专利名称：一种jtag连接控制装置及单板的制作方法
技术领域：
本发明涉及通信技术领域，特别是涉及一种JTAG连接控制装置及单板。
背景技术：
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动组)是一种国际标准测试协议， JTAG技术的提出，最早是为了解决高复杂、高集成度芯片或单板的测试问题，随着技术的发 展，JTAG在单板器件的在线编程、数据升级等方面也得到广泛的应用。JTAG技术允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一条JTAG链，以实现对各 个器件分别进行测试或数据写入。随着单板设计复杂度的增加，一块单板上也可能会存在 多条JTAG链，多条JTAG链以并行的方式接入一设备管理模块，如图1中所示的110即为单 板上的设备管理模块。该设备管理模块110在进行在线编程、数据升级等应用时，可以实现 对多条JTAG链写入数据的统一管理。其中，在通过测试设备130对单板上的多条JTAG链进行测试时，多条JTAG链与 该设备管理模块Iio并行连接，该设备管理模块110串行通信接口难以与测试设备130的 JTAG接口连接，这样，需要增加专用的转接模块120，如图1所示，测试设备130通过转接模 块120将测试信号分别传输到每条JTAG链上。这种方式对信号的质量、测试时钟频率等可 能会造成影响，进而降低测试的准确性。
发明内容
本发明实施例提供了一种JTAG连接控制装置及单板，以提高JTAG测试的准确性
与覆盖率。本发明实施例提供了一种JTAG连接控制装置，其特征在于，包括通路选择模块、 主控制模块和从控制模块，该通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并 且实现将至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；其中，该工作模式包括主模式和从模式在主模式下，该通路选择模块提供该主控 制模块与该JTAG大链的连接；在从模式下，该通路选择模块提供该从控制模块与该JTAG大 链的连接；该主控制模块，用于接收JTAG数据，对该JTAG数据进行解析，通过该通路选择模 块所提供的该主控制模块与该JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大链上的 器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验；该从控制模块，用于接收JTAG信号，通过该通路选择模块所提供的该从控制模块 与该JTAG大链的连接，将该JTAG信号发送给该JTAG大链上的器件。本发明实施例还提供了一种单板，包括JTAG器件和JTAG连接控制装置，该JTAG 器件通过JTAG接口串联，形成多条JTAG链，其中，该JTAG连接控制装置，包括通路选择模 块、主控制模块和从控制模块，
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该通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并 且实现将该多条JTAG链中至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；该工作模式包括主模式和从模式在主模式下，该通路选择模块提供该主控制模 块与该JTAG大链的连接；在从模式下，该通路选择模块提供该从控制模块与该JTAG大链的 连接；该主控制模块，用于接收JTAG数据，对该JTAG数据进行解析，通过该通路选择模 块所提供的该主控制模块与该JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大链上的 器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验；该从控制模块，用于接收JTAG信号，通过该通路选择模块所提供的该从控制模块 与该JTAG大链的连接，将该JTAG信号发送给该JTAG大链上的器件。以上技术方案，可以根据具体的应用需求，选择JTAG连接控制装置的工作模式。 当装置工作在主模式下时，通过JTAG主控制模块实现对多条JTAG链读写数据的统一管理， 以满足对单板的在线编程、数据升级等应用；当装置工作在从模式下时，通过JTAG从控制 模块向多条JTAG链传输JTAG信号。与现有技术相比，由于不需要额外的转接方式，因此可 以提高测试的准确性。
