一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法
【专利摘要】本发明公开了一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法，测试装置包插拔公头、插拔母座及驱动机构。插拔公头设有一个以上探针。一个以上探针并列间隔设置，探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置。插拔母座用于设有并列间隔设置的一个以上待测金属元件。待测金属元件与探针相应设置。待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源。驱动机构用于驱动插拔公头与插拔母座之间实现插拔操作。插拔公头插入插拔母座时，探针与待测金属元件相接触。驱动机构驱动插拔公头来回往复插入到插拔母座过程中，待测金属元件随着探针插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置能够测试记录分析待测金属元件逐渐老化过程中的接触电阻的变化情况。
【专利说明】
一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及电路元件的老化测试技术领域，尤其是涉及一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法。
【背景技术】
[0002]金属元件，例如金属焊盘、金手指等，在与其它电路元件接触时，金属元件将会产生接触电阻。另外，金属元件在使用过程中，由于与其它电路元件相互摩擦，金属元件表面会逐渐呈现老化现象。金属元件与其它电路元件相接触时所产生的接触电阻将会随着金属元件的老化而逐渐发生变化，金属元件接触电阻的变化将会影响到电子设备的稳定运行。
【发明内容】
[0003]基于此，本发明在于克服现有技术的缺陷，提供一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法，它能够对金属元件与其它电路元件接触老化过程中所产生的接触电阻进行测试分析。
[0004]其技术方案如下:一种金属元件接触电阻的测试装置，包括:插拔公头，所述插拔公头设有一个以上探针，一个以上所述探针并列间隔设置，所述探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置;插拔母座，所述插拔母座用于装设有一个以上待测金属元件，一个以上所述待测金属元件并列间隔设置，一个以上所述待测金属元件与一个以上所述探针一一相应设置，所述待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源;及驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头与所述插拔母座之间实现插拔操作，所述插拔公头插入所述插拔母座时，所述探针与所述待测金属元件相接触。
[0005]—种金属元件接触电阻的测试方法，包括如下步骤:
[0006]步骤一、驱动机构驱动插拔公头插入到插拔母座中；
[0007]步骤二、通过电压测量装置测试所述探针与所述待测金属元件相接触时的电压值，并将所述电压值进行记录；
[0008]步骤三、所述驱动机构再驱动插拔公头将所述探针从所述插拔母座中抽出；
[0009]重复所述步骤一至所述步骤三η次。
[0010]在其中一个实施例中，所述电流源与所述电压测量装置均为一个，一个以上所述探针电性连接至所述电流源，还包括一个以上控制开关，一个以上所述控制开关与一个以上所述探针一一相应，所述第一导电线设有控制开关，一个以上所述待测金属元件电性连接至所述电压测量装置。
[0011]在其中一个实施例中，金属元件接触电阻的测试装置还包括控制器，所述控制器与所述驱动机构、所述控制开关电性连接，所述控制器用于控制所述驱动机构来回驱动所述插拔公头、并用于控制所述控制开关断开或闭合。
[0012]在其中一个实施例中，金属元件接触电阻的测试装置还包括支撑座，所述支撑座设有滑轨，所述插拔母座固定设置在所述支撑座上，所述插拔公头设有与所述滑轨相配合的滑动件，所述插拔公头通过所述滑动件装设在所述滑轨上，所述驱动机构与所述插拔公头传动相连，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头沿着所述滑轨来回移动。
