线束检测装置的制造方法
【专利摘要】一种线束检测装置，包括信号发生器、待测线束、感应接收电路、测试模块和计算机，所述待测线束的一端与信号发生器点联机，待测线束的另一端与感应接收电路电连接，感应接收电路与测试模块电连接，测试模块与计算机电连接，所述的测试模块由测试接口、微处理器、CAN控制器组成，测试接口、微处理器、CAN控制器依次电连接；该线束检测装置实现了对线束的智能化检测，可以方便、快速且稳定的检测出线束的状况，操作方便。
【专利说明】
线束检测装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种检测装置，具体是一种线束检测装置，属于电气控制技术领域。
【背景技术】
[0002]在现代雷达批量生产中，线束测试的应用较为广泛。
[0003]对于少量线束的测试，可以采用人工测试方法，但是在测试点较多的场合下，需要设计专用的线束测试系统，如果还是采用人工测试，不仅测试效率低，还会带来测试不准确，不稳定的现象发生。
【发明内容】
[0004]针对上述现有技术存在的问题，本实用新型提供一种线束检测装置，性能稳定，工作可靠，成本低，操作方便，可以快速的对线束做出检测。
[0005]为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种线束检测装置，包括信号发生器、待测线束、感应接收电路、测试模块和计算机，所述待测线束的一端与信号发生器点联机，待测线束的另一端与感应接收电路电连接，感应接收电路与测试模块电连接，测试模块与计算机电连接，所述的测试模块由测试接口、微处理器、CAN控制器组成，测试接口、微处理器、CAN控制器依次电连接；
[0006]测试模块内部电路包括芯片Ul、芯片U2、芯片ICl、芯片IC2、芯片IC3、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容Cl、电容C2、电容C3、电容C4、晶振Y1、按钮SI，所述的芯片ICl的管脚3与电阻Rl的一端连接，电阻Rl的另一端与芯片U2的管脚13连接，芯片ICl的管脚5接地，芯片ICl的管脚6与芯片IC2的管脚I连接，芯片ICl的管脚7、管脚8连接后与+5V电压连接，芯片IC2的管脚2分别与芯片IC3的管脚3、管脚6连接，芯片IC2的管脚4接地，芯片IC2的管脚6与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端接地，芯片IC2的管脚7与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端接地，芯片IC2的管脚8接+5 V电源;芯片IC3的管脚5接地，芯片IC3的管脚7、管脚8连接后与+5V电源连接；电阻R2的一端接+5V电源，电阻R2的另一端与电容C3的一端连接，电容C3的另一端分别与按钮SI的一端、芯片U2的管脚17、芯片Ul的管脚9、电容C4的一端连接，电容C4的另一端、按钮SI的另一端接地，芯片Ul的管脚39、管脚38、管脚37、管脚36、管脚35、管脚34、管脚33、管脚32分别对应与芯片U2的管脚23、管脚24、管脚25、管脚26、管脚27、管脚28、管脚1、管脚2连接，芯片Ul的管脚40、管脚31接+5V电源，芯片Ul的管脚28与芯片U2的管脚4连接，芯片Ul的管脚12与芯片U2的管脚16连接，芯片Ul的管脚16、管脚17分别对应与芯片U2的管脚5、管脚6连接，晶振Yl的一端分别与电容Cl的一端、芯片Ul的管脚19、芯片U2的管脚9连接，晶振Yl的另一端分别与电容C2的一端、芯片Ul的管脚18、芯片U2的管脚1连接，电容Cl的另一端、电容C2的另一端连接后接地，芯片Ul的管脚20接地。
[0007]进一步，所述的芯片Ul的型号为89C51、芯片U2的型号为SJA1000。
[0008]进一步，芯片IC1、芯片IC3的型号为6N137，芯片IC2的型号为82C250。
[0009]本实用新型的有益效果是:该线束检测装置实现了对线束的智能化检测，可以方便、快速且稳定的检测出线束的状况，操作方便。
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的结构框图；
[0011]图2是本实用新型测试模块的电路原理图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
[0013]如图1和图2所示，一种线束检测装置，包括信号发生器、待测线束、感应接收电路、测试模块和计算机，所述待测线束的一端与信号发生器点联机，待测线束的另一端与感应接收电路电连接，感应接收电路与测试模块电连接，测试模块与计算机电连接，所述的测试模块由测试接口、微处理器、CAN控制器组成，测试接口、微处理器、CAN控制器依次电连接；
