测试设备以及测试方法与流程

本公开涉及一种测试设备、测试方法以及发光二极管阵列测试方法，更具体地说，涉及一种电流驱动器阵列测试设备、电流驱动器阵列测试方法以及微型发光二极管阵列测试方法。

背景技术：

微型发光二极管阵列(microlightemittingdiodearray；micro-ledarray)通过呈一对一配置的电流驱动器来驱动。也就是说，阵列中的每一微型led通过对应电流驱动器的电流来驱动。另外，当应用小间距微型led时，电路中的可用面积受限，且设计电流驱动器时的灵活性也受限。

在小间距微型led设计中，在接合微型led之前，不可能使用探针来探测连接到电流驱动器的衬垫以便测量从电流驱动器输出的电流。在阵列上接合微型led之后，不存在衬垫来测试每一数字像素单元的接合条件。数字像素单元包含电流驱动器和微型led。一个替代方法是针对每一微型led进行光学检查，但成本非常高。因此，在接合之前或接合之后，针对每一数字像素单元，需要内建式测试(built-intest)电路。

然而，在内建式测试电路中，共享任一个测试启用引脚且存在多个测试输出引脚，或共享一个测试输出引脚且存在多个测试启用引脚。因此，内建式测试电路需要占据较大布线资源和较大面积(意味着较大布局面积)，因而不适用于小间距微型led设计中。

技术实现要素：

本公开涉及一种具有大大减少的布线资源和布局面积且适合成为小间距微型led阵列中的内建式测试电路的电流驱动器阵列测试设备。

本公开涉及一种使用电流驱动器阵列测试设备的电流驱动器阵列测试方法。

本公开涉及一种使用电流驱动器阵列测试设备的微型发光二极管阵列测试方法。

本公开提供一种用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，多个电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流。电流驱动器阵列测试设备包含多个测试开关、共同测试启用引脚、共同测试输出引脚以及检测器。测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个。共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个。共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流。检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。

在本公开的一实施例中，共同测试输出引脚在不同时间处通过多个测试开关中的每一个接收电流。

在本公开的一实施例中，测试开关是切换晶体管。

在本公开的一实施例中，测试开关是二极管连接的晶体管。

在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试设备进一步包含第一开关、第二开关以及第三开关。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。

在本公开的一实施例中，将第三电压施加于共同测试启用引脚。

在本公开的一实施例中，检测器是电流感测电路，且电流感测电路电连接于共同测试输出引脚之间。

本公开提供一种用于具有多个电流驱动器的阵列的电流驱动器阵列测试方法，电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流。电流驱动器阵列测试方法包含以下步骤：设置多个测试开关，测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个；设置共同测试启用引脚，其中共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个；设置共同测试输出引脚，其中共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流；以及设置检测器，其中检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。

在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试方法进一步包含设置第一开关、第二开关以及第三开关的步骤。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。

在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试方法进一步包含以下步骤：将第一电压施加于共同测试启用引脚以接通多个测试开关；逐个启动和停用多个电流驱动器中的每一个；以及将第二电压施加于共同测试启用引脚以切断多个测试开关。

在本公开的一实施例中，测试开关是切换晶体管。

本公开提供一种用于具有多个电流驱动器和多个微型发光装置的微型led阵列的微型led阵列测试方法，多个电流驱动器中的每一个电连接到微型发光装置中的对应一个且配置成在启动时提供电流。微型led阵列测试方法包含以下步骤：设置多个测试开关，测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个；设置共同测试启用引脚，其中共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个；设置共同测试输出引脚，其中共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流；以及设置检测器，其中检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。

在本公开的一实施例中，微型led阵列测试方法进一步包含设置第一开关、第二开关以及第三开关的步骤。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。

在本公开的一实施例中，微型led阵列测试方法进一步包含以下步骤：将第三电压施加于共同测试启用引脚以接通多个测试开关；逐个启动和停用多个电流驱动器中的每一个；以及将第二电压施加于共同测试启用引脚以切断多个测试开关。

