一种适用于金属质量分析仪试样的样品架的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于实验室设备技术领域，具体而言，本实用新型涉及一种扫描电子显微镜试样的样品架，特别涉及一种适用于金属质量分析仪试样的样品架。
【背景技术】
[0002]研究单位购置的金属质量分析仪设备，主要用于研究钢材中非金属夹杂物的统计与分析。具体而言，通过高能电子束扫描抛光好的金相试样，检测背散射电子及特征X射线信号，通过背散射电子信号判断钢中的非金属夹杂，通过特征X射线信号判断非金属夹杂物的成分，从而得出一定面积范围内钢中非金属夹杂物的数量、尺寸、成分等信息，再通过相关软件将这些数据以直观的形式展示出来。
[0003]背散射电子及特征X射线信号均与检测面的水平度有关，即检测面到检测探头的距离最好保证一致;一般而言，研磨好的金相试样检测面为一个平面。该设备随机附带的样品架为水平的平板，这样就要求研磨后的金相试样检测面及其对面必须保持平行，且如果一次性检测多个试样，必须保证所有试样厚度一致。如果试样厚度不一致，只能一次检测一个试样，然后打开设备换另一个样品。受目前公司试样切割、制备能力的影响，设备样品室空间很大，但一次只能放一个试样，需要频繁地换试样。频繁换试样意味着需要频繁地放真空、抽真空、手动调节样品的高度、等待设备稳定并调整参数等。增加大量不必要的工作量，同时标准样品的消耗较快，影响分析周期。
[0004]现有的用于仪器试样的样品架有很多，如申请日为2013年3月19日、申请号为201320125529.7、名称为“一种锥形量热仪用样品架”的专利文件，该专利文件的样品架包括底座，所述底座的一侧设有把手，所述底座上防止有一弹性托架，所述弹性托架由托盘和设置在所述托盘下方的多个弹簧构成，所述弹性托架的外围设有一外框架，所述外框架的顶部设有内沿板，所述外框架的底部与所述底座固定。位于所述外框架侧壁的底部设有顶丝，所述外框架与所述底座之间由所述顶丝固定。利用该专利文件的样品架，可以消除样品受热收缩远离辐射锥导致样品受热辐射强度变小的影响，保证测试过程中样品受到的热辐射强度始终如一，使测试的准确性大大提高，可以保证测试数据的稳定性和重现性;并具有操作方便、制作成本低廉的优点。该专利文件的样品架在适用到金属质量分析仪中，仍然是只能一次检测一个试样，在对多个试样进行检测时会浪费不必要的人力物力。
[0005]由上分析，可知现有技术的样品架存在以下特点和缺陷:
[0006]1、不适用金属质量分析仪的试样。现有技术的样品架主要解决的是试样的强度问题，无法直接适用到金属质量分析仪的试样中。
[0007]2、每次检测只能检测一个试样。由于试样的厚度不等，所以在检测过程中只能对一个试样进行检测。
【实用新型内容】
[0008]本实用新型的目的在于提供一种适用于金属质量分析仪试样的样品架，以至少解决现有技术存在的样品架无法适用到金属质量分析仪的技术问题，以及解决现有技术存在的样品不平、样品高度不一致而导致一次只能检测一个试样的技术问题。
[0009]为了解决上述问题，本实用新型提供一种适用于金属质量分析仪试样的样品架，其技术方案如下:
[0010]—种适用于金属质量分析仪试样的样品架，包括底座，在所述底座的上部设有水平卡槽，所述底座用于连接检测设备并提供整体支撑;限位片，插在所述底座的所述水平卡槽内，用于对试样进行上方限位;和弹簧，安装在所述底座上，试样安放在所述弹簧和所述限位片之间，所述弹簧用于为试样提供弹性支撑。
[0011]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:所述底座包括底部基体、第一竖直段、第二竖直段和第三竖直段;所述第一竖直段、所述第二竖直段和所述第三竖直段的下端面固定安装在所述底部基体上;所述第一竖直段、所述第二竖直段和所述第三竖直段为平行设置并将所述底部基体分为第一底部基体和第二底部基体;在所述第一底部基体和所述第二底部基体上分别安装多个所述弹簧;多个所述限位片分别插在所述第一竖直段内侧面和所述第二竖直段的第一侧面的所述水平卡槽中，以及插在所述第三竖直段内侧面和所述第二竖直段的第二侧面的所述水平卡槽中；多个试样一一对应安放在所述弹簧和所述限位片之间。
[0012]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:在所述第一底部基体和所述第二底部基体上均开有多个限位槽，所述弹簧的底端放置在所述限位槽内，所述限位槽用于对所述弹簧进行底端限位。
