专利名称：对象移动装置及成像装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种对象移动装置及成像装置，或更特定地，涉及一种对在成像空间内的对象成像的装置及移动该对象到在该成像装置内的该成像空间的对象移动装置。
背景技术：
包括X射线电子计算机断层成像(CT)系统在内的成像装置具有移动对象到成像空间的对象移动装置。该成像装置扫描被对象移动装置移动到成像空间的对象，以获得原始数据，及产生对象的图像。
例如，在X射线CT系统的情况中，对象被要求躺在包括在对象移动装置内的支架中。此后，对象移动装置将该支架移动到成像空间内。假设，例如当对象移动装置使支架在成像空间内滑动时，X射线管向对象辐射X射线，完成螺旋扫描。X射线检测器检测由对象透过的X射线从而获得原始数据。在这当中，X射线管和X射线检测器以对象的体轴方向作为旋转轴而旋转。X射线在围绕对象观察的方向上辐射，在观察的每个方向上获得原始数据。这时，对象移动装置检测支架的位置并移动支架使得支架定位于由扫描条件决定的位置。使用在观察的各个方向上获得的原始数据在想要的断层位置和断层厚度条件下重建对象的断层图像(参考例如专利文献1)。
专利文献1公开号10-314162的日本未审查专利申请。为了检测对象躺在其上的支架的位置，例如，一个转动壳体与该支架接触。使用转动编码器获得转动壳体产生的转数的信息，由此检测出支架的位置。
然而，为了增大扫描范围或减少扫描时间，要增大支架的移动速度及快速移动支架。因此，当使用转动编码器时，产生间隙或其他的缺点。因此，支架位置信息的错误可能变得有影响。最后，由于不能在扫描条件决定的位置上扫描对象，诊断效率下降了。
更特别地，在近年来，提出一种用于在支架不仅以特定速度移动而且加速或减速时获得原始数据的扫描过程。在这种情况中，上述缺点变得更显著了。
发明内容
因此，本发明的一个目的是提供一种对象移动装置，其能高度精确地检测对象所躺的支架的位置，有助于诊断效率的改善，并可快速移动，以及一种成像装置。
为了达到上述目的，本发明提供一种对象移动装置，其将对象移动到成像装置的成像空间内，该成像装置在该成像空间内对对象成像。该对象移动装置包括对象所躺的支架；支架支柱，其支撑该支架从而支架可以滑到成像空间中；及支架位置传感机构，其检测支架所滑到的位置。该支架位置传感机构包括刻度单元及传感器单元，该刻度单元具有形成于其上用于检测支架的位置的刻度，并延伸而涵盖支架能滑动的滑动范围，为了检测刻度单元的刻度，该传感器单元可随着支架的滑动在刻度单元延伸的方向上相对刻度单元移动。基于由传感器单元检测的刻度读数，支架位置传感机构计算支架滑到的位置。
根据本发明的成像装置是一种在成像空间内对对象成像的成像装置，其包括对象所躺的支架；支架支柱，其支撑该支架从而支架可以滑到成像空间中；及支架位置传感机构，其检测支架所滑到的位置；扫描对象的扫描设备，通过滑动支架将该对象移动到成像空间，以获得原始数据；及图像产生部件，其使用扫描设备获得的原始数据产生对象的图像。该支架位置传感机构包括刻度单元及传感器单元，该刻度单元具有形成于其上用于检测支架的位置的刻度，并延伸而涵盖支架能滑动的滑动范围，该传感器单元可随着支架的滑动在刻度单元延伸的方向上相对刻度单元移动并检测刻度单元的刻度。基于由传感器单元检测的刻度读数，支架位置传感机构计算支架滑到的位置。
根据本发明，提供了一种对象移动装置，其能高度精确地检测对象所躺的支架的位置，有助于诊断效率的改善，并可快速移动，以及一种成像装置。
从下面对本发明优选实施例的描述中，如在附图中图解的那样，本发明的其他目的和优点会变得显而易见。
图1是示出根据本发明一实施例的成像装置的大体结构的框图。
