周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置的制造方法_2

文档序号:9615256阅读:来源:国知局
0传送的时钟信号CLK_SIG执行计数操作。第一计数器130可通过对第一计数信号CLK_SIGIN的计数操作而输出第一计数值CLKCNT〈7:0>。第一计数值CLKCNT〈7:0>可指表示第一计数信号CLK_SIGIN的切换次数的计数的代码值。
[0034]第二计数器140可从目标信号传送单元120接收第二计数信号MS_SIGIN并基于第二计数信号MS_SIGIN执行计数操作。第二计数器140可在计数器启用信号CNTEN被激活的区段期间对通过作为第二传送路径的目标信号传送单元120传送的目标信号MS_SIG执行计数操作。第二计数器140可通过对第二计数信号MS_SIGIN的计数操作而输出第二计数值MSCNT〈7:0>。第二计数值MSCNT〈7:0>可指表示第二计数信号MS_SIGIN的切换次数的计数的代码值。
[0035]标志信号产生单元150可从第一计数器130接收第一计数值CLKCNT〈7:0>。标志信号产生单元150可将预定代码值CTRL_C0DE与从第一计数器130接收的第一计数值CLKCNT<7: 0>进行比较并基于比较结果阻断第一和第二传送路径。预定代码值CTRL_C0DE可被设置为第一计数值CLKCNT〈7:0>的比较目标。小于第一计数器130的最大计数值的预定代码值可被储存在通过装置设计者预先设置的诸如模式寄存器组(MRS)的寄存器中,所述预定代码值CTRL_C0DE可基于储存值而进行改变。可基于第一计数器130的位数而不同地设置该预定代码值CTRL_C0DE。
[0036]标志信号产生单元150可在第一计数值CLKCNT〈7: 0>与预定代码值CTRL_C0DE不相同时使标志信号CTRL_SIG去活并在第一计数值CLKCNT〈7:0>与预定代码值CTRL_C0DE相同时激活标志信号CTRL_SIG。标志信号产生单元150可将标志信号CTRL_SIG输出到时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120。
[0037]例如,当标志信号产生单元150中的去活的标志信号CTRL_SIG被输出到时钟信号传送单元110时,基于时钟信号CLK_SIG、计数器启用信号CNTEN和去活的标志信号CTRL_SIG,第一计数信号CLK_SIGIN可被传送到第一计数器130,并且该第一计数器130可执行计数操作。当标志信号产生单元150中的去活的标志信号CTRL_SIG被输出到目标信号传送单元120时,基于目标信号MS_SIG、计数器启用信号CNTEN和去活的标志信号CTRL_SIG,第二计数信号MS_SIGIN可被传送到第二计数器140,并且该第二计数器140可执行计数操作。
[0038]当标志信号产生单元150中的激活的标志信号CTRL_SIG被输出到时钟信号传送单元110时,基于时钟信号CLK_SIG、计数器启用信号CNTEN和激活的标志信号CTRL_SIG,第一计数信号CLK_SIGIN可被去活。接收去活的第一计数信号CLK_SIGIN的第一计数器130的计数操作可停止。当标志信号产生单元150中的激活的标志信号CTRL_SIG被输出到目标信号传送单元120时,基于目标信号MS_SIG、计数器启用信号CNTEN和激活的标志信号CTRL_SIG,第二计数信号MS_SIGIN可被去活。接收去活的第二计数信号MS_SIGIN的第二计数器140的计数操作可停止。
[0039]输出块200可基于测试模式信号TM将对应于第一传送路径和第二传送路径被阻断时的时刻的第二计数器140的第二计数值MSCNT〈7:0>输出到预定数据焊盘DQ〈0>。输出块200可包括输出启用信号产生单元210、输入/输出线路传送单元220和输出驱动单元230。
[0040]输出启用信号产生单元210可在计数器启用信号CNTEN去活之后接收测试模式信号TM并产生输出信号OUTEN。
[0041]输入/输出线路传送单元220可接收来自第二计数器140的第二计数值MSCNT〈7:0>和来自输出启用信号产生单元210的输出信号0UTEN。输入/输出线路传送单元220可基于输出信号0UTEN将第二计数值MSCNT〈7:0>传送到输入/输出线路G10。
[0042]输出驱动单元230可从输入/输出线路传送单元220接收第二计数值MSCNT<7: 0>。输出驱动单元230可响应于读取命令RD_CMD而将第二计数值MSCNT〈7: 0>输出到预定数据焊盘DQ〈0>。S卩,输出到数据焊盘DQ〈0>的第二计数值MSCNT〈7:0>可对应于激活标志信号CTRL_SIG时的时刻处的第二计数值MSCNT〈7:0>,其中,在该时刻处,设置为不发生溢出,同时对目标信号MS_SIG执行计数操作以测量第二计数值MSCNT〈7: 0>的周期。
[0043]在下文中,将描述半导体装置的操作。