在本公开的一实施例中，测试开关是二极管连接的晶体管。

在本公开的一实施例中，在启动的电流驱动器、对应于启动的电流驱动器的微型发光装置以及对应于启动的电流驱动器的测试开关当中的位置处的电压高于微型发光装置的正向电压与共同导轨的电压的总和，且高于第一电压与测试开关的阈值电压的总和。

为了使前述内容更容易理解，以下详细地描述伴有附图的若干实施例。

附图说明

包含附图以提供对本公开的进一步理解，且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图示出本公开的示范性实施例，且与实施方式一起用来解释本公开的原理。

图1是示出根据本公开的一实施例的显示器中的行扫描过程的示意图。

图2a和图2b是示出根据图1中的实施例的数字像素的示意图。

图3是示出根据本公开的一实施例的数字像素单元的电流驱动数字像素设备的示意图。

图4是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列的示意图。

图5是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列测试设备和电流驱动器阵列的示意图。

图6a、图6b以及图6c是示出启动图5中的电流驱动器的顺序的示意图。

图7是示出根据本公开的另一实施例的当测试电流驱动器时电流驱动器阵列测试设备的示意图。

图8和图9是示出根据本公开的一实施例的电流驱动器阵列测试方法的流程图。

图10是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列测试设备和微型led阵列的示意图。

图11是示出根据本公开的另一实施例的微型led阵列测试方法的流程图。

附图标记说明

10、11a、11b、12a、12b、13a、13b：电流驱动数字像素设备；

100：微型发光装置；

100a：阳极；

100c：阴极；

110：静电放电装置；

120：控制装置；

200：电流驱动器；

300：共同测试启用引脚；

400：共同测试输出引脚；

500：检测器；

601：第一开关；

602：第二开关；

603：第三开关；

1000a、1000b：电流驱动器阵列测试设备；

a：区域；

b：蓝光微型发光二极管；

c1、c2、c3、cm-2、cm-1、cm：列；

cda：电流驱动器阵列；

cr：共同导轨；

d：显示器；

dp、dpa、dpb：数字像素；

dpcba、dpcbb：蓝光数字像素单元；

dpcga、dpcgb：绿光数字像素单元；

dpcra、dpcrb：红光数字像素单元；

ei、itest：电流；

elvdd、elvss、vu1、vu2、vu3、vtcm、v_test：电压；

emb1、emb2、emb3：信号；

g：绿光微型发光二极管；

i：区；

ird：输入行数据；

m1：电流镜装置；

mt：测试开关；

pr：电力轨；

r：红光微型发光二极管；

r1、r2、rn：行；

rtest：电阻器；

s1：开关装置；

s100、s200、s300、s400、s500、s600a、s600b、s700a、s700b、s800a、s800b：步骤；

si：源电流；

vds_mt：源极漏极电压；

vf：正向电压；

vt：阈值电压；

vbias：电压信号。

具体实施方式

在本公开中，共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。也就是说，多个测试开关共享同一共同测试启用引脚且还共享同一共同测试输出引脚，因而大大减少电流驱动器阵列测试设备的布线资源和布局面积。因此，由电流驱动器阵列测试设备占据的面积也大大减少。因此，电流驱动器阵列测试设备适合成为针对小间距微型led阵列中的每一数字像素单元的内建式测试电路。

