可以是先将所述左爪和所述右爪放置到所述坩埚内，调节所述左爪和所述右爪的高度值，当然，在这种情况下，只能通过调节所述第一卡尺和所述第二卡尺在竖直方向上的位置来调节所述左爪和所述右爪的高度值。
[0049]对于所述第一卡尺和所述第二卡尺的水平方向上的移动。
[0050]可以是先移动其中一个卡尺，使其上的左爪或右爪与所述坩埚测内侧接触，再移动剩下的卡尺，使其所在的右爪或左爪与所述坩埚的内侧接触，直接读取两个卡尺的读数，进行作差，即可得到要测的坩埚的内宽值。
[0051]也可以是移动所述水平尺，使得其中的一个卡尺的左爪或右爪与所述坩埚的内侧接触，再移动另一个卡尺，使得其上的右爪或左爪与所述坩埚的内侧接触，直接读取最后一个移动的卡尺的读数，即是所测量的坩埚的内宽值，这种方式不用对卡尺的都市作差，简单、快速，但是直接移动所述水平尺，很容易伤了所述左爪和右爪。
[0052]所述第一卡尺3和所述第二卡尺4都是可以在所述水平尺2上垂直于所述水平尺2的轴线方向移动，否则，如果被测的坩埚5的深度太浅，所述第一卡尺3和所述第二卡尺4无法伸入所述被检测的坩埚5内，无法测量预定高度的坩埚5的内宽。
[0053]如果左爪31不能在所述第一卡尺3上移动，或者右爪41不能在所述第二卡尺4上移动，那么就要求左爪31或右爪41必须设置在所述第一卡尺3或所述第二卡尺4的最下端，否则被检测高度的坩埚5的一部分高度的内宽，由于左爪31或右爪41的无法到达，是无法测量的。
[0054]所述检测坩埚5内宽的装置，通过调节所述第一卡尺3或所述第二卡尺4在竖直方向上的位置，或者调节所述左爪31在所述第一卡尺3上的位置，调节所述右爪41在所述第二卡尺4上的位置，使得所述左爪31和所述右爪41的高度相同，都达到预定的要测量的坩埚5的内宽的高度，可以先将坩埚5移动到所述第一卡尺3和所述第二卡尺4下，再调节所述第一卡尺3和所述第二卡尺4以及所述左爪31和所述右爪41，也可以先调节所述左爪31和所述右爪41的高度，再将坩埚5置于所述左爪31和所述右爪41底下，进行后续的测量工作。
[0055]当然上述的调节所述第一卡尺3、所述第二卡尺4和调节所述左爪31、所述右爪41可以只进行其中的一种操作，也可以两种操作都进行，只要能够将所述左爪31和所述右爪41调节到预定的高度，而所述左爪31和所述右爪41在坩埚5内能够到达这一高度即可。
[0056]其中，所述第一卡尺3和/所述第二卡尺4为数显游标卡尺。将所述第一卡尺3或所述第二卡尺4设计为数显游标卡尺，可以进行快速的读数，无需进行额外的计算，读数快，测量精确度高，可以是所述第一卡尺3和所述第二卡尺4中的一个为数显游标卡尺，也可以是两个都是数显游标卡尺，本实用新型对此不做具体限定。
[0057]所述第一卡尺3上还设置有可沿所述第一卡尺3滑动的第一滑块32,所述左爪31设置于所述第一滑块32上，使得所述左爪31可以稳定地在所述第一卡尺3上滑动，滑动过程中不会磨损所述第一卡尺3表面的刻度线，容易对所述左爪31的尖端对应的所述第一卡尺3的刻度线进行读数。
[0058]所述第二卡尺4上还设置有可沿所述第二卡尺4滑动的第二滑块32,所述右爪41设置于所述第二滑块32上，使得所述右爪41可以稳定地在所述第二卡尺4上滑动，滑动过程中不会磨损所述第二卡尺4表面的刻度线，容易对所述右爪41的尖端对应的所述第二卡尺4的刻度线进行读数。
[0059]所述检测坩埚5内宽的装置，还可以包括设置于所述水平尺2上的第三滑块21，所述第一卡尺3设置于所述第三滑块21上。所述检测坩埚5内宽的装置，还可以包括设置于所述水平尺2上的第四滑块，所述第二卡尺4设置于所述第四滑块上。通过将所述第一卡尺3设置于所述第三滑块21上或所述第二卡尺4设置于所述第四滑块上，使得所述第一卡尺3或所述第二卡尺4对应的所述水平尺2的刻度线，不会在所述第一卡尺3或所述第二卡尺4水平移动或竖直移动过程中磨损，所述第一卡尺3或所述第二卡尺4在竖直方向上的移动更加精确(因为所述水平尺2只有水平刻度，没有竖直刻度)，使得测量的坩埚5的内宽的精确度更高。
[0060]在被测量的坩埚5的内宽的高度很小时，所述左爪31的尖端与所述第一^^尺3的〇刻度线平齐，或所述右爪41的尖端与所述第二卡尺4的0刻度线平齐，即所述左爪31设置在所述第一卡尺3的底端，所述右爪41设置在所述第二卡尺4的底端，通过将所述第一卡尺3和所述第二卡尺4在竖直方向移动，可以直接测量坩埚5的底部的内宽。
[0061]在进行测量的过程中，有时需要对所述水平尺2进行水平方向或者竖直方向的移动，还包括水平滑块，用于将所述水平尺2固定于所述垂直支架1上，用于所述水平尺2在水平方向上移动，或者所述水平尺2沿着所述垂直支架1在竖直方向上移动。这样所述水平尺2移动的过程中，会很平顺，移位很精确，不会对所述水平尺2上的刻度造成磨损。
[0062]另外，一般也会在所述垂直支架1上设置刻度，如果使用两个所述垂直支架1，在所述垂直支架1上对所述水平尺2进行竖直方向上的移动，可以进行简单、快捷的调节。