[0044]当测量目标信号MS_SIG的周期时,计数器启用信号CNTEN被激活。时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120分别接收计数器启用信号CNTEN、时钟信号CLK_SIG和目标信号MS_SIG。另外,时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120从标志信号产生单元150接收标志信号CTRL_SIG。
[0045]根据描述,标志信号产生单元150输出去活的标志信号CTRL_SIG,直至通过对时钟信号CLK_SIG进行计数所获得的第一计数值CLKCNT〈7: 0>达到预定代码值CTRL_C0DE,当第一计数值CLKCNT〈7:0>与预定代码值CTRL_C0DE相同时输出激活的标志信号CTRL_SIG。
[0046]当第一计数值CLKCNT〈7: 0>未达到预定代码值CTRL_C0DE时,接收去活的标志信号CTRL_SIG的时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120分别基于激活的计数器启用信号CNTEN而将时钟信号CLK_SIG和目标信号MS_SIG传送到第一计数器130和第二计数器140。第一计数器130对从时钟信号传送单元110接收的第一计数信号CLK_SIGIN执行计数操作。第二计数器140对从目标信号传送单元120接收的第二计数信号MS_SIGIN执行计数操作。第一计数器130和第二计数器140分别将通过计数操作所计数的次数输出作为第一计数值CLKCNT〈7:0>和第二计数值MSCNT〈7:0>。标志信号产生单元150将第一计数值CLKCNT〈7:0>与预定代码值CTRL_C0DE进行比较。作为比较结果,当第一计数值CLKCNT〈7:0>与预定代码值CTRL_C0DE不相同时,标志信号产生单元150停用标志信号CTRL_SIG并对第一计数器130和第二计数器140持续执行计数操作。
[0047]随后,当第一计数值CLKCNT〈7: 0>达到预定代码值CTRL_C0DE时,标志信号产生单元150输出激活的标志信号CTRL_SIG。激活的标志信号CTRL_SIG被传送到时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120。不论时钟信号CLK_SIG和标志信号MS_SIG如何,时钟信号传送单元110和目标信号传送单元120都响应于标志信号CTRL_SIG将第一计数信号CLK_SIGIN和第二计数信号MS_SIGIN设置为预定电平。第一计数器130和第二计数器140基于不进行切换并具有设置的电平的第一计数信号CLK_SIGIN和第二计数信号MS_SIGIN而停止执行计数操作。
[0048]在标志信号CTRL_SIG被激活之后,计数器启用信号CNTEN被去活,且当输出信号0UTEN基于外部装置中的测试模式信号TM而被激活时,从第二计数器140接收的第二计数值MSCNT〈7:0>被传送到输入/输出线路G10并基于读取命令RD_CMD而输出到数据焊盘DQ〈0>o
[0049]当输出到数据焊盘DQ〈0>的第二计数值MSCNT〈7: 0>除以预定代码值CTRL_C0DE时,可确定目标信号MS_SIG与时钟信号CLK_SIG的比例。可基于时钟信号CLK_SIG的时钟循环(tCK)值来测量目标信号MS_SIG的周期。
[0050]在根据本发明的实施例的半导体装置中,尽管第一计数器130和第二计数器140的操作次数增加,但是不发生计数器的溢出,这是由于不论计数器启用信号CNTEN如何,在执行计数操作之后预定时间期间都停用第一计数器130和第二计数器140。因此,可防止可能发生在测量目标信号的目标信号MS_SIG的测量周期中的误差。
[0051]图2是用于描述图1中示出的半导体装置的操作的时序图。
[0052]参照图2,描述了以下半导体装置的示例:在半导体装置中第一计数器具有8位数,预定代码值在标志信号产生单元150中被设置为值“192”,值“192”是第一计数器可计数的最大值“256”之前的值。
[0053]计数器启用信号CNTEN测量目标信号MS_SIG的周期。当计数器启用信号CNTEN被激活时,时钟信号CLK_SIG作为第一计数信号CLK_SIGIN传送到第一计数器并执行计数操作。当计数器启用信号CNTEN被激活时,目标信号MS_SIG作为第二计数信号MS_SIGIN传送到第二计数器并执行计数操作。第一计数器和第二计数器可分别将其计数值输出为第一计数值CLKCNT〈7: 0>和第二计数值MSCNT〈7: 0>。当从第一计数器输出的第一计数值CLKCNT<7:0>与预定代码值“192”相同时,标志信号CTRL_SIG被激活。第一计数信号CLK_SIG
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