单元410基于去活的标志信号CTRL_SIG锁存从第二计数器340接收的第二计数值MSCNT〈7:0>。
[0071]随后，当第一计数值CLKCNT〈7:0>达到预定代码值CTRL_C0DE时，标志信号产生单元350输出标志信号CTRL_SIG。激活的标志信号CTRL_SIG被传送到时钟信号传送单元310、目标信号传送单元320和锁存单元410。不论时钟信号CLK_SIG和目标信号MS_SIG如何，时钟信号传送单元310和目标信号传送单元320都响应于标志信号CTRL_SIG将第一计数信号CLK_SIGIN和第二计数信号MS_SIGIN设置为预定电平。第一计数器330和第二计数器340基于不进行切换并具有设置电平的第一计数信号CLK_SIGIN和第二计数信号MS_SIGIN而停止执行计数操作。
[0072]接收激活的标志信号CTRL_SIG的锁存单元410将锁存的第二计数值MSCNT〈7: 0>输出到输出驱动单元420。随后，第二计数值MSCNT〈7: 0>基于读取命令RD_CMD而输出到数据焊盘DQ〈0>。
[0073]当输出到数据焊盘DQ〈0>的第二计数值MSCNT〈7: 0>除以预定代码值CTRL_C0DE时，可确定目标信号MS_SIG与时钟信号CLK_SIG的比例。可基于时钟信号CLK_SIG的时钟循环(tCK)值来测量目标信号MS_SIG的周期。
[0074]在根据本发明的实施例的半导体装置中，尽管第一计数器330和第二计数器340的操作次数增加，但是不发生计数器的溢出，这是由于不论计数器启用信号CNTEN如何，在执行计数操作之后在预定时间期间停用第一计数器330和第二计数器340。因此，可防止发生目标信号的测量误差。
[0075]尽管基于图1的实施例中的测试模式可输出其周期可被测量的目标信号的计数值，但是当标志信号CTRL_SIG被去活时，可锁存第二计数值MSCNT〈7: 0>，当标志信号CTRL_SIG被激活时，可在不需要图3的实施例中的外部信号的情况下基于标志信号CTRL_SIG输出锁存的第二计数值MSCNT〈7: 0>。
[0076]图4是用于描述图3中示出的半导体装置的操作的时序图。
[0077]参照图4，描述了以下半导体装置的示例:在半导体装置中第一计数器具有8位数(size)，标志信号产生单元350中的预定代码值组被设置为值“ 192”，值“ 192”是第一计数器可计数的最大值“ 256 ”之前的值。
[0078]可以看出使计数器启用信号CNTEN激活以通过计数操作测量目标信号MS_SIG的周期。当计数器启用信号CNTEN被激活时，时钟信号CLK_SIG作为第一计数信号CLK_SIGIN传送到第一计数器并执行计数操作。此外，当计数器启用信号CNTEN被激活时，目标信号MS_SIG作为第二计数信号MS_SIGIN传送到第二计数器并执行计数操作。第一计数器可将作为第一计数值CLKDNT〈7:0>的计数值输出到标志信号产生单元。第二计数器可将作为第二计数值MSCNT〈7: 0>的计数值输出到锁存单元并锁存在锁存单元中。当从第一计数器输出的第一计数值CLKCNT〈7:0>与预定代码值“192”相同时，标志信号CTRL_SIG被激活。第一计数信号CLK_SIGIN和第二计数信号MS_SIGIN固定在逻辑低电平处，因此，基于激活的标志信号CTRL_SIG第一计数器和第二计数器的计数操作停止。响应于激活的读取命令RD_CMD，对应于激活的标志信号CTRL_SIG的锁存的第二计数值LT_MSCNT〈7:0>被输出到数据焊盘DQ〈0>。当在锁存的第二计数值LT_MSCNT〈7:0> “64”与预定代码值“ 192”之间存在3tCK的差异时，输出到数据焊盘DQ〈0>的锁存的第二计数值LT_MSCNT〈7:0>为64。可基于时钟信号CLK_SIG的时钟循环(tCK)值来测量目标信号MS_SIG的周期。
[0079]根据本发明的实施例，由于不可能发生溢出，所以不论用于测量信号周期的计数器的启用时间如何，半导体装置都可防止由于计数器的溢出而导致发生的信号测量误差。
[0080]此外，可基于输入的信号的极性而不同地实施前述实施例中描述的逻辑门和晶体管的设置和类型。
[0081]虽然已相对于具体实施例描述了本发明，但是该实施例并不意味是限制性的，而是描述性的。此外，注意在不脱离由权利要求限定的本发明的范围的情况下，本领域技术人员可通过代替、改变和变形的多种方式来实现本发明。
【主权项】