[0013]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:所述弹簧为六个，与其相配合的所述限位片也为六个;其中三个所述弹簧安装在所述第一底部基体上，另外三个所述弹簧安装在所述第二底部基体上，六个所述限位片一一对应设置在六个所述弹簧的上方;六个试样分别位于六个所述限位片和六个所述弹簧之间。
[0014]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:还包括托盘，所述托盘固定安装在所述弹簧的上端面，所述托盘用于对试样进行下端部限位。
[0015]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:所述弹簧为圆锥螺旋弹簧或圆柱螺旋弹簧。
[0016]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:在所述限位片的中间位置开有通孔，位于所述通孔位置的试样部分为试样检测部分。
[0017]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:所述限位片为不锈钢薄片。
[0018]如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为:所述通孔为方孔。
[0019]分析可知，与现有技术相比，本实用新型的优点和有益效果在于:
[0020]一、本实用新型提供的适用于金属质量分析仪试样的样品架以所述底座为安装基础，在所述底座的上部安装的所述限位片和在所述底座上安装的所述弹簧为试样进行上部限位和下部限位;这样就能使本实用新型提供的样品架适用于金属质量分析仪试样中，再者本实用新型的所述限位片插入在所述底座上方的所述水平卡槽中，可以保证试样的上部检验面为水平面，再通过设置在下方的所述弹簧调节试样的高度，充分利用所述弹簧的弹性顶力使试样的上部检验面与所述限位片结合紧密接触；由此可知，本实用新型提供的样品架具有结构简单、能够充分对试样进行定位的特点。
[0021]二、本实用新型的所述底座的结构设置，即所述底座包括所述底部基体、所述第一竖直段、所述第二竖直段和所述第三竖直段;这样可以使本实用新型形成多个试样安放空间，同时对多个试样进行检测，尤其能够适用于高度不一致的试样的检测，这在现有技术中从未实现过。
[0022]三、本实用新型设置的所述弹簧的所述限位槽，可以保证所述弹簧不会因为受压出现移位情况。
[0023]四、本实用新型设置的六个限位片和六个弹簧，可以使本实用新型一次能够同时对六个试样进行检测，尤其是高度不一致的六个试样同时进行检测。
[0024]五、本实用新型设置的所述托盘，可以有效防止试样和所述弹簧之间出现滑动的情况。
[0025]六、本实用新型在所述限位片的中间位置设有所述通孔，可以使所有试样的检验面都位于同一水平面上，确保对试样进行有效检测。
【附图说明】
[0026]图1为本实用新型优选实施例的适用于金属质量分析仪试样的样品架的结构示意图。
[0027]图2为本实用新型的底座的结构不意图。
[0028]图3为本实用新型的托盘的结构示意图。
[0029]图4为本实用新型的弹簧的结构示意图。
[0030]图中，1-底座；11-水平卡槽；12-底部基体;121-第一底部基体;122第二底部基体；13-第一竖直段;14-第二竖直段;15-第三竖直段;2-限位片;21-通孔;3-弹簧;4-托盘。
【具体实施方式】
[0031]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型做进一步详细说明。
[0032]如图1、图2和图3所示，本实用新型优选实施例的适用于金属质量分析仪试样的样品架主要包括底座I，在底座I的上部设有水平卡槽11，底座I用于连接检测设备并提供整体支撑;限位片2，插在底座I的水平卡槽11内，用于对试样进行上方限位;和弹簧3，安装在底座I上，试样安放在弹簧3和限位片2之间，弹簧3用于为试样提供弹性支撑。
[0033]总而言之，本实用新型提供的适用于金属质量分析仪试样的样品架以底座I为安装基础，在底座I的上部安装的限位片2和在底座I上安装的弹簧3为试样进行上部限位和下部限位;这样就能使本实用新型提供的样品架适用于金属质量分析仪试样中，再者本实用新型的限位片2插入在底座I上方的水平卡槽11中，可以保证试样的上部检验面为水平面，再通过设置在下方的弹簧3调节试样的高度，充分利用弹簧3的弹性顶力使试样的上部检验面与限位片2结合紧密接触；由此可知，本实用新型提供的样品架具有结构简单、能够充分对试样进行定位的特点。
[0034]在正常情况下，金属