信号传输给控制信号传输元件124，由控制信号传输元件124将该控制信号传输给变频器，由变频器控制数控机床的主轴变频电机的旋转。
[0079]其中，处理器120可以为可编程控制器。可编程控制器是一种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作的电子装置。
[0080]其中，显示器130可以包括显示元件及控制元件。
[0081 ] 显示元件及控制元件均与处理器120连接，显示元件接收处理器120传输的位移数据，控制元件将用户输入的指令转化成控制信号传输给处理器120。
[0082]当进行主轴径向跳动测量时，用户可以通过显示器130输入开启或者停止的指令，显示器130中的控制元件会将用户输入的开启或者停止的指令转化为控制主轴变频电机开始旋转或者停止旋转的控制信号，并将该控制信号传输给处理器120，由处理器120将该控制信号传输给变频器，由变频器控制数控机床主轴变频电机的旋转。
[0083]当数控机床的主轴变频电机开始旋转后，线位移信号采集器110开始采集主轴的位移信号，并将该位移信号传输给处理器120，由处理器120将该位移信号转化为位移数据，并将该位移数据传输给显示器130中的显示元件，显示元件接收到处理器120传输的位移数据后，将该位移数据显示出来。
[0084]本实用新型实施例提供的主轴径向跳动测量装置，主轴径向跳动测量装置中的线位移信号采集器采集主轴上的位移信号，将该位移信号传输给处理器，由处理器转化成位移数据，传输给显示器进行显示，实现了主轴径向跳动的自动化测量以及数据的读取，提高了测量数据的精确度。
[0085]实施例2
[0086]本实用新型实施例提供了一种主轴径向跳动测量系统，如图4所示，该系统包括数控机床410以及上述实施例1中的主轴径向跳动测量装置420。
[0087]数控机床410与主轴径向跳动测量装置420连接。
[0088]当对主轴的径向跳动进行测量时，会将测试棒插到数控机床的主轴头的锥孔中，这时，主轴径向跳动测量装置420与测试棒接触，测量测试棒的位移信号，测试的该测试棒的位移信号就是数控机床主轴的位移信号。具体的，是主轴径向跳动测量装置420中的线位移信号采集器110采集测试棒的位移信号，并将该位移信号传输给处理器120，由处理器120将该位移信号转化成位移数据，并传输给显示器130进行显示。
[0089]为了详细的介绍上述主轴径向跳动测量系统之间各器件之间的连接关系以及如何进行测量，本实用新型实施例将举例进行说明，如图5所示，该系统中包括底座501、鞍座502、立柱503、主轴箱504、主轴变频电机505、测试棒112、线位移信号采集器110、处理器120、显示器130以及变频器506。
[0090]其中，底座501、鞍座502、立柱503、主轴箱504以及主轴变频电机505构成了数控机床410的基础。
[0091]上述本实用新型实施例只是举例对该主轴径向跳动测量系统进行了详细的介绍，并没有限定该主轴径向跳动测量系统中数控机床中的零部件，该系统中的数控机床的零部件可以为上述列举的这些，还可以为别的，本实用新型实施例只是列举了其中一种可能，并没有限定该数控机床的具体结构。
[0092]当需要进行数控机床的主轴径向跳动测量时，需要将测试棒112插入主轴头的锥孔中，然后线位移信号采集器110会采集测试棒112的位移信号，采集的测试棒112的位移信号就是主轴的位移信号，并将采集到的位移信号传输给处理器120，由处理器120将该位移信号转化成位移数据，并传输给显示器130，由显示器130将该位移数据显示出来。
[0093]并且对主轴径向跳动测量时，可以选取测试棒112上的上下不同的点进行测量，可以选择两点进行测量，如图5中的A点和B点，也可以选择多个点进行测量，本实用新型实施例只是以A点和B点为例进行说明，并没有限定上述测量点。其中上述A点和B点之间的距离可以大于300mm，也可以是其它值，本实用新型实施例并不限定上述A点和B点之间距离的具体值。
[0094]本实用新型实施例提供的主轴径向跳动测量系统中所采用的主轴径向跳动测量装置，主轴径向跳动测量装置中的线位移信号采集器采集主轴上的位移信号，将该位移信号传输给处理器，由处理器转化成位移数据，传输给显示器进行显示，实现了主轴径向跳动的自动化测量以及数据的读取，提高了测量数据的精确度。
[0095]以上所述，仅为本实用新型的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种主轴径向跳动测量装置，其特征在于，包括:线位移信号采集器、处理器以及显示器； 所述线位移信号采集器与主轴及所述处理器连接，采集主轴位移信号传输给所述处理器； 所述处理器与所述显示器连接，接收所述线位移信号采集器传输的主轴位移信号，并将所述主轴位移信号转化成位移数据传输给所述显示器。2.根据权利要求1所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述显示器为触控显示器； 所述处理器与所述触控显示器信号连接，接收所述触控显示器传输的用户输入指令并生成控制主轴变频电机旋转的控制信号。3.根据权利要求2所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述装置还包括变频器； 所述变频器与所述处理器及所述主轴变频电机连接，接收所述处理器传输的控制信号以控制所述主轴变频电机的旋转。4.根据权利要求1所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述线位移信号采集器包括多个绕圆周分布的位移传感器。5.根据权利要求4所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述多个位移传感器均为电阻式位移传感器。6.根据权利要求4所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述多个位移传感器中的每一个位移传感器包括信号采集元件及变送元件； 所述变送元件与所述信号采集元件连接，接收所述信号采集元件传输的位移信号，并将所述位移信号转化成电信号。7.根据权利要求1所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述处理器包括:信号接收元件、信号转化元件、信号发送元件以及控制信号传输元件； 所述信号接收元件与变送元件及所述信号转化元件连接，接收所述变送元件传输的电信号，传输所述电信号给所述信号转化元件； 所述信号转化元件与所述信号发送元件连接，接收所述信号接收元件传输的电信号，并将所述电信号转化成位移数据传输给所述信号发送元件； 所述信号发送元件与所述显示器连接，接收所述信号转化元件传输的位移数据，传输所述位移数据给所述显示器； 所述控制信号传输元件与所述显示器及变频器连接，接收所述显示器传输的控制信号，传输所述控制信号给所述变频器。8.根据权利要求1所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述显示器包括显示元件及控制元件； 所述显示元件及所述控制元件均与所述处理器连接，所述显示元件接收所述处理器传输的位移数据，所述控制元件将用户输入指令转化成控制信号传输给所述处理器。9.根据权利要求7所述的主轴径向跳动测量装置，其特征在于，所述处理器为可编程控制器。10.—种主轴径向跳动测量系统，其特征在于，包括数控机床以及权利要求1?9任一项所述的主轴径向跳动测量装置； 所述数控机床与所述主轴径向跳动测量装置连接。
【专利摘要】本实用新型提供了一种主轴径向跳动测量装置及测量系统。其中，测量装置包括：线位移信号采集器、处理器以及显示器；线位移信号采集器与主轴及处理器连接，采集主轴位移信号传输给处理器；处理器与显示器连接，接收线位移信号采集器传输的主轴位移信号，并将主轴位移信号转化成位移数据传输给显示器。主轴径向跳动测量系统包括：数控机床及上述主轴径向跳动测量装置。本实用新型，实现了主轴径向跳动的自动化测量以及数据的读取，提高了测量数据的精确度。
【IPC分类】G01B7/00
【公开号】CN205262389
【申请号】CN201520966023
【发明人】陈佳炳, 邵铮杨, 徐华通, 崔海洋, 张中明, 吴晓苏
【申请人】杭州职业技术学院
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年11月27日