图2示出根据本发明实施例的成像装置的主要部分的结构。
图3示出包括在X射线检测器中的X射线检测器模块的结构，该X射线检测器合并在根据本发明实施例的成像装置中。
图4包括示出包括在根据本发明实施例的成像装置中的对象移动装置的侧视图。
图5是示出包括在根据本发明实施例的成像装置中的对象移动装置的正视图。
图6包括示出传感器部件连接到其中所包括的传感器控制单元的侧视图，该传感器部件包括在支架位置传感机构中，该机构包括在根据本发明实施例的成像装置中。
零件列表图132显示装置31输入装置30中央处理单元41控制单元51图像产生单元33存储装置20X射线管 22准直器26准直器控制器25X射线控制器23X射线检测器 24数据采集单元28扫描架控制器4对象移动装置图225X射线控制器 26准直器控制器28扫描架控制器图4(a)(b)133传感器控制单元图6(a)(b)133传感器控制单元具体实施方式
下面描述本发明的一实施例。
图1是示出作为根据本发明实施例的成像装置的X射线CT系统1的大体结构的框图。图2示出根据本发明实施例的X射线CT系统1的主要部分的结构。
如图1所示，X射线CT系统1包括扫描架2，操作控制台3和对象移动装置4。下面依次描述上述组件。
扫描架2包括X射线管20、X射线管驱动装置21、准直器22、X射线检测器23、数据采集单元24、X射线控制器25、准直器控制器26、转动壳体27，及扫描架控制器28。扫描架2扫描被对象移动装置4移动到成像空间29内的对象，而获得原始数据。这里，包括在扫描架2中的X射线管20和X射线检测器23相互面对，而对象被传送到的成像空间在它们中间。
X射线管20是，例如，阳极旋转型并辐射X射线。如图2所示，X射线管20根据从X射线控制器25发出的控制信号CTL251通过准直器22向对象内的扫描场以预定强度辐射X射线。此外，转动壳体27使X射线管20绕对象以z阵列方向转动，其对应对象的体轴方向作为转动轴，以在围绕对象观察的方向上辐射X射线。
如图2所示，根据从X射线控制器25发出的控制信号CTL251，X射线管驱动装置21在对应扫描架2的成像空间29中的对象的体轴方向的z阵列方向上，移动X射线管20的中间辐射口。
如图2所示，准直器22设置在X射线管20和X射线检测器23之间。准直器22包括，例如，在x通道方向上并列设置的两个板和在z阵列方向并列设置的两个板。根据从准直器控制器26发出的控制信号261，准直器22使在各自方向上并列设置地两对板相互独立地移动，由此从X射线管20辐射出的X射线在该方向上被阻挡并重组成为锥形光束。这样，调整了X辐射的范围。
X射线检测器23检测从X射线管20辐射出并通过包括在对象移动装置4中的支架101透过对象的X射线，并获得对象的投影数据作为原始数据以用来构建图像。在这当中，以z阵列方向作为转动轴，转动壳体27使X射线检测器23与X射线管20一起绕对象转动。在该若干个围绕对象的观察方向中的每一方向上，X射线检测器23检测透过对象的X射线，并产生投影数据。X射线检测器23具有以阵列形式在x通道方向上和在z阵列方向上二维设置的检测单元23a，该x通道方向对应一方向在其上以对象的体轴方向作为转动轴转动壳体27使X射线管20转动，该z阵列方向基本与由转动壳体27产生的X射线管20的旋转所确定的轨迹定义的平面相垂直。此外，如图2所示，X射线检测器23具有在每个x通道方向和z阵列方向上排列的若干个X射线检测模块23A。X射线检测器23具有在x通道方向上并列设置的J X射线检测器模块23A和在z阵列方向上并列设置的IX射线检测器模块23A。