[0013]在其中一个实施例中，所述探针包括针筒、装设在所述针筒中的针头以及套设在所述针头外的弹簧，所述针筒内侧壁设有第一凸缘与第二凸缘，所述针头侧壁设有第三凸缘，所述第三凸缘位于所述第一凸缘与所述第二凸缘之间，所述弹簧两端分别抵触所述第二凸缘与所述第三凸缘。
[0014]在其中一个实施例中，所述待测金属元件为金手指或金属焊盘。
[0015]在其中一个实施例中，在所述步骤二中:控制器控制一个以上控制开关依次闭合，通过所述电压测量装置将所测量的一个以上所述电压值依次记录。
[0016]下面结合上述技术方案对本发明的原理、效果进一步说明:
[0017]1、上述的金属元件接触电阻的测试装置，插拔公头的探针与插拔母座上的待测金属元件相接触时，待测金属元件中将会产生接触电阻。电流源通过探针电连接至待测金属元件，电压测量装置便能够检测到待测金属元件所产生的电压值，根据电压值、电流源便可以推导出待测金属元件在与探针相接触时所产生的接触电阻。如此，驱动机构驱动插拔公头来回往复插入到插拔母座过程中，待测金属元件随着探针插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置能够测试记录分析待测金属元件逐渐老化过程中的接触电阻的变化情况。
[0018]2、电流源与电压测量装置均为一个。一个以上探针电性连接至电流源。一个以上控制开关与一个以上探针一一相应。第一导电线设有控制开关，一个以上待测金属元件电性连接至电压测量装置。控制器与驱动机构、控制开关电性连接，控制器用于控制驱动机构来回驱动插拔公头、并用于控制控制开关断开或闭合。插拔公头与插拔母座一次插拔过程中，通过控制器控制一个以上控制开关依次闭合，控制开关依次闭合时，电流源通过相应的第一导电线依次电性连接至探针，通过所述电压测量装置便可以将待测试金属元件产生的电压值依次测试出，并将所测试出的一个以上所述电压值依次记录。
[0019]3、支撑座设有滑轨，插拔母座固定设置在支撑座上。插拔公头设有与滑轨相配合的滑动件，插拔公头通过滑动件装设在滑轨上。驱动机构与插拔公头传动相连，驱动机构用于驱动插拔公头沿着滑轨来回移动。驱动机构驱动插拔公头插拔动作时，插拔公头的滑动件在支撑座的滑轨上来回往复移动，插拔公头经过支撑座的滑轨导向，使得插拔公头与插拔母座之间的插拔动作较为顺利。
[0020]4、针筒内侧壁设有第一凸缘与第二凸缘，针头侧壁设有第三凸缘。第三凸缘位于第一凸缘与第二凸缘之间。弹簧两端分别抵触第二凸缘与第三凸缘。探针在接触到待测金属元件时，针头压迫弹簧，并向针筒内退缩，如此针头在接触到待测金属元件过程中，弹簧能够起到缓冲作用，避免损坏到待测金属元件。
【附图说明】
[0021]图1为本发明实施例所述金属元件接触电阻的测试装置中的待测金属元件为金手指时的工作状态图一；
[0022]图2为本发明实施例所述金属元件接触电阻的测试装置的待测金属元件为金手指时的工作状态图二；
[0023]图3为本发明实施例所述金属元件接触电阻的测试装置的待测金属元件为金属焊盘时的工作状态图一；
[0024]图4为本发明实施例所述金属元件接触电阻的测试装置的待测金属元件为金属焊盘时的工作状态图二；
[0025]图5为本发明实施例所述金属元件接触电阻的测试装置测试接触电阻时的电路图；
[0026]图6为本发明实施例所述探针的结构示意图。
[0027]附图标记说明:
[0028]10、插拔公头，11、探针，111、针筒，1111、第一凸缘，1112、第二凸缘，112、针头，1121、第三凸缘，113、弹簧，12、第一导电线，13、电流源，14、控制开关，15、滑动件，20、插拔母座，21、待测金属元件，22、第二导电线，23、电压测量装置，30、驱动机构，40、支撑座，41、滑轨，50、接触电阻。
【具体实施方式】
[0029]下面对本发明的实施例进行详细说明:
[0030]如图1-4所示，本发明实施例所述的金属元件接触电阻的测试装置，包括:插拔公头10、插拔母座20及驱动机构30。所述插拔公头10设有一个以上探针11。一个以上所述探针11并列间隔设置，所述探针11通过第一导电线12电连接至电流源13或电压测量装置23。所述插拔母座20用于装设有一个以上待测金属元件21。在本发明实施例中，所述待测金属元件21为金手指或金属焊盘。一个以上所述待测金属元件21并列间隔设置，一个以上所述待测金属元件21与一个以上所述探针11一一相应设置。所述待测金属元件21通过第二导电线22电连接至电压测量装置23或电流源13。所述驱动机构30用于驱动所述插拔公头10与所述插拔母座20之间实现插拔操作。所述插拔公头10插入所述插拔母座20时，所述探针11与所述待测金属元件21相接触。
