名称：铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及物体厚度测量的电子仪器，特别是用于对铁件表面涂层及非铁质复合层的厚度测量。
背景技术：
目前，对铁件表面涂层、非铁质复合层的厚度测量，是先用量具量出被测件的总厚度，再减去铁件厚度，得到其表面涂层或复合层的厚度。在不知铁件厚度时，还需要将涂层刮除后对铁件进行测量；对复合件还要做切片测量。不仅测量麻烦，而且对样品造成了破坏。由于目前的方法需要用到被测物体的两个面，而不能在一个表面进行测量，因而无法测量如家电、汽车等成品的表面涂层。
发明内容
本发明目的在于提供一种仅在物体的一面即外表面就可测量其表面涂层及非铁质复合层厚度的测量仪器，以方便使用。
本发明的方案是本发明包括磁场发生器、磁场强度传感器、放大电路、显示器，在一个半敞开式铁芯上设置磁场发生器和磁场强度传感器，磁场发生器采用线圈或磁铁，磁场强度传感器采用线性霍耳元件，磁场强度传感器与放大电路输入端连接，放大电路输出端与显示器连接。
本发明的优点是本装置在半敞开式铁芯上设置磁场发生器和磁场强度传感器，测量时将铁芯的开口端紧贴在被测物体表面，磁场发生器产生的磁力线经过铁芯、被测铁件形成回路，作用于磁场强度传感器，其输出的电信号经放大电路放大，在显示器上显示。由于在磁场强度恒定时，作用于磁场强度传感器上的磁场强度与物体表面涂层或非铁质复合层的厚度即磁路间隙大小有关，成反比，因此根据该传感器输出的信号，即可间接测出被测层的厚度。
下面根据附图和实施例对本发明作进一步说明。
图1是本发明的探测头结构示意图。
图2是本发明电路原理图。
图中1铁芯，2引线，3固定套，L线圈，IC1磁场强度传感器，IC2放大器，IC3稳压集成块，G显示器，K电源开关。
具体实施例方式
磁场发生器可采用线圈或磁铁，只要能产生恒定的磁场即可，本实施例采用的是线圈L。
磁场强度传感器IC1采用线性霍耳元件，型号是UGN3503，其输出的电压信号与穿过该元件的磁场大小成线性比例，为反比，当电源5V，零磁场时输出2.5V，饱和磁场时输出1.0V。
所述的半敞开式铁芯1是一端敞开的半环形软磁性铁芯，该铁芯中间有断口，通过非铁质材料的固定套3固定，磁场强度传感器IC1嵌设在断口中以引线2引出，使磁力线穿过其中。
参照图2，磁场强度传感器IC1与R1、R2、R3、R4、IC2组成的放大电路输入端连接，放大电路输出端与显示器G连接，G采用表头，与电阻R5串联后用于显示IC2的输出电压。
稳压集成块IC3、电容C组成稳压电路，用于稳定电路的电压，使线圈L产生恒定的磁场。
R2采用电位器，用以对放大电路进行调零。
工作时，先将探测头紧贴于表面清洁、平整的铁块或铁条上，接通电源开关K，L通电，其磁场作用于IC1，经R1、R2、R3、R4、IC2组成的放大电路放大，在表头G上显示，此时调整R2，使G为“0”刻度。
测量时，将探测头紧贴于被测物体表面，由于有表面涂层或非铁质复合层的存在，磁路存在间隙，作用于IC1上的磁场与调零时相比为小，IC1输出变大，放大后G显示值变大。
当表面层越厚，G显示越大，这样，在表头上刻成相应的刻度，就可以显示出被测表层的厚度。
实施例采用小功率线圈以及适当大的铁芯截面，这样，在测薄铁板时，可防止通过该薄铁板材料中的磁力线达到饱和，以保证测量结果的准确性。
权利要求
1.铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪，包括磁场发生器、磁场强度传感器、放大电路、显示器，其特征是在一个半敞开式铁芯上设置磁场发生器和磁场强度传感器，磁场强度传感器与放大电路输入端连接，放大电路输出端与显示器连接。
2.如权利要求1所述的铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪，其特征是所述的半敞开式铁芯是一端敞开的半环形软磁性铁芯，该铁芯中间有断口，磁场强度传感器嵌设在其中。
3.如权利要求1所述的铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪，其特征是磁场发生器采用线圈或磁铁。
4.如权利要求1所述的铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪，其特征是磁场强度传感器采用线性霍耳元件。
全文摘要
铁件表面涂层及非铁质复合层厚度测量仪，包括磁场发生器、磁场强度传感器、放大电路、显示器，在一个半敞开式铁芯上设置磁场发生器和磁场强度传感器，磁场强度传感器与放大电路输入端连接，放大电路输出端与显示器连接。磁场发生器产生的磁力线经过铁芯、被测铁件形成回路，作用于磁场强度传感器，其输出的电信号经放大电路放大，在显示器上显示。由于作用于磁场强度传感器上的磁场强度与物体表面涂层或非铁质复合层的厚度即磁路间隙大小有关，因此可间接测出被测层的厚度。
文档编号G01B7/06GK1758013SQ20041006692
公开日2006年4月12日 申请日期2004年10月9日 优先权日2004年10月9日
发明者阮诚龙 申请人:阮诚龙