图3示出包括在X射线检测器23内的X射线检测器模块23A的结构。如图3所示，X射线检测器模块23A具有检测X射线的检测器单元23a，其以阵列形式设置在x通道方向和z阵列方向上。该若干个二维设置的检测器单元23a构成以圆柱形凹面的形式弯曲的X射线入射面。X射线检测器模块23A具有，例如，在x通道方向上排列的i检测器单元23a和在z阵列z阵列方向上排列的j检测器单元23a。
检测器单元23a是，例如，一种固体检测器，包括将透过对象的X射线转换为光线的闪烁体(未示出)以及将由闪烁体转换出的光线转换为电荷的光电二极管。包括在各个检测器单元23a中的光电二极管形成在包括每个X射线检测器模块23A中的同一基底中。该检测器单元23a不限于由闪烁体和光电二极管组成的检测器单元。可选的，使用碲化钙(CdTe)的半导体检测器单元或使用氙(Xenon)气的离子室型检测器单元23也可以用。
包括用于采集从被X射线检测器23检测的X射线来的数据的数据采集单元24。该数据采集单元24从被包括在X射线检测器23中的检测器单元23a检测的X射线中获得对象的投影数据，并将数据传输到操作控制台3。如图2所示，数据采集单元24包括选择/加法开关电路(MUX，ADD)241和模拟-数字转换器(ADC)242。选择/加法开关电路241根据从中央处理单元30送出的控制信号CTL303选择由包括在X射线检测器23中的检测器单元23a产生的投影数据，或对投影数据项求和，并将选择或求和的结果传输到A/D转换器242。该A/D转换器242将由选择/加法开关电路241选择或通过将任何投影数据项求和而算得的投影数据从模拟信号转换为数字信号，并将该数字信号传输到中央处理单元30。
如图2所示，根据从中央处理单元30发出的控制信号CTL301，X射线控制器25将控制信号CTL251传输到X射线管20，从而控制X射线辐射。该X射线控制器25控制，例如，X射线管20的管电流或辐射时间。另外，根据从中央处理单元30发出的控制信号CTL301，X射线控制器25将控制信号CTL252传输到X射线管驱动装置221，从而控制X射线管20使得X射线管20的中央辐射口在z阵列方向移动。
如图2所示，根据从中央处理单元30发出的控制信号CTL302，准直器控制器26将控制信号CTL261传输到准直器22，从而控制准直器22使得准直器22重组从X射线管20辐射出的X射线。
如图1和图2所示，根据从扫描架控制器28发出的控制信号CTL28，以对应对象的体轴方向的z阵列方向作为旋转轴，转动壳体27转动。转动壳体27容纳X射线管20、X射线管驱动装置21、准直器22、X射线检测器23、数据采集单元24、X射线控制器25，及准直器控制器26。转动壳体27转动这些组件以改变它们相对于移至成像空间29内的对象的位置。当转动壳体27转动时，在若干个围绕对象观察的方向上辐射X射线。X射线检测器23检测在每个观察方向上透过对象的X射线。另外，根据从扫描架控制器28发出的控制信号CTL28，转动壳体27倾斜。转动壳体27的倾斜是以其与成像空间29的相同中心为关于一水平方向的支点，对象移动装置4在该水平方向上将对象移入或移出成像空间29。
如图1和图2所示，根据从结合在操作控制台3中的中央处理单元30发出的控制信号CTL304，扫描架控制器28发射控制信号CTL28到转动壳体27，从而使转动壳体27旋转或倾斜。扫描架控制器28使转动壳体27旋转，由此在以对应对象的体轴方向的z阵列方向作为旋转轴观察的多个方向上辐射X射线，并检测透过对象的X射线。此外，扫描架控制器28使转动壳体27相对于水平方向倾斜，在该水平方向上对象被对象移动装置4移入或移出成像空间29。
如图1所示，操作控制台3包括，中央处理单元30、输入装置31、显示装置32，及存储装置33。
例如，用计算机实现中央处理单元30，如图1所示，其可包括控制单元41和图像产生单元51。