图1是示出根据本公开的一实施例的显示器中的行扫描过程的示意图。如图1中所示出，显示器d具有由数字像素dp的阵列形成的屏幕。更具体地说，显示器d的屏幕具有数字像素dp的m个列c1至列cm以及n个行r1至行rn，且m和n是大于或等于1的整数。数字像素dp中的每一个由一个蓝光微型led、一个绿光微型led以及一个红光微型led以及对应电流驱动器构成。另外，蓝光微型led、绿光微型led以及红光微型led中的每一个在从控制器(未示出)接收数据时充当光源。在显示器d中，在一时间处将输入行数据ird提供给数字像素dp的单个行或提供给数字像素dp的多个行。当接收输入行数据ird时，单个行或多个行中的蓝光微型led、绿光微型led以及红光微型led发出蓝光、绿光以及红光以便在那时充当光源。接下来，将输入行数据ird从行r1至行rn或在如图1中所示出的从显示器d的顶部至底部的箭头的方向上依次提供给下一行或下几行。换句话说，光源(其为数字像素dp的单个行或多个行)在行r1与行rn之间竖直地扫描，且输入行数据ird持续输入以控制数字像素dp的行以显示图像。通过这种方式，实现全屏幕的m×n数字像素dp分辨率。

图2a和图2b是示出根据图1中的实施例的数字像素的示意图。如图2a中所示出，数字像素dpa包含直接接合在硅芯片上的红光微型ledr、绿光微型ledg以及蓝光微型ledb。更具体地说，红光微型ledr、绿光微型ledg以及蓝光微型ledb中的每一个通过安置在下方的一个单元驱动电路(电流驱动器)来驱动。红光微型ledr和安置在红光微型ledr之下的对应单元驱动电路形成红光数字像素单元dpcra。类似地，绿光微型ledg和安置在绿光微型ledg之下的对应单元驱动电路形成绿光数字像素单元dpcga，且蓝光微型ledb和安置在蓝光微型ledb之下的对应单元驱动电路形成蓝光数字像素单元dpcba。在本实施例中，红光数字像素单元dpcra、绿光数字像素单元dpcga以及蓝光数字像素单元dpcba水平地布置，但本公开不限于此。

图2b中所示出的数字像素dpb类似于图2a中所示出的数字像素dpa。区别是红光数字像素单元dpcrb、绿光数字像素单元dpcgb以及蓝光数字像素单元dpcbb竖直地布置。

图3是示出根据本公开的一实施例的数字像素单元的电流驱动数字像素设备的示意图。如图3中所示出，电流驱动数字像素设备10包含电力轨pr、共同导轨cr、微型发光装置100以及电流驱动器200。微型发光装置100电耦合到共同导轨cr。电流驱动器200包含开关装置s1和电流镜装置m1。电流驱动器200的开关装置s1电耦合到电力轨pr。电流驱动器200的电流镜装置m1电耦合于开关装置s1与微型发光装置100之间。更具体地说，微型发光装置100的阳极100a电连接到电流镜装置m1，且微型发光装置100的阴极100c电连接到共同导轨cr。微型发光装置100和电流驱动器200都位于电流驱动数字像素设备10中的数字像素单元的同一区域a中。

电流驱动数字像素设备10进一步包含静电放电装置110和控制装置120。使用静电放电装置110以保护电流驱动数字像素设备10的内部电路。使用控制装置120以控制电流驱动数字像素设备10的内部电路。静电放电装置110和控制装置120布置/位于电流驱动数字像素设备10中的数字像素单元的同一区域a中。

另外，电力轨pr配置成通过开关装置s1将源电流si供应到电流镜装置m1，且开关装置s1配置成接通和切断由电流镜装置m1接收的源电流si。电流镜装置m1通过开关装置s1从电力轨pr接收源电流si且将电流ei(其为预期电流)供应到微型发光装置100。

当微型发光装置100切断或处于停机状态时，微型发光装置100的阳极100a的电压约等于共同导轨cr的电压elvss。由于电流镜装置m1直接连接到且电连接到微型发光装置100的阳极100a，所以当有关电流镜装置m1的应力时，电流镜装置m1应该是中电压(mediumvoltage；mv)装置。换句话说，电流镜装置m1应该是中电压(mv)装置以耐受来自阳极100a的电压应力。

