触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法与流程

本发明涉及显示面板测试技术领域，特别涉及一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法。

背景技术：

在触摸屏出产前，需要对触摸屏进行触摸性能测试。该触摸性能测试是在触摸屏自动测试机台上完成，其中该触摸屏自动测试机台包括一触摸笔连接部，在进行测试前，需要将测试用的触摸笔(一般为铜柱)与触摸笔连接部固定；在进行测试时，触摸笔连接部带动触摸笔在触摸屏的表面进行运动，以对触摸屏的触摸性能进行测试。

在实际测试过程中，为保证测试的全面性和完备性，往往需要使用多个直径不同的触摸笔以对触摸屏分别进行性能测试。在此过程中，当某一个触摸笔完成测试后，需要测试人员手动将该触摸笔从触摸笔连接部上卸下来，并在触摸笔连接部上固定安装另一个触摸笔，以继续后面的测试。

由上述内容可见，由于现有的触摸性能测试过程需要准备多支触摸笔，则会导致成本的上升。更重要的是，现有技术在进行触摸性能测试时，需要测试人员不断的手动切换触摸笔连接部上的触摸笔，则会消耗较多的时间和人力。

技术实现要素：

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法。

为实现上述目的，本发明提供了一种触摸笔，包括：触摸柱和套置于所述触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，所述触摸柱具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面，所述辅助触摸结构包括：围壁，所述围壁具有一用于与触摸屏接触的第二接触底面；

所述触摸柱的侧面与位于最内侧的所述辅助触摸结构的所述围壁贴合，任意相邻的两个所述辅助触摸结构的所述围壁贴合；

所述辅助触摸结构能够沿所述触摸柱的中心轴所指向的方向进行运动，且使得对应的所述围壁的所述第二接触底面运动至与所述触摸柱的所述第一接触底面齐平的位置。

可选地，所述辅助触摸结构还包括：连接板，所述连接板与所述围壁上背向所述第二接触底面的面连接，所述围壁沿对应的所述连接板的边缘设置；

对于任一所述辅助触摸结构，其围壁的高度大于位于其内侧的其他各辅助触摸结构以及所述触摸柱的高度。

可选地，在任意相邻的两个所述连接板之间以及位于最内侧的所述连接板与所述触摸柱之间，均设置有弹力结构；

当全部所述围壁的所述第二接触底面运动至与所述触摸柱的第一接触底面齐平的位置时，各所述弹力结构均处于压缩状态。

可选地，对于任一所述辅助触摸结构，位于其内侧的所述弹力结构的弹性模量小于位于其外侧的所述弹力结构的弹性模块。

可选地，所述弹力结构为弹簧。

可选地，位于最外侧的所述辅助触摸结构中的所述连接板的外侧设置有对接结构；

所述对接结构用于与触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部进行对接。

可选地，各所述辅助触摸结构中的所述围壁的厚度均相同。

可选地，各所述辅助触摸结构中的所述围壁的形状均为圆环形。

可选地，所述触摸柱和所述辅助触摸结构的材料均为铜。

为实现上述目的，本发明还提供了一种触摸测试装置，包括：触摸笔，所述触摸笔采用上述的触摸笔。

为实现上述目的，本发明还提供了一种触摸测试方法，所述触摸测试方法基于触摸测试装置，所述触摸测试装置包括：触摸屏自动测试机台和上述的触摸笔，所述触摸测试方法包括：

将所述触摸笔与所述触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部固定，所述触摸笔与所述触摸屏垂直；

根据测试需求调节，按照由内至外的顺序，依次将相应数量的所述辅助触摸结构中的所述围壁的第二接触底面与所述第一接触底面齐平，所述第一接触底面以及与所述第一接触底面齐平的全部所述第二接触底面构成测试底面；

利用所述测试底面对所述触摸屏进行触摸性能测试。

可选地，当所述辅助触摸结构包括连接板，且在任意相邻的两个所述连接板之间以及位于最内侧的所述连接板与所述触摸柱之间，均设置有弹力结构，对于任一所述辅助触摸结构，位于其内侧的所述弹力结构的弹性模量小于位于其外侧的所述弹力结构的弹性模块时；

