，且不合格品由切刀31切除，因而用第一收纳部收集被切除的不合格品，用第二收纳部50收集检测合格的电子元件，以便后续使用，从而实现合格品与不合格品的分类收集。
[0056]本发明中在步骤S3与步骤S4之间还包括:步骤S31:用计数元件记录不合格的电子元件的个数；步骤S32:当不合格的电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警。由于计数元件可记录不合格的电子元件的个数，因而便于工作人员查询该批次产品的质量情况。同时，由于当不合格的电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警，因而及时提醒工作人员对该批次产品提高重视，提早检查是否存在误判的问题，或是因为该批产品次品严重而耽误检测进度的问题。
[0057]本发明中在步骤SI之前还包括:步骤SOl:通过输入单元设定送料单元的运行方向和/或运行速度；步骤S02:通过输入单元设定重复测量次数，当步骤S3中确定电子元件为不合格产品时，根据重复测量次数对电子元件进行重复测量；步骤S03:通过输入单元设定测试时间，测试时间为对电子元件进行重复测量所用的时间。由于可以通过输入单元设定送料单元的运行方向和/或运行速度，因而工作人员可以对检测过程进行手动控制，或根据检测需要进行设定。由于可以通过输入单元设定重复测量次数，因而当检测到不合格产品时，重复对该电子元件进行检测，以避免出现误判的问题，从而保证了电子元件自动检测方法的检测精度。由于可以通过输入单元设定测试时间，因而可以有效控制检测的效率，从而进一步提高了电子元件自动检测方法的操作可靠性。
[0058]以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括: 送料单元(10)，所述送料单元(10)具有进料端和出料端； 测量单元(20)，所述测量单元(20)的工作位置位于所述送料单元(10)的所述进料端和所述出料端之间，用于测量电子元件的实际参数； 控制单元，与所述送料单元(10)和所述测量单元(20)连接，根据所述实际参数与目标参数范围的关系确定所述电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号，所述送料单元(10)接收所述合格信号； 处理单元(30 )，与所述控制单元连接，用于接收所述控制单元发出的所述不合格信号，并对不合格的所述电子元件进行处理。
2.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述送料单元(10)包括支杆轮(11 )，所述支杆轮(11)为多个，多个所述支杆轮(11)沿所述进料端向所述出料端的方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述测量单元(20)为电阻测试仪。
4.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述处理单元(30)为切除组件。
5.根据权利要求4所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述切除组件包括: 切刀(31)，所述切刀(31)的工作位置位于所述测量单元(20)的工作位置和所述送料单元(10)的所述出料端之间，用于切除所述电子元件； 驱动部(32)，与所述控制单元连接，用于接收所述控制单元发出的所述不合格信号并驱动所述切刀(31)运动。
6.根据权利要求5所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括工作台(40)，所述工作台(40)位于所述送料单元(10)的所述进料端和所述出料端之间，且所述测量单元(20)的工作位置位于所述工作台(40)上，所述切刀(31)的工作位置位于所述工作台(40)上。
7.根据权利要求6所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括用于盛接被切除的所述电子元件的第一收纳部，所述第一收纳部位于所述工作台(40)的下方。
8.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括用于盛接所述电子元件的第二收纳部(50)，所述第二收纳部(50)位于所述送料单元(10)的所述出料端的下方。
9.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括输入单元，所述输入单元与所述控制单元连接，用于设定所述目标参数范围和/或控制所述控制单元向所述送料单元(10)、所述测量单元(20)、所述处理单元(30)发送控制信号。
10.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括计数元件，所述计数元件与所述控制单元连接，用于接收所述不合格信号并计数。
11.根据权利要求10所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述电子元件检测装置还包括报警元件，所述报警元件与所述计数元件连接，用于当所述计数元件计数超过预设数值时报警。
12.一种电子元件自动检测方法，其特征在于，包括: 步骤S1:通过送料单元(10)将待检测的电子元件输送至测量单元(20)的工作位置处； 步骤S2:对位于所述测量单元(20)的工作位置处的所述电子元件进行测量，以得到所述电子元件的实际参数； 步骤S3:控制单元根据所述实际参数与目标参数范围的关系确定所述电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号； 步骤S4:当所述控制单元发送所述合格信号时，所述送料单元(10)接收所述合格信号将所述电子元件输送至所述送料单元(10)的出料端；当所述控制单元发送所述不合格信号时，处理单元(30 )接收所述不合格信号对所述电子元件进行处理。
13.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中确定所述电子元件是否合格的方法为:当所述实际参数处于所述目标参数范围内时，确定所述电子元件为合格产品；否则，确定所述电子元件为不合格产品。
14.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，在所述步骤S4中，所述处理单元(30)接收所述不合格信号对所述电子元件进行处理的方法包括: 步骤S41:所述处理单元(30)的驱动部(32)接收所述不合格信号并驱动切刀(31)运动； 步骤S42:所述切刀(31)切割所述电子元件后回缩； 步骤S43:所述控制单元驱动所述送料单元(10)运动，将下一个所述电子元件送至所述测量单元(20)的工作位置处。
15.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，所述电子元件自动检测方法还包括在所述步骤S4后的步骤S5:用第一收纳部和第二收纳部(50)将所述电子元件收集。
16.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中所述目标参数范围通过输入单元设定。
17.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，在所述步骤S3与所述步骤S4之间还包括: 步骤S31:用计数元件记录不合格的所述电子元件的个数； 步骤S32:当不合格的所述电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警。
18.根据权利要求12所述的电子元件自动检测方法，其特征在于，在所述步骤SI之前还包括: 步骤SOl:通过输入单元设定所述送料单元(10)的运行方向和/或运行速度； 步骤S02:通过所述输入单元设定重复测量次数，当所述步骤S3中确定所述电子元件为不合格产品时，根据所述重复测量次数对所述电子元件进行重复测量； 步骤S03:通过所述输入单元设定测试时间，所述测试时间为对所述电子元件进行重复测量所用的时间。
【专利摘要】本发明提供了一种电子元件检测装置和电子元件自动检测方法。电子元件检测装置包括：送料单元；测量单元，用于测量电子元件的实际参数；控制单元，与送料单元和测量单元连接，根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号，送料单元接收合格信号；处理单元，用于接收控制单元发出的不合格信号，并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测，因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。本发明中的电子元件自动检测方法可以实现自动送料、自动检测、自动处理合格品与不合格品的功能，因而减轻了工作人员的劳动强度、提高了检测效率。
【IPC分类】B07C5-344, B07C5-36
【公开号】CN104624523
【申请号】CN201310549856
【发明人】熊斌, 赖晨鹏, 欧毓迎, 姜富林, 黄才笋, 方祥建
【申请人】珠海格力电器股份有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2013年11月7日