[0063]在所述第一卡尺的左爪或所述第二卡尺的右爪接触到所述被检测坩埚的内侧时，稍微对所述坩埚或者所述检测坩埚内宽的部件碰触时，可能造成所述第一卡尺或所述第二卡尺的微小移动，造成测量结果不精准，因此所述检测坩埚内宽的装置一般还包括设置于所述第一卡尺或所述第二卡尺的紧锁螺母44,用于在所述第一卡尺或者所述第二卡尺对准后，阻止所述第一卡尺或所述第二卡尺移动。
[0064]综上所述，本实用新型实施例所提供的检测坩埚内宽的装置和装置，通过将所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺的放入被检测的坩埚内，由设置于所述第一卡尺上的左爪接触坩埚内的左侧，由置于所述第二卡尺上的右爪接触所述坩埚内的右侧，调节所述左爪和右爪的尖端在需要测量的所述坩埚的高度上，由于所述左爪和所述右爪在同一水平线上，所述左爪的尖端与所述右爪的尖端之间的间距就是需要测量的坩埚的宽度值，与所述左爪对应的第一卡尺和与所述右爪对应的第二卡尺之间的外端的距离就是需要测量的坩埚的这一高度的内宽。在整个操作过程中，操作简单，测量精确，读数方便、快捷，有利于检测人员的快速理解和掌握，可以对坩埚内任意位置进行检测，检测位置无死角，容易形成统一的检验标准和装置。与所述检测坩埚内宽的装置对应的检测坩埚内宽的装置，结构简单，制造成本低，测量过程简单、快速、方便，便于检测人员的快速掌握。
[0065]以上对本实用新型所提供的检测坩埚内宽的装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的装置及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
【主权项】
1.一种检测坩祸内宽的装置，其特征在于，包括: 至少一个垂直支架； 固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺； 竖直设置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺； 所述第一卡尺或所述第二卡尺为滑动卡尺； 设置于所述第一卡尺的左爪，所述左爪的尖端朝外； 设置于所述第二卡尺的右爪，所述右爪的尖端朝外。2.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，所述第一卡尺和/所述第二卡尺为数显游标卡尺。3.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，所述第一卡尺上还设置有可沿所述第一卡尺滑动的第一滑块，所述左爪设置于所述第一滑块上。4.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，所述第二卡尺上还设置有可沿所述第二卡尺滑动的第二滑块，所述右爪设置于所述第二滑块上。5.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，还包括设置于所述水平尺上的第三滑块，所述第一卡尺设置于所述第三滑块上。6.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，还包括设置于所述水平尺上的第四滑块，所述第二卡尺设置于所述第四滑块上。7.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，所述左爪的尖端与所述第一卡尺的0刻度线平齐，或所述右爪的尖端与所述第二卡尺的0刻度线平齐。8.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，还包括水平滑块，用于将所述水平尺固定于所述垂直支架上，用于所述水平尺在水平方向上移动，或者所述水平尺沿着所述垂直支架在竖直方向上移动。9.如权利要求1所述的检测坩祸内宽的装置，其特征在于，还包括设置于所述第一卡尺或所述第二卡尺的紧锁螺母，用于在所述第一卡尺或者所述第二卡尺对准后，阻止所述第一卡尺或所述第二卡尺移动。
【专利摘要】本实用新型公开了一种检测坩埚内宽的装置，包括：至少一个垂直支架；固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺；竖直设置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺；所述第一卡尺或所述第二卡尺为滑动卡尺；设置于所述第一卡尺的左爪，所述左爪的尖端朝外；设置于所述第二卡尺的右爪，所述右爪的尖端朝外。所述装置精确测量坩埚内部的任意尺寸，操作和读数十分简单、便捷，利于检测人员快速理解和掌握。
【IPC分类】G01B5/02
【公开号】CN205037837
【申请号】CN201520623307
【发明人】陈志军, 陈伟, 肖贵云, 金浩
【申请人】晶科能源有限公司, 浙江晶科能源有限公司
【公开日】2016年2月17日
【申请日】2015年8月18日