一种摆动轴与主轴轴线共面度检测装置的制造方法_2

文档序号:9066239阅读:来源:国知局
]步骤2-3,反复调整测量转台的位置及微调摆动轴的方向,使测量转台在360度的转动中第一非接触位移传感器6和第二非接触位移传感器8的读数变化最小,即达到理论上测量转台轴线C与主轴轴线S重合,然后设置第一非接触位移传感器6和第二非接触位移传感器8的读数均为零。
[0023]步骤2-4,将测量转台转动180度,然后记录第一非接触位移传感器6的读数5 6和第二非接触位移传感器8的读数S8,用公式(1)求出测量转台轴线C相对主轴轴线S的安装倾斜偏差」0CY°
[0024]Zl 0 CY= (8 6_88)/Lz (1)
[0025]式中,Lz为两个测头在Z轴方向的间隔距离。
[0026]步骤3,进行摆动轴与主轴轴线共面度检测,按照以下步骤实施:
[0027]步骤3-1,将摆动轴顺时针转动90度,使主轴前端指向X轴的一端,即X'方向,如图4所示,调整第一三维移动微调机构7使第一非接触位移传感器6的测头在XZ平面内沿Z轴方向对准标准检棒5的最大直径,记录此时第一非接触位移传感器6的读数S㈠。
[0028]步骤3-2,将摆动轴旋转180度,使主轴前端指向X轴的另一端,即X方向,如图3虚线位置。
[0029]步骤3-3,将测量转台旋转180度,使第一非接触位移传感器6的测头随测量转台转动,并再次对准标准检棒5,再次记录第一非接触位移传感器6的读数S6_2;
[0030]步骤3-4,按照公式(2)得到摆动轴轴线与主轴轴线的共面度偏差e。共面度偏差e如图5所示。
[0031]e = (Sh-Sh)/〗土LxX Z 0CY (2)
[0032]式中,Lx为第一非接触位移传感器6和摆动轴轴线间沿X轴方向的距离,」9 CY为步骤2计算出的安装倾斜偏差。
[0033]其中:
[0034]e一一摆动轴轴线与主轴轴线的共面度偏差
[0035]Zl 9 CY--安装倾斜偏差
[0036]8 一一主轴前端指向X轴的一端时第一非接触位移传感器6的读数
[0037]8 6_2—一主轴前端指向X轴的另一端时第一非接触位移传感器6的读数
[0038]Lx一一第一非接触位移传感器和摆动轴轴线间沿X轴方向的距离
[0039]8 6一一测量安装倾斜偏差时第一非接触位移传感器6的读数
[0040]8 8一一测量安装倾斜偏差时第二非接触位移传感器8的读数
[0041]Lz——第一非接触位移传感器6和第二非接触位移传感器8的测头在Z轴方向的间隔距离
[0042]本发明的检测装置可以用于摆动轴组件和主轴组件串联的两个正交轴线的共面度检测,如可以用于机床A轴与主轴的共面度检测,也可以用于机床B轴与主轴的共面度检测,还可用于其他机器(如机器人)的一个摆动、一个回转串联的两个正交轴线的共面度检测。
[0043]上述的检测装置可以应用于摆动轴组件和主轴组件组成的部件的装配检测、磨损修复检测,这时将摆动轴组件壳体1和力矩电机的壳体11固定在同一物体上即可。
[0044]本实用新型检测装置的测量转台采用高精度力矩电机直接驱动,测量装置本身精度高;使用本实用新型检测装置检测时,将机器的其他运动轴全部锁紧,不受被测机器其他轴的运动的影响;测量前先测量出测量转台轴线相对主轴轴线的安装倾斜偏差,将安装误差在测量值中扣除,因此本实用新型的测量精度高。由于本实用新型的测量没有利用被测轴之外的其他轴的运动,因此该检测装置可以应用于摆动轴组件和主轴组件组成的部件的装配检测、磨损修复检测,可为装配和修复提供科学的指导依据。
[0045]本实用新型并不局限于上述的【具体实施方式】。上述的【具体实施方式】是示意性的,并不是限制性的。凡是采用本实用新型的装置,在不脱离本实用新型宗旨和权利要求所保护的范围情况下,所有具体拓展均属本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种摆动轴与主轴轴线共面度检测装置,其特征在于,包括标准检棒(5)、第一非接触位移传感器(6)、第二非接触位移传感器(8)、第一三维移动微调机构(7)、第二三维移动微调机构(9)及测量转台;测量转台包括转台回转体(10)和力矩电机(11),转台回转体(10)下端与力矩电机(11)的转子固定连接,力矩电机(11)的壳体固定在待测装置的工作台上;标准检棒(5)与待测装置的主轴组件回转体(4)同轴固定连接;第一三维移动微调机构(7)和第二三维移动微调机构(9)都固定在转台回转体(10)的台面上;第一非接触位移传感器(6)的支架安装在第一三维移动微调机构(7)的上面,第二非接触位移传感器(8)的支架安装在第二三维移动微调机构(9)的上面,第一非接触位移传感器(6)和第二非接触位移传感器(8)的测头都正对着标准检棒(5)。2.根据权利要求1所述的一种摆动轴与主轴轴线共面度检测装置,其特征在于,所述第一三维移动微调机构(7)和第二三维移动微调机构(9)采用标准的可进行X、Y、Z位移调整的三维微调机构。
【专利摘要】本实用新型公开的一种摆动轴与主轴轴线共面度检测装置,由标准检棒、第一非接触位移传感器、第二非接触位移传感器、第一三维移动微调机构、第二三维移动微调机构及测量转台组成;测量转台包括转台回转体和力矩电机,转台回转体下端与力矩电机的转子固定连接,力矩电机的壳体固定在待测装置的工作台上;标准检棒与待测装置的主轴组件回转体同轴固定连接;第一三维移动微调机构和第二三维移动微调机构都固定在转台回转体的台面上;第一非接触位移传感器的支架安装在第一三维移动微调机构的上面,第二非接触位移传感器的支架安装在第二三维移动微调机构的上面,第一非接触位移传感器和第二非接触位移传感器的测头都正对着标准检棒。
【IPC分类】G01B21/30
【公开号】CN204718579
【申请号】CN201520428641
【发明人】赵阳, 彭阳建
【申请人】绍兴绍力机电科技有限公司
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年6月19日
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