技术特征：
技术总结
本发明提供一种感应耦合等离子体质量分析装置及质量分析方法，所述分析装置包括：等离子体离子化部；质量分析部；存储部，保存有关于所有元素的同位素离子的质量电荷比及存在比、与在试样的等离子体离子化时生成的化合物离子及多价离子的质量电荷比及生成概率的离子信息；代表试样测定部，取得代表试样的质谱；含有元素推断部，推断代表试样中所含有的元素；干涉离子判定部，针对目标元素的各者，根据离子信息来判定有无干涉离子并不存在的同位素；测定质量电荷比决定部，将干涉离子并不存在的同位素的质量电荷比、或减去干涉离子的质量峰的强度所得的质量峰的强度最大的同位素的质量电荷比决定为用于测定的质量电荷比；及全部试样测定部。
技术研发人员：谷口理
受保护的技术使用者：株式会社岛津制作所
技术研发日：2017.03.02
技术公布日：2017.09.12