技术特征：
技术总结
本发明适用于测试技术领域，本发明公开了一种基板测试系统，包括控制主机、集成电路测试仪、驱动装置、探针卡和测试平台；控制主机发送自动测试开始信号给驱动装置，以使驱动装置驱动测试平台到达测试位置，集成电路测试仪在测试位置通过探针卡接触基板进行电性能测试并发送测试数据到控制主机，当完成基板的所有区域的电性能测试时，驱动装置驱动测试平台回到初始位置，否则继续进行下一区域测试，直到基板的所有区域测试结束。本发明实施例采用全封闭的测试方法，实现了基板产品电性能数据的自动测试，性能稳定，操作简单，功能完善，从而解决了现有技术中基板测试设备功能不完善的问题。
技术研发人员：舒雄;韦敏荣;李晓白
受保护的技术使用者：深圳安博电子有限公司
技术研发日：2017.10.13
技术公布日：2018.10.16