测量方法、装置及设备与流程

本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种测量方法、装置及设备。

背景技术：

目前，基建工程人员对于常用工程材料的面积计算与核定仍然使用传统的方式，而移动智能装置非常普遍，尤其是带有触控功能的移动智能装置给全世界范围内的广大用户的工作、生活带来了日新月异的巨大变化，移动智能装置已经融入了我们生活，成为了随身携带重要工具。

在工程人员群体中，目前的日常工作却并未步入移动智能时代，对于日常的工程材料的面积计算、核定等仍采用尺子丈量，手动计算的方式。大量的工程人员出门必须携带各种类型的尺子，有时忘记了，就必须返回驻地，造成了大量的时间浪费。

针对相关技术中用户测量工作效率不高的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本发明提供了一种测量方法、装置及设备，以至少解决相关技术中用户测量工作效率不高的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种测量方法，包括：

采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；

根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；

根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。

进一步地，所述采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息包括：

采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；

采集所述各解析点中电容变化的解析点。

进一步地，所述测量要求包括：

长度测量，面积测量，体积测量。

进一步地，所述根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：

在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。

进一步地，根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：

在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；

在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；

在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。

进一步地，该方法包括：

在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种测量装置，包括：

采集模块，用于采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；

投影模块，用于根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；

计算模块，用于根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。

进一步地，所述投影模块包括：

测量单元，用于采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；

采集单元，用于采集各解析点中电容变化的解析点。

进一步地，所述测量要求包括：

长度测量，面积测量，体积测量。

进一步地，所述计算模块包括：

长度计算单元，用于在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应 的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。

进一步地，所述装置还包括：

平整度模块，用于在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；

面积计算模块，用于在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；

所述面积计算模块还用于所述在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。

进一步地，所述装置还包括：

体积计算模块，用于在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种测量设备，包括：

触摸屏上设置压力-电场转换敷板，其中，所述触摸屏由解析点组成；

压力-电场转换敷板采集所述触摸屏与实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；

筛选出所述各解析点中电容变化的解析点投影，生成接触屏解析图；

根据用户终端的测量模式和测量要求分析所述接触屏解析图，得到对应的测量结果。

通过本发明，采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种测量方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的一种测量装置的结构框图；

图3是根据本发明优选实施例的实物面积测量系统的框架图；

图4是根据本发明优选实施例的新型触摸屏层状图；

图5是根据本发明优选实施例的新型触摸屏解析图；

图6是根据本发明优选实施例的实物面积测量流程图；

图7是根据本发明优选实施例的实物截面长度尺寸测量流程图；

图8是根据本发明优选实施例的实物体积测量流程图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

在本实施例中提供了一种测量方法，图1是根据本发明实施例的一种测量方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：

步骤S12，采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；

步骤S14，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成；

步骤S16，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果。

通过上述步骤，通过采集触摸屏上与实物的待测截面的解析点，并生成接触屏解析图，根据用户终端的测量要求分析该接触屏解析图，得到对应的测量结果，上述方法采用了用户随身携带的触摸屏智能终端或者在智能终端上连接相应的触摸屏，不再需要通过传统的尺子等测量，为用户节约了大量的时间，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。

在本实施例中，该采集触摸屏与实物待测截面的接触信息，通过该接触信息生成对应的解析点有很多种方式，可以通过电压触摸屏，也可以通过电容触摸屏，或者通过其他的传感器，在本优选实施中，可以采集该触摸屏上压力-电场转换敷板与该实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，该电场的水平范围与该实物待测截面相符，其中，该电场的变化对应电容的变化；采集该各解析点中电容变化的解析点。

在本实施例中，该测量要求包括：

长度测量，面积测量，体积测量。

在该长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，该划线操作信息与该测量要求对应的，将该划线位置信息在该接触屏解析图的方向标准线上投影，计算该测量要求对应的该待测截面的长度。

在该面积测量的模式下，通过该接触信息判断该待测截面的平整度；

在该待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有该对应的解析点生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图计算面积；

在该待测截面的平整度低于该预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出该模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图计算面积。

在该体积测量的模式下，采集该实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图三维模拟该实物的形状，计算该实物的体积。

