技术总结
本发明涉及一种用于线性传感器的测试方法，主要解决现有技术中存在的测试过程复杂，测试精度低的技术问题，本发明通过采用所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机；所述FPGA还与光源模块连接；测试方法包括设置光照，预设参数，预处理数据，反向处理数据，判断各种不良的技术方案，较好的解决了该问题，可用于线性传感器的工业生产中。
技术研发人员：不公告发明人
受保护的技术使用者：张家港市欧微自动化研发有限公司
文档号码：201710176066
技术研发日：2017.03.23
技术公布日：2017.06.30