由于开关装置s1电耦合于电力轨pr与电流镜装置m1之间，所以开关装置s1靠近电力轨pr的电压elvdd。因此，当开关装置s1接通(处于启用状态)或切断(处于停机状态)时，开关装置s1的漏极、源极、栅极以及降压(buck)因过压而不受应力。因此，开关装置s1有可能是低电压(lowvoltage；lv)装置。开关装置s1配置成接通和切断由电流镜装置m1接收的源电流si。

因此，在本实施例中，开关装置s1是lv装置且电流镜装置m1是mv装置。另外，通过信号emb1的高电平和低电平来控制开关装置s1接通或切断，且通过电压信号vbias来控制电流镜装置m1。由于开关装置s1是lv装置，所以信号emb1有可能是lv杠杆控制信号，且信号emb1的波形在图3中示出作为实例。可同时或在不同时间施加信号emb1和电压信号vbias，本公开不限于此。

通常来说，lv装置相较于mv装置而具有更低的阈值电压vt、更低的接通电阻以及更小的大小。因此，在本实施例中，接通和切断开关装置s1(其为lv装置)所需要的动态功率减小。另外，在切换(接通和切断)时，从开关装置s1到电压信号vbias的耦合反向噪声(couplingbacknoise)也大大减小。

在本实施例中，开关装置s1是切换晶体管，且电流镜装置m1是电流镜晶体管电路。微型发光装置100可以是红光微型led、绿光微型led或蓝光微型led。然而，本公开不限于此。

图4是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列的示意图。在具有数字像素dp的阵列的屏幕的制造工艺中，首先在不接合微型发光装置的情况下制造电流驱动器阵列cda。这被称为“在接合之前(beforebonding)”。更具体地说，在图4中所示出的本实施例中，电流驱动器阵列cda具有电流驱动器的4个列和4个行作为实例。在本公开中，电流驱动器阵列可具有电流驱动器的m个列和n个行，且m和n是大于或等于1的整数。每一电流驱动器属于电流驱动数字像素设备，如上文所提及。如图4中所示出，在下文中将包含三个电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的区域i用于举例说明。然而，本公开不限于此。

图5是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列测试设备和电流驱动器阵列的示意图。在图5中，示出区域i在接合之前的三个电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a。也就是说，电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a中的每一个与图3中的电流驱动数字像素设备10之间的区别是，电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a中的每一个不包含微型发光装置100，或微型发光装置100还未接合在电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a中的每一个中。另外，电流驱动器阵列包含电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200。在这一阶段，需要测试由电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a中的每一个中的电流驱动器200提供的电流。

在本实施例中，如图5中所示出，通过电流驱动器阵列测试设备1000a来测试由电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a中的每一个中的电流驱动器200提供的电流。通过信号emb1、emb2、emb3的高电平和低电平分别来控制其中的开关装置s1接通或切断。电流驱动器阵列测试设备1000a包含多个测试开关mt、共同测试启用引脚300、共同测试输出引脚400以及检测器500。测试开关mt中的每一个电耦合到电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200中的对应一个。也就是说，电流驱动器200中的每一个电耦合到一个测试开关mt。共同测试启用管脚300电耦合到测试开关mt中的每一个以接通或切断测试开关mt中的每一个。共同测试输出引脚400电耦合到测试开关mt中的每一个。另外，共同测试输出引脚400在电流驱动器200逐个启动时通过测试开关mt中的每一个从电流驱动器200中的对应一个接收电流。另外，如按以下所描述，电流驱动器200依序逐个启动。

