专利名称：箱体槽位检验装置及箱体槽位检验方法
技术领域：
本发明是关于一种箱体槽位检验装置及方法，尤指一种以多个探针同时检验箱体 的多个槽位的装置及方法。
背景技术：
许多部件在组合成最终产品之前，均有保存与搬移的问题。对于易脆的部件，其保 存与搬移的要求更加严苛。例如在TFT、LCD面板的工艺中，玻璃基板的保存与搬移通常借 助包装箱来完成。此种包装箱于其内部相对的两侧壁上形成多个对应的沟槽，玻璃即可插 入对应的沟槽，以达到固定的效果。在大多数的情况中，前述包装箱均可多次利用。但在一再重复使用的情形下，包装 箱中沟槽即有变形之虞。无论是包装箱材质的老化，或是实际使用所造成的变形，包装箱中 沟槽的变形显然难以避免。故于实作上，在包装箱使用之前，需先对其沟槽的尺寸进行确 认，符合要求者始能重复使用，否则贸然将玻璃置入沟槽中，极可能造成玻璃碎裂，或使玻 璃承受较大的应力而于搬移过程中造成碎裂。目前常用的作法是先将包装箱放置于平台上，再以一重物置于包装箱的内部底 部，以使包装箱的外部底面能与平台的基准平面贴齐。然后，以直角规量测包装箱整体的倾 斜情况，可得到包装箱于铅垂面的倾斜的程度及于水平面的平行变形的程度。另外，以光标 卡尺对沟槽位置进行量测，为便于量测，可先置一板状治具于沟槽中，再以光标卡尺对板状 治具进行量测，以间接得到所需检验值。很明显地，此种检验方式，即使对单一包装箱进行检验也必然需花费不少时间。若 对一批包装箱仅进行抽样检验，则必承担较高的因未检出而造成不必要的玻璃碎裂的风 险。此外，前述繁锁的检验方式难以自动化实施，多以人工进行。除了量测、记录手续的繁 复外，量测的操作及判读亦将牵涉人为误差，均使得整个检验工作相当不具效率。因此，改 变检验方式以减少检验花费并提高检验可靠度，实有其必要。
发明内容
本发明目的之一即在于提供一种箱体槽位检验装置，能同时检验具有一开口的一 箱体内的多个槽位，大幅降低检验时间、排除人为检验误差并提升检验可靠度。本发明的箱体槽位检验装置包含一底座、一探针检验机构及一升降机构。该底座 用以承载该箱体。该探针检验机构包含一支架及多个探针，该支架上形成多个通孔，该多个 探针是对应地设置于该多个通孔中，每一个探针能独立地滑动于该对应的通孔中。该升降 机构连接该底座及该探针检验机构，以使该探针检验机构能相对于该底座上下移动。因此，本发明的箱体槽位检验装置提供整合的量测环境，使用者可藉由探针的升 降，轻松判读每一个槽位的量测结果，一次性地完成所需的检验工作，大幅缩短检验时间并 提高检验可靠度。本发明的另一目的在于提供一种箱体槽位检验方法，其利用本发明的箱体槽位检验装置以对该箱体内的槽位进行检验，量测结果可被迅速判读，以大幅降低检验时间、排除 人为检验误差并提升检验可靠度。本发明的箱体槽位检验方法包含将该箱体放置于该底座上，并使该开口朝上； 以及操作该升降机构以使该探针检验机构朝下移动，以使该多个探针能对应地伸入该多个 槽位中。当该探针被该对应的槽位的槽壁挡止时，该探针朝上突出于该支架，此即表示该槽 位有位移或变形的情形。因此，使用者可轻易地藉由该探针突出的程度判读该槽位不符合 规格的程度。因此，本发明的箱体槽位检验装置及箱体槽位检验方法提供检验该箱体的完整解 决方案，使得该箱体可一次性地被检验并迅速判读，有效解决现有技术中记录手续的繁复、 量测操作的繁锁、量测操作及判读的人为误差等问题，进而能减少检验花费且能提高检验
可靠度。关于本发明的优点与精神可以藉由以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。
图1为根据本发明的一较佳实施例的箱体槽位检验装置的示意图；图2为一待检验的箱体的示意图；图3为图1中探针检验机构的示意图；图4为图3中探针检验机构的局部剖面图；图5为根据本发明的一较佳实施例的箱体槽位检验方法的流程图；图6为根据图5的箱体槽位检验方法的细部流程图；图7为探针检验机构相对箱体移动的剖面示意图；图8为探针检验机构于其遮板被箱体挡止后持续移动的剖面示意图；图9为探针检验机构于停止移动后的剖面示意图。主要组件符号说明1箱体槽位检验装置3箱体
12底座14探针检验机构
16升降机构32开口
34槽位122底板