[0014]测试模块内部电路包括芯片Ul、芯片U2、芯片ICl、芯片IC2、芯片IC3、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容Cl、电容C2、电容C3、电容C4、晶振Y1、按钮SI，所述的芯片ICl的管脚3与电阻Rl的一端连接，电阻Rl的另一端与芯片U2的管脚13连接，芯片ICl的管脚5接地，芯片ICl的管脚6与芯片IC2的管脚I连接，芯片ICl的管脚7、管脚8连接后与+5V电压连接，芯片IC2的管脚2分别与芯片IC3的管脚3、管脚6连接，芯片IC2的管脚4接地，芯片IC2的管脚6与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端接地，芯片IC2的管脚7与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端接地，芯片IC2的管脚8接+5 V电源;芯片IC3的管脚5接地，芯片IC3的管脚7、管脚8连接后与+5V电源连接；电阻R2的一端接+5V电源，电阻R2的另一端与电容C3的一端连接，电容C3的另一端分别与按钮SI的一端、芯片U2的管脚17、芯片Ul的管脚9、电容C4的一端连接，电容C4的另一端、按钮SI的另一端接地，芯片Ul的管脚39、管脚38、管脚37、管脚36、管脚35、管脚34、管脚33、管脚32分别对应与芯片U2的管脚23、管脚24、管脚25、管脚26、管脚27、管脚28、管脚1、管脚2连接，芯片Ul的管脚40、管脚31接+5V电源，芯片Ul的管脚28与芯片U2的管脚4连接，芯片Ul的管脚12与芯片U2的管脚16连接，芯片Ul的管脚16、管脚17分别对应与芯片U2的管脚5、管脚6连接，晶振Yl的一端分别与电容Cl的一端、芯片Ul的管脚19、芯片U2的管脚9连接，晶振Yl的另一端分别与电容C2的一端、芯片Ul的管脚18、芯片U2的管脚1连接，电容Cl的另一端、电容C2的另一端连接后接地，芯片Ul的管脚20接地。
[0015]进一步，所述的芯片Ul的型号为89C51、芯片U2的型号为SJA1000。
[0016]进一步，芯片IC1、芯片IC3的型号为6N137，芯片IC2的型号为82C250。
[0017]线束检测系统工作原理:线束检测系统由若干测试模块组成，待测线束检测到信号发生器传来的信号开始启动工作程序，感应接收电路对待测线束传出的信号进行接收，然后将信号传给测试模块进行数据处理，测试模块通过CAN控制器进行扩展，实现对多线束的检测。
【主权项】
1.一种线束检测装置，其特征在于，包括信号发生器、待测线束、感应接收电路、测试模块和计算机，所述待测线束的一端与信号发生器点联机，待测线束的另一端与感应接收电路电连接，感应接收电路与测试模块电连接，测试模块与计算机电连接，所述的测试模块由测试接口、微处理器、CAN控制器组成，测试接口、微处理器、CAN控制器依次电连接； 测试模块内部电路包括芯片U1、芯片U2、芯片IC1、芯片IC2、芯片IC3、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容Cl、电容C2、电容C3、电容C4、晶振Yl、按钮SI，所述的芯片I Cl的管脚3与电阻Rl的一端连接，电阻Rl的另一端与芯片U2的管脚13连接，芯片ICl的管脚5接地，芯片ICl的管脚6与芯片IC2的管脚I连接，芯片ICl的管脚7、管脚8连接后与+5V电压连接，芯片IC2的管脚2分别与芯片IC3的管脚3、管脚6连接，芯片IC2的管脚4接地，芯片IC2的管脚6与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端接地，芯片IC2的管脚7与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端接地，芯片IC2的管脚8接+5V电源;芯片IC3的管脚5接地，芯片IC3的管脚7、管脚8连接后与+5V电源连接；电阻R2的一端接+5V电源，电阻R2的另一端与电容C3的一端连接，电容C3的另一端分别与按钮SI的一端、芯片U2的管脚17、芯片Ul的管脚9、电容C4的一端连接，电容C4的另一端、按钮SI的另一端接地，芯片Ul的管脚39、管脚38、管脚37、管脚36、管脚35、管脚34、管脚33、管脚32分别对应与芯片U2的管脚23、管脚24、管脚25、管脚26、管脚27、管脚28、管脚1、管脚2连接，芯片Ul的管脚40、管脚31接+5V电源，芯片Ul的管脚28与芯片U2的管脚4连接，芯片Ul的管脚12与芯片U2的管脚16连接，芯片Ul的管脚16、管脚17分别对应与芯片U2的管脚5、管脚6连接，晶振Yl的一端分别与电容Cl的一端、芯片Ul的管脚19、芯片U2的管脚9连接，晶振Yl的另一端分别与电容C2的一端、芯片Ul的管脚18、芯片U2的管脚1连接，电容Cl的另一端、电容C2的另一端连接后接地，芯片Ul的管脚20接地。2.根据权利要求1所述的线束检测装置，其特征在于，所述的芯片Ul的型号为89C51、芯片U2的型号为SJA1000。3.根据权利要求1所述的线束检测装置，其特征在于，所述的芯片IC1、芯片IC3的型号为6N137，芯片IC2的型号为82C250。
【文档编号】G01R31/00GK205594095SQ201620330170
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年4月19日
【发明人】张玉凤
【申请人】江苏建筑职业技术学院