所述根据测试需求调节，按照由内至外的顺序，依次将相应数量的所述辅助触摸结构中的所述围壁的第二接触底面与所述第一接触底面齐平的步骤包括：

根据测试需求从预先设置的对应关系表查询出对应的操作距离，所述操作距离为所述触摸笔的顶部与所述触摸屏之间的距离；

根据查询出的结果，驱动所述触摸笔运动至对应位置，所述触摸柱与所述触摸屏接触，所述触摸笔中按照由内至外的顺序，相应数量的所述辅助触摸结构的所述围壁的第二接触底面依次与所述触摸屏接触。

本发明具有以下有益效果：

本发明提供了一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法，其中该触摸笔包括：触摸柱和套置于触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，触摸柱具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面，辅助触摸结构包括：围壁，围壁具有一用于与触摸屏接触的第二接触底面；触摸柱的侧面与位于最内侧的辅助触摸结构的围壁贴合，任意相邻的两个辅助触摸结构的围壁贴合；辅助触摸结构能够沿触摸柱的中心轴所指向的方向进行运动，且使得对应的围壁的第二接触底面运动至与触摸柱的第一接触底面齐平的位置。当该触摸笔与触摸屏自动测试机台上的触摸笔连接部连接时，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与第一接触底面齐平的第二接触底面的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。由于本发明的技术方案可使得触摸测试中所需要的触摸笔数量减小，因而可有效降低测试成本；与此同时，由于换触摸笔连接部上的触摸笔无需进行切换，因而可有效缩短测试周期。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种触摸笔的结构示意图；

图2为图1所述触摸笔的仰视图；

图3为本发明实施例二提供的一种触摸笔的结构示意图；

图4为本发明实施例四提供的一种触摸测试方法的流程图；

图5为本发明实施例五提供的一种触摸测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法进行详细描述。

图1为本发明实施例一提供的一种触摸笔的结构示意图，图2为图1所述触摸笔的仰视图，如图1和图2所示，该触摸笔包括：触摸柱1和套置于触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，该触摸柱1具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面3，辅助触摸结构包括：围壁2，围壁2具有一用于与触摸屏接触的第二接触底面4；其中，触摸柱1的侧面与位于最内侧的辅助触摸结构的围壁2贴合，任意相邻的两个辅助触摸结构的围壁2贴合；辅助触摸结构能够沿触摸柱的中心轴所指向的方向Y进行运动，且使得对应的围壁2的第二接触底面4运动至与触摸柱1的第一接触底面3齐平的位置。

在本实施例中，可根据测试需求，由内至外依次将相应数量的辅助触摸结构的位置进行调整，并使得被调整的辅助触摸结构的围壁2的第二接触底面4与第一接触底面3齐平，此时该第一接触底面3以及与第一接触底面3齐平的全部第二接触底面4构成测试底面，以供进行触摸性能测试。

在实际应用中，将本实施例提供的触摸笔与触摸屏自动测试机台上的触摸笔连接部连接，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与第一接触底面3齐平的第二接触底面4的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。

需要说明的是，附图中辅助触摸结构的数量为三个的情况仅起到示例性作用，本领域技术人员应该知晓的是，本发明中的辅助触摸结构的数量可以为1个、2个或多个。在实际应用中，可根据实际需要对辅助触摸结构的数量进行相应调整。

可选地，各辅助触摸结构中的围壁2的厚度d均相同。

可选地，各辅助触摸结构中的围壁2的形状均为圆环形。作为本实施例中的一种具体方案，触摸柱1的直径设置为1mm，各围壁2的厚度d设置为0.5mm，在由内至外依次将围壁2的第二接触底面4调整至与第一接触底面3齐平的过程中，测试底面的直径依次增大1mm。

需要说明的是，附图中触摸柱1的形状为圆柱形，围壁2的形状均为圆环形的情况仅起到示例性作用，本发明中的触摸柱1和围壁2的形状还可以为其他形状，此处不再一一列举。

可选地，触摸柱1和辅助触摸结构的材料均为铜。

本发明实施例一提供了一种触摸笔，当该触摸笔与触摸屏自动测试机台上的触摸笔连接部连接时，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与第一接触底面齐平的第二接触底面的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。由于本发明的技术方案可使得触摸测试中所需要的触摸笔数量减小，因而可有效降低测试成本；与此同时，由于换触摸笔连接部上的触摸笔无需进行切换，因而可有效缩短测试周期。