1.一种半导体装置，包括: 计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与所述时钟信号的所述计数值进行比较所获得的比较结果来阻断所述第一传送路径和所述第二传送路径；以及 输出块，其用于基于测试模式信号将对应于所述第一传送路径和所述第二传送路径被阻断时的时刻的目标信号的计数值输出到预定焊盘。2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述计数检测块包括: 第一计数器，其用于在所述计数器启用区段期间执行通过所述第一传送路径传送的所述时钟信号的计数操作； 第二计数器，其用于在所述计数器启用区段期间执行通过所述第二传送路径传送的所述目标信号的计数操作；以及 标志信号产生单元，其用于将所述预定代码值与从所述第一计数器输出的计数值进行比较，当所述预定代码值与从所述第一计数器输出的计数值相同时产生标志信号，并基于所述标志信号阻断所述第一传送路径和所述第二传送路径。3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述计数检测块进一步包括: 时钟信号传送单元，其用于接收所述标志信号和所述时钟信号并当所述标志信号被去活时将所述时钟信号传送到所述第一计数器；以及 目标信号传送单元，其用于接收所述标志信号和所述目标信号并当所述标志信号被去活时将所述目标信号传送到所述第二计数器。4.根据权利要求3所述的半导体装置，其中所述时钟信号传送单元将所述时钟信号设置为预定电平并当所述标志信号被激活时将所述设置的时钟信号传送到所述第一计数器。5.根据权利要求3所述的半导体装置，其中所述目标信号传送单元将所述目标信号设置为预定电平并当所述标志信号被激活时将所述设置的目标信号传送到所述第二计数器。6.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述输出块包括: 输出启用信号产生单元，其用于在所述计数器启用区段之后接收所述测试模式信号并产生输出信号； 输入/输出线路传送单元，其用于基于所述输出信号将所述第二计数器的所述计数值传送到输入/输出线路；以及 输出驱动单元，其用于响应于读取命令而将传送到所述输入/输出线路的所述计数值输出到所述预定焊盘。7.一种半导体装置，包括: 计数检测块，其用于在计数启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值和所述时钟信号的所述计数值进行比较所获得的比较结果所产生的标志信号而阻断所述第一传送路径和所述第二传送路径；以及 输出块，其用于在所述标志信号被激活时将对应于所述标志信号的启用时刻的所述目标信号的所述计数值输出到预定焊盘。8.根据权利要求7所述的半导体装置，其中，所述计数检测块包括: 第一计数器，其用于在所述计数器启用区段期间对通过所述第一传送路径传送的所述时钟信号执行计数操作； 第二计数器，其用于在所述计数器启用区段期间对通过所述第二传送路径传送的所述目标信号执行计数操作；以及 标志信号产生单元，其用于将所述预定代码值与从所述第一计数器输出的计数值进行比较，在所述预定代码值与从所述第一计数器输出的所述计数值相同时产生标志信号，并基于所述标志信号阻断所述第一传送路径和所述第二传送路径。9.一种用于操作半导体装置的方法，所述方法包括: 在计数启用区段期间对时钟信号和目标信号执行计数操作； 当预定代码值与所述时钟信号的计数值相同时阻断所述计数操作； 输出对应于所述计数操作被阻断时的时刻的所述目标信号的所述计数值；以及 基于所述预定代码值和所述目标信号的所述计数值来测量所述目标信号的周期。10.一种周期测量电路，其包括: 时钟信号传送单元，其用于基于计数器启用信号和标志信号而选择性地传送时钟信号作为第一计数信号； 第一计数器，其用于对所述第一计数信号进行计数以输出第一计数值； 标志信号产生单元，其用于将所述第一计数值与预定代码进行比较以产生所述标志信号; 目标信号传送单元，其用于基于所述计数器启用信号和所述标志信号而选择性传送目标信号作为第二计数信号；以及 第二计数器，其用于对所述第二计数信号进行计数以输出第二计数值。
【专利摘要】本发明公开一种半导体装置，包括：计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与时钟信号的计数值进行比较所获得的比较结果来阻断第一传送路径和第二传送路径；以及输出块，其用于基于测试模式信号将对应于第一传送路径和第二传送路径被阻断时的目标信号的计数值输出到预定焊盘。
【IPC分类】G01R23/10, G01R23/02
【公开号】CN105372488
【申请号】CN201510387125
【发明人】韩慜植
【申请人】爱思开海力士有限公司
【公开日】2016年3月2日
【申请日】2015年7月3日
【公告号】US9356605, US20160043727