一种用于电子设备测试的测试装置的制作方法

本实用新型属于生产制造领域，特别涉及一种用于电子设备测试的测试装置。

背景技术：

随着社会经济的快速发展，科学技术也在不断的发展，无论是人们的生活质量还是工作环境都实现了电气化、自动化，各种电子产品不断的充斥着人们生活、工作以及学习等各个方面。各种电子产品在生产的过程中，都需要通过测试装置对其进行检测。

测试装置是诸多的电子设备测试中不可缺少的，其通过探针对电子产品进行机械性能、电气性能等所需要测试的各方面的性能进行测试，现有的测试装置，当其不工作时，会因为无意触碰或者是碰撞等外力因素导致测试探针弯曲甚至是断裂、损坏，这样就会导致整个测试装置无法正常工作，需要对探针进行更好，浪费成本的同时，也导致产品的生产周期变长，这样将会给企业造成诸多的不便，因而现有的测试装置并不能真正的满足企业生产的需求，其还有待于改进。

技术实现要素：

实用新型目的：为了克服以上不足，本实用新型的目的是提供一种用于电子设备测试的测试装置，其结构简单，设计合理，对探针起到很好的防护作用。

技术方案：为了实现上述木的，本实用新型提供了一种用于电子设备测试的测试装置，包括：压板、探针上模、探针下模和探针，所述的压板和探针上模之间设有浮动块，所述的探针下模设于探针上模的下方，所述的探针设于探针上模和探针下模之间，且，其两端分别穿过探针上模和探针下模的探针穿孔中，所述的压板、探针上模、探针下模三者之间通过滑动销钉连接，且，所述的探针上模和探针下模相互配合。本实用新型中所述的一种用于电子设备测试的测试装置，其通过在压板和探针上模之间增加了浮动块，所述浮动块能够有效的保护测试探针在不工作的情况下，避免因各种因素形成对测试探针的触碰，造成测试探针的弯曲、断裂、损坏，从而对探针起到了很好的保护作用，延长其使用的寿命。

本实用新型中所述的压板和探针上模以及探针下模上均设有安装孔，所述的滑动销钉依次穿过压板探针上模以及探针下模上的穿孔对三者进行紧固。

本实用新型中所述的探针采用双头探针，所述的探针采用双头探针，其表面设有镀金保护层，且，所述的探针由针轴、弹簧以及针管构成，所述的针轴设于针管中，两所述的针轴之间设有弹簧，其中，镀金保护层的设置，能够更好的提高该探针的防腐效果，机械性能和电气性能。

本实用新型中所述的压板、探针上模、探针下模分别采用双头针压板、双头探针上模和双头探针下模，其中，所述的双头针压板、双头探针上模和双头探针下模能够更好的与双头探针相配合，大大的提高了整个测试装置工作稳定性，同时，也对双头探针起到一定的保护作用。

本实用新型中所述的浮动块上设有基座，所述的基座上设有凸块，所述基座设于探针上模上，所述的凸块穿于压板中，且，所述的浮动块上设有第二穿孔，所述的浮动块的设计，让其与压板和探针上模配合的更为紧密，提高整体工作的稳定性。

本实用新型中所述的压板的中部设有开口，所述的开口和浮动块中的凸块相配合，提高压板和浮动块之间工作的稳定性。

本实用新型中所述的探针上模采用双头探针上模，其上方设有凸起的针模，所述的针模上设有一组第一针孔，且，所述的第一针孔与探针相配合。

本实用新型中所述的针模设于浮动块上的第二穿孔中，且，所述的针模与第二穿孔相配合，针模与第二穿孔的配合，能够提高探针上模和浮动块连接的紧密性，进一步提高整个测试装置工作的稳定性。

本实用新型中所述的探针下模上设有一组第二针孔，所述的第二针孔与第一针孔相配合，且，所述的探针同时与第一针孔以及第二针孔。

本实用新型中所述的一种用于电子设备测试的测试装置的生产工艺，其过程简单，操作方便，易生产，同时，也大大的提高了整个测试装置的加工精度，提高其工作的稳定性和准确性，让其更好的满足企业生产的需求。

上述技术方案可以看出，本实用新型具有如下有益效果：

1本实用新型中所述的一种用于电子设备测试的测试装置，其通过在压板和探针上模之间增加了浮动块，所述浮动块能够有效的保护测试探针在不工作的情况下，避免因各种因素形成对测试探针的触碰，造成测试探针的弯曲、断裂、损坏，从而对探针起到了很好的保护作用，延长其使用的寿命，同时，也减少了因探针损坏造成的成本投入，保证了工期的正常进行，进而让其更好的满足企业生产的需求。

2、本实用新型中所述的探针采用双头探针，所述的探针采用双头探针，其表面设有镀金保护层，其中，镀金保护层的设置，能够更好的提高该探针的防腐效果，机械性能和电气性能。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的装配示意图；

图3为本实用新型中压板的结构示意图；

图4为本实用新型中探针上模的结构示意图；

图5为本实用新型中探针下模的结构示意图；

图中：压板-1、探针上模-2、探针下模-3、探针-4、浮动块-5、开口-11、针模-21、第一针孔-22、第二针孔-31。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本实用新型。

实施例

如图1至图5所示的一种用于电子设备测试的测试装置，包括：压板1、探针上模2、探针下模3、探针4和浮动块5；

上述各部件的关系如下：

所述的浮动块5设于压板1和探针上模2之间，所述的压板1的中部设有开口11，所述的开口11和浮动块5中的凸块相配合，所述的探针下模3设于探针上模2的下方，所述的探针4设于探针上模2和探针下模3之间，且，其两端分别穿过探针上模2和探针下模3的探针穿孔中，所述的压板1、探针上模2、探针下模3三者之间通过滑动销钉6连接，且，所述的探针上模2和探针下模3相互配合。

本实施例中所述的压板1和探针上模2以及探针下模3上均设有安装孔，所述的滑动销钉6依次穿过压板1和探针上模2以及探针下模3上的穿孔对三者进行紧固；且，所述的压板1、探针上模2、探针下模3分别采用双头针压板、双头探针上模和双头探针下模。

本实施例中所述的探针4采用双头探针，其表面设有镀金保护层，且，所述的探针4由针轴、弹簧以及针管构成，所述的针轴设于针管中，两所述的针轴之间设有弹簧。

本实施例中所述的浮动块5上设有基座，所述的基座上设有凸块，所述基座设于探针上模2上，所述的凸块穿于压板1中，且，所述的浮动块5上设有第二穿孔。

本实施例中所述的探针上模2采用双头探针上模，其上方设有凸起的针模21，所述的针模21上设有一组第一针孔22，且，所述的第一针孔22与探针4相配合；所述的针模21设于浮动块5上的第二穿孔中，且，所述的针模21与第二穿孔相配合。

本实施例中所述的探针下模3上设有一组第二针孔31，所述的第二针孔31与第一针孔22相配合，且，所述的探针4同时与第一针孔22以及第二针孔31。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。