实施例二

图3为本发明实施例二提供的一种触摸笔的结构示意图，如图3所示，与上述实施例一中的触摸笔相比，本实施例中的触摸笔的辅助触摸结构不仅包括围壁2，还包括连接板5，其中，连接板5与围壁2上背向第二接触底面4的面连接，围壁2沿对应的连接板5的边缘设置；对于任一辅助触摸结构，其围壁2的高度大于位于其内侧的其他各辅助触摸结构以及触摸柱1的高度。

在本实施例中，每个辅助触摸结构均包括一围壁2和一连接板5，围壁2和连接板5形成一容纳槽，以容纳位于其内侧的辅助触摸结构，为保证各辅助触摸结构中的围壁2的第二接触底面4能运动至与触摸柱1的第一接触底面3齐平的位置，则需要使得围壁2的高度大于位于其内侧的其他各辅助触摸结构以及触摸柱1的高度，位于最内侧的辅助触摸结构中的围壁2的高度大于触摸柱1的高度，即触摸柱1和各辅助触摸结构均能够完全置于对应的容纳槽内。

可选地，辅助触摸结构中的围壁2和连接板5一体成型，以方便于辅助触摸结构的制备。

可选地，在任意相邻的两个连接板5之间以及位于最内侧的连接板5与触摸柱1之间，均设置有弹力结构7；当全部围壁2的第二接触底面4运动至与触摸柱1的第一接触底面3齐平的位置时，各弹力结构7均处于压缩状态。在本实施例中，通过在相邻的连接板5之间以及位于最内侧的连接板5与触摸柱1之间设置弹力结构7，以便于在触摸性能测试结束后，触摸柱1以及各辅助触摸结构能从对应的容纳槽中弹出，以达到自动复位的目的。其中，弹力结构7可选为弹簧。

在调整触摸笔的测试底面尺寸的过程中，为保证各围壁2的第二接触底面4是按照由内至外的顺序依次运动至与第一接触底面3平齐的位置，本实施例中可选地，对于任一辅助触摸结构，位于其内侧的弹力结构7的弹性模量小于位于其外侧的弹力结构7的弹性模量。此时，对于同一作用力，由内至外，各弹力结构7的形变量逐渐减小(位于最内侧的弹力结构7的形变量最大，位于最外侧的弹力结构7的形变量最小)。

为便于本领域技术人员更好的理解本发明的技术方案，下面将对图3所示的触摸笔进行触摸性能测试的过程进行详细描述。

首先，将该触摸笔的顶部与触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部固定，此时触摸笔与触摸屏垂直。

然后，根据测试需求从预先设置的对应关系表查询出对应的操作距离，操作距离为触摸笔的顶部与触摸屏之间的距离。

接着，根据查询出的结果，驱动触摸笔沿垂直于触摸屏的方向进行运动，直至触摸笔的顶部与触摸屏之间的距离等于查询出的操作距离，此时触摸笔上与触摸屏接触的部分为测试底面。其中，测试底面至少包括触摸柱1的第一接触底面3，该测试底面的尺寸是根据用户的测试需求所决定。

需要说明的是，在触摸笔沿垂直于触摸屏的方向朝触摸屏进行运动的过程中，触摸柱1最先接触触摸屏。在后续触摸笔继续朝触摸屏运动的过程中，各弹力结构7均会产生压缩形变，其中位于最内侧的弹力结构7的形变量最大，位于最内侧的围壁2的第二接触底面4最先与触摸屏接触并与触摸屏之间不再产生相对移动；在后续运动过程中，与位于最内侧的围壁2相邻的辅助触摸结构的围壁2与触摸屏接触并与触摸屏之间不再产生相对移动。依次类推，各围壁2的第二接触底面4是按照由内至外的顺序依次与触摸屏接触。

在本实施例中，可以通过预先实验以获得触摸笔的测试底面的尺寸与操作距离之间的对应关系，以供在实际操作过程中作为参考。

在完成相应测试需求的触摸性能测试后，需要将触摸笔切换至另一尺寸的测试底面，以满足后续的触摸性能测试需求。此时，需要先对触摸笔进行复位，具体地，控制触摸笔沿垂直于触摸屏的方向且背向触摸屏进行运动，在该运动过程中，在处于压缩状态的弹力结构7的作用下，各围壁2的第二接触底面4会同时与触摸屏分离，当触摸柱1与触摸屏分离后，触笔完成复位。此后，可根据新的测试需求进行查表、调节触摸笔操作距离、进行触摸性能测试的步骤。