控制单元41控制相关的组件使得X射线在扫描对象的条件下从X射线管20辐射到对象上并且用X射线检测器23检测透过对象的X射线。特别是，根据扫描的条件，控制单元41将控制信号CTL30a传输到相关组件从而可以完成扫描。例如，控制单元41将控制信号CTL30b传输到对象移动装置4因而使对象移动装置4将对象移入或移出成像空间29。另外，控制单元41将控制信号CTL304传输到扫描架控制器28以使包括在扫描架2中的转动壳体27旋转。控制单元41将控制信号CTL301传输到X射线控制器25使得X射线管20辐射X射线。然后控制单元41将控制信号CTL302传输到准直器控制器26从而控制准直器22来重组X射线。此外，控制单元42将控制信号CTL303传输到数据采集单元24从而数据采集单元24会获得由包括在X射线检测器23中的检测单元23a产生的投影数据。
图像产生单元51根据由扫描架2获得的原始数据重建对象的断层图像。图像产生单元51对在螺旋扫描期间在若干个观察方向上获得的投影数据项完成例如灵敏度校正或光束硬化的处理，然后根据过滤反投影技术重建对象的断层图像。
例如，用例如键盘或鼠标等输入装置实现包括在操作控制台3中的输入装置31。响应于操作者的操作，输入装置31将多种信息如扫描的条件或对象的信息传输到中央处理单元30。
响应于从中央处理单元30发出的命令，在显示装置32上显示由图像产生单元51重建的对象的断层图像。
用存储器实现存储装置33。在存储装置33中储存各种数据项如由图像产生单元51重建的对象断层图像和程序。在需要时中央处理单元30读取储存在存储装置33中的数据。
包括用于将对象移入或移出成像空间29的对象移动装置4。
图4和图5示出对象移动装置4。图4包括对象移动装置4的侧视图。图4(a)示出包括在对象移动装置4中的支架101位于成像空间29外面的状态。图4(b)示出支架101移入到成像空间29中的状态。此外，图5是对象移动装置4的正视图，示出图4所示的托架121及其周围事物。
如图4所示，对象移动装置4包括支架101、支架支柱102，及支架位置传感机构103。
支架101具有对象所躺的并支撑对象的承载表面。如图4所示，支架101由支架支柱102支撑，并可在与承载表面基本水平的水平方向H上和与承载表面基本垂直的垂直方向V上移动。支架101可在扫描架2中的成像空间29的内外之间移动。如图4(b)所示，支架101固定在包括于支架支柱102中的托架121上，与托架121一起在水平方向H上滑动，并移动到在扫描架2中的成像空间29内。此外，X射线检测器23位于靠近支架101的与对象所躺的承载表面侧相反的一侧。
支架支柱102支撑支架101从而支架101可滑入成像空间29内。如图4(a)所示，支架支柱102包括托架121、导轨122、导轨支座123、水平推进装置124，及垂直推进装置125。
托架121如同推车其装载支架101并将支架101滑入到成像空间29内。如图4和图5所示，托架121被导轨122支撑。托架121以这样的方式固定到支架101的远离成像空间29的一端使得托架121不会与在X射线管20和X射线检测器之间的X射线辐射路线重叠。当托架121在导轨122延伸的方向上滑动时，支架101滑入到成像空间29内。另外，包括在支架位置传感机构103中的传感器单元132安装在托架121上。随着支架101的移动，安装在托架121上的传感器单元132也滑动。
如图5所示，导轨122连接在导轨支座123上，并在支架101滑动的方向上延伸。导轨122支撑托架121并允许固定在托架121上的支架101滑动。
包括导轨支座123以用于支撑导轨122。如图5所示，导轨123是例如，成对结构。导轨122连接到该成对结构的相互面对的侧面并被其支撑。被导轨122支撑的托架121夹在相互面对的成对结构的中间。此外，如下面细述的，包括在支架位置传感机构103中的刻度单元131安装在其中一个导轨支座123上。
