超级电容测试夹具的制作方法

文档序号:15478024发布日期:2018-09-18 21:55阅读:1123来源:国知局

本实用新型涉及电容测试装置领域,尤其涉及一种超级电容测试夹具。



背景技术:

超级电容器,是近年来发展起来的介于传统普通电容器和电池之间的电化学储能元件,由于其具有功率密度高、循环使用寿命长以及充电速度快的优点,在移动通讯、太阳能发电、风能发电、信息技术以及电动汽车等多种领域具有广阔的应用前景。

超级电容器的寿命期划分为三个阶段,其中早期失效期的失效率较高,而过了这段时间以后,会进入一个很长时间的稳定期,称为偶然失效期,在这之后,为损耗失效期。所以需要在早期失效期中为剔除由潜在不良因素造成的有缺陷产品采用老化手段,老化处理就是对超级电容器冲电、保压、放电的过程,在这一过程中,充放电电流大、要求超级电容的正、负极与充放电源的正、负极充分连接。对于主体圆柱形状,两端凸起的小圆柱分别为正、负极端子的超级电容器,目前超级电容测试夹具是采用两个铜条分别与超级电容正负极用螺栓连接,将铜条再接入老化电源的接头。

采用该超级电容测试夹具有两个主要缺点:1.安装或拆卸单个超级电容器时间较长,效率低下;2.老化完成后,拆卸负极铜条时容易触碰到超级电容器的外壳导致短路,损坏超级电容器和铜条;3、现有的超级电容测试夹具虽然可以同时测12pcs器件,当是不能同时兼容不同尺寸的电容;4、现有的超级电容测试夹具需要通过12根网线和交换机相连,且每根测试线都连出一个鳄鱼夹,接线纷杂,占用空间,也不美观。

电容器在老化后往往还要进行性能测试。现有的超级电容器单体的老化和测试通过两次单独装夹实现,存在装夹繁琐,夹具体积大,测量装夹取点难,实时监测数据和记录不稳定等缺点。

因此,现有技术存在缺陷,需要改进。



技术实现要素:

本实用新型的目的是克服现有技术的不足,提供一种超级电容测试夹具。

本实用新型的技术方案如下:一种超级电容测试夹具,包括壳体以及设置在壳体内的PCB板、快速肘夹和若干测试开关;所述快速肘夹设置在所述PCB板上,用于装夹固定若干待测试电容,所述快速肘夹上设有若干组导电片用于连接所述待测试电容的引脚与PCB板;所述若干测试开关设置在所述PCB板上,并通过PCB板与相应的待测试电容电性连接。

进一步地,每一测试开关、设置在PCB板上并连接所述测试开关的测试电阻,以及通过PCB板与所述测试开关连接待测试电容共同构成漏电测试电路;每一测试电阻两端均通过PCB板连接到外壳的测试端口上;每一测试电阻和待测试电容串联后的两端均通过PCB板连接到外壳的仪表端口上。

进一步地,所述外壳内的后方设有左右对称设置的两个快速肘夹,用于固定两组待测试电容;所述外壳前方对应设有两组测试开关;所述外壳背面对应设置有两个测试端口和两个仪表端口。

进一步地,所述PCB板上还设有若干待测试电容插接端口,所述待测试电容接入待测试电容插接端口后,待测试电容的负极通过PCB板连接到外壳的仪表端口上。

进一步地,所述快速肘夹包括安装块、接线块和活动块;所述安装块、接线块和活动块均为平行设置的长条状,所述安装块和接线块之间设有垂直的导柱,所述活动块设置在安装块和接线块之间的导柱上,并沿导柱滑动;所述接线块上设有若干组导电片。

进一步地,所述外壳包括底壳和与之扣合的上盖;所述PCB板、快速肘夹和测试开关设置在底壳内,所述测试开关的操作端露出底壳侧壁。

采用上述方案,本实用新型可兼容多种型号的电容,结构简洁,无复杂接线结构,可实现待测电容的快速装夹,且可配合超级电容测试仪实现待测试电容的充电和放电功能,且监测电容的漏电功能。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型的正视图;

图2为本实用新型的内部结构示意图;

图3为本实用新型的部分结构示意图;

图4为本实用新型的后视图;

图5为快速肘夹的结构示意图;

图6为单个电容样品的漏电流测试电路图;

图7为本实用新型的漏电流测试电路图;

图8为单个样品的容值测试电路图;

图9为本实用新型的容值测试电路图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。

参照图1至图5所示,本实用新型提供一种超级电容测试夹具,包括壳体以及设置在壳体内的PCB板2、快速肘夹3和若干测试开关4。

本实施例中,所述外壳包括底壳11和与之扣合的上盖12;所述PCB板2、快速肘夹3和测试开关4设置在底壳11内,所述测试开关4的操作端露出底壳11侧壁。

所述底壳11内的后方设有左右对称设置的两个快速肘夹3,用于固定两组待测试电容;所述外壳前方对应设有两组测试开关4;所述外壳背面对应设置有两个测试端口112和两个仪表端口111。

所述快速肘夹3设置在所述PCB板2上,用于装夹固定若干待测试电容,所述快速肘夹3上设有若干组导电片34用于连接所述待测试电容的引脚与PCB板2;所述若干测试开关4设置在所述PCB板2上,并通过PCB板2与相应的待测试电容电性连接。

作为一种实施例,所述快速肘夹3包括安装块31、接线块33和活动块32;所述安装块31、接线块33和活动块32均为平行设置的长条状,所述安装块31和接线块33之间设有垂直的导柱35,所述活动块32设置在安装块31和接线块33之间的导柱上,并沿导柱35滑动;所述接线块33上设有若干组导电片34。快速肘夹3可针对引脚型与纽扣行超级电容样品51进行快速装夹,无需手动接线。

本实施例中,每个快速肘夹3上设有6组导电片34,用于连接6个待测试电容,2个快速肘夹3共可以测试12个待测试电容。相应的PCB板2上共设有2组12可测试开关4,分别与12个待测试电容一对一连接。

参照图6所示,每一测试开关4、设置在PCB板2上并连接所述测试开关4的测试电阻,以及通过PCB板2与所述测试开关4连接待测试电容共同构成漏电测试电路;每一测试电阻两端的电压均通过PCB板2连接到外壳的测试端口112上;每一测试电阻和待测试电容串联后的两端均通过PCB板2连接到外壳的仪表端口上。通过检测相应测试电阻上的分压,可以间接测出相应电容样品51的漏电流。参照图7所示,本实用新型中可待测试电容C1~C12共12个电容样品51,通过分别检测测试电阻R1~R12上的分压,从而检测测试电容C1~C12上的漏电流。

所述PCB板2上还设有若干待测试电容插接端口,所述待测试电容接入待测试电容插接端口后,待测试电容的负极通过PCB板2连接到外壳的仪表端口111上。所述待测试电容插接端口适用于插接长电容样品52。

参照图8和图9所示,所述仪表端口111连接到超级电容测试仪上,通过超级电容测试仪实现对电容样品52的容值测试功能。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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