专利名称：一种钼矿样制备方法
技术领域：
本发明涉及一种钼矿样制备方法，尤其涉及一种用于Axios XRF光谱仪进行测定 分析的钼矿样制备方法。
背景技术：
为适应矿山矿样元素快速分析的需要，现对测定分析的方法和仪器的要求也越来 越高。为更快、更准的测定出分析数据，新型的光谱仪已成为了分析领域的新宠儿。传统化 学方法测定钼元素含量，流程长，步骤繁琐，所用的化学试剂较多。因此，使用不需要对样品 进行化学处理即可进行测定的仪器分析方法顺应了时代的要求。由于矿山样品复杂多样， 标样制备成了新的问题，由于钼矿样非常松散，钼元素又是重元素，压制样片容易断裂、掉 粉、压片不成功或达不到光谱仪要求的"无限厚"(射线所能穿透的厚度)原则。如果使用 上述样片进行测定，可能会因粉尘脱落导致X光管损坏，造成较大经济损失；样片厚度则会
影响分析结果的准确性。
发明内容
本发明的目的就是提供一种钼矿样制备方法，该方法制出的钼矿样能有效的解决
样片的粉尘和厚度问题，保护光谱仪的X光管，提高分析结果的准确性。 本发明的具体工艺如下 1、将矿样在磨样机上进行加工，使样品的粒度确保全量过200目； 2、用电子天平称量钼矿样7. 5-8. 5g，放入直径为32cm的加样器中； 3、将压样机的压力调至25吨，时间设定为35秒进行压制，使其厚度达到至少
0. 6cm。 本发明工艺简单，制备出的钼矿样能有效的解决样片的粉尘和厚度问题，保护光 谱仪的X光管，提高分析结果的准确性。
权利要求
一种钼矿样制备方法，其具体工艺如下(1)将矿样在磨样机上进行加工，使样品的粒度确保全量过200目；(2)用电子天平称量钼矿样7.5-8.5g，放入直径为32cm的加样器中；(3)将压样机的压力调至25吨，时间设定为35秒进行压制，使其厚度达到至少0.6cm。
全文摘要
本发明提供一种钼矿样制备方法，将矿样在磨样机上进行加工，使样品的粒度确保全量过200目，用电子天平称量钼矿样7.5-8.5g，放入直径为32cm的加样器中，将压样机的压力调至25吨，时间设定为35秒进行压制，使其厚度达到至少0.6cm。本发明工艺简单，制备出的钼矿样能有效的解决样片的粉尘和厚度问题，保护光谱仪的X光管，提高分析结果的准确性。
文档编号G01N21/00GK101750238SQ20081013645
公开日2010年6月23日 申请日期2008年12月9日 优先权日2008年12月9日
发明者李红军, 汪鹤鸣, 简洁, 胡棱华 申请人:江西铜业集团公司