本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种平板式测试治具。
背景技术：
IC芯片是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。而今几乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。
现有的IC芯片在出场前都需要进行测试，从而可以知道该芯片是否可以正常使用，现有的测试治具在使用时内部底板上的电路板为可拆卸式的电路板，导致测试后芯片拔出时容易造成电路板松动，时间久了容易产生老化，不利于长时间的使用，且现有的测试装置外接口大多在内部，导致测试时稳定性较差，从而信号输出慢，且容易产生卡死的情况发生。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种平板式测试治具，解决了背景技术中所提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种平板式测试治具，其结构包括装置本体、显示器、底壳、外接口、电路板、芯片槽、上壳、垫圈、固定板、上盖板、底板、缓冲板和测试装置，所述装置本体的总体形状呈矩形，所述装置本体的底部设有底壳，所述底壳的前部中间位置设有开关，所述开关的上部设有外壳，所述底壳的前部两侧位置设有外接口，所述外壳的上部中间位置设有显示器，所述显示器的底部设有按钮，所述外壳的内部设有上壳，所述上壳的中间位置设有上盖板。
作为本实用新型的一种优选实施方式，所述上盖板的两侧位置设有垫圈，所述垫圈的中部位置设有固定板。
作为本实用新型的一种优选实施方式，所述底壳的内部设有底板，所述底板的上部设有电路板，所述电路板与底板之间的连接方式为固定连接。
作为本实用新型的一种优选实施方式，所述电路板的上部位置设有测试装置，所述测试装置的上部两侧位置设有缓冲板。
作为本实用新型的一种优选实施方式，所述缓冲板的中间位置设有芯片槽，所述芯片槽嵌入于测试装置的内部。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
该一种平板式测试治具，通过装置本体内部设有的电路板及其与地板之间的连接方式，能够有效的防止芯片在拔出时电路板松动的情况产生，增加了装置本体的使用寿命。
该一种平板式测试治具，通过装置本体外部设有的外接口，可以有效的增加测试装置在测试时的稳定性，防止测试时卡死的情况发生，方便了装置本体的使用。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本实用新型一种平板式测试治具的整体结构示意图；
图2为本实用新型一种平板式测试治具的内部结构示意图；
图3为本实用新型一种平板式测试治具的侧面结构示意图；
图中:装置本体-1、显示器-2、外壳-3、按钮-4、底壳-5、外接口-6、开关-7、电路板-8、芯片槽-9、上壳-10、垫圈-11、固定板-12、上盖板-13、底板-14、缓冲板-15、测试装置-16。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：装置本体1、显示器2、底壳5、外接口6、电路板8、芯片槽9、上壳10、垫圈11、固定板12、上盖板13、底板14、缓冲板15和测试装置16，所述装置本体1的总体形状呈矩形，所述装置本体1的底部设有底壳5，所述底壳5的前部中间位置设有开关7，所述开关7的上部设有外壳3，所述底壳5的前部两侧位置设有外接口6，所述外壳3的上部中间位置设有显示器2，所述显示器2的底部设有按钮4，所述外壳3的内部设有上壳10，所述上壳10的中间位置设有上盖板13。
请参阅图1-2，所述上盖板13的两侧位置设有垫圈11，所述垫圈11的中部位置设有固定板12,方便了对芯片的固定，增加了装置本体1测试时的稳定性。
请参阅图1-2，所述底壳5的内部设有底板14，所述底板14的上部设有电路板8，所述电路板8与底板14之间的连接方式为固定连接，增加了装置本体1的使用寿命，方便了使用者的使用。
请参阅图2，所述电路板8的上部位置设有测试装置16，所述测试装置16的上部两侧位置设有缓冲板15，方便了缓冲板对上盖板13的缓冲，减少上盖板13直接对芯片造成的冲击。
请参阅图2，所述缓冲板15的中间位置设有芯片槽9，所述芯片槽9嵌入于测试装置16的内部，方便了芯片的测试，从而方便了装置本体1的使用。
本实用新型所述的一种平板式测试治具，使用者在对该装置进行使用时，将需要检测的芯片卡在装置本体1内部的芯片槽9上，盖上外壳3，上壳10内部中间垫圈11和固定板12对芯片进行固定，通过开关7将外壳3和底壳5进行固定，通过按钮4和显示器2可以查看数据和控制芯片，通过外部设有的外接口6可以防止芯片测试的信号稳定性降低的问题发生，通过以上装置的组合，解决了背景技术提出的问题。
本实用新型的装置本体-1、显示器-2、外壳-3、按钮-4、底壳-5、外接口-6、开关-7、电路板-8、芯片槽-9、上壳-10、垫圈-11、固定板-12、上盖板-13、底板-14、缓冲板-15、测试装置-16，部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知，本实用新型解决的问题是仅为现有的装置不能在使芯片拔出时减少电路板的晃动且不能在进行测试时插入外接口不改变测试信号的稳定性的问题，本实用新型通过上述部件的互相组合，通过装置本体内部设有的电路板及其与地板之间的连接方式，能够有效的防止芯片在拔出时电路板松动的情况产生，增加了装置本体的使用寿命，通过装置本体外部设有的外接口，可以有效的增加测试装置在测试时的稳定性，防止测试时卡死的情况发生，方便了装置本体的使用。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点,对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。