颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统的制作方法

本公开涉及玻璃基板生产检测技术领域，具体地，涉及一种颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统。

背景技术：

玻璃基板深加工时，需要进行颗粒检测，颗粒检测大多为光源透射原理，其检测设备通常由光源和光源处理装置构成，具体工作原理为：光源透射玻璃基板时，如玻璃基板上有颗粒异物，光源会产生反射进入颗粒检测摄像头；如玻璃基板上无颗粒异物，光源会直接透射过玻璃基板照射到光源处理装置中，使光不会反射，与有颗粒异物反射进入摄像头进行区别，以便检测设备能够正确区分玻璃基板表面颗粒异物的大小及位置。

光源处理装置也称为颗粒检测辅助装置，俗称光陷阱。在成品玻璃基板的正常加工生产中，产线需要加工不同尺寸及厚度的玻璃基板，由于玻璃基板厚度及尺寸不同，需要光陷阱的长度也有所不同，原有的光陷阱设计已不能满足正常生产需求，另外，光陷阱要求尺寸精度较高，若是在产线对其进行频繁更换，容易发生变形，从而影响玻璃基板颗粒的正常检测，因此换型较多及拆卸较多时均会导致光陷阱变形而失效。

技术实现要素：

本公开的目的是提供一种颗粒检测设备辅助装置和使用该颗粒检测设备辅助装置的颗粒检测系统，该颗粒检测设备辅助装置结构简单，可以根据实际需求设计并组装，能够满足不同尺寸及厚度的玻璃基板颗粒检测。

为了实现上述目的，本公开提供一种颗粒检测设备辅助装置，包括形成有凹槽的外壳和安装在所述外壳中的吸光体，所述凹槽的开口朝向玻璃基板平面，所述外壳包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。

可选地，所述外壳为箱形结构，所述安装组件包括形成后壁的第一壳体、形成前壁的第二壳体以及连接在所述第一壳体和所述第二壳体的两侧以形成侧壁的连接块，所述第一壳体和所述第二壳体中的至少一者的底部弯折以形成底壁。

可选地，所述吸光体为平板状，两个所述连接块的内侧分别形成有能够容纳所述吸光体的滑槽。

可选地，所述滑槽从所述连接块的前方顶部倾斜地朝向后方底部延伸。

可选地，所述连接块的后端面形成有用于与所述第一壳体固定连接的第一紧固孔，所述连接块的前端面形成有用于与所述第二壳体固定连接的第二紧固孔。

可选地，所述连接块的外侧面上开设有第三紧固孔。

可选地，所述第一壳体包括第一平板和与所述第一平板互成角度的第二平板，所述第二壳体包括第三平板和与所述第三平板互成角度的第四平板，所述第一平板形成为所述后壁，所述第三平板形成为所述前壁，所述第二平板与所述第四平板相互搭接并形成为所述底壁。

可选地，所述第二平板和所述第四平板分别设置有用于使二者紧固的第四紧固孔。

可选地，所述吸光体为哑光材料。

本公开还提供一种颗粒检测系统，包括能够朝向玻璃基板发射光线的摄像头，和位于所述玻璃基板对侧的能够吸光的颗粒检测设备辅助装置，所述颗粒检测设备辅助装置为上述的颗粒检测设备辅助装置。

通过上述技术方案，本公开提供的颗粒检测设备辅助装置为可拆卸的组装结构，结合检测设备需求可自行设计各组件尺寸及大小并进行加工，最后再将其组装在一起。这样，通过设计兼容，当玻璃基板换型时，无需更换辅助装置，有效避免辅助装置的更换变形，提高其使用寿命。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的结构示意图；

图2是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的连接块的结构示意图；

图3是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的第一壳体的结构示意图；

图4是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的第二壳体的结构示意图；

图5是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测系统的结构示意图。

附图标记说明

1 外壳 2 吸光体

11 连接块 12 第一壳体

13 第二壳体 14 第四紧固孔

111 滑槽 112 第一紧固孔

113 第二紧固孔 114 第三紧固孔

121 第一平板 122 第二平板

131 第三平板 132 第四平板

10 颗粒检测设备辅助装置 20 玻璃基板

30 摄像头

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

在本公开中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下”通常是基于附图所示的方位或位置关系进行定义的，具体地可参考图1至图5所示的图面方向，“前、后”是为了描述方便而对相应部件的定义，而“内、外”是指相应部件轮廓的内和外。此外，本公开中使用的术语“第一”、“第二”等是为了区别一个要素和另一个要素，不具有顺序性和重要性。

如图1所示，本公开提供一种颗粒检测设备辅助装置，包括形成有凹槽的外壳1和安装在外壳1中的吸光体2，凹槽的开口朝向玻璃基板平面，外壳1包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。

颗粒检测设备辅助装置通常具有面向玻璃基板的开口，而装置内部放置有吸光体，以吸收透过玻璃基板从开口照射进来的光线，本公开提供的颗粒检测设备辅助装置为可拆卸连接的组装结构，即，外壳1由多个相互可拆卸连接的安装组件构成，当待检测玻璃基板的厚度及尺寸不同时，可结合检测设备需求设计各个安装组件的大小及尺寸并进行加工，最后再将其组装到一起，相对之前从商家进行采购对应不同玻璃基板尺寸的辅助装置而言，玻璃基板制造厂家能够自行设计并生产相应的颗粒检测设备辅助装置，既节约成本，又方便快捷。此外，通过设计该辅助装置的兼容性，使其同样适用于其他尺寸的玻璃基板，从而有效避免辅助装置的更换变形，提高其使用寿命。

