一种用于半导体光催化性能测试的装置的制作方法

文档序号:15460912发布日期:2018-09-18 18:07阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开的属于半导体材料性能测试技术领域,具体为一种用于半导体光催化性能测试的装置,包括底座,所述底座的顶部从左到右依次设置有水箱、测试箱和甲醛存放箱,所述甲醛存放箱的顶部设置有真空泵,所述测试箱的外壁套接有夹套,所述测试箱的内腔左右两侧分别设置有压力传感器和二氧化碳传感器,所述测试箱的顶部左侧安装有伸缩支架,所述伸缩支架的右侧顶部安装有光源体,所述伸缩支架的右侧安装有滤光片,所述水箱的内腔底部安装有循环泵,能够实现半导体在不同的光照强度和不同温度下的光催化性能的测试,且自动化程度高,便于操作,测量精度高,数据便于处理和记录,具有快捷、方便等优点。

技术研发人员:魏秀梅;马琳
受保护的技术使用者:陕西师范大学
技术研发日:2018.04.02
技术公布日:2018.09.18

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