包括水平推进装置124以用于使支架101在水平方向H上滑动。水平推进装置124包括，例如，辊驱动机构。当执行机构驱动辊时，施加的驱动力传递到支架101上，由此支架101在水平方向H上移动。
垂直推进装置125支撑支架支柱102并在垂直方向V上移动由支架支柱102支撑的支架101。垂直推进装置125包括，例如，平行连杆型驱动机构。垂直推进装置125使用，例如，执行机构(未示出)来驱动平行控制臂，这样在垂直方向V上驱动支架101。
包括支架位置传感机构103以用于检测支架101滑动而移动到的位置。支架位置传感机构103是数字线型编码器，包括，如图4(a)所示，刻度单元131、传感器单元132，及传感器控制单元133。基于由传感器131检测的刻度上的读数，计算支架101滑动而移到的位置。
图6包括支架位置传感机构103的侧视图，示出在传感器单元132和传感器控制单元133之间的连接。图6(a)示出当支架101位于成像空间29外面时支架位置传感机构103达到的状态。图6(b)示出当支架101移入成像空间29内时支架位置传感机构103达到的状态。为了解释的简明起见，在图4中示出的托架121、导轨122，及垂直推进装置125被从图6中去掉。
如图6所示，支架位置传感机构103除了刻度单元131、传感器单元132和传感器控制单元133，还包括电缆134和电缆导件135。
刻度单元131具有形成于其上用于检测支架101的位置的刻度，并延伸而涵盖支架101能滑动的滑动范围。如图4和图5所示，刻度单元131安装在包括于支架支柱102中的一个导轨支座134上，并在导轨122延伸的方向上延伸。刻度单元131以这样的方式设置即它不会与在X射线管20和X射线检测器23之间的X射线辐射路线重叠。刻度单元131具有以磁性刻度实现的刻度。例如，刻度单元131使用具有北极和南极的磁性刻度，其安排为在支架101移动的方向上在两极之间有特定的距离。
传感器单元132包括检测包括于刻度单元131内的磁性刻度的磁性传感器。传感器单元132安装在托架121上，同时与刻度单元131分离而在它们之间有特定距离，使得传感器单元132与刻度单元131无接触。就是说，以这样的方式设置传感器单元132即它不会与在X射线管20和X射线检测器23之间的X射线辐射路线重叠。当支架101滑动时，传感器单元132在刻度单元131延伸的方向上相对与刻度单元131移动，因而检测包括在刻度单元131中的刻度。如图6所示，传感器控制单元133通过电缆134连接到传感器单元132。传感器单元132的检测动作被传感器控制单元133控制。
传感器控制单元133通过电缆134连接到传感器单元132。传感器控制单元133通过电缆134将控制信号传输到传感器单元132以控制传感器单元132的检测行为。此外，传感器控制单元133收到由传感器单元132检测到的在刻度单元131上的刻度信息。基于由传感器单元132检测的刻度上的读数，传感器控制单元133计算支架101滑到的位置。
形成电缆134以包括由导电材料形成的导线并连接传感器单元132和传感器控制单元133。电缆134被包覆在电缆导件135中并具有被电缆导件135限制的可移动范围。
电缆导件135容纳电缆134并限制电缆134的可移动范围。电缆导件135为通过将多个连接组件(未示出)连成一串而形成。电缆导件135的一端固定到传感器控制单元133而另一端固定到传感器单元132。构成平直伸展的电缆导件135的多个连接组件是弯曲的，在它们之间的接头扣住。当传感器单元132随着支架101的滑动而移动时，电缆导件135引导电缆134从而电缆134在预定的范围内移动而能保护电缆134。