图1为现有技术的JTAG测试连接示意图；图2为本发明实施例的JTAG连接控制装置的结构示意图；图3为本发明实施例的通路选择模块的结构示意图；图4为本发明实施例的JTAG大链串联方式示意图；图5为本发明实施例的工作模式配置子模块的示意图；图6为本发明实施例的主控制模块的结构示意图；图7为本发明实施例的主控制模块的另一种结构示意图；图8为本发明实施例的从控制模块的结构示意图；图9为本发明实施例的从控制模块的另一种结构示意图；图10为本发明实施例的JTAG连接控制装置系统级应用场景示意图；图11为本发明实施例的JTAG连接控制装置单板级应用场景示意图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。首先对本发明实施例的JTAG连接控制装置进行说明，图2所示为本发明实施例所 提供的JTAG连接控制装置的结构示意图，主要包括以下三种功能模块通路选择模块210、 主控制模块220、从控制模块230。通路选择模块210，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式， 并且实现将至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链。
其中，JTAG连接控制装置的工作模式包括主模式和从模式两种在主模式下，通路选择模块210提供主控制模块220与JTAG大链的连接；在从模式下，通路选择模块210提供从控制模块230与JTAG大链的连接；主控制模块220，用于接收JTAG数据，对该JTAG数据进行解析，通过所述通路选择 模块210所提供的所述主控制模块220与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写 入JTAG大链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验。从控制模块230，用于接收JTAG信号，通过所述通路选择模块210所提供的所述从 控制模块230与所述JTAG大链的连接，将所述JTAG信号发送给所述JTAG大链上的器件。上述JTAG连接控制装置可以提供主从两种工作模式，当JTAG连接控制装置工作 在主模式下时，可以将JTAG数据传送给多条JTAG链，实现对单板器件的数据写入操作以及 对所写入数据的校验操作；当JTAG连接控制装置工作在从模式下时，可以将JTAG信号传送 给多条JTAG链，通过测试设备实现对单板器件的测试。通过通路配置信息，可以使装置在 主从两种工作模式间切换，以满足不同的实际应用需求。与现有技术相比，本发明实施例所 提供的JTAG连接控制装置，不需要额外的转接模块，可以有效提高测试的准确性。其中，该测试设备可以为测试PC，测试卡/ICT针床安装于测试PC中。其中，JTAG数据可以为JTAG测试文件数据，也可以为JTAG加载文件数据JTAG信 号可以为符合IEEE1149. 1标准的信号。下面将结合附图，对本发明实施例的JTAG连接控制装置的各个模块的组成与连 接关系作进一步的详细说明。参见图3所示，通路选择模块210具体可以包括串联配置子模块211和工作模式 配置子模块212。串联配置子模块211与单板的上的多条JTAG链相连接，并且实现连接到该串联配 置子模块211的一条或多条JTAG链之间的串联，参见图4所示，图中的1、2……η分别代表 连接到该串联配置子模块211的多条JTAG链，串联配置子模块可以将这些JTAG链串联为 一条大链，具体方式可以是将相邻两条JTAG链的TDI (测试数据输入)端和TDO (测试数 据输出)端分别相连接，将第1条JTAG链的TDI端和第η条JTAG链的TDO端作为整条大 链的TDI端和TDO端。图4所示为将所有的JTAG链全部串联为一条大链的情况，在实际应用中，也可以 根据具体的数据写入或测试需求，仅将全部的JTAG链1、2……η中的一条或几条串入大链 中，避免将不需要关注的器件串入大链，以提高数据读写或测试的效率。串联配置子模块 211可以根据通路配置信息对多条JTAG链的具体串联方式进行配置。需要说明的是，以上对各条JTAG链的编号1、2……η仅用于示意性说明，不应理解 为对多条JTAG链具体串联顺序的限制。工作模式配置子模块212的作用是根据通路配置信息，选择主工作模式或从工作 模式，参见图5所示，当JTAG连接控制装置工作在主模式下时，工作模式配置子模块212连 通主控制模块220，被连通的主控制模块220通过串联配置子模块211进一步连接到所串 联的JTAG大链，实现在主模式下对JTAG链上器件的数据写入及校验；当JTAG连接控制装 置工作在从模式下时，工作模式配置子模块212连通从控制模块230，被连通的从控制模块 230，通过串联配置子模块211进一步连接到所串联的JTAG大链，通过测试设备实现在从模式下对JTAG链上器件的测试。综上所述，通路配置信息具体可以包括两部分信息一方面是对主工作模式或从 工作模式的配置信息，这部分信息涉及两种状态，因此可以用1个数据位进行表示，例如以 1表示主工作模式、0表示从工作模式；另一方面是对多条JTAG链的具体串联方式的配置信 息，可以用n(n为JTAG链的条数)个数据位进行表示，对于每个数据位而言，可以以1表示 将该数据位所对应的JTAG链串入大链，以0表示不将该数据位所对应的JTAG链串入大链。 例如，当η = 4时，“1111”代表将4条JTAG链全部串入大链，“1101”表示将JTAG链1、2、4 串入大链。