具体地，如图1所示，上述外壳1可以为箱形结构，安装组件包括形成后壁的第一壳体12、形成前壁的第二壳体13以及连接在第一壳体12和第二壳体13的两侧以形成侧壁的连接块11，为了适应总体为箱形结构的外壳1，相应形成侧壁的连接块11、形成后壁的第一壳体12以及形成前壁的第二壳体13也具有规整的长方形外轮廓，在本实施方式中，连接块11的数量为两个，以分别形成壳体1的左右侧壁，为制造方便，壳体1的底壁由第一壳体12和第二壳体13中的至少一者的底部弯折形成。

根据本公开提供的具体实施方式，如图1和图2所示，上述吸光体2为平板状，两个连接块11的内侧分别形成有能够容纳吸光体2的滑槽111。为了与壳体1的结构相匹配，占据其凹槽中的大部分空间，吸光体2的宽度和厚度依据滑槽111的尺寸进行设计，长度依据该辅助装置的总长度设计，并且通过两个连接块11内侧的滑槽111固定安装在壳体1中。

进一步地，如图2所示，滑槽111从连接块11的前方顶部倾斜地朝向后方底部延伸。滑槽111的这种布置方式能够使得吸光体2占据壳体1中的最大空间，并且用于吸收玻璃基板透射过来的光线的面积达到最大，此外，吸光体2倾斜放置可以使照射进来的光线始终与其有一个既不为零也不为90度的入射角，避免光线平行入射时达不到吸收效果，或者光线垂直入射后按原路线反射，从而使吸光体2更好地吸收光线，因此可以提高该颗粒检测设备辅助装置的检测精度，同时能有效增加其检测的范围。另一方面，由于滑槽111从顶部朝向底部延伸，即在连接块11的顶部形成有开口，这样，可以在连接块11、第一壳体12以及第二壳体13组装完成后再将吸光体2从上至下放置在滑槽111中。

更进一步地，连接块11的后端面形成有用于与第一壳体12固定连接的第一紧固孔112，连接块11的前端面形成有用于与第二壳体13固定连接的第二紧固孔113。在本实施方式中，第一紧固孔112与第二紧固孔113的数量均为多个且分别间隔设置在连接块11的后端面与前端面上，第一紧固孔112和第二紧固孔113的数量及分布方式可以相同，也可以不同，如图2所示，第二紧固孔113和第一紧固孔112的数量均为三个且分别竖直均匀分布在连接块11的前后端面上，相应地，第一壳体12和第二壳体13上也设置有紧固孔，二者分别通过紧固螺钉与连接块11固定连接。

此外，如图1和图2所示，连接块11的外侧面上开设有第三紧固孔114。第三紧固孔114间隔布置在连接块11的外侧面上，以用于固定该颗粒检测设备辅助装置，其可以直接固定在设备上，也可以通过设置固定支架来进行固定，具体实施方式本公开不做限制。

如图3和图4所示，上述第一壳体12包括第一平板121和与第一平板121互成角度的第二平板122，第二壳体13包括第三平板131和与第三平板131互成角度的第四平板132，第一平板121形成为后壁，第三平板131形成为前壁，第二平板122与第四平板132相互搭接并形成为底壁。在本实施方式中，第一平板121和第二平板122、第三平板131和第四平板132所成角度均为90度，其角度若是太小则壳体1容纳吸光体2的空间受到限制，吸收光线的范围减小，从而检测玻璃基板的尺寸也受到限制；角度若是太大则相应会改变连接块11与吸光体2的外形结构，增加制造工序，浪费成本。另外，第一平板121和第三平板131的左右边缘上分别设置有紧固孔，以与连接块11的前后端面紧固连接并形成壳体1的最大容纳空间。第一壳体12和第二壳体13结构基本相同，都是由一块大的平板弯折而形成互成角度的两块平板，这样可以节省材料，降低制造成本，第二平板122与第四平板132相互搭接的形式并不受限，位置的上下关系也可以更换，只要保证其能够形成壳体1的封闭的底壁即可。

具体地，如图3和图4所示，第二平板122和第四平板132分别设置有用于使二者紧固的第四紧固孔14。其中，第四紧固孔14间隔设置在第二平板122和第四平板132上，并且其在两块平板上的位置一一对应，以通过紧固螺钉将二者固定连接。

根据本公开提供的具体实施方式，上述吸光体2为哑光材料。哑光材料可以实现对光源的吸收或者不反射，从而将透射过玻璃基板的光线与反射进入颗粒检测摄像头中的光线区分开来，完成玻璃基板表面颗粒异物的正确检测。

基于上述技术方案，当需要组装不同长度的该辅助装置时，连接块11由于具有兼容性，可适用于不用长度的辅助装置，因此只需调整吸光体2、第一壳体12及第二壳体13的长度即可，所以在选材上除了要充分保证吸光体2的材质外，连接块11也可以选用质地较好些的材料，例如轻质塑料等。

如图5所示，本公开还提供一种颗粒检测系统，包括能够朝向玻璃基板20发射光线的摄像头30，和位于玻璃基板20对侧的能够吸光的颗粒检测设备辅助装置10，该颗粒检测设备辅助装置10为上述的颗粒检测设备辅助装置。颗粒检测系统具有上述的颗粒检测设备辅助装置的全部有益效果，此处不再赘述。

以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。