1.一种测量方法，其特征在于，包括：
采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；
根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；
根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息包括：
采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；
采集所述各解析点中电容变化的解析点。
3.根据权利要求1或者权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量要求包括：
长度测量，面积测量，体积测量。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：
在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：
在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；
在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；
在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，该方法包括：
在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。
7.一种测量装置，其特征在于，包括：
采集模块，用于采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；
投影模块，用于根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；
计算模块，用于根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述投影模块包括：
测量单元，用于采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；
采集单元，用于采集各解析点中电容变化的解析点。
9.根据权利要求7或权利要求8所述的装置，其特征在于，所述测量要求包括：
长度测量，面积测量，体积测量。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述计算模块包括：
长度计算单元，用于在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
平整度模块，用于在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；
面积计算模块，用于在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；
所述面积计算模块还用于所述在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。
12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
体积计算模块，用于在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状， 计算所述实物的体积。
13.一种测量设备，其特征在于，包括：
触摸屏上设置压力-电场转换敷板，其中，所述触摸屏由解析点组成；
压力-电场转换敷板采集所述触摸屏与实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；
筛选出所述各解析点中电容变化的解析点投影，生成接触屏解析图；
根据用户终端的测量模式和测量要求分析所述接触屏解析图，得到对应的测量结果。