本领域技术人员可以理解的是，以上的配置信息具体实现方式仅用于示意性说 明，并不构成对本发明技术方案的限制。主控制模块220的作用是在主模式下，接收JTAG数据，对该JTAG数据进行解析， 通过所述通路选择模块210所提供的所述主控制模块220与所述JTAG大链的连接，将解析 后的JTAG数据写入JTAG大链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验。参见图6所示，主控制模块220可以包括通信接口单元221和MCU 222 (微控制单 元)°通信接口单元221，用于接收JTAG数据，所接收的JTAG数据可以是符合IEEE Std 1149. 1规范JTAG时序要求的数据，数据来源可以是本地系统的网管、控制终端等设备，也 可以是本地系统中的其他单板。通信接口的具体实现可以是串行总线接口、memory接口等 形式。MCU 222，用于对所述通信接口单元221接收的JTAG数据进行解析，通过所述通路 选择模块所提供的所述主控制模块220与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写 入JTAG大链上的器件。写入完成以后，再从JTAG链上器件读取数据，通过与之前所写入的 数据进行对比，判断数据是否被正确写入JTAG链上器件，如果通过对比，发现某个(或某 些)链上器件的数据写入不正确，则重新对这些器件进行数据写入。MCU 222的另一个功能是根据所接收到的JTAG数据，产生通路配置信息并发送给 通路选择模块210，指示通路选择模块210对当前的主/从工作模式进行切换。并且还可以 进一步根据具体的数据写入需求，指示通路选择模块210对多条JTAG链的具体串联方式进 行配置。参见图7所示，主控制模块220还可以进一步包括数据寄存单元223，用于为MCU 222提供JTAG数据寄存功能一方面，数据寄存单元223可以对通信接口单元221所接收到的JTAG数据进行寄 存，并根据MCU 222的控制，将JTAG数据通过通路选择模块210将JTAG数据写入至JTAG 大链。另一方面，在数据校验阶段，MCU 222读取JTAG链上器件数据后，可以将所读取的 数据存入数据寄存单元223，并与之前所寄存的数据进行比较，以判断数据是否被正确写入 JTAG链上器件。本领域技术人员可以理解的是，主控制模块220还可以在向JTAG链上器件写入数 据之后，或在写入数据的过程中，将数据的写入情况(例如是否被正确写入等信息)通过通 信接口单元221发送回本地系统的网管、控制终端等设备。从控制模块230的作用是在从模式下，接收JTAG信号，通过所述通路选择模块210所提供的所述从控制模块230与所述JTAG大链的连接，将所述JTAG信号发送给所述JTAG 大链上的器件，通过测试设备实现对JTAG大链上器件的JTAG测试。参见图8所示，从控制模块230可以包括测试接口单元231、测试链选择单元232、 JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元233 测试接口单元231，用于接收JTAG信号，测试接口可以是标准的四线或五线 TAP (TestAccess Port)接口，信号可以由测试设备提供。测试链选择单元232，用于根据所述测试接口单元231接收的JTAG信号，确定所述 从控制模块230的连接通路。从控制模块230的连接通路可以包括以下两种基本形式1)不通过控制装置自身的JTAG功能单元233，将JTAG信号直接通过通路选择模 块210发送给JTAG大链；这种通路形式下，相当于测试链中仅包含JTAG大链；2)将JTAG信号通过JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元233后，再通过通路 选择模块210发送给JTAG大链，相当于将JTAG连接控制装置自身的JTAG的功能单元233 也串入JTAG大链，构成完整的测试链，参与整个单板的JTAG测试。参见图9所示，从控制模块230中，还可以进一步包含串联控制单元234，用于实 现控制装置自身的JTAG功能单元233与JTAG大链的串联或断开。在上述通路2)的基础 上，如果断开控制装置自身的JTAG功能单元233与JTAG大链的串联关系，则此时控制模块 230的连接通路形式为3)仅将JTAG信号发送给连接控制装置自身的JTAG功能单元233，相当于测试链 中仅包含JTAG连接控制装置自身的JTAG的功能单元233，即仅对JTAG连接控制装置自身 的JTAG的功能单元233进行测试。其中，上述通路形式2)和形式3)之间的切换可以由串联控制单元234来完成，串 联控制单元234可以根据测试通路选择单元232的指示，选择是否将JTAG连接控制装置自 身的JTAG的功能单元233串入JTAG大链。在现有技术的方案中，设备管理模块也是单板硬件的重要组成部分，并且自身也 具有JTAG功能单元，但是由于使用了转接的方式，导致设备管理模块自身的JTAG功能单元 不能够接入任何一条JTAG链，因此，JTAG测试不能覆盖到设备管理模块，导致无法对整个 单板进行全面的测试。