本实施例中可选地，位于最外侧的辅助触摸结构中的连接板5的外侧设置有对接结构6，对接结构6用于与触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部进行对接。

本发明实施例二提供了一种触摸笔，当该触摸笔与触摸屏自动测试机台上的触摸笔连接部连接时，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与第一接触底面齐平的第二接触底面的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。由于本发明的技术方案可使得触摸测试中所需要的触摸笔数量减小，因而可有效降低测试成本；与此同时，由于换触摸笔连接部上的触摸笔无需进行切换，因而可有效缩短测试周期。

实施例三

本发明实施例三提供了一种触摸测试装置，该触摸测试装置包括：触摸屏自动测试机台和触摸笔，其中该触摸笔采用上述实施例一或实施例二中的触摸笔，具体描述可上述实施例一和实施例二中的内容，此处不再赘述。

实施例四

图4为本发明实施例四提供的一种触摸测试方法的流程图，如图4所示，该触摸测试方法基于触摸测试装置，该触摸测试装置包括：触摸屏自动测试机台和触摸笔，该触摸笔采用上述实施例一或实施例二中的触摸笔，该触摸测试方法包括：

步骤101、将触摸笔与触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部固定，触摸笔与触摸屏垂直。

步骤102、根据测试需求调节，按照由内至外的顺序，依次将相应数量的辅助触摸结构中的围壁的第二接触底面与第一接触底面齐平。

在步骤102中，可根据测试需求，由内至外依次将相应数量的辅助触摸结构的位置进行调整，并使得被调整的辅助触摸结构的围壁的第二接触底面与第一接触底面齐平，此时该第一接触底面以及与第一接触底面齐平的全部第二接触底面构成测试底面，以供进行触摸性能测试。

步骤103、利用测试底面对触摸屏进行触摸性能测试。

本发明实施例四提供了一种触摸测试方法，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与第一接触底面齐平的第二接触底面的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。由于本发明的技术方案可使得触摸测试中所需要的触摸笔数量减小，因而可有效降低测试成本；与此同时，由于换触摸笔连接部上的触摸笔无需进行切换，因而可有效缩短测试周期。

实施例五

图5为本发明实施例五提供的一种触摸测试方法的流程图，如图5所示，该触摸测试方法基于触摸测试装置，该触摸测试装置包括：触摸屏自动测试机台和触摸笔，该触摸笔采用上述实施例二中的触摸笔，且任意两个连接板之间以及位于最内侧的连接板与触摸柱之间，均设置有弹力结构；当全部围壁的第二接触底面运动至与触摸柱的第一接触底面齐平的位置时，各弹力结构均处于压缩状态；对于任一辅助触摸结构，位于其内侧的弹力结构的弹性模量小于位于其外侧的弹力结构的弹性模块。该触摸测试方法包括：

步骤101、将触摸笔与触摸屏自动测试机台的触摸笔连接部固定，触摸笔与触摸屏垂直。

步骤102a、根据测试需求从预先设置的对应关系表查询出对应的操作距离，操作距离为触摸笔的顶部与触摸屏之间的距离。

其中，该记载有触摸笔的测试底面的尺寸与操作距离之间的对应关系的对应关系表，可以通过预先实验获得。

步骤102b、根据查询出的结果，驱动触摸笔运动至对应位置，触摸柱与触摸屏接触，触摸笔中按照由内至外的顺序，相应数量的辅助触摸结构的围壁的第二接触底面依次与触摸屏接触。

其中，第一接触底面以及与触摸屏接触的全部第二接触底面构成测试底面。需要说明的是，对于本实施例中利用操作距离以调节测试底面尺寸的原理可参见前述实施例二中的相应内容，此处不再赘述。

步骤103、利用测试底面对触摸屏进行触摸性能测试。

本发明实施例五提供了一种触摸测试方法，可在无需切换触摸笔连接部上的触摸笔的情况下，通过调整与触摸屏接触的第二接触底面的数量，从而实现对触摸笔的测试底面的尺寸的变换，以满足不同的测试需求。由于本发明的技术方案可使得触摸测试中所需要的触摸笔数量减小，因而可有效降低测试成本；与此同时，由于换触摸笔连接部上的触摸笔无需进行切换，因而可有效缩短测试周期

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。