1.一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部的两侧开设有螺纹孔(2)，所述底板(1)的顶部设有框架(3)，所述框架(3)顶部的两侧均开设有卡槽(4)，所述卡槽(4)的内侧设有紧固螺栓(5)，所述紧固螺栓(5)的底部贯穿框架(3)并延伸至螺纹孔(2)的内侧，所述框架(3)内部的两侧均设有测试块(6)，所述测试块(6)一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧(7)，所述压缩弹簧(7)的一侧与框架(3)的内侧壁连接，所述测试块(6)底部的一侧连接有连接块(8)，两个连接块(8)之间连接有收紧弹簧(9)，所述测试块(6)的顶部开设有测试孔(10)，所述测试块(6)的内侧贯穿连接有测试触杆(11)，所述测试触杆(11)的一侧贯穿测试块(6)并延伸至测试块(6)的外侧，所述测试触杆(11)的一侧连接有挡块(12)，所述挡块(12)的一侧连接有弹簧(13)，所述弹簧(13)的一侧与测试块(6)连接。
2.根据权利要求1所述的NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于：所述弹簧(13)位于测试触杆(11)的外侧。
3.根据权利要求1所述的NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于：所述压缩弹簧(7)外侧的左侧设有第一套筒(14)，所述压缩弹簧(7)外侧的右侧设有第二套筒(15)。
4.根据权利要求3所述的NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于：所述第一套筒(14)的直径大于第二套筒(15)的直径，且第一套筒(14)内部的右侧与第二套筒(15)外部的左侧活动连接。
5.根据权利要求1所述的NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于：所述测试触杆(11)的一侧贯穿测试孔(10)并延伸至测试块(6)一侧的表面。
6.根据权利要求1所述的NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于：所述测试孔(10)为垂直设置。