电子元件检测装置和电子元件自动检测方法

文档序号:8307813阅读:481来源:国知局
电子元件检测装置和电子元件自动检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子元件检测技术领域,更具体地,涉及一种电子元件检测装置和电子元件自动检测方法。
【背景技术】
[0002]电器产品中需要用到很多的电子元件,为了保证电器产品的成品合格率,因而需要在使用电子元件前对每个电子元件进行检测,以便及时将不合格的电子元件筛除。
[0003]现有技术中,采用人工检测的方法对电子元件进行筛选,导致工作人员劳动强度大、检测效率低。同时,由于电子元件(例如编带电阻、编带电容等)的体积小、用量大(每日用量多达几万甚至十几万),因而工作人员的人工检测速度无法满足生产需求,严重影响生产效率。

【发明内容】

[0004]本发明旨在提供一种电子元件检测装置和电子元件自动检测方法,以解决现有技术中人工检测电子元件导致工作人员劳动强度大、检测效率低的问题。
[0005]为解决上述技术问题,根据本发明的一个方面,提供了一种电子元件检测装置,包括:送料单元,送料单元具有进料端和出料端;测量单元,测量单元的工作位置位于送料单元的进料端和出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;控制单元,与送料单元和测量单元连接,根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元接收合格信号;处理单元,与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。
[0006]进一步地,送料单元包括支杆轮,支杆轮为多个,多个支杆轮沿进料端向出料端的方向间隔设置。
[0007]进一步地,测量单元为电阻测试仪。
[0008]进一步地,处理单元为切除组件。
[0009]进一步地,切除组件包括:切刀,切刀的工作位置位于测量单元的工作位置和送料单元的出料端之间,用于切除电子元件;驱动部,与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号并驱动切刀运动。
[0010]进一步地,电子元件检测装置还包括工作台,工作台位于送料单元的进料端和出料端之间,且测量单元的工作位置位于工作台上,切刀的工作位置位于工作台上。
[0011]进一步地,电子元件检测装置还包括用于盛接被切除的电子元件的第一收纳部,第一收纳部位于工作台的下方。
[0012]进一步地,电子元件检测装置还包括用于盛接电子元件的第二收纳部,第二收纳部位于送料单元的出料端的下方。
[0013]进一步地,电子元件检测装置还包括输入单元,输入单元与控制单元连接,用于设定目标参数范围和/或控制控制单元向送料单元、测量单元、处理单元发送控制信号。
[0014]进一步地,电子元件检测装置还包括计数元件,计数元件与控制单元连接,用于接收不合格信号并计数。
[0015]进一步地,电子元件检测装置还包括报警元件,报警元件与计数元件连接,用于当计数元件计数超过预设数值时报警。
[0016]根据本发明的另一个方面,提供了一种电子元件自动检测方法,包括:步骤S1:通过送料单元将待检测的电子元件输送至测量单元的工作位置处;步骤S2:对位于测量单元的工作位置处的电子元件进行测量,以得到电子元件的实际参数;步骤S3:控制单元根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号;步骤S4:当控制单元发送合格信号时,送料单元接收合格信号将电子元件输送至送料单元的出料端;当控制单元发送不合格信号时,处理单元接收不合格信号对电子元件进行处理。
[0017]进一步地,在步骤S3中确定电子元件是否合格的方法为:当实际参数处于目标参数范围内时,确定电子元件为合格产品;否则,确定电子元件为不合格产品。
[0018]进一步地,在步骤S4中,处理单元接收不合格信号对电子元件进行处理的方法包括:步骤S41:处理单元的驱动部接收不合格信号并驱动切刀运动;步骤S42:切刀切割电子元件后回缩;步骤S43:控制单元驱动送料单元运动,将下一个电子元件送至测量单元的工作位置处。
[0019]进一步地,电子元件自动检测方法还包括在步骤S4后的步骤S5:用第一收纳部和第二收纳部将电子元件收集。
[0020]进一步地,在步骤S3中目标参数范围通过输入单元设定。
[0021]进一步地,在步骤S3与步骤S4之间还包括:步骤S31:用计数元件记录不合格的电子元件的个数;步骤S32:当不合格的电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警。
[0022]进一步地,在步骤SI之前还包括:步骤SOl:通过输入单元设定送料单元的运行方向和/或运行速度;步骤S02:通过输入单元设定重复测量次数,当步骤S3中确定电子元件为不合格产品时,根据重复测量次数对电子元件进行重复测量;步骤S03:通过输入单元设定测试时间,测试时间为对电子元件进行重复测量所用的时间。
[0023]本发明中的测量单元用于测量电子元件的实际参数,送料单元和测量单元与控制单元连接,控制单元根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元接收合格信号,处理单元用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测,因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。同时,本发明中的电子元件检测装置具有结构简单、制造成本低的特点。
[0024]本发明中的电子元件自动检测方法可以实现自动送料、自动检测、自动处理合格品与不合格品的功能,因而减轻了工作人员的劳动强度、提高了检测效率,从而保证了生产用料的供给、保证了生产进度。
【附图说明】
[0025]构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0026]图1示意性示出了本发明中的电子元件检测装置的结构示意图;以及
[0027]图2示意性示出了本发明中的电子元件自动检测方法的流程图。
[0028]图中附图标记:10、送料单元;11、支杆轮;20、测量单元;30、处理单元;31、切刀;
32、驱动部;40、工作台;50、第二收纳部。
【具体实施方式】
[0029]以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
[0030]作为本发明的第一个方面,提供了一种电子元件检测装置。如图1所示,电子元件检测装置包括送料单元10、测量单元20、控制单元和处理单元30,其中,送料单元10具有进料端和出料端;测量单元20的工作位置位于送料单元10的进料端和出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;控制单元与送料单元10和测量单元20连接,根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元10接收合格信号;处理单元30与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测,因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。同时,本发明中的电子元件检测装置具有结构简单、制造成本低的特点。
[0031]如图1所示的实施中,由于设置有送料单元10,因而电子元件(例如编带电阻、编带电容等)会被送料单元10从进料端运送到测量单元20的工作位置处进行检测,然后再送到处理单元30的工作位置处或送料单元10的出料端,从而实现电子元件检测装置的自动送料的功能。
[0032]如图1所示的实施例中,送料单元10包括支杆轮11,支杆轮11为多个,多个支杆轮11沿进料端向出料端的方向间隔设置。当电子元件为编带电子元件时,由于所有的电子元件均通过编带连接,且相邻两个电子元件之间的距离相同,因而编带电子元件的一端搭载在进料端的支杆轮11上后,通过支杆轮11的滚动,可以实现编带电子元件由进料端向出料端方向运动。当然,送料单元10还可以包括传动带,多个支杆轮11设置在传动带的下方,电子元件搭载在传动带上,从而实现自动送料的功能。由于相邻两个电子元件之间的距离相同,因而可以采用步进电机驱动支杆轮11转动,通过控制步进电机的步距,可以实现步进电机每运转一次电子元件向前移动一个电阻的间距,从而保证步进电机每次运转,均可向测量单元20的工作位置处传送一个新的待检测的电子元件,从而提高了电子元件检测装置的使用可靠性。
[0033]如图1所示的实施例中,由于设置有测量单元20,因而可以对待检测电子元件的实际参数进
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