在本实施例中还提供了一种测量装置，该装置位于终端中。该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图2是根据本发明实施例的一种测量装置的结构框图，如图2所示，该装置包括：

采集模块22，用于采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；

投影模块24，用于根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成；

计算模块26，用于根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果。

通过上述装置，通过采集触摸屏上与实物的待测截面的解析点，并生成接触屏解析图，根据用户终端的测量要求分析该接触屏解析图，得到对应的测量结果，上述方法采用了用户随身携带的触摸屏智能终端或者在智能终端上连接相应的触摸屏，不再需要通过传统的尺子等测量，为用户节约了大量的时间，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。

在本实施例中，该投影模块24包括：

测量单元，用于采集该触摸屏上压力-电场转换敷板与该实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，该电场的水平范围与该实物待测截面相符，其中，该电场的变化对应电容的变化；

采集单元，用于采集各解析点中电容变化的解析点。

在本实施例中，该计算模块26包括：

长度计算单元，用于在该长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，该划线操作信息与该测量要求对应的，将该划线位置信息在该接触屏解析图的方向标准线上投影，计算该测量要求对应的该待测截面的长度。

在本实施例中，该装置还包括：

平整度模块，用于在该面积测量的模式下，通过该接触信息判断该待测截面的平整度；

面积计算模块，用于在该待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有该对应的解析点生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图计算面积；

该面积计算模块还用于该在该待测截面的平整度低于该预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出该模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图计算面积。

在本实施例中，该装置还包括：

体积计算模块，用于在该体积测量的模式下，采集该实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据该接触屏解析图三维模拟该实物的形状，计算该实物的体积。

在本实施例中，还提供了一种测量设备，包括：

触摸屏上设置压力-电场转换敷板，其中，该触摸屏由解析点组成；

压力-电场转换敷板采集该触摸屏与该实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，该电场的水平范围与该实物待测截面相符，其中，该电场的变化对应电容的变化；

筛选出该各解析点中电容变化的解析点投影，生成接触屏解析图；

根据用户终端的测量模式和测量要求分析该接触屏解析图，得到对应的测量结果。

根据用户终端的测量模式和测量要求分析该接触屏解析图，得到对应的测量结果。

下面通过优选的实施例和实施方式对本发明进行详细说明。

本优选实施例设计了一种可以进行一定范围内的工程材料截面面积测量的移动智能装置。此装置既可以作为独立装置使用，也可以作为方案内嵌进入移动智能终端，体积小，重量轻，携带方便。

在本优选实施例中，将待测截面紧贴移动智能装置的触摸屏，触摸屏感应电容值的 变化，通过基带处理芯片解析出待测截面在触摸屏上的所有解析点，内置软件通过CPU将所有解析点之间的面积求和即可得到待测截面面积。同时可通过所有解析点的位置计算出待测截面任意直线的长度尺寸(如矩形长、宽，圆形的直径、梯形的高度等)，通过对工程材料所有表面面积的测量，工程人员可以根据实物实际体貌，通过内置软件对所有表面投影图形进行三维系统重现，并进一步计算出实物体积结果。该方案不但可以进行规则的截面面积测量，也可进行不规则截面面积测量，更可以实现多面物体的体积测量。

图3是根据本发明优选实施例的实物面积测量系统的框架图，如图3所示，实物面积测量装置系统组成：新型触摸屏(101)，基带处理芯片(102)，内置软件(103)，CPU(104)，显示屏(105，位于触摸屏下方)。

图4是根据本发明优选实施例的新型触摸屏层状图，如图4所示，

新型触摸屏(101)层状图(垂直结构图)：显示屏(105，位于最下方)，传统触摸屏(106)，压力-电场转换装置(107)，透明保护层(108)。

图5是根据本发明优选实施例的新型触摸屏解析图，如图5所示，触摸屏解析图(水平结构图)：触摸屏由一个一个的解析点组成，每个解析点均可以感应电容值的变化，整个触摸屏共计有m(横向)*n(纵向)个解析点；触摸屏横向物理尺寸为M，纵向物理尺寸为N，触摸屏最小解析面积为s＝(M*N)/m/n,触摸屏最大可测量面积为S＝M*N。

