高可靠的电子元件检测装置的制作方法

本实用新型涉及电器件参数的测试技术领域，尤其涉及高可靠的电子元件检测装置。

背景技术：

在电子器件的测试过程中，通常会采用专用测试装置对器件进行测试，但在测试过程中，因为测试笔接触不到,造成误检测的问题经常出现。首先，不知道造成误检的问题，其次，没有对误检进行提示。所以即使出现这种情况检测过程中也不会发现，因此，导致工作质量低、检测不准确。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供高可靠的电子元件检测装置。解决现有电子器件测试过程中，因测试笔接触不到,造成误检测的问题。

为了达到上述目的，本实用新型提供的高可靠的电子元件检测装置，包括， LCR测试机、可靠检测控制器及提示装置；所述可靠检测控制器的输出端与所述提示装置的输入端连接，输入/输出端与所述LCR测试机的信息输入端连接，从所述LCR测试机接收当前待检测电子元件的电性能值，发送到所述可靠检测控制器的输入端，所述可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，若否，则驱动所述提示装置发出当前检测异常信息。

在一种优选的实施方式中，还包括：显示输出装置；所述可靠检测控制器的输出端与所述显示输出装置的输入端连接，所述LCR测试机将当前检测电子元件的电性能检测值发送到所述可靠检测控制器的输入端，所述可靠检测控制器将所述当前检测电子元件的电性能检测值输出到所述显示输出装置中，所述显示输出装置对所述当前检测电子元件的电性能检测值进行显示。

在一种优选的实施方式中，所述提示装置包括，显示灯或蜂鸣器。

在一种优选的实施方式中，所述可靠检测控制器及提示装置通过无线方式连接。

在一种优选的实施方式中，还包括：计数器；所述计数器与所述可靠检测控制器的输入/输出端连接，当从所述LCR测试机接收当前待检测电子元件的电性能值时，进行累计计数。

在一种优选的实施方式中，所述可靠检测控制器从所述计数器中读取当前累计计数值，驱动所述显示输出装置进行显示。

在一种优选的实施方式中，还包括：检测提示装置，所述可靠检测控制器的输出端与所述提示装置的输入端连接，判断所述当前检测电子元件的电性能检测值是否为检测设定值，若是，则驱动所述提示装置发出提示信息件。

在一种优选的实施方式中，还包括所述检测提示装置包括蜂鸣器或指示灯。

由上述内容可知，本实用新型的有益效果在于，本实用新型中的高可靠的电子元件检测装置，通过可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，从而判定电子器件测试过程中是否存在因测试笔接触不到而造成误检测的问题，并且有提示装置，若存在上述情况，提示装置发出当前检测异常信息，从而减少因测试笔接触不到而造成误检测的发生，提高电子器件测试的工作质量。

可通过多种显示装置对测试数据进行显示，同时可对测试数据进行文本编辑，提高了测试数据的输出效率及测试数据的读取准确性，同时便于检测参数的后续存储及输出，降低了电子器件检测的检测成本并提高了检测效率及准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种实施方式中，高可靠的电子元件检测装置的控制系统示意图；

图2为本实用新型另一种实施方式中，具有指令输入装置的高可靠的电子元件检测装置的控制系统示意图；

图3为本实用新型一种实施方式中，具有文本编辑装置的高可靠的电子元件检测装置的控制系统示意图；

图4为本实用新型一种实施方式中，具有打印装置的高可靠的电子元件检测装置的控制系统示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

为了解决电子器件测试过程中是否存在因测试笔接触不到而造成误检测的问题，本实用新型公开了一种实施方式中高可靠的电子元件检测装置，如图1, 包括，LCR测试机101、可靠检测控制器102及提示装置103；所述可靠检测控制器102的输出端与所述提示装置103的输入端连接，输入/输出端与所述LCR 测试机101的信息输入端连接，从所述LCR测试机101接收当前待检测电子元件的电性能值，发送到所述可靠检测控制器102的输入端，所述可靠检测控制器 102判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，如，当前待检测电子元件为电阻，正常的阻值为100Ω，其设定检测电性能值为0～20Ω，若否，说明当前电阻为该设定检测电性能值为0～20Ω值，则说明器件没有可靠接入，则驱动所述提示装置103发出当前检测异常信息。上述控制器均可采用单片机或片上系统开发给予实现，其实现的控制功能均为现有芯片功能经简单开发可给予实现的功能。上述LCR测试机的具体型号为：HIOKI-3532-50测试仪，可对电容、电阻或电感的各电参数，通过设备前面板上的检测端子连接测试线后给予检测。上述当前待检测器件为“电容、电阻或电感”等电子器件，检测后的参数为“容值、阻值或电感值”等数据。上述可靠检测控制器102可采用 STC单片机、ATMEL单片机或片上系统集成控制器给予实现，其内部包括：运算器、控制器或主要寄存器，其在传输控制器的输入端内置“数据读取程序”，在输出端内置“显示驱动程序”上述“数据读取程序”或“显示驱动程序”均为单片机使用时的常规现有程序。在显示的数据中可包括：电容的器件的类型，当前测试值及测试时间等内容。

为了使实现可通过多种显示装置对测试数据进行显示，如图2,在一种优选的实施方式中，还包括：显示输出装置104；所述可靠检测控制器102的输出端与所述显示输出装置104的输入端连接，所述LCR测试机101将当前检测电子元件的电性能检测值发送到所述可靠检测控制器102的输入端，所述可靠检测控制器102将所述当前检测电子元件的电性能检测值输出到所述显示输出装置104 中，所述显示输出装置104对所述当前检测电子元件的电性能检测值进行显示。

为了对存在电子器件测试过程中是否存在因测试笔接触不到而造成误检测时进行提示，在一种优选的实施方式中，所述提示装置包括103，显示灯或蜂鸣器。在一种优选的实施方式中，所述可靠检测控制器102及提示装置103通过无线方式连接。

为了准确测得当前待检测电子元件的电性能值，如图3,在一种优选的实施方式中，还包括：计数器105；所述计数器与所述可靠检测控制器102的输入/ 输出端连接，当从所述LCR测试机101接收当前待检测电子元件的电性能值时，进行累计计数。上述计数器可通过现有软件给予实现。

在一种优选的实施方式中，所述可靠检测控制器102从所述计数器105中读取当前累计计数值，驱动所述显示输出装置104进行显示。

为了避免因提示装置103出现问题而造成对电子器件测试过程中存在因测试笔接触不到而造成误检测的错误判断，如图4,在一种优选的实施方式中，还包括：检测提示装置106，所述可靠检测控制器102的输出端与所述提示装置103 的输入端连接，判断所述当前检测电子元件的电性能检测值是否为检测设定值，若是，则驱动所述提示装置103发出提示信息件。

在一种优选的实施方式中，还包括所述检测提示装置106包括蜂鸣器或指示灯。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。