[0031]上述的金属元件接触电阻的测试装置，插拔公头10的探针11与插拔母座20上的待测金属元件21相接触时，待测金属元件21中将会产生接触电阻50 (如图5所示)ο电流源13通过探针11电连接至待测金属元件21，电压测量装置23便能够检测到待测金属元件21所产生的电压值，根据电压值、电流源13便可以推导出待测金属元件21在与探针11相接触时所产生的接触电阻50。如此，驱动机构30驱动插拔公头10来回往复插入到插拔母座20过程中，待测金属元件21随着探针11插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置23能够测试记录分析待测金属元件21逐渐老化过程中的接触电阻50的变化情况。
[0032]所述电流源13与所述电压测量装置23均为一个。一个以上所述探针11电性连接至所述电流源13。所述的金属元件接触电阻的测试装置还包括一个以上控制开关14。一个以上所述控制开关14与一个以上所述探针11一一相应。所述第一导电线12设有所述控制开关14，一个以上所述待测金属元件21电性连接至所述电压测量装置23。金属元件接触电阻的测试装置还包括控制器。所述控制器与所述驱动机构30、所述控制开关14电性连接，所述控制器用于控制所述驱动机构30来回驱动所述插拔公头10、并用于控制所述控制开关14断开或闭合。插拔公头10与插拔母座20—次插拔过程中，控制器控制一个以上控制开关14依次闭合，控制开关14依次闭合时，电流源13通过相应的第一导电线12依次电性连接至探针11，通过所述电压测量装置23便可以将待测试金属元件产生的电压值依次测试出，并将所测试出的一个以上所述电压值依次记录。
[0033]金属元件接触电阻的测试装置还包括支撑座40。所述支撑座40设有滑轨41，所述插拔母座20固定设置在所述支撑座40上。所述插拔公头10设有与所述滑轨41相配合的滑动件15，所述插拔公头10通过所述滑动件15装设在所述滑轨41上。所述驱动机构30与所述插拔公头10传动相连，所述驱动机构30用于驱动所述插拔公头10沿着所述滑轨41来回移动。驱动机构30驱动插拔公头10插拔动作时，插拔公头10的滑动件15在支撑座40的滑轨41上来回往复移动，插拔公头10经过支撑座40的滑轨41导向，使得插拔公头10与插拔母座20之间的插拔动作较为顺利。
[0034]请参阅图6，所述探针11包括针筒111、装设在所述针筒111中的针头112以及套设在所述针头112外的弹簧113。所述针筒111内侧壁设有第一凸缘1111与第二凸缘1112，所述针头112侧壁设有第三凸缘1121。所述第三凸缘1121位于所述第一凸缘1111与所述第二凸缘1112之间。所述弹簧113两端分别抵触所述第二凸缘1112与所述第三凸缘1121。探针11在接触到待测金属元件21时，针头112压迫弹簧113，并向针筒111内退缩，如此针头112在接触到待测金属元件21过程中，弹簧113能够起到缓冲作用，避免损坏到待测金属元件21。
[0035]本发明所述的金属元件接触电阻的测试方法，包括如下步骤:
[0036]步骤一、驱动机构30驱动插拔公头10插入到插拔母座20中；
[0037]步骤二、通过电压测量装置23测试所述探针11与所述待测金属元件21相接触时的电压值，并将所述电压值进行记录；
[0038]步骤三、所述驱动机构30再驱动插拔公头10将所述探针11从所述插拔母座20中抽出；
[0039]重复所述步骤一至所述步骤三η次。η的次数根据待测金属元件21的老化测试相关标准进行设定，也可以人为进行设定。
[0040]上述的金属元件接触电阻的测试方法，插拔公头10的探针11与插拔母座20的待测金属元件21相接触时，待测金属元件21中将会产生接触电阻50(如图5所示)。驱动机构30驱动插拔公头10来回往复插入到插拔母座20过程中，待测金属元件21随着探针11插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置23能够测试记录分析待测金属元件21逐渐老化过程中的接触电阻50的变化情况。
