一种测厚仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及材料性能检测技术领域，尤其涉及一种测厚仪，其包括底座、支撑架、横梁、载物台、纵向升降装置、滑轨、横向移动装置、千分表传感器、液晶显示屏、电子感应探头、纵向移动杆、数据处理系统。本实用新型可以同时测量多个待测样品的厚度，能为后续科研实验及应用提供大量的事实依据，能提供准确有效的实验数据。
【专利说明】
一种测厚仪
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及材料性能检测技术领域，尤其涉及一种测厚仪。
【背景技术】
[0002]材料的厚度是材料的重要参数之一。目前的材料测试是选用国外已有的测试仪，这种测试仪的测试原理是:将材料放在载物盘上，启动仪器电源，测试下压，在与材料接触后产生一定压力，将材料压住，然后再计算或者测量厚度，然后减压抬起测量杆，完成测量。该仪器完成一次测量任务需要几个步骤，包括加压和减压等繁琐步骤，并且这些在材料测试时并不是必须的步骤，因此该仪器耗时较多，且需要额外电源，使用场所有限，同时在施加压力时，材料可能产生微小形变，使测量不是非常准确，并且一次只能测试一个样品材料。
[0003]综上所述，在材料性能检测技术领域亟需提供一种可以同时测量多个待测样品的厚度、能为后续科研实验及应用提供大量的事实依据、能提供准确有效的实验数据的测厚仪。
【发明内容】
[0004]本实用新型要解决的技术问题是如何克服现有技术的不足，提供一种可以同时测量多个待测样品的厚度、能为后续科研实验及应用提供大量的事实依据、能提供准确有效的实验数据的测厚仪。
[0005]本实用新型为实现上述目的采用的技术方案是:一种测厚仪，包括底座、支撑架、横梁、载物台、纵向升降装置、滑轨、横向移动装置、千分表传感器、液晶显示屏、电子感应探头、纵向移动杆、数据处理系统;所述底座上纵向立有两根支撑架，所述横梁连接两根支撑架，所述底座上有载物台；所述两根支撑架上分别装有纵向升降装置，所述纵向升降装置控制滑轨沿支撑架上下移动;所述横梁上安装有横向移动装置，所述横向移动装置通过纵向移动杆与千分表传感器相连，所述千分表传感器下方有电子感应探头;所述千分表传感器采集到的数据经数据处理系统处理后显示在液晶显示屏上；
[0006]进一步地，所述载物台数量为4个，均勾分布于底座上；
[0007]进一步地，所述纵向升降装置可控制滑轨沿支撑架上下移动，移动幅度可调节；
[0008]进一步地，所述横向移动装置可通过控制纵向移动杆沿横梁横向移动来控制千分表传感器及电子感应探头沿滑轨横向移动，移动幅度可调节。
[0009]本实用新型可以同时测量多个待测样品的厚度，能为后续科研实验及应用提供大量的事实依据，能提供准确有效的实验数据。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型整体结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]实施例1:
[0012]—种测厚仪，包括底座1、支撑架2、横梁3、滑轨4、载物台10、纵向升降装置5、纵向移动杆6、横向移动装置7、千分表传感器8、液晶显示屏9、数据处理系统、电子感应探头11;所述底座上纵向立有两根支撑架，所述横梁连接两根支撑架，所述底座上有载物台；所述两根支撑架上分别装有纵向升降装置，所述纵向升降装置控制滑轨沿支撑架上下移动;所述横梁上安装有横向移动装置，所述横向移动装置通过纵向移动杆与千分表传感器相连，所述千分表传感器下方有电子感应探头;所述千分表传感器采集到的数据经数据处理系统处理后显示在液晶显示屏上;所述载物台数量为4个，均匀分布于底座上;所述纵向升降装置可控制滑轨沿支撑架上下移动，移动幅度可调节;所述横向移动装置可通过控制纵向移动杆沿横梁横向移动来控制千分表传感器及电子感应探头沿滑轨横向移动，移动幅度可调
-K-
T O
[0013]使用时，将多个待测样品分别置于载物台上，调节横向移动装置使电子感应探头位于待测样品之上，调整纵向升降装置使滑轨降至合适位置、即电子感应探头刚好与待测样品接触，电子感应探头判断与待测样品刚好接触时千分表传感器收集数据并传送至数据处理系统，经计算后将待测样品厚度显示在液晶显示屏上。
[0014]上述实施例只是为了说明本实用新型的技术构思及特点，其目的是在于让本领域内的普通技术人员能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡是根据本【实用新型内容】的实质所作出的等效的变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种测厚仪，其特征在于，包括底座、支撑架、横梁、载物台、纵向升降装置、滑轨、横向移动装置、千分表传感器、液晶显示屏、电子感应探头、纵向移动杆、数据处理系统;所述底座上纵向立有两根支撑架，所述横梁连接两根支撑架，所述底座上有载物台；所述两根支撑架上分别装有纵向升降装置，所述纵向升降装置控制滑轨沿支撑架上下移动;所述横梁上安装有横向移动装置，所述横向移动装置通过纵向移动杆与千分表传感器相连，所述千分表传感器下方有电子感应探头;所述千分表传感器采集到的数据经数据处理系统处理后显示在液晶显示屏上。2.如权利要求1所述的一种测厚仪，其特征在于，所述载物台数量为4个，均匀分布于底座上。3.如权利要求1所述的一种测厚仪，其特征在于，所述纵向升降装置可控制滑轨沿支撑架上下移动，移动幅度可调节。4.如权利要求1所述的一种测厚仪，其特征在于，所述横向移动装置可通过控制纵向移动杆沿横梁横向移动来控制千分表传感器及电子感应探头沿滑轨横向移动，移动幅度可调-K-■P。
【文档编号】G01B21/08GK205642337SQ201620270601
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年4月1日
【发明人】张威, 孙洪亮, 袁博, 于孟孟
【申请人】青岛泰联科高分子材料研发有限公司