图6a、图6b以及图6c是示出启动图5中的电流驱动器的顺序的示意图。同时参考图5以及图6a到图6c，在本实施例中，如图6a中所示出，当电流驱动数字像素设备11a的电流驱动器200启动或on一段时间时，电流驱动数字像素设备11a的开关装置s1接通一段时间，且电流驱动数字像素设备11a的电流驱动器200通过对应测试开关mt将电流提供到共同测试输出引脚400。在那之后，电流驱动数字像素设备11a的电流驱动器200通过切断开关装置s1停用为off，且电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200启动或on一段时间，如图6b中所示出。此时，电流驱动数字像素设备12a的开关装置s1接通一段时间，且电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200通过对应测试开关mt将电流提供到共同测试输出引脚400。另外，电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200通过切断开关装置s1停用或off，且电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200启动或on一段时间，如图6c中所示出。当电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200启动时，电流驱动数字像素设备13a的开关装置s1接通，且电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200通过对应测试开关mt将电流提供到共同测试输出引脚400。也就是说，同时，共同测试输出引脚300通过测试开关mt中的仅一个从电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200(其启动)中的对应一个接收电流。换句话说，共同测试输出引脚400在不同时间通过测试开关mt中的每一个接收电流。

返回到图5，检测器500电耦合到共同测试输出引脚400且检测器500配置成从共同测试输出引脚400接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。如果由一个电流驱动器200提供的电流的值在预定范围内，那么电流驱动器200正常无缺陷。在本实施例中，检测器500可以是包含电阻器的电流感测电路，测试开关mt可以是切换晶体管或二极管连接的晶体管。

共同测试启用引脚300的数目仅为一个，且共同测试输出引脚400的数目仅为一个。也就是说，多个测试开关mt共享同一共同测试启用引脚300且还共享同一共同测试输出引脚400，因而大大减少电流驱动器阵列测试设备的布线资源和布局面积。因此，由电流驱动器阵列测试设备占据的面积也大大减少。因此，电流驱动器阵列测试设备适合成为针对小间距微型led阵列中的每一数字像素单元的内建式测试电路。

如图5中所进一步示出，电流驱动器阵列测试设备1000a进一步包含第一开关601、第二开关602以及第三开关603。第一开关601电耦合于共同测试启用引脚300与电压vtcm(其为第一电压)之间。第二开关602电耦合于共同测试启用引脚300与电压elvdd(其为第二电压)之间。第三开关603电耦合于共同测试启用引脚300与电压v_test(其为第三电压)之间。当第一开关601接通时，将第一电压vtcm施加于共同测试启用引脚300，以便接通测试开关mt。当第二开关602接通时，将第二电压elvdd施加于共同测试启用引脚300，以便切断测试开关mt。当第三开关603接通时且将第三电压v_test施加于共同测试启用引脚300，以便接通测试开关mt。在本实施例中，将第三电压v_test施加于共同测试输出引脚400。

另外，电压vu1、电压vu2以及电压vu3是测试开关mt与电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200中的对应一个之间的电压。更具体地说，电压vu1是电流驱动数字像素设备11a的电流驱动器200与对应测试开关mt之间的电压。电压vu2是电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200与对应测试开关mt之间的电压。电压vu3是电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200与对应测试开关mt之间的电压。

图7是示出根据本公开的另一实施例的当测试电流驱动器时电流驱动器阵列测试设备的示意图。在本实施例中类似于图5中的实施例，在下文中仅描述区别。在本实施例中，检测器500被实施为包含电阻器rtest的电流感测电路，且电阻器rtest电连接于共同测试输出引脚400与第一电压vtcm之间。也就是说，本实施例中的电流驱动器阵列测试设备1000b与图5中的电流驱动器阵列测试设备1000a之间的区别是，电流驱动器阵列测试设备1000b包含电阻器rtest而不是检测器500。如图7中所示出，第一开关601接通，将第一电压vtcm施加于共同测试启用引脚300，以便接通测试开关mt，且电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200启动。由于对应于电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200的测试开关mt接通，所以从电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200提供的电流itest经过测试开关mt、共同测试输出引脚400、电阻器rtest到达电压vtcm。因此，可测量电流itest。举例来说，可根据电阻器rtest的值和电阻器rtest的两端之间的电压差来测量电流itest。也就是说，测试电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200。另外，测试开关mt是切换晶体管，且电压vu2等于电压vtcm、电阻器itest*rtest的电压以及测试开关mt的源极漏极电压vds_mt的总和。