124挡板126滚轮
142支架144探针
146探针保护器148滚珠轴承
162导轨164升降平台
166驱动气缸1422固定板
1424定位板1426通孔
1428通孔1430通孔
1442柱头1444柱身
1446柱状端部1448外径
1462遮板1464导柱
1466 镂空S100、S120、S102、S122、S124、S126 实施步骤
具体实施例方式请参阅图1及图2，图1为根据本发明的一较佳实施例的箱体槽位检验装置1的示 意图，图2为一待检验的箱体3的示意图。箱体3具有一开口 32及形成于相对内壁上的多 个槽位34 (仅标示其一)。箱体槽位检验装置1包含一底座12、一探针检验机构14及一升 降机构16。底座12用以承载该箱体。升降机构16连接底座12及探针检验机构14，以使 探针检验机构14能相对于底座12上下移动，以便进行量测。进一步来说，底座12包含一底板122及设置于底板122上的挡板124及滚轮126， 滚轮126及挡板124是分别相对设置。当箱体3放置于底板122上时，箱体3的底部能被 滚轮126及挡板124夹持。于图1中，箱体3以虚线绘示，以表示箱体3相对于箱体槽位检 验装置1的位置。升降机构16包含二导轨162、一升降平台164及一驱动气缸166。导轨162相对 且垂直固定于底座12上，此二导轨162间另以一横梁连接，其上固定设置驱动气缸166。升 降平台164呈一矩形框架，大致与箱体3的开口 32吻合。升降平台164其两侧以可滑动的 方式衔接至导轨162。驱动气缸166的气缸杆连接升降平台164，藉由控制驱动气缸166的 作动以使升降平台164能相对于底座12上下滑动于导轨162上。驱动气缸166的控制可 由一般现有技术实现，且驱动气缸166亦得以液压缸取代，故不再赘述。探针检验机构14则设置于升降机构16的升降平台164上，藉由升降平台164的升 降来达到能相对于底座12上下移动的目的。请参阅图3及图4，图3为探针检验机构14的 示意图，图4为探针检验机构14的局部剖面图。探针检验机构14包含一支架142、多个探 针144 (仅标示其一)及一探针保护器146。支架142包含一固定板1422及一定位板1424。 固定板1422固定在升降机构16的升降平台164上，定位板1424以螺丝锁固在固定板1422 上。支架142上形成多个通孔1426，此通孔1426由分别形成在固定板1422及定位板1424 的通孔1428、1430连通来实现。探针检验机构14尚包含多个滚珠轴承148，对应地设置于通孔1430中。探针144 对应地设置于通孔1426中，每一个探针144能独立地滑动于对应的通孔1426中。探针144 包含一柱头1442、一柱身1444及一柱状端部1446。柱头1442容置于通孔1428中，当探针 144向上滑动时，露出的柱头1442有助于辨识探针144的升降状况。若柱头1442涂上颜 色，其辨识效果更佳。柱身1444滑动于滚珠轴承148中，主要用以支撑探针144的滑动。柱 状端部1446是用以于检验箱体3时，伸入槽位34中，柱状端部1446具有一外径1448，其小 于槽位34的宽度，外径1448较佳是接近槽位34的宽度以模拟实际放置玻璃基板的状况， 但不限于此。此外径1448可依不同的槽位34宽度或不同要求的容许误差而设定，例如外 径1448与槽位34的宽度之差即为容许槽位34变形的量，通常与产品容许的变形量有关。 另外，于图4中，以虚线绘示探针144相对于支架142向上滑动的情形。补充说明的是，于本实施例中，支架142由固定板1422及定位板1424组成，其通 孔1426由连接的通孔1428、1430来实现，但本发明不以此为限。于实作上，支架142可由 单一板件制成，通孔1426直接于该板件上钻孔形成，滚珠轴承148置入通孔1426的下部，
