技术总结
本实用新型公开了一种用于电子设备测试的测试装置，包括：一种用于电子设备测试的测试装置，包括：压板、探针上模、探针下模和探针，所述的压板和探针上模之间设有浮动块，探针下模设于探针上模的下方，所述的探针设于探针上模和探针下模之间，且，其两端分别穿过探针上模和探针下模的探针穿孔中，所述的压板、探针上模、探针下模三者之间通过滑动销钉连接，且，所述的探针上模和探针下模相互配合。本实用新型中所述的一种用于电子设备测试的测试装置，其通过在压板和探针上模之间增加了浮动块，能够有效的保护测试探针在不工作的情况下，避免因各种因素形成对测试探针的触碰，造成测试探针的弯曲、断裂、损坏，从而对探针起到了很好的保护作用。
技术研发人员：徐文飞;王东永;潘伟仁;王勤生;陶利
受保护的技术使用者：苏州润弘安创自动化科技有限公司
文档号码：201621133887
技术研发日：2016.10.19
技术公布日：2017.06.13