技术总结
一种用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台,包括水平移动(X轴)部分、竖直移动(Z轴)部分和水平旋转(C轴)部分。提出了一种针对不同尺寸光学元件可灵活装夹，并满足多种光学性能检测的平台设计方案。通过对机床的结构的合理布局，在最大限度预留多种光学性能检测所需要三维空间的同时，也解决了常规机械平台在光学检测领域通用性差的问题。
技术研发人员：邵建达;柯立公;徐子媛;杨留江;赵元安
受保护的技术使用者：中国科学院上海光学精密机械研究所
文档号码：201610427984
技术研发日：2016.06.16
技术公布日：2016.11.16