测量方法、装置及设备与流程

技术总结
本发明提供了一种测量方法、装置及设备，其中，该方法采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。

技术研发人员：程攀刚
受保护的技术使用者：中兴通讯股份有限公司
文档号码：201510191746
技术研发日：2015.04.21
技术公布日：2016.11.23