根据本发明的X射线CT系统1对应根据本发明的成像装置。此外，包括于本实施例中的扫描架2对应包括于本发明中的扫描设备。包括于本实施例中的对象移动装置4对应包括于本实施例中的对象移动装置。包括于本实施例中的X射线管20对应包括于本发明中的放射线辐照器。包括于本实施例中的X射线检测器23对应包括于本发明中的辐射检测器。包括于本实施例中的图像产生单元51对应包括于本发明中的图像产生单元。包括于本实施例中的支架101对应包括于本发明中的支架。包括于本实施例中的支架支柱102对应包括于本发明中的支架支柱。包括于本实施例中的支架位置传感机构103对应包括于本发明中的支架位置传感机构。包括于本实施例中的托架121对应包括于本发明中的托架。包括于本实施例中的导轨122对应包括于本发明中的导轨。包括于本实施例中的刻度单元131对应包括于本发明中的刻度单元。包括于本实施例中的传感器单元132对应包括于本发明中的传感器单元。包括于本实施例中的传感器控制单元133对应包括于本发明中的传感器控制单元。包括于本实施例中的电缆134对应包括于本发明中的电缆。包括于本实施例中的电缆导件135对应包括于本发明中的电缆导件。
下面描述使用根据本发明的X射线CT系统1为了给对象成像要完成的动作。
为了给对象成像，对象被要求躺在支架101上。这里，对象躺在支架101的承载表面上并因而被支架101支撑。
此后，确定扫描条件。为了确定扫描的条件，操作者使用输入装置31输入扫描条件指定的各种参数。要决定作为扫描条件的参数，例如扫描技术如螺旋扫描技术、相当于要产生的图像的数量的扫描数量、X射线管20的管电流和管电压、X射线辐射时间、断层位置，及断层厚度。
此后，扫描对象。为了扫描对象，根据确定的扫描条件，控制单元41将控制信号CTL30a和CTL30b分别传输到扫描架2和对象移动装置4。
从而，包括于对象移动装置4内的垂直驱动装置125在垂直方向H上移动支架101以将支架101抬升到扫描架2中的成像空间29的高度。此后，水平驱动装置124在水平方向上滑动支架101以将支架101移入到扫描架2中的成像空间29中。X射线控制器25发出控制信号CTL252到X射线管20，X射线管20辐射X射线。准直器控制器26发出控制信号CTL302到准直器22从而重组从X射线管20辐射出的X射线。随后，扫描架控制器28发出控制信号CTL28到扫描架2从而转动扫描架2的转动壳体27。此外控制单元41发出控制信号CTL303到数据采集单元24从而数据采集单元24获得由包括于X射线检测器23中的检测器单元23a产生的投影数据作为原始数据。
特定地，当进行螺旋扫描时，对象所躺的支架101在导轨122延伸的方向上滑入成像空间29。X射线管20在若干个观察方向上向对象辐射X射线，X射线检测器23在每个观察方向上通过支架101检测透过对象的X射线。因此，得到原始数据。
此时，包括在对象移动装置4中的支架位置传感机构103检测在获取原始数据期间支架101滑到的位置。如图4所示，在刻度单元131延伸的方向上，随着支架101的滑动，传感器单元132相对刻度单元131移动，并检测包括在刻度单元131中的刻度。基于由传感器单元132检测的刻度上的读数，传感器控制单元133计算支架101滑到的位置。当传感器单元131随着支架101的滑动移动时，电缆导件135引导电缆134从而电缆134在预定范围内移动而保护了电缆134。
此后根据在想要的断层位置和想要的断层厚度的条件下从每个观察方向上获得的原始数据，图像产生单元51重建对象的断层图像。在这当中，图像产生单元51对在该若干个观察方向上获得的投影数据项完成例如灵敏度校正或光束硬化的预处理。此后，图像产生单元51根据过滤反投影技术重建对象的断层图像。
