技术总结
本实用新型的高可靠的电子元件检测装置，解决现有电子器件测试过程中因测试笔接触不到造成误检测的问题，包括，LCR测试机、可靠检测控制器及提示装置；所述可靠检测控制器的输出端与所述提示装置的输入端连接，输入/输出端与所述LCR测试机的信息输入端连接，从所述LCR测试机接收当前待检测电子元件的电性能值，发送到所述可靠检测控制器的输入端，所述可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，若否，驱动所述提示装置发出当前检测异常信息。有益效果：通过可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，从而判定电子器件测试过程中是否存在因测试笔接触不到而造成误检测的问题。
技术研发人员：汪维平;杨军;杨宏斌;王晓光
受保护的技术使用者：西安西谷微电子有限责任公司
技术研发日：2018.06.15
技术公布日：2019.04.05