图6是根据本发明优选实施例的实物面积测量流程图，如图6所示，该流程无论是对于诸如自身带有足够强的电场的实物，还是自身引起的电容变化小于传统触摸屏门限的实物，均能够对其截面面积进行测量，主要流程如下：

601：开始阶段，主要完成实物面积测量装置、实物待测截面准备及测试环境搭建。

602：测量模式选择阶段，开启实物面积测量装置，选择面积测量模式4，该模式适用于所有材质的实物的截面面积测量。

603：实物截面贴合阶段，将待测实物截面放置在新型触摸屏上，尽量紧贴，放置过程中禁止包括手在内的人体部位以及其他非待测实物接触新型触摸屏(101)。

604：压力-电场转换阶段，压力-电场转换敷板/层(107)将其自身所感应到的来自于实物截面的压力(因实物重力产生或因按压压力产生)转换为压力-电场转换敷板/层(107)自身各解析点的电场，电场的水平范围与实物截面相符，电场强度与传统触摸屏(106)的感应范围相符。

605：数据采集阶段：压力-电场转换敷板/层(107)各解析点产生的电场(待测实物截面对触控敷板/层的压力转换产生)对于触摸屏的部分解析点电容值造成影响，这部分解析点与剩余未接触部分解析点电容值出现差异，触摸屏将与实物接触部分有电容值变化的解析点上报基带处理芯片。

606：投影分析阶段，该阶段有A、B两种模式：

A模式：适用于比较平整的截面，基带处理芯片将所有有电容值变化的解析点投影到触摸屏解析图上；

B模式：适用于不是很平整的截面，接待处理闲篇首先将所有有电容值变化的解析点投影到触摸屏解析图上，然后使用模糊计算的方法将将最外围的解析点连城一个封闭的的圈c,再将最内的解析点连城一个封闭的d圈(完整截面不存在d圈)，最后将d圈与c圈之间的解析点全部投影到触摸屏解析图上。

607：内置软件对投影图形进行分析，清点投影图形所包括的最小解析面积s的个数P，CPU通过公式s*P进行后台运算。

608：显示阶段，显示屏显示CPU运算结果，实物截面面积测量结束。

图7是根据本发明优选实施例的实物截面长度尺寸测量流程图，如图7所示，

701：开始阶段，完成601至606。

702：测量模式选择阶段，开启本装置并选择测量模式5，该模式主要用于长度尺寸测量，可以实现实物截面的长、宽、直径等测量。

703：投影图形选择阶段，选取之前601至606已经完成的一张含有待测长度尺寸的截面投影图形。

704：待测长度尺寸选取阶段，在触摸屏上将所选择的截面的投影图形放大到适当程度，然后用手指在触摸屏上的实物截面投影图形上进行划线操作，所画线条在在投影图形上的位置与要测量长度尺寸在实物截面上的位置保持一致。

705：计算阶段，内置软件分析所画线条的方向标准线，并将所化线条投影到方向标准线上，然后将方向标准线上投影的解析点数乘以该方向标准线上两个解析点的单位长度，该乘法运算由CPU完成。

706：显示阶段，显示屏显示CPU运算结果，实物截面长度测量结束。

图8是根据本发明优选实施例的实物体积测量流程图，如图8所示，具体如下：

801：开始阶段，完成601至606。

802：测量模式选择阶段，开启本装置并选择测量模式6，该模式主要用于实物体积测量，可以实现表面比较平整的实物体积测量。

803：投影图集选择阶段，选取之前601至606已经完成的实物的所有表面投影图形。

804：实物模拟阶段，在触摸屏上根据实物形状，使用期所有表面的投影图形进行 三维模拟操作，直至模拟结果与实物外形相同。

805：计算阶段，内置软件分析模拟结果包含的最小解析体积(相邻8个最小解析点组成小解析体积)数量，CPU进行乘法运算，将该数量乘以最小解析体积。

806：显示阶段，显示屏显示CPU运算结果，实物体积测量结束。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

本发明的实施例还提供了一种存储介质。可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行上述实施例的程序代码：

可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行上述实施例的方法。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。