如上面提到的，根据本实施例，在刻度单元131延伸的方向上，随着支架101的滑动，包括在支架位置传感机构103中的传感器单元132相对刻度单元131移动。然后传感器单元132检测包括在刻度单元131内的刻度。基于由传感器单元132检测的刻度上的读数，支架位置传感机构103计算支架滑到的位置。因此，根据本发明，比起使用转动编码器的情况会更少发生例如间隙这样的缺陷。可以以高精度检测出支架101的位置信息。这使得改善诊断效率和快速移动。
此外，根据本发明，包括在支架位置传感机构103内的传感器单元132安装在包括于支架支柱102中的托架121上。包括在支架位置传感机构103中的刻度单元131安装在支架支柱102上并在包括在支架支柱102中的导轨122延伸的方向上延伸。如上面提到的，X射线检测器23通过支架101检测透过对象的X射线，并产生原始数据。由于刻度单元131和传感器单元132不是安装在支架101上而是设置为不与在X射线管20和X射线检测器23之间的X射线辐射路线重叠，穿过对象的X射线不会被刻度单元131和传感器单元132阻挡。因此，本实施例可以以高精度获得原始数据，有助于改善诊断效率和进行快速移动。
根据本实施例，连接传感器单元132和控制传感器单元133的传感器控制单元133的电缆134被包覆在电缆导件135中。电缆导件135限制电缆134的移动范围。因此，根据本发明，电缆导件135防止电缆134因为支架101的滑动而纽结及损坏。因此，支架101可平稳地滑动。本实施例可以高精度地检测支架101的位置信息，有助于改善诊断效率和进行快速移动。
本发明不限于上述实施例而是可应用到各种变型中。
例如，虽然包括在上述实施例中的支架位置传感机构使用以磁性刻度实现刻度的刻度单元，以及具有以检测磁性刻度的磁性传感器实现的传感器的传感器单元来检测支架滑到的位置，本发明并不限于此种模式。例如支架位置传感机构可使用，具有以光学刻度实现刻度的刻度单元，以及具有以检测光学刻度的光学传感器实现的传感器的传感器单元，来检测支架滑到的位置。例如支架位置传感机构可包括这样的刻度单元，其具有在支架滑动方向上交替并置的高反射表面和低反射表面来作为刻度，以及包括光发射单元和光接收单元的传感器单元。从刻度单元反射的光被传感器单元检测到，由此可检测出支架滑到的位置。
例如，包括在上述实施例中的传感器与刻度单元不接触。本发明不限于此种模式。可选的，传感器可以和刻度单元接触。
此外，例如上述实施例采用X射线作为从放射线辐照器发出的辐射。本发明不限于此种模式。替换地，例如，可以采用伽马射线或其他射线。
可以不偏离本发明的范围或精神对本发明设计出许多相当不同的实施例。应理解到，除了由所附权利要求所限定的，本发明不限于在说明书中描述的特定实施例。
权利要求
1.一种包括在对在一成像空间(29)内的对象成像的成像装置(1)中的对象移动装置(4)，用于将对象移入该成像空间(29)，包括对象所躺的支架(101)；支架支柱(102)，其支撑该支架(101)从而支架(101)可以滑到成像空间(29)中；及支架位置传感机构(103)，其检测支架(101)所滑到的位置，其中该支架位置传感机构(103)包括刻度单元(131)，其具有形成于其上用于检测支架(101)的位置的刻度，所述刻度延伸而涵盖支架(101)能滑动的滑动范围；及传感器单元(132)，其可随着支架(101)的滑动在刻度单元(131)延伸的方向上相对刻度单元(131)移动，并且检测刻度单元(131)的刻度；及基于由传感器单元(132)检测的刻度的读数，支架位置传感机构(103)计算支架(101)滑到的位置。
