技术总结
本发明公开了一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法，其中该触摸笔包括：触摸柱和套置于触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，触摸柱具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面，辅助触摸结构包括：围壁，围壁具有一用于与触摸屏接触的第二接触底面；触摸柱的侧面与位于最内侧的辅助触摸结构的围壁贴合，任意相邻的两个辅助触摸结构的围壁贴合；辅助触摸结构能够沿触摸柱的中心轴所指向的方向进行运动，且使得对应的围壁的第二接触底面运动至与触摸柱的第一接触底面齐平的位置。本发明的技术方案可有效降低触摸性能测试成本，以及缩短测试周期。
技术研发人员：韩新斌
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司
文档号码：201610561753
技术研发日：2016.07.15
技术公布日：2016.12.07