[0041]其中，在所述步骤二中:控制器控制一个以上控制开关14依次闭合，通过所述电压测量装置23将所测量的一个以上所述电压值依次记录。插拔公头10与插拔母座20—次插拔过程中，控制器控制一个以上控制开关14依次闭合，控制开关14依次闭合时，电流源13通过相应的第一导电线12依次电性连接至探针11，通过所述电压测量装置23便可以将待测试金属元件产生的电压值依次测试出，并将所测试出的一个以上所述电压值依次记录。
[0042]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0043]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，包括: 插拔公头，所述插拔公头设有一个以上探针，一个以上所述探针并列间隔设置，所述探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置； 插拔母座，所述插拔母座用于装设有一个以上待测金属元件，一个以上所述待测金属元件并列间隔设置，一个以上所述待测金属元件与一个以上所述探针一一相应设置，所述待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源;及 驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头与所述插拔母座之间实现插拔操作，所述插拔公头插入所述插拔母座时，所述探针与所述待测金属元件相接触。2.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述电流源与所述电压测量装置均为一个，一个以上所述探针电性连接至所述电流源，还包括一个以上控制开关，一个以上所述控制开关与一个以上所述探针一一相应，所述第一导电线设有控制开关，一个以上所述待测金属元件电性连接至所述电压测量装置。3.根据权利要求2所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，还包括控制器，所述控制器与所述驱动机构、所述控制开关电性连接，所述控制器用于控制所述驱动机构来回驱动所述插拔公头、并用于控制所述控制开关断开或闭合。4.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，还包括支撑座，所述支撑座设有滑轨，所述插拔母座固定设置在所述支撑座上，所述插拔公头设有与所述滑轨相配合的滑动件，所述插拔公头通过所述滑动件装设在所述滑轨上，所述驱动机构与所述插拔公头传动相连，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头沿着所述滑轨来回移动。5.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述探针包括针筒、装设在所述针筒中的针头以及套设在所述针头外的弹簧，所述针筒内侧壁设有第一凸缘与第二凸缘，所述针头侧壁设有第三凸缘，所述第三凸缘位于所述第一凸缘与所述第二凸缘之间，所述弹簧两端分别抵触所述第二凸缘与所述第三凸缘。6.根据权利要求1?5任一项所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述待测金属元件为金手指或金属焊盘。7.—种金属元件接触电阻的测试方法，采用了如权利要求1-6任一项所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，包括如下步骤: 步骤一、驱动机构驱动插拔公头插入到插拔母座中； 步骤二、通过电压测量装置测试所述探针与所述待测金属元件相接触时的电压值，并将所述电压值进行记录； 步骤三、所述驱动机构再驱动插拔公头将所述探针从所述插拔母座中抽出； 重复所述步骤一至所述步骤三η次。8.根据权利要求7所述的金属元件接触电阻的测试方法，其特征在于，在所述步骤二中:控制器控制一个以上控制开关依次闭合，通过所述电压测量装置将所测量的一个以上所述电压值依次记录。
【文档编号】G01R27/20GK106053949SQ201610571335
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年7月18日
【发明人】张智畅, 陈蓓, 曾志军
【申请人】广州兴森快捷电路科技有限公司, 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司, 天津兴森快捷电路科技有限公司