2.如权利要求1所述的对象移动装置(4)，其中支架支柱(102)包括支撑支架(101)的托架(121)、在支架(101)滑动方向上延伸并支撑托架(121)的导轨(122)；传感器单元(132)安装在托架(121)上，刻度单元(131)安装在支架支柱(102)上并在导轨(122)延伸的方向上延伸。
3.如权利要求2所述的对象移动装置(4)，其中支架位置传感机构(103)包括控制传感器单元(132)的传感器控制单元(133)；连接传感器单元(132)和传感器控制单元(133)的电缆(134)；及包覆电缆(134)并限制电缆(134)的可移动范围的电缆导件(135)。
4.如权利要求1到3其中任一所述的对象移动装置(4)，其中刻度单元(131)具有以磁性刻度实现的刻度，而传感器单元(132)包括检测磁性刻度的磁性传感器。
5.如权利要求1到4其中任一所述的对象移动装置(4)，其中刻度单元(131)具有以光学刻度实现的刻度，而传感器单元(132)包括检测光学刻度的光学传感器。
6.如权利要求1到5其中任一所述的对象移动装置(4)，其中传感器单元(132)与刻度单元(131)分离而有一特定间隔在它们之间，从而传感器单元(132)不与刻度单元(131)接触。
7.如权利要求1到5其中任一所述的对象移动装置(4)，其中传感器单元(132)设置为与刻度单元(131)接触。
8.一种用于对在一成像空间(29)内的对象成像的成像装置(1)，包括对象所躺的支架(101)；支架支柱(102)，其支撑该支架(101)从而支架(101)可以滑到成像空间(29)中；及支架位置传感机构(103)，其检测支架(101)所滑到的位置；扫描对象的扫描设备(2)，通过滑动支架(101)将该对象移动到成像空间(29)，以获得原始数据；及图像产生部件(51)，其根据扫描设备(2)获得的原始数据产生对象的图像，其中该支架位置传感机构(103)包括刻度单元(131)，其具有形成于其上用于检测支架(101)的位置的刻度，所述刻度延伸而涵盖支架(101)能滑动的滑动范围；及传感器单元(132)，其可随着支架(101)的滑动在刻度单元(131)延伸的方向上相对刻度单元(131)移动，并且其检测刻度单元(131)的刻度；及基于由传感器单元(132)检测的刻度的读数，支架位置传感机构(103)计算支架(101)滑到的位置。
9.如权利要求8所述的成像装置(1)，其中支架支柱(102)包括支撑支架(101)的托架(121)，及在支架(101)滑动方向上延伸并支撑托架(121)的导轨(122)；传感器单元(132)安装在托架(121)上，及刻度单元(131)安装在支架支柱(102)上并在导轨(122)延伸的方向上延伸。
10.如权利要求9所述的成像装置(1)，其中支架位置传感机构(103)包括控制传感器单元(132)的传感器控制单元(133)；连接传感器单元(132)和传感器控制单元(133)的电缆(134)；及包覆电缆(134)并限制电缆(134)的可移动范围的电缆导件(135)。
全文摘要
本发明的目的是要高度精确地检测支架(101)的位置信息，提高诊断效率，并实现快速移动。该支架位置传感机构(103)包括刻度单元(131)，其具有形成于其上用于检测支架(101)的位置的刻度，所述刻度延伸而涵盖支架(101)能滑动的滑动范围；及传感器单元(132)，其可随着支架(101)的滑动在刻度单元(131)延伸的方向上移动，以检测刻度单元(131)的刻度。支架位置传感机构(103)作为数字线型编码器。基于由传感器单元(132)检测的刻度的读数，支架位置传感机构(103)计算支架(101)滑到的位置。
文档编号G01N23/04GK1739454SQ200510092329
公开日2006年3月1日 申请日期2005年8月26日 优先权日2004年8月27日
发明者泉原彰, 阿津克巳 申请人:Ge医药系统环球科技公司