当将第一电压vtcm施加于共同测试启用引脚300时，所有测试开关mt初始地接通。然而，由于电流驱动数字像素设备11a和电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200停用，所以电压vu1和电压vu3经由测试开关mt放电直至对应于电流驱动数字像素设备11a和电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200的测试开关mt自动切断为止。另外，以与电流驱动数字像素设备12a的电流驱动器200相同的方式测试电流驱动数字像素设备11a和电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200。

图8和图9是示出根据本公开的一实施例的电流驱动器阵列测试方法的流程图。参考图8和图5，在步骤s100处，设置多个测试开关mt，且多个测试开关mt中的每一个电耦合到电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的多个电流驱动器200中的对应一个。接下来，在步骤s200中，设置共同测试启用引脚300，且共同测试启用引脚300电耦合到多个测试开关mt中的每一个以接通或切断多个测试开关mt中的每一个。在步骤s300中，设置共同测试输出引脚400，共同测试输出引脚400电耦合到多个测试开关mt中的每一个，且在电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的多个电流驱动器200逐个启动时通过多个测试开关mt中的每一个从电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的多个电流驱动器200中的对应一个接收电流，如图6a到图6c中所示出。在步骤s400中，设置检测器500，且检测器500电耦合到共同测试输出引脚400且配置成从共同测试输出引脚400接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚300的数目仅为一个，且共同测试输出引脚400的数目仅为一个。

另外，在步骤s500中，设置第一开关601、第二开关602以及第三开关603。第一开关601电耦合于共同测试启用引脚300与第一电压vtcm之间。第二开关602电耦合于共同测试启用引脚300与第二电压elvdd之间。第三开关603电耦合于共同测试启用引脚300与第三电压v_test之间。将第三电压v_test施加于共同测试输出引脚400。

接下来，如图9中所示出，在步骤s600a中，将第一电压vtcm施加于共同测试启用引脚300以接通对应于电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200的多个测试开关mt。接通第一开关601以将第一电压vtcm施加于共同测试启用引脚300。在步骤s700a中，电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200中的每一个逐个启动并接着停用，如图6a到图6c中所示出。因此，测试电流驱动数字像素设备11a、电流驱动数字像素设备12a以及电流驱动数字像素设备13a的电流驱动器200中的每一个。在步骤s800a中，将第二电压elvdd施加于共同测试启用引脚300以切断多个测试开关mt。结束电流驱动器阵列测试方法。

图10是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列测试设备和微型led阵列的示意图。本实施例类似于图7中的实施例，在下文中仅描述区别。在本实施例中，电流驱动数字像素设备11b、电流驱动数字像素设备12b以及电流驱动数字像素设备13b中的每一个包含微型发光装置100。换句话说，微型发光装置100接合到电流驱动数字像素设备11b、电流驱动数字像素设备12b以及电流驱动数字像素设备13b中的每一个中的电流驱动器200。这被称为“在接合之后(afterbonding)”。另外，在本实施例中，第三开关603接通以将第三电压v_test施加于共同测试启用引脚300以接通测试开关mt。测试开关mt中的每一个是二极管连接的晶体管。电流驱动数字像素设备12b的电流驱动器200启动。在电流驱动器200、微型发光装置100以及测试开关mt当中的位置处的电压是电压vu2。电压vu2大于/高于微型发光装置100的正向电压vf与共同导轨cr的电压elvss的总和(其为微型发光装置100的阴极100c的电压)。另外，电压vu2大于/高于电压vtcm与测试开关mt的阈值电压vt的总和。因此，从电流驱动数字像素设备12b的电流驱动器200提供的电流的一部分流经微型发光装置100到达电压elvss。另外，从电流驱动数字像素设备12b的电流驱动器200提供的电流的其它部分(其为图10中所示出的电流itest)流经测试开关mt、共同测试输出引脚400、电阻器rtest到达电压vtcm。因此，可测量电流itest接着确定所述电流是否在预定范围内或不在预定范围内。电流驱动数字像素设备12b中的微型发光装置100接通。在电流驱动数字像素设备12b中的微型发光装置100的接合良好且合格的情况下，电流itest的值在预定范围内。在电流驱动数字像素设备12b中的微型发光装置100的接合打开的情况下，从电流驱动器200提供的所有电流流到电阻器rtest。因此，电流itest的值过高且不在预定范围内。在电流驱动数字像素设备12b中的微型发光装置100的接合短接(短路)的情况下，从电流驱动器200提供的所有电流流到微型发光装置100。因此，电流itest的值过低且不在预定范围内。因此，确定接合电流驱动数字像素设备12b中的微型发光装置100的质量。