而本发明实施例所提供的JTAG连接控制装置，在从模式下工作时，可以选择将控 制装置自身的JTAG的功能单元233也纳入测试范围，并且可以根据实际需求，进一步选择 对控制装置自身的JTAG的功能单元233单独进行测试，或是将连接控制装置串入JTAG大 链进行测试，与现有技术方案相比，提高了单板硬件的测试覆盖率与测试灵活性。测试链选择单元232还可以在从工作模式下，根据所接收到的JTAG信号，产生通 路配置信息并发送给通路选择模块210，指示通路选择模块210对当前的主/从工作模式进 行切换。并且还可以进一步根据具体的测试需求，指示通路选择模块210对多条JTAG链的 具体串联方式进行配置。本领域技术人员可以理解的是，从控制模块230还可以在JTAG测试过程中，或测 试完成后，接收JTAG链上器件反馈的测试信息，并将这些测试信息进一步发送回测试设备。通过以上的说明可以看出，用于指示通路选择模块210选择主/从工作模式以及
9配置多条JTAG链串联方式的通路配置信息，可以由主控制模块220根据JTAG数据提供，也 可以由从控制模块230根据JTAG信号提供，本领域技术人员可以理解，该通路配置信息也 可以以硬件方式实现，例如在连接控制装置上电或复位时，根据对通路选择模块210的硬 件配置信息生成通路配置信息，选择初始的工作模式或配置多条JTAG链串联方式。这之 后，还可以进一步通过主控制模块220或从控制模块230进行通路配置。在优先级方面，硬 件信息配置方式的优先级为最低，通过主控制模块220配置的方式优先级最高。需要说明的是，以上所描述的JTAG连接控制装置实施例仅仅是示意性的，其中所 述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可 以是或者也可以不是物理单元。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现 本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解 并实施。本发明实施例所提供的JTAG连接控制装置，可以以SOC芯片的形式固化于单板 上，满足JTAG技术在多种场景下的应用。图10所示为JTAG连接控制装置SOC的系统级典型应用场景。FE为网口，实现与 远端/近端网管交互。MPU 1001为主控单板业务CPU，实现JTAG数据或JTAG信号的存储、 传输、维护等功能，Board O-Board η为多个业务单板。主控单板与各业务单板通过串行总 线进行连接，相当于各业务单板串入一条JTAG大链。通过配置SOC 1002芯片的主/从工 作模式，完成JTAG加载、测试等系统级应用。图11为生产测试、维修定位应用时的单板级应用场景。其中，测试设备为测试PC， 测试卡/ICT针床安装于测试PC中，JTAG连接控制装置以SOC的形式固化于单板。测试过 程中，测试PC产生信号，发送给SOC提供的JTAG信号接口，SOC将自身的工作模式选为从 工作模式，并根据具体测试需求选择JTAG大链的串联方式，(例如将单板的一条或多条串 入JTAG大链，是否将JTAG控制装置自身的JTAG功能单元串入JTAG大链等)，通路选择完 成后，SOC将由信号接口所接收的信号发送给链上器件，完成JTAG测试应用。在上述实施方式的描述中，主控制模块中包含MCU 222，可以对JTAG数据进行解 析处理以及数据写入，数据写入校验等操作，因此主工作模式比较适合在线编程，数据升级 等应用场景；而从控制模块可以选择是否将控制装置自身也串入JTAG大链，因此从工作模 式更适合于满足测试需求。本领域技术人员应该理解，以上描述仅是本发明的一种较佳的 实施方式，并不构成对本发明技术方案的限制。事实上，主/从工作模式下所提供的连接 通路都可以分别实现JTAG数据的写入和JTAG测试。如果在主模式下进行测试，尽管无法 令测试覆盖到控制装置自身，但是依然可以将JTAG信号发送给JTAG大链，实现对JTAG大 链上的器件的正常测试；相应地，在从模式下，也可以实现在线编程、数据升级等操作，而对 JTAG数据的解析处理、读写操作等任务将由本地系统的网管、控制终端等设备完成。本发明实施例还提供了一种单板，包括JTAG器件和JTAG连接控制装置，该JTAG 器件通过JTAG接口串联，形成多条JTAG链，其中，该JTAG连接控制装置，包括通路选择模 块、主控制模块和从控制模块，该通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并 且实现将该多条JTAG链中至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；该工作模式包括主模式和从模式在主模式下，该通路选择模块提供该主控制模块与该JTAG大链的连接；在从模式下，该通路选择模块提供该从控制模块与该JTAG大链的 连接；该主控制模块，用于接收JTAG数据，对该JTAG数据进行解析，通过该通路选择模 块所提供的该主控制模块与该JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大链上的 器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验；该从控制模块，用于接收JTAG信号，通过该通路选择模块所提供的该从控制模块 与该JTAG大链的连接，将该JTAG信号发送给该JTAG大链上的器件。由上可以看出，当单板的JTAG连接控制装置工作在主模式下时，可以将JTAG数 据传送给多条JTAG链，实现对单板器件的数据写入操作以及对所写入数据的校验操作；当 JTAG连接控制装置工作在从模式下时，可以将JTAG信号传送给多条JTAG链，通过测试设备 实现对单板器件的测试。通过通路配置信息，可以使装置在主从两种工作模式间切换，以满 足不同的实际应用需求。与现有技术相比，本发明实施例单板中的JTAG连接控制装置，不 需要额外的转接模块，可以有效提高测试的准确性。其中，该单板可以为图10中的主控单板，也可以为Board 0……Boardn-I，Board n中的任一个单板。本发明实施例并不局限于此。其中，该JTAG连接控制装置中的主控制模块、从控制模块以及通路选择模块可以 与上述实施例中JTAG连接控制装置(请参考对图2至图9的阐述)阐述的一致，在此不再重述。以上所述仅是本发明的具体实施方式
，应当指出，对于本技术领域的普通技术人 员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应 视为本发明的保护范围。
1权利要求
一种JTAG连接控制装置，其特征在于，包括通路选择模块、主控制模块和从控制模块，所述通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并且实现将至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；其中，所述工作模式包括主模式和从模式在主模式下，所述通路选择模块提供所述主控制模块与所述JTAG大链的连接；在从模式下，所述通路选择模块提供所述从控制模块与所述JTAG大链的连接；所述主控制模块，用于接收JTAG数据，对所述JTAG数据进行解析，通过所述通路选择模块所提供的所述主控制模块与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验；所述从控制模块，用于接收JTAG信号，通过所述通路选择模块所提供的所述从控制模块与所述JTAG大链的连接，将所述JTAG信号发送给所述JTAG大链上的器件。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述通路选择模块，包括串联配置子模块，与单板的上的多条JTAG链相连接，用于根据所述通路配置信息，对 所述多条JTAG链的串入所述JTAG大链的方式进行配置；工作模式配置子模块，用于根据所述通路配置信息，选择JTAG连接控制装置的工作模式。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控制模块，包括 通信接口单元，用于接收JTAG数据；微控制单元，用于对所述通信接口单元接收的JTAG数据进行解析，通过所述通路选择 模块所提供的所述主控制模块与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大 链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述主控制模块，还包括 数据寄存单元，用于为所述微控制单元提供JTAG数据寄存功能。
5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述微控制单元，还用于根据所述通信接口单元接收的JTAG数据，产生所述通路配置 信息并发送给所述通路选择模块。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述从控制模块，包括测试接口单元、测 试链选择单元、JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元；所述测试接口单元，用于接收JTAG信号；所述测试链选择单元，用于根据所述测试接口单元接收的JTAG信号，确定所述从控制 模块的连接通路，所述从控制模块的连接通路包括 测试链中包含所述JTAG大链；或测试链中包含所述JTAG大链和所述JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述从控制模块，还包括串联控制单元，用于控制所述JTAG大链和所述JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单 元的串联或断开；所述串联控制单元控制所述JTAG大链和所述JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单 元断开，所述从控制模块的连接通路还包括测试链中包含所述JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试链选择单元，还用于根据所述JTAG信号，产生所述通路配置信息并发送给所 述通路选择模块。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述通路配置信息，包括根据硬件配置信息所生成的通路配置信息、由所述主控制模块根据所述JTAG数据所 生成的通路配置信息、或由所述从控制模块根据所述JTAG信号所生成的通路配置信息。
10.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述三种通路配置信息中，由所述主控 制模块根据所述JTAG数据所生成的通路配置信息的优先级最高，根据硬件配置信息所生 成的通路配置信息的优先级最低。
11.一种单板，包括JTAG器件和JTAG连接控制装置，所述JTAG器件通过JTAG接口串 联，形成多条JTAG链，其中，所述JTAG连接控制装置，包括通路选择模块、主控制模块和从 控制模块，所述通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并且 实现将所述多条JTAG链中至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；所述工作模式包括主模式和从模式在主模式下，所述通路选择模块提供所述主控制 模块与所述JTAG大链的连接；在从模式下，所述通路选择模块提供所述从控制模块与所述 JTAG大链的连接；所述主控制模块，用于接收JTAG数据，对所述JTAG数据进行解析，通过所述通路选择 模块所提供的所述主控制模块与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大 链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验；所述从控制模块，用于接收JTAG信号，通过所述通路选择模块所提供的所述从控制模 块与所述JTAG大链的连接，将所述JTAG信号发送给所述JTAG大链上的器件。
12.根据权利要求11所述的单板，其特征在于，所述通路选择模块，包括串联配置子模块，与所述单板的上的多条JTAG链连接，用于根据所述通路配置信息， 对所述多条JTAG链串入所述JTAG大链的方式进行配置；工作模式配置子模块，用于根据所述通路配置信息，选择JTAG连接控制装置的工作模式。
13.根据权利要求11所述的单板，其特征在于，所述主控制模块，包括通信接口单元，用于接收JTAG数据；微控制单元，用于对所述通信接口单元接收的JTAG数据进行解析，通过所述通路选择 模块所提供的所述主控制模块与所述JTAG大链的连接，将解析后的JTAG数据写入JTAG大 链上的器件，以及对所写入JTAG大链的JTAG数据进行校验。
14.根据权利要求13所述的单板，其特征在于，所述微控制单元，还用于根据所述通信 接口单元接收的JTAG数据，产生所述通路配置信息并发送给所述通路选择模块。
15.根据权利要求11所述的单板，其特征在于，所述从控制模块，包括测试接口单元、 测试链选择单元、JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元，其中，所述测试接口单元，用于接收JTAG信号；所述测试链选择单元，用于根据所述测试接口单元接收的JTAG信号，确定所述从控制模块的连接通路，所述从控制模块的连接通路包括 测试链中包含所述JTAG大链；或测试链中包含所述JTAG大链和所述JTAG连接控制装置自身的JTAG功能单元。
16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述测试链选择单元，还用于根据所述JTAG信号，产生所述通路配置信息并发送给所 述通路选择模块。
全文摘要
本发明实施例公开了一种JTAG连接控制装置及单板，一种JTAG连接控制装置包括通路选择模块、主控制模块和从控制模块。所述通路选择模块，用于根据通路配置信息选择JTAG连接控制装置的工作模式，并且实现将至少一条JTAG链串联为一条JTAG大链；在主模式下，主控制模块接收JTAG数据，所述通路选择模块提供所述主控制模块与所述JTAG大链的连接，满足在线编程、数据升级等应用需求。在从模式下，从控制模块接收JTAG信号，所述通路选择模块提供所述从控制模块与所述JTAG大链的连接，满足对单板的测试需求。与现有技术相比，由于不需要额外的转接方式，因此可以提高测试的准确性。
文档编号G01R31/3185GK101871995SQ20091013761
公开日2010年10月27日 申请日期2009年4月23日 优先权日2009年4月23日
发明者吴兴刚, 霍红伟 申请人:华为技术有限公司