6通孔1426的上部即可作为容置柱头1442之用。此时，滚珠轴承148亦有挡止探针144脱 落的功能。或是在该板件上直接形成一沈头孔，孔身部分设置滚珠轴承148，沉头部分用以 容置柱头1442。另外，本发明亦不以柱头1442埋入支架142表面为必要，且探针144不以 圆形截面为必要。探针保护器146是以一可滑动的方式连接至支架142。探针保护器146包含一遮 板1462及多个导柱1464 (仅标示其一)。导柱1464的一端部固定于遮板1462，导柱1464 的另一端以该可滑动的方式连接至固定板1422，例如导柱1464的柱身滑动于形成固定板 1422的通孔中，并且固定板1422利用控制前述通孔孔径大小来挡止导柱1464的柱头，以防 止导柱1464脱落，例如，导柱1464的顶端即柱头部分的直径可设计成大于通孔的孔径。藉 此，遮板1462连同导柱1464能相对于固定板1422上下滑动。遮板1462具有一镂空1466， 探针144是正对于镂空1466且设置于支架142及遮板1462之间。因此，当遮板1462朝向 固定板1422移动时，探针144的柱状端部1446不会被遮板1462遮蔽而能露出。于本实施 例中，遮板1462大致呈L形，且遮板1462的其中一侧壁设置于探针133外侧，如图1 图 3所示，遮板1462的其中一侧壁设置于探针133远离槽位34的一侧，此弯折设计可防止外 物从侧面方向对探针144的不当触碰，达到保护探针144的目的。请参阅图5，其为根据本发明的一较佳实施例的箱体槽位检验方法的流程图。根据 该较佳实施例的箱体槽位检验方法是直接利用前述箱体槽位检验装置1以同时检验箱体3 的槽位34。原则上，该箱体槽位检验方法是首先将箱体3放置于底座12上，并使开口 32朝 上，如步骤SlOO所示；接着，操作升降机构16以使探针检验机构14朝下移动，以使探针144 能对应地伸入槽位34中，如步骤S120所示。于本实施例中，该箱体槽位检验方法的细部流程图如图6，其为根据图5的箱体槽 位检验方法的细部流程图。该箱体槽位检验方法是先将箱体3置于底板122上，以使箱体 3的底部夹持在挡板124及滚轮126之间，并使开口 32朝上，如步骤S102所示；请并参阅 图1，放置后的箱体3以虚线绘示。请并参阅图7，其为探针检验机构14相对箱体3移动的剖面示意图。接着，该箱体 槽位检验方法是操作升降机构16以使探针检验机构14朝下底座12移动，如步骤S122及 图7所示；探针检验机构14的初始位置以虚线绘示。此操作为控制驱动气缸166的作动来 达成(请径参酌图1)，但本发明不以此为限；例如单纯以徒手拉持升降机构16的升降平台 164亦可达到前述操作要求，或是改用电机构件以取代前述驱动气缸166的驱动方式。请并参阅图8，其为探针检验机构14于其遮板1462被箱体3挡止后持续移动的剖 面示意图。当探针检验机构14持续朝下移动时，遮板1462将被箱体3挡止，即遮板1462 被挡止于箱体3的开口 32处，但支架142仍持续朝向遮板1462移动，以使探针144穿过镂 空1466而能对应地伸入槽位34中，如步骤S124及图8所示。此时，当探针144被对应的 槽位34的槽壁挡止时，探针144朝上突出于支架142，如步骤S126所示。请参阅图9，其为探针检验机构14于停止移动后的剖面示意图；此时，固定板1422 已被箱体3挡止，故探针144已无法再向下移动。如图9所示，若槽位34有变形、偏移等情 形时，将造成探针144的柱状端部1446被槽壁挡止，使得探针144的柱头1442突出于支架 142的定位板1424之上，而易于被操作人员观察到。补充说明的是，由于每个槽位34变形 程度不一，故对应的探针144之柱头1442突出的程度亦有所差异。于实际应用上，此程度上的差异亦得作为判定箱体3是否可再重复利用的标准。相较于现有技术，本发明的箱体槽位检验装置及箱体槽位检验方法提供检验该箱 体的完整解决方案，检验人员能轻易地操作以使探针检验机构向下移动，并藉由观察探针 突出的状况，即可一次性迅速地判读出箱体的槽位偏离规格的程度，有效解决先前技术中 记录手续的繁复、量测操作的繁锁、量测操作及判读的人为误差等问题，进而能减少检验花 费且能提高检验可靠度。虽然本发明已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，在不背离本 发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变 和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
一种箱体槽位检验装置，用于同时检验具有一开口的一箱体内的多个槽位，其特征在于，该箱体槽位检验装置包含有一底座，用以承载该箱体；一探针检验机构，其包含一支架及多个探针，该支架上形成多个通孔，该多个探针是对应地设置于该多个通孔中，每一个探针能独立地滑动于该对应的通孔中；以及一升降机构，其连接该底座及该探针检验机构，以使该探针检验机构能相对于该底座上下移动。
2.如权利要求1所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该探针检验机构更包含一探 针保护器，其是以一可滑动的方式连接至该支架，该探针保护器包含一遮板，该遮板具有一 镂空，该多个探针正对于该镂空且设置于该支架及该遮板之间。
3.如权利要求2所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该探针保护器包含多个导柱， 该导柱的一端部固定于该遮板，该导柱的另一端以该可滑动的方式连接至该支架。
4.如权利要求2所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该遮板大致呈L形，且该遮板 的其中一侧壁设置于该探针远离槽位的一侧。
5.如权利要求1所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该探针包含一柱状端部，用以 伸入该槽位中，该柱状端部具有一外径，其小于该槽位的宽度。
6.如权利要求1所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该探针检验机构包含多个滚 珠轴承，其对应地设置于该多个通孔中。
7.如权利要求1所述的箱体槽位检验装置，其特征在于，该底座包含一底板及设置于 该底板上的一挡板及一滚轮，该滚轮及该挡板是相对设置，该箱体能被该滚轮及该挡板夹 持。
8.一种箱体槽位检验方法，利用一箱体槽位检验装置以同时检验具有一开口的一箱体 内的多个槽位，该箱体槽位检验装置包含一底座、一探针检验机构及一升降机构，该探针检 验机构包含一支架及多个探针，该支架上形成多个通孔，该多个探针是对应地设置于该多 个通孔中，每一个探针能独立地滑动于该对应的通孔中，该升降机构连接该底座及该探针 检验机构，以使该探针检验机构能相对于该底座上下移动，该箱体槽位检验方法包含下列 步骤(a)将该箱体放置于该底座上，并使该开口朝上；以及(b)操作该升降机构以使该探针检验机构朝下移动，以使该多个探针能对应地伸入该 多个槽位中。
9.如权利要求8所述的箱体槽位检验方法，其特征在于，该探针检验机构更包含一探 针保护器，其是以一可滑动的方式连接至该支架，该探针保护器包含一遮板，该遮板具有一 镂空，步骤(b)由下列步骤实施操作该升降机构以使该探针检验机构朝下移动；以及该遮板被该箱体挡止，该支架持续朝向该遮板移动，以使该多个探针穿过该镂空以能 对应地伸入该多个槽位中。
10.如权利要求8所述的箱体槽位检验方法，其特征在于，更包含下列步骤当该探针被该对应的槽位的槽壁挡止时，该探针朝上突出于该支架。
11.如权利要求8所述的箱体槽位检验方法，其特征在于，该底座包含一底板及设置于该底板上的一挡板及一滚轮，该滚轮及该挡板相对设置，步骤(a)由下列步骤实施 将该箱体的底部夹持在该挡板及该滚轮之间，并使该开口朝上。
全文摘要
本发明揭露一种箱体槽位检验装置及利用该箱体槽位检验装置的箱体槽位检验方法。该箱体槽位检验装置包含一底座、一探针检验机构及一升降机构。该探针检验机构包含一支架及多个探针，该支架上形成多个通孔，该多个探针是以能独立地上下滑动的方式对应地设置于该多个通孔中。该升降机构连接该底座及该探针检验机构。于操作时，将一箱体放置于该底座上，并使该箱体的开口朝上；接着操作该升降机构以使该探针检验机构朝下移动，以使该多个探针能对应地伸入该箱体的多个槽位中。藉此，该数个槽位可同时被检验，大幅减少检验时间。
文档编号G01B5/02GK101949674SQ20101025410
公开日2011年1月19日 申请日期2010年8月12日 优先权日2010年8月12日
发明者罗文彬, 赖建宇, 陈清福 申请人:友达光电股份有限公司