当将第三电压v_test施加于共同测试启用引脚300时，所有测试开关mt初始地接通。然而，由于电流驱动数字像素设备11b和电流驱动数字像素设备13b的电流驱动器200停用，所以电压vu1和电压vu3放电以接近共同导轨cr的电压elvss。由于电压vu1和电压vu3中的每一个比电压vtcm与测试开关mt的阈值电压vt的总和低得多，所以对应于电流驱动数字像素设备11b和电流驱动数字像素设备13b的电流驱动器200的测试开关mt自动切断。另外，以与电流驱动数字像素设备12b的电流驱动器200相同的方式测试电流驱动数字像素设备11b和电流驱动数字像素设备13b的电流驱动器200。

本公开中提供一种微型发光二极管(lightemittingdiode；led)阵列测试方法。微型led阵列测试方法包含图8中所示出的步骤s100到步骤s500。然而，微型led阵列测试方法进一步包含不同步骤。图11是示出根据本公开的另一实施例的微型led阵列测试方法的流程图。如图11中所示出，微型led阵列测试方法进一步包含步骤s600b、步骤s700b以及步骤s800b。在步骤s600b中，将第三电压v_test施加于共同测试启用引脚300以接通对应于电流驱动数字像素设备11b、电流驱动数字像素设备12b以及电流驱动数字像素设备13b的电流驱动器200的测试开关mt。另外，在步骤s700b中，电流驱动数字像素设备11b、电流驱动数字像素设备12b以及电流驱动数字像素设备13b的电流驱动器200中的每一个逐个启动并接着停用。另外，在步骤s800b中，将第二电压elvdd施加于共同测试启用引脚300以切断多个测试开关mt。结束微型led阵列测试方法。

总之，在本公开中，共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。也就是说，多个测试开关共享同一共同测试启用引脚且还共享同一共同测试输出引脚，因而大大减少电流驱动器阵列测试设备的布线资源和布局面积。因此，由电流驱动器阵列测试设备占据的面积也大大减少。因此，电流驱动器阵列测试设备适合成为针对小间距微型led阵列中的每一数字像素单元的内建式测试电路。

另外，在本公开中，在启动的电流驱动数字像素设备中的电流驱动器、微型发光装置以及测试开关当中的位置处的电压大于/高于微型发光装置的正向电压与共同导轨的电压的总和，且也大于/高于第一电压与测试开关的阈值电压的总和。因此，从启动的电流驱动数字像素设备的电流驱动器提供的电流部分地流到微型发光装置且也部分地流到电阻器。基于流到电阻器的电流的部分，确定接合电流驱动数字像素设备中的微型发光装置的质量。

对本领域的技术人员显而易见的是，可在不脱离本公开的范围或精神的情况下作出各种修改和变化。鉴于前述，希望本公开涵盖修改和变化，前提是所述修改和